DD 2014-13 巖礦波譜測(cè)試技術(shù)規(guī)程

XXXX中國(guó)地質(zhì)調(diào)查局地質(zhì)調(diào)查技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)DD2014

13巖礦波譜測(cè)試技術(shù)規(guī)程中國(guó)地質(zhì)調(diào)查局2014XXXX 前言

...............................................................................

III引言

................................................................................

IV1

范圍

..............................................................................

12

規(guī)范性引用文件

....................................................................

13

術(shù)語(yǔ)和定義

........................................................................

14

總則

..............................................................................

24.1 目的

..........................................................................

24.2 工作方法

......................................................................

24.3 工作程序

......................................................................

25

波譜儀選用

........................................................................

25.1 波譜儀主要技術(shù)指標(biāo)

............................................................

25.2 波譜儀選擇

....................................................................

25.3 波譜儀標(biāo)定、使用與維護(hù)

........................................................

26

波譜測(cè)試

..........................................................................

36.1 準(zhǔn)備工作

......................................................................

36.1.1 人員準(zhǔn)備

..................................................................

36.1.2 儀器與資料準(zhǔn)備

............................................................

36.1.3 測(cè)點(diǎn)布設(shè)

..................................................................

36.2 野外波譜測(cè)試

..................................................................

46.2.1 測(cè)試時(shí)間

..................................................................

46.2.2 測(cè)試環(huán)境

..................................................................

46.2.3 測(cè)試要求

..................................................................

46.2.4 波譜儀操作

................................................................

56.2.5 野外觀察

..................................................................

66.2.6 樣品采集

..................................................................

66.2.7 照片拍攝

..................................................................

76.2.8 野外記錄

..................................................................

76.3 室內(nèi)波譜測(cè)試

..................................................................

86.3.1 測(cè)試時(shí)間

..................................................................

86.3.2 測(cè)試環(huán)境

..................................................................

86.3.3 測(cè)試要求

..................................................................

86.3.4 波譜儀操作

................................................................

86.3.5 測(cè)試記錄

..................................................................

87

資料整理

..........................................................................

97.1 樣品整理

......................................................................

97.2 波譜數(shù)據(jù)整理

..................................................................

9XX/T

XXXXX—XXXX7.3

照片整理....................................................................... 97.4

巖礦波譜測(cè)試記錄表整理......................................................... 97.5

數(shù)據(jù)屬性記錄整理............................................................... 97.6

鑒定分析報(bào)告整理............................................................... 97.7

實(shí)際材料圖編制................................................................ 108

質(zhì)量檢查.......................................................................... 108.1 檢查內(nèi)容......................................................................108.1.1 資料完整性與一致性檢查....................................................108.1.2 波譜數(shù)據(jù)質(zhì)量檢查..........................................................108.2 檢查方法與要求................................................................109

報(bào)告編寫(xiě)和資料提交................................................................ 119.1 報(bào)告編寫(xiě)......................................................................119.2 資料提交......................................................................119.2.1 提交內(nèi)容..................................................................119.2.2 提交要求..................................................................11附錄

A（規(guī)范性附錄） 巖礦波譜測(cè)試記錄表

.............................................12附錄

B（規(guī)范性附錄） 波譜測(cè)試編號(hào)命名規(guī)則表..........................................13附錄

C（資料性附錄） 太陽(yáng)高度角、方位角計(jì)算公式......................................14附錄

D（資料性附錄） 綠泥石與白云母波譜圖............................................16附錄

E（規(guī)范性附錄） 波譜數(shù)據(jù)屬性記錄表

.............................................17附錄

F（規(guī)范性附錄） 質(zhì)量檢查記錄表

.................................................20附錄

G（規(guī)范性附錄） 波譜測(cè)試報(bào)告編寫(xiě)提綱............................................21參考文獻(xiàn)............................................................................. 22IIXXXX 本標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)GB/T

《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則

第1部分：標(biāo)準(zhǔn)的結(jié)構(gòu)和編寫(xiě)》給出的規(guī)則編寫(xiě)。本標(biāo)準(zhǔn)由中國(guó)地質(zhì)調(diào)查局提出和歸口管理。本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：中國(guó)國(guó)土資源航空物探遙感中心。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：閆柏琨、楊蘇明、董新豐、梁樹(shù)能。本標(biāo)準(zhǔn)由中國(guó)地質(zhì)調(diào)查局負(fù)責(zé)解釋。IIIXX/T

