（團(tuán)標(biāo)）光纖微彎損耗測試方法（報(bào)批稿）

CCSATestmethodsforopticalfibermicrobe在提交反饋意見時(shí)，請將您知道的相關(guān)專利連同支持性文件一并附上。T/CCSAXXXX—XXXXI本技術(shù)文件的版權(quán)屬于中國通信標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，任何單位和個(gè)人未經(jīng)許可，不得進(jìn)行技術(shù)文件的紙質(zhì)和電子等任何形式的復(fù)制、印刷、出版、翻譯、傳播、發(fā)行、合訂和宣貫等，也不得引用其具體內(nèi)容編制本協(xié)會(huì)以外各T/CCSAXXXX—XXXX III 1 1 1 1 1 25.1方法分類 2 25.3通用試驗(yàn)條件 2 36.1概述 36.2試驗(yàn)樣品、裝置及材料 46.3試驗(yàn)程序 46.4結(jié)果報(bào)告 5 67.1概述 67.2試驗(yàn)樣品、裝置及材料 67.3試驗(yàn)程序 87.4結(jié)果報(bào)告 8 9 11 13T/CCSAXXXX—XXXX本文件在起草時(shí)參考了IEC/TR62221:2012《光纖-測試方法-微彎敏感性》。請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利。本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別專利的責(zé)任。技有限公司、江蘇南方通信科技有限公司、富通集團(tuán)有T/CCSAXXXX—XXXX1團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)”，推薦有關(guān)方面采用。有關(guān)對本標(biāo)準(zhǔn)T/CCSAXXXX—XXXX1光纖微彎損耗測試方法本文件適用于B類單模光纖及A1類多模光纖微彎損耗的測試。其中方法B1和B2也可用于光纖帶的微彎損耗測試，方法B1也可用于不同溫度下（包括溫度循環(huán)）GB/T5330.1-2012工業(yè)用金屬絲篩網(wǎng)和金屬絲編織網(wǎng)網(wǎng)孔尺寸與金屬絲直徑組合選擇指南第1GB/T9258.1-2000涂附磨具用磨料粒度分析第1部分:GB/T9258.2-2008涂附磨具用磨料粒度分析第2部分:粗磨粒P12～P220粒度組成GB/T9258.3-2017涂附磨具用磨料粒度分析第3部分:微粉P240～P2500粒度組成GB/T15972.10光纖試驗(yàn)方法規(guī)范第10部分:測量方法和試驗(yàn)程序總則（GB/T15972.10-2021,IEC60793-1-1:衰減（GB/T15972.40-2008,IEC60793-1-40:YD/T629.1-2022光纖傳輸衰減變化的監(jiān)測方法第1部分：傳輸功率YD/T629.2-2022光纖傳輸衰減變化的監(jiān)測方法第2部分：后向散射formeasuringmultimodea3.1光纖微彎opticalfibermicrobending因?yàn)榕c光纖表面相接觸的物體的不規(guī)則性，或者光纖所為光纖芯層以微米級偏離光纖軸或產(chǎn)生小于毫3.2光纖微彎損耗opticalfibermicrobendingloss4微彎損耗的通用特性T/CCSAXXXX—XXXX2有可能是由于在光纖光纜制造和安裝過程中的應(yīng)變，以及由于溫度變化導(dǎo)致的光纜材料的層結(jié)構(gòu)和涂覆層材料的性能也可能對微彎性能造成一定的單模光纖中，微彎效應(yīng)在1310nm、1550nm宏彎效應(yīng)則在較長波長（如1550nm和1625nm）更為明顯。