XXXXX—XXXX 巖礦波譜的測(cè)試及整理是遙感地質(zhì)調(diào)查與研究的基礎(chǔ)性工作。以往的測(cè)試工作主要參考相關(guān)的技術(shù)資料，根據(jù)巖礦波譜及使用的儀器特點(diǎn)，結(jié)合測(cè)試經(jīng)驗(yàn)完成，沒(méi)有標(biāo)準(zhǔn)和操作規(guī)則。為了規(guī)范和統(tǒng)一巖礦波譜測(cè)試工作，保證測(cè)試數(shù)據(jù)的質(zhì)量，提高波譜數(shù)據(jù)的利用率，促進(jìn)遙感地質(zhì)調(diào)查技術(shù)的應(yīng)用與發(fā)展，中國(guó)國(guó)土資源航空物探遙感中心根據(jù)地質(zhì)調(diào)查局要求，在總結(jié)分析以往地物波譜測(cè)試工作技術(shù)要求的基礎(chǔ)上，廣泛征求長(zhǎng)期工作在生產(chǎn)、科研、教學(xué)等遙感地質(zhì)領(lǐng)域?qū)＜业囊庖?jiàn)，制定了《巖礦波譜測(cè)試技術(shù)規(guī)程》。IVXX/T

XXXXX—XXXX1 范圍編寫(xiě)和資料提交的基本技術(shù)要求與操作方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于可見(jiàn)光-短波紅外（～2500

nm）譜段，在野外、室內(nèi)自然或人工光照條件下，基礎(chǔ)地質(zhì)與礦產(chǎn)資源調(diào)查中的巖礦反射波譜測(cè)試工作。其它地質(zhì)調(diào)查工作中的巖礦反射波譜測(cè)試及中-熱紅外巖礦波譜測(cè)試可參照?qǐng)?zhí)行。2 規(guī)范性引用文件凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本標(biāo)準(zhǔn)。GB/T

攝影測(cè)量與遙感術(shù)語(yǔ)GB/T

遙感影像平面圖制作規(guī)范DZ/T

0167-2006

區(qū)域地球化學(xué)勘查規(guī)范（1：

）DD2006-01

固體礦產(chǎn)勘查原始地質(zhì)編錄規(guī)程3 術(shù)語(yǔ)和定義下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本標(biāo)準(zhǔn)。3.1波譜反射率

spectral

物體對(duì)某一波長(zhǎng)電磁波的反射輻射通量與其入射輻射通量之比。[GB/T

14950-2009，定義4.101]3.2巖礦反射波譜

of

and

rocks巖礦波譜巖石或礦物的波譜反射率隨波長(zhǎng)的分布，本規(guī)程簡(jiǎn)稱巖礦波譜。3.3非接觸式測(cè)試

采用自然或人工外置光源，波譜儀探頭與測(cè)試目標(biāo)之間存在一定距離的波譜測(cè)試方式。3.4接觸式測(cè)試

contact

采用探頭內(nèi)置光源，波譜儀探頭緊貼測(cè)試目標(biāo)的波譜測(cè)試方式。3.5反射參考板

reflectance

波譜測(cè)試中作為參照標(biāo)準(zhǔn)的反射板，亦稱為標(biāo)準(zhǔn)板，其反射特性近似為朗伯反射體。XX/T

XXXXX—XXXX4 總則4.1 目的取、地質(zhì)解譯、參數(shù)反演、真實(shí)性檢驗(yàn)等遙感地質(zhì)應(yīng)用和機(jī)理研究提供巖礦波譜數(shù)據(jù)。4.2 工作方法行整理，形成數(shù)據(jù)與文件。4.3 工作程序料提交。5 波譜儀選用5.1 波譜儀主要技術(shù)指標(biāo)波譜儀主要技術(shù)指標(biāo)應(yīng)滿足如下要求：a)譜段范圍為

350~2500

，涵蓋

1300~2450

nm

譜段；b) 波譜響應(yīng)函數(shù)半高帶寬優(yōu)于

10

nm；c) 波譜采樣間隔優(yōu)于

2

nm；d) 波長(zhǎng)精度優(yōu)于±1

nm；e) 儀器的線性度優(yōu)于

；f) 對(duì)于波譜采集積分時(shí)間/增益可調(diào)的波譜儀，

nm、1400

nm、2100

nm

譜段，等效輻射噪聲分別小于

1.4×10-5、2.4×10-5、8.8×10-5

W/m2/nm/sr；g) 對(duì)于波譜采集積分時(shí)間/增益不可調(diào)的波譜儀，單次測(cè)量的單條波譜的平均信噪比不得小于2000：1；h)波譜采集積分時(shí)間/

6.5W

接觸式測(cè)試且波譜采集積分時(shí)間/

的鹵鎢燈作為光源；i)反射參考板應(yīng)朗伯特性好，性能穩(wěn)定，光譜選擇性小，各向同性，表面均勻、清潔。5.2 波譜儀選擇5.2.1 選擇滿足本規(guī)程

5.1

規(guī)定要求的波譜儀。5.2.2 根據(jù)測(cè)試目的，選擇接觸式或非接觸式兩種不同類型的波譜儀。如需了解巖石整體的波譜特征可采用非接觸式波譜儀。5.3 波譜儀標(biāo)定、使用與維護(hù)5.3.1波譜儀應(yīng)按廠家規(guī)定的時(shí)間由具有計(jì)量資質(zhì)的單位對(duì)儀器的波長(zhǎng)、輻射響應(yīng)等特性以及反射參考板的反射特性進(jìn)行標(biāo)定。XX/T

XXXXX—XXXX5.3.2 如儀器性能發(fā)生改變，應(yīng)由具有計(jì)量資質(zhì)的單位進(jìn)行重新標(biāo)定。5.3.3 儀器使用過(guò)程中，應(yīng)盡可能避免反射參考板反射面與其它物體接觸，以保持其清潔度。隨著使清潔或更換后宜由具有計(jì)量資質(zhì)的單位對(duì)其重新進(jìn)行標(biāo)定。5.3.4 儀器標(biāo)定、使用與維護(hù)應(yīng)按照儀器說(shuō)明書(shū)規(guī)定進(jìn)行。6 波譜測(cè)試6.1 準(zhǔn)備工作6.1.1人員準(zhǔn)備測(cè)試工作組一般應(yīng)配備2~41名地質(zhì)人員。6.1.2 儀器與資料準(zhǔn)備6.1.2.1 準(zhǔn)備滿足本規(guī)程

5.1

要求的波譜儀，檢查儀器配件是否齊備，儀器工作是否正常。6.1.2.2 一個(gè)測(cè)區(qū)或一批樣品采用兩臺(tái)以上波譜儀，采用相同的測(cè)試方式測(cè)試時(shí)，應(yīng)進(jìn)行一致性檢查與校正。檢查方法為，在相同的測(cè)試條件下，利用多臺(tái)波譜儀測(cè)試一定數(shù)量（不少于

個(gè)）的亮度差測(cè)試的反射率進(jìn)行校正。6.1.2.3 根據(jù)工作需要準(zhǔn)備測(cè)區(qū)地形圖、地質(zhì)圖、遙感影像圖及其它資料。6.1.2.4 野外工作應(yīng)準(zhǔn)備衛(wèi)星定位手持終端機(jī)、羅盤(pán)、地質(zhì)錘、放大鏡、照相機(jī)、樣品袋、記號(hào)筆、巖礦波譜測(cè)試記錄表（見(jiàn)附錄

A）等用品和資料。6.1.3 測(cè)點(diǎn)布設(shè)6.1.3.1 根據(jù)不同的波譜測(cè)試目的，進(jìn)行測(cè)點(diǎn)布設(shè)。布設(shè)前應(yīng)了解巖石裸露程度、交通狀況，分析測(cè)形地貌，盡可能避開(kāi)山體陰影面，選擇光照條件良好，確保多數(shù)布設(shè)點(diǎn)為人力所能到達(dá)之處。6.1.3.2為遙感數(shù)據(jù)的大氣校正、波譜重建、真實(shí)性檢驗(yàn)與質(zhì)量評(píng)價(jià)而進(jìn)行的波譜測(cè)試，測(cè)點(diǎn)應(yīng)布設(shè)在物質(zhì)成分均一、地形平坦、波譜特征穩(wěn)定，且面積較大（不得小于

5×5

個(gè)像元）的地方。一個(gè)飛行測(cè)區(qū)布設(shè)點(diǎn)一般不少于

5

個(gè)。6.1.3.3 為遙感異常提取、礦物填圖結(jié)果的驗(yàn)證，以及研究礦床（點(diǎn)）、找礦靶區(qū)、成礦遠(yuǎn)景區(qū)蝕變反則應(yīng)增加測(cè)點(diǎn)密度。每種蝕變異常與礦物的布設(shè)點(diǎn)宜不少于

10

個(gè)。6.1.3.4 為配合遙感地質(zhì)解譯或地質(zhì)填圖工作而進(jìn)行的波譜測(cè)試，應(yīng)根據(jù)地質(zhì)單元（遙感解譯單元或構(gòu)造等帶狀和線狀地質(zhì)單元垂直其走向布設(shè)。布設(shè)點(diǎn)的數(shù)量根據(jù)地質(zhì)單元分布面積與地質(zhì)復(fù)雜程度確定，分布面積越大、復(fù)雜程度越高，布設(shè)點(diǎn)的數(shù)量應(yīng)越多。每種地質(zhì)單元的布設(shè)點(diǎn)宜不少于

10

個(gè)。6.1.3.5對(duì)于其它波譜測(cè)試目的，應(yīng)根據(jù)實(shí)際測(cè)試與應(yīng)用目標(biāo)，合理進(jìn)行測(cè)點(diǎn)布設(shè)。6.1.3.6 布設(shè)點(diǎn)應(yīng)標(biāo)注在相應(yīng)比例尺的遙感影像圖或地質(zhì)圖、地形圖上，編制巖礦波譜測(cè)點(diǎn)布設(shè)圖。布設(shè)點(diǎn)編號(hào)要求見(jiàn)附錄

B。6.1.3.7 實(shí)際測(cè)點(diǎn)應(yīng)根據(jù)野外實(shí)際情況調(diào)整。XX/T

XXXXX—XXXX6.2 野外波譜測(cè)試6.2.1 測(cè)試時(shí)間非接觸式測(cè)試要求測(cè)試時(shí)太陽(yáng)高度角宜大于4510：00至14：00時(shí)間段為宜，C。接觸式測(cè)試對(duì)測(cè)試時(shí)間無(wú)要求。6.2.2 測(cè)試環(huán)境6.2.2.1 非接觸式測(cè)試6.2.2.1.1 地面能見(jiàn)度好，天氣晴朗，光照良好、穩(wěn)定；6.2.2.1.2 風(fēng)力不得大于

4

級(jí)；6.2.2.1.3 測(cè)點(diǎn)周?chē)辛己玫耐ㄒ晽l件，高度角

10°以上無(wú)近遮擋物，測(cè)試期間測(cè)點(diǎn)

m

范圍內(nèi)不應(yīng)有人員或物體移動(dòng)；6.2.2.1.4 測(cè)量人員應(yīng)穿著暗色衣物；6.2.2.1.5 儀器操作人員距離測(cè)試目標(biāo)

0.5

m

以上，儀器操作人員與儀器探頭組成的平面應(yīng)垂直太陽(yáng)入射方向，太陽(yáng)入射方向不能有其他人員或地物遮擋（圖

1）。圖1 野外自然光照條件下波譜測(cè)試幾何關(guān)系圖6.2.2.2 接觸式測(cè)試6.2.3 測(cè)試要求6.2.3.1 根據(jù)布設(shè)點(diǎn)附近地形地貌、地質(zhì)情況、測(cè)試目標(biāo)裸露情況合理確定。若布設(shè)點(diǎn)難以到達(dá)，測(cè)似點(diǎn)作為測(cè)試點(diǎn)。XX/T

XXXXX—XXXX6.2.3.2 將確定的測(cè)點(diǎn)用衛(wèi)星定位手持終端機(jī)測(cè)定其地理坐標(biāo)，根據(jù)微地形地貌定位并標(biāo)注于遙感影像圖上。6.2.3.3 選擇表面比較平坦，能充滿儀器的觀測(cè)視場(chǎng)的巖石原生露頭作為測(cè)試面。在不研究表面狀態(tài)對(duì)巖石波譜的影響時(shí)，可清除測(cè)試面上的雜草、浮土、巖石漆等雜物。6.2.3.4 在每一個(gè)測(cè)點(diǎn)處應(yīng)圍繞測(cè)點(diǎn)測(cè)試多條波譜，一般不少于

3

條，具體條數(shù)可根據(jù)巖性的均一程度確定。各條波譜的采集點(diǎn)分布要盡可能均勻。波譜編號(hào)的要求見(jiàn)附錄

B。6.2.3.5 因地形地貌、目標(biāo)裸露情況、測(cè)試環(huán)境等不滿足測(cè)試要求，又需要進(jìn)行測(cè)試的點(diǎn)，或需要測(cè)試巖石新鮮面時(shí)，可采集巖石樣品進(jìn)行樣品波譜測(cè)試。樣品采集要求見(jiàn)

。6.2.3.6 若需要更細(xì)致地了解巖石的光譜特征，深入研究波譜的形成機(jī)理、影響因素和地質(zhì)意義時(shí)，進(jìn)行測(cè)試。6.2.3.7 現(xiàn)場(chǎng)非接觸式測(cè)試可將樣品平放于采樣露頭上，或采樣點(diǎn)附近光照和環(huán)境條件滿足測(cè)試要求的地段，使測(cè)試面平行于地面進(jìn)行測(cè)試。6.2.3.8 每一樣品應(yīng)在不同部位測(cè)試波譜，樣品波譜編號(hào)要求見(jiàn)附錄

B。測(cè)試的位置數(shù)可根據(jù)樣品的

5

置數(shù)應(yīng)相應(yīng)增加。6.2.3.9

可垂直測(cè)試面測(cè)試。測(cè)試時(shí)儀器探頭與測(cè)試面法線夾角小于

10°,夾角偏差控制在±5°以內(nèi)，太陽(yáng)對(duì)測(cè)試面入射角小于

°。6.2.4波譜儀操作6.2.4.1 連接波譜儀、探頭、電腦、電源，以及其它波譜儀附件；6.2.4.2 打開(kāi)波譜儀、電腦，以及測(cè)試軟件，按照波譜儀操作手冊(cè)與說(shuō)明規(guī)定的時(shí)間開(kāi)機(jī)預(yù)熱。若在人工光照條件下測(cè)試，則需打開(kāi)人工光源；6.2.4.3 用不透光的物體遮擋儀器探頭，使外界光線無(wú)法進(jìn)入探頭，采集波譜儀暗電流；6.2.4.4 根據(jù)測(cè)試方式要求，將波譜儀探頭對(duì)準(zhǔn)測(cè)試面。非接觸式測(cè)試儀器探頭與測(cè)試面距離宜大于10cm內(nèi)；接觸式測(cè)試樣品測(cè)試面應(yīng)完全覆蓋波譜儀探頭；6.2.4.5

若在人工光照條件下進(jìn)行非接觸式測(cè)試，則需將人工光源對(duì)準(zhǔn)測(cè)試面，與測(cè)試面距離宜大于

10cm；6.2.4.6 在同樣的測(cè)試環(huán)境下，先后測(cè)試反射參考板與測(cè)試目標(biāo)的輻射亮度值，并保存數(shù)據(jù)。對(duì)于增

5000

，

4

行接觸式測(cè)試時(shí)，信號(hào)采集積分時(shí)間均宜大于

1000

ms；6.2.4.7 ρ

×ρ

....................................

(1)式中：ρ—樣品波譜反射率，無(wú)量綱；XX/T

XXXXX—XXXX—樣品輻射亮度值，單位2/nm/sr；—反射參考板輻射亮度值，單位W/m2/nm/sr；—儀器暗電流，單位W/m2/nm/sr；ρ—反射參考板波譜反射率，無(wú)量綱。6.2.4.8 在每個(gè)工作日波譜測(cè)試前，應(yīng)進(jìn)行測(cè)試試驗(yàn)，檢查儀器工作是否正常，檢查波譜質(zhì)量是否滿足要求。若同一目標(biāo)在相同的測(cè)試環(huán)境與測(cè)試方式下，測(cè)試

條以上的波譜時(shí)，應(yīng)在野外波譜測(cè)試結(jié)束后，計(jì)算其信噪比。以波長(zhǎng)大于

對(duì)所有波段的信噪比的平均值作為波譜信噪比的估算值。每個(gè)波段信噪比估算公式為：SNR

σ

.......................................

(2)式中：SNR

—信噪比，無(wú)量綱；

—波譜反射率均值，無(wú)量綱；σ

—波譜反射率標(biāo)準(zhǔn)差，無(wú)量綱。6.2.4.9測(cè)試過(guò)程中，及時(shí)檢查波譜質(zhì)量。可根據(jù)

2210nm

附近

Al-OH

吸收譜帶、2255、2335nm

附近Fe-OH、Mg-OH、CO32-吸收譜帶是否清晰可辨，曲線是否平滑，是否有明顯跳躍與劇烈抖動(dòng)現(xiàn)象。若所

D大積分時(shí)間，予以重測(cè)。6.2.4.10與說(shuō)明關(guān)閉儀器。6.2.5 野外觀察6.2.5.1 測(cè)試過(guò)程中，應(yīng)觀察測(cè)點(diǎn)及其附近的地質(zhì)現(xiàn)象及變化情況，包括巖體（顏色、礦物成分、結(jié)構(gòu)構(gòu)造、風(fēng)化等）、構(gòu)造（類型、產(chǎn)狀等）、蝕變和礦化等特征。6.2.5.2 觀察波譜特征的變化，特別是吸收譜帶的變化，包括譜帶的波長(zhǎng)位置、深度、形狀等。若發(fā)性和礦物成分的變化，初步判斷波譜特征變化的原因。6.2.5.3 根據(jù)所觀察的地質(zhì)特征和波譜特征的變化情況，以及測(cè)試目的，決定是否加密測(cè)量、追蹤測(cè)量；確定是否采集室內(nèi)波譜測(cè)試樣、巖礦鑒定樣和化學(xué)分析樣。6.2.6 樣品采集6.2.6.1采集要求6.2.6.1.1 采集的樣品一般包括波譜測(cè)試樣、巖礦鑒定樣（薄片樣、光片樣、X

射線衍射分析樣）、化學(xué)分析樣等。根據(jù)工作和研究需要確定。6.2.6.1.2 當(dāng)研究波譜精細(xì)特征和形成機(jī)理而采集波譜標(biāo)本時(shí)，應(yīng)按需要同時(shí)采集巖礦鑒定和化學(xué)分波譜測(cè)試、巖礦鑒定、化學(xué)分析的要求。6.2.6.1.3 樣品編號(hào)的要求見(jiàn)附錄

B。固結(jié)樣品上應(yīng)在非測(cè)試面使用記號(hào)筆標(biāo)記編號(hào)，并與樣品袋上標(biāo)號(hào)一致。松散樣品應(yīng)裝入樣品袋內(nèi)，并在樣品袋上標(biāo)記編號(hào)。XX/T