對于A1——方法C：平板法。其中又分為方法C2刻槽壓板法和方法C3雙槽底一步細(xì)分為B1、B2、C2和C3。本文件5.2定性說明5.3通用試驗(yàn)條件不同方法要求的樣品長度不一樣。典型的試樣最短受試長度宜為表1所示。樣品長度應(yīng)大于受試長22 T/CCSAXXXX—XXXX3a受試長度是指后向散射法中OTDR測試光標(biāo)間距，受試長度應(yīng)從產(chǎn)生微彎的光纖段中測試的結(jié)果對復(fù)繞張力非常敏感，對復(fù)繞張力大小的控制及校準(zhǔn)是實(shí)現(xiàn)同一實(shí)驗(yàn)室在不同時(shí)間和對于其他的機(jī)械釋放問題，例如光纖存儲(chǔ)的溫濕度環(huán)境和復(fù)繞/測試條件不同，對這些條件需要進(jìn)本文件中的方法B2可以使用復(fù)繞光纖或光纖帶所用的無緩沖泡棉覆蓋光潔無污染，無肉眼可見的雜點(diǎn)、裂痕和刮傷。6.1概述T/CCSAXXXX—XXXX4用金屬網(wǎng)包覆光纖或者光纖帶盤具進(jìn)行光纖微彎損耗測試的固定直徑12136.3試驗(yàn)程序T/CCSAXXXX—XXXX5單模光纖測試波長為：1310nm、1550將待測光纖盤具放置于放線滾軸上，將光纖盤的外端光纖小心地穿過復(fù)繞機(jī)飛輪/跳線輪，到達(dá)固果的衰減系數(shù)或衰減值，最后計(jì)算每個(gè)波長三次單模光纖測試波長為：1310nm、1550如需進(jìn)行環(huán)境條件的光纖微彎損耗測試，可在復(fù)繞后將復(fù)繞光纖的圓筒置于環(huán)境試驗(yàn)箱進(jìn)行環(huán)境根據(jù)和計(jì)算出復(fù)繞前后光纖微彎的附6.4結(jié)果報(bào)告c)繞在被包覆圓筒上的受試長度（復(fù)繞長度T/CCSAXXXX—XXXX6h)試驗(yàn)日期和操作人員；）；7.1概述7789123456T/CCSAXXXX—XXXX7距宜為3cm，使得光纖在底板上平行放置且防止光纖在試驗(yàn)過程中移動(dòng)。光纖限位槽寬度宜為30011436257），加負(fù)荷以引起附加微彎損耗，也可采用一臺(tái)可控的裝載設(shè)備實(shí)現(xiàn)需要的T/CCSAXXXX—XXXX8b)光源和光功率計(jì)：用于測量衰減，測試最小讀數(shù)應(yīng)為0.007.3試驗(yàn)程序b)將被測光纖兩端連接穩(wěn)定光源及光功率計(jì)；f)將帶齒頂板或平滑壓塊的限位孔對準(zhǔn)限位柱平穩(wěn)放置，宜靜置60s后記錄此時(shí)的光）～注2：幾乎所有的光纖都有涂覆層的弛豫效應(yīng)，大多數(shù)取決于一次涂覆二），7.4結(jié)果報(bào)告h)環(huán)境溫度和相對濕度。T/CCSAXXXX—XXXX9法ABCDB類及A1類B類及A1類用于不同溫度環(huán)境（溫度循用于低熱膨脹材質(zhì)B類及A1類B類及A1類B類及A1類于在大范圍的施加線性壓力或負(fù)載下測量微彎B類及A1類于在大范圍的施加線性壓力或負(fù)載下測量微彎B類及A1類光纖傳輸功率監(jiān)測注1：本文件未采用IEC/TR62221:2012中的方法A、C、D。本文件中的方法B1對應(yīng)I注2：根據(jù)IEC/TR62221:2012中公式（4）或（6）計(jì)算微IEC/TR62221:2012主要描述了用于測試光纖微彎敏感性的4種方法（A、B、C和D）T/CCSAXXXX—XXXX為光纖盤法；方法C2為刻槽壓板法；方法C3為T/CCSAXXXX—XXXX對于平板法，還有其他方法可以參考。具體裝置圖如圖B.1及B.2 T/CC