XXXXX—XXXX6.2.6.2 波譜測(cè)試樣6.2.6.2.1 采用打塊法或撿塊法采集，根據(jù)需要采集自然面或新鮮面作為測(cè)試面。塊狀樣品測(cè)試面應(yīng)

2

面的厚度一般應(yīng)大于

5

，片狀巖石樣品厚度可視具體情況適當(dāng)減薄。松散巖礦樣品采集量應(yīng)與固結(jié)樣品要求的體積一致。6.2.6.2.2 若需要測(cè)試和研究巖礦波譜的方向特性，應(yīng)采集定向標(biāo)本。6.2.6.3 巖礦鑒定樣6.2.6.3.1 當(dāng)需要對(duì)測(cè)試巖石準(zhǔn)確命名，進(jìn)一步研究巖石的礦物組成、變質(zhì)或蝕變特征，及其與光譜特征的關(guān)系時(shí)，應(yīng)采集巖礦鑒定樣，送實(shí)驗(yàn)室作薄片/光片鑒定。6.2.6.3.2 深入分析巖礦光譜機(jī)理時(shí)，應(yīng)采集

X

衍射分析樣，也可采集待分析礦物的晶體或晶體碎屑。6.2.6.3.3 巖礦鑒定樣采集的規(guī)格與要求按

DD2006-01

中

條執(zhí)行。6.2.6.4 化學(xué)分析樣6.2.6.4.1 當(dāng)需要研究巖石化學(xué)成分與光譜特征的關(guān)系時(shí)，應(yīng)采集化學(xué)分析樣。6.2.6.4.2 當(dāng)需要研究某一條光譜特征機(jī)理時(shí)，化學(xué)分析樣應(yīng)采集該條波譜測(cè)試面上的巖石，若研究量應(yīng)根據(jù)分析的元素和分析方法確定，樣品采集重量參考

DZ/T

0167-2006

中

8.3

執(zhí)行。6.2.7 照片拍攝6.2.7.1 波譜測(cè)試和樣品采集時(shí)應(yīng)拍攝照片，照片盡可能反映露頭、測(cè)試面或樣品的自然賦存狀態(tài)，測(cè)試或采集狀況、周?chē)匦闻c環(huán)境特征。照片分辨率不低于

萬(wàn)像素。6.2.7.2 照片編號(hào)要求見(jiàn)附錄

B。6.2.8 野外記錄6.2.8.1 按照“巖礦波譜測(cè)試記錄表”（見(jiàn)附錄

A）記錄波譜測(cè)試的有關(guān)信息。表中選擇性信息，以中的“測(cè)點(diǎn)位置”一欄，描述其空間位置關(guān)系。6.2.8.2 “照片描述”一欄記錄照片拍攝的位置與方位、照片反映的地質(zhì)現(xiàn)象和必要的說(shuō)明。6.2.8.3—與附著物，可省略相應(yīng)記錄。風(fēng)力、能見(jiàn)度、探頭與樣品距離、探頭與測(cè)試面法線夾角根據(jù)經(jīng)驗(yàn)估算，C）計(jì)算并補(bǔ)填于表內(nèi)。6.2.8.4 將新鮮面顏色、風(fēng)化面顏色、巖石結(jié)構(gòu)、巖石構(gòu)造記錄于表內(nèi)，“地質(zhì)描述”一欄記錄地層欄，根據(jù)巖石礦物組成、結(jié)構(gòu)、構(gòu)造，進(jìn)行野外定名，并填寫(xiě)于表內(nèi)。6.2.8.5 若采集的樣品進(jìn)行了顯微鑒定、X

射線衍射、化學(xué)分析等室內(nèi)鑒定分析，則根據(jù)室內(nèi)鑒定進(jìn)行綜合定名，并將確定的名稱補(bǔ)填于表內(nèi)“綜合定名”一欄。6.2.8.6 一個(gè)測(cè)點(diǎn)上測(cè)試的多條波譜，如測(cè)試目標(biāo)、測(cè)試方法等信息相同，則可將波譜編號(hào)填寫(xiě)于同一張表內(nèi)，否則應(yīng)分表填寫(xiě)，確保每張巖礦波譜測(cè)試記錄表內(nèi)的所有波譜的測(cè)試目標(biāo)、測(cè)試方法相同。如采集了樣品，在“樣品描述”一欄記錄樣品采集的目的。XX/T

XXXXX—XXXX6.3 室內(nèi)波譜測(cè)試6.3.1 測(cè)試時(shí)間室內(nèi)波譜測(cè)試對(duì)測(cè)試時(shí)間無(wú)要求。6.3.2 測(cè)試環(huán)境6.3.2.1 非接觸式測(cè)試6.3.2.1.1 應(yīng)用透過(guò)率較低的暗色物體遮擋窗戶，減小自然光源對(duì)測(cè)量的影響，應(yīng)遠(yuǎn)離窗戶、墻壁等對(duì)光線有較大影響的物體，距離宜大于

m；6.3.2.1.2 測(cè)量人員應(yīng)穿著暗色衣物；儀器操作人員距離測(cè)試目標(biāo)

m

以上，光線入射方向不能有其他人員或物體遮擋；6.3.2.1.3 測(cè)試時(shí)不得移動(dòng)儀器、光源、波譜儀探頭等測(cè)量周?chē)奈矬w，保證光照條件穩(wěn)定；6.3.2.1.4 室內(nèi)溫度、濕度等環(huán)境應(yīng)滿足測(cè)量?jī)x器的要求；6.3.2.1.5 應(yīng)關(guān)閉除測(cè)試用光源之外的其它所有光源；6.3.2.2接觸式測(cè)試室內(nèi)溫度、濕度等環(huán)境應(yīng)滿足測(cè)量?jī)x器的要求。6.3.3 測(cè)試要求6.3.3.1 非接觸式測(cè)試時(shí)，應(yīng)將樣品放置在平坦的測(cè)試平臺(tái)上，測(cè)試平臺(tái)一般用白紙等光譜吸收特征和探頭與樣品的距離，光源和探頭對(duì)樣品的入射角。6.3.3.2 室內(nèi)測(cè)試的樣品可以是野外采集的波譜樣、巖礦鑒定樣、化學(xué)分析樣等，也可以是上述樣品

。6.3.3.3 巖礦鑒定樣、X

射線衍射樣、化學(xué)分析樣等在送樣前一般都應(yīng)在室內(nèi)測(cè)試其光譜。對(duì)于

X

射線衍射和化學(xué)分析等樣品的粉末副樣，還應(yīng)測(cè)試其光譜。6.3.3.4 每件樣品一般應(yīng)在不同位置測(cè)試其波譜。具體要求見(jiàn)本規(guī)程

條。6.3.4 波譜儀操作波譜儀操作按本規(guī)程6.2.4執(zhí)行。接觸式測(cè)試信號(hào)采集積分時(shí)間宜大于1000ms，非接觸式測(cè)試宜大于3000ms。6.3.5 測(cè)試記錄6.3.5.1對(duì)每件經(jīng)過(guò)波譜測(cè)試的樣品均應(yīng)填寫(xiě)一張對(duì)應(yīng)的“巖礦波譜測(cè)試記錄表”（見(jiàn)附錄

A），填寫(xiě)的內(nèi)容及要求見(jiàn)

6.2.8。6.3.5.2 若測(cè)試的樣品在野外采集時(shí)已記錄了地質(zhì)信息，室內(nèi)測(cè)試時(shí)可不再填寫(xiě)該類信息。若測(cè)試的樣品是經(jīng)過(guò)加工（粉碎、分選、挑選的單礦物等）而成，應(yīng)將樣品信息（粒度、單礦物名稱、種類等）記錄于“巖礦波譜測(cè)試記錄表”的“樣品信息”一欄。6.3.5.3

進(jìn)行非接觸式測(cè)試時(shí)，應(yīng)填寫(xiě)測(cè)試平臺(tái)材質(zhì)和顏色、光源和探頭與樣品的距離、入射角等信息。XX/T

XXXXX—XXXX7 資料整理7.1 樣品整理7.1.1 根據(jù)野外采樣記錄、野外和室內(nèi)測(cè)試的波譜特征，整理樣品，確定需要作巖礦鑒定、化學(xué)分析的樣品及其科目及要求。巖礦鑒定若需要定位、定向制備光/薄片，應(yīng)在標(biāo)本上予以圈定，并在送樣單中加以說(shuō)明。7.1.2 根據(jù)巖礦鑒定或化學(xué)分析結(jié)果，確定進(jìn)一步作波譜測(cè)試的樣品。7.1.3 根據(jù)測(cè)試結(jié)果，對(duì)于重要樣品長(zhǎng)期保存，一般樣品保存至資料提交。7.2 波譜數(shù)據(jù)整理7.2.1 對(duì)于由多個(gè)光電探測(cè)器組成的波譜儀，在某些波段上波譜曲線會(huì)出現(xiàn)明顯的跳躍現(xiàn)象，應(yīng)根據(jù)跳躍點(diǎn)前后波段上的反射率之比校正波譜。校正步驟為：a) 計(jì)算跳躍點(diǎn)前后波段上的反射率之比；b) 跳躍后所有波段的反射率乘以計(jì)算的比值。7.2.2 將不同的波譜儀測(cè)得的波譜數(shù)據(jù)光譜采樣間隔重采樣為

，以

ASCII

碼文本文件形式存儲(chǔ)。

5

隔。ASCII

碼文本文件的命名要求見(jiàn)附錄

B。7.2.3 將每個(gè)測(cè)點(diǎn)或樣品的所有波譜存放在以測(cè)點(diǎn)編號(hào)命名的目錄下。7.3 照片整理7.3.1 將每個(gè)測(cè)點(diǎn)或樣品的所有照片存放在以測(cè)點(diǎn)或樣品編號(hào)命名的目錄下，每張照片文件的名稱應(yīng)與記錄表中一致。7.3.2 照片格式為

jpg/tif。7.4 巖礦波譜測(cè)試記錄表整理7.4.1 X

射線衍射分析、化學(xué)分析，待得到分析結(jié)果后，填寫(xiě)于表內(nèi)。7.4.2 所有巖礦波譜測(cè)試記錄表待補(bǔ)充填寫(xiě)后，以測(cè)點(diǎn)為單元，按（測(cè)線）測(cè)點(diǎn)、樣品的編號(hào)從小到大的順序?qū)ΣㄗV測(cè)試記錄表和鑒定/分析報(bào)告進(jìn)行統(tǒng)一整理，裝訂成冊(cè)。對(duì)于每一測(cè)點(diǎn)，按照野外露頭先非接觸式，后接觸式測(cè)試的原則，按照波譜編號(hào)、樣品編號(hào)從小到大的順序裝訂。7.4.3 _頁(yè)/總_錄人不為同一人，將記錄表整理人填寫(xiě)于記錄表下“記錄人”中。7.5 數(shù)據(jù)屬性記錄整理應(yīng)對(duì)波譜數(shù)據(jù)及相關(guān)參數(shù)進(jìn)行整理，按照數(shù)據(jù)屬性記錄表定義（見(jiàn)附錄E），填寫(xiě)相應(yīng)表格。7.6 鑒定分析報(bào)告整理X射線衍射分析報(bào)告裝訂成冊(cè)。7.7 實(shí)際材料圖編制GB/T

XX/T

XXXXX—XXXXC2-1～LB3。8 質(zhì)量檢查8.1 檢查內(nèi)容8.1.1 資料完整性與一致性檢查8.1.1.1

檢查巖礦波譜測(cè)試記錄表、實(shí)際材料圖、鑒定或分析報(bào)告中編號(hào)等相關(guān)信息是否一致。8.1.1.2

檢查波譜測(cè)試記錄表是否清晰、準(zhǔn)確、完整，補(bǔ)填的內(nèi)容是否填補(bǔ)齊全。8.1.1.3

檢查數(shù)據(jù)屬性記錄表的字段是否完整，取值范圍、數(shù)據(jù)類型是否符合要求。8.1.1.4

檢查實(shí)際材料圖標(biāo)注內(nèi)容是否完全、規(guī)范，圖面內(nèi)容是否清晰可辨。8.1.1.5

照片格式與分辨率以及波譜文件格式是否滿足要求。8.1.2 波譜數(shù)據(jù)質(zhì)量檢查8.1.2.1 特別是

2000~

于個(gè)別的尖峰或跳躍，在確認(rèn)為噪聲時(shí)，可按本規(guī)程

7.2.1

的步驟或曲線平滑的方法予以校正。對(duì)于400~2350nm

譜段出現(xiàn)有明顯抖動(dòng)的光譜，應(yīng)在找出原因后，視情況予以剔除、校正或重測(cè)；對(duì)于少量否則，應(yīng)予以重測(cè)。8.1.2.2 檢查常見(jiàn)譜帶的形態(tài)特征是否出現(xiàn)不易解釋的一些異?，F(xiàn)象，如出現(xiàn)雙峰、次級(jí)譜帶、形態(tài)先應(yīng)通過(guò)檢視這些現(xiàn)象所出現(xiàn)的頻次、與周?chē)蚋浇悗r石波譜的比對(duì)、

重復(fù)測(cè)試或加密測(cè)試等方

8.1.2.1

檢測(cè)科目等措施。8.1.2.3檢查所采集、送檢的樣品以及鑒定與分析的科目是否能滿足波譜地質(zhì)成因分析和地質(zhì)應(yīng)用的需求。若不能滿足，應(yīng)視情況加密、補(bǔ)采、補(bǔ)送樣品，或增加檢測(cè)科目。8.2 檢查方法與要求8.2.1 采用自檢、互檢二級(jí)檢查進(jìn)行質(zhì)量檢查，質(zhì)量檢查應(yīng)貫穿于整個(gè)測(cè)試的各個(gè)階段。8.2.2 在波譜測(cè)試過(guò)程中，應(yīng)隨時(shí)注意所測(cè)波譜質(zhì)量和波譜特征的變化，視實(shí)際情況及時(shí)確定重測(cè)、

100%，及時(shí)檢查測(cè)試記錄和所測(cè)波譜質(zhì)量，補(bǔ)填現(xiàn)場(chǎng)未及填寫(xiě)的可緩填的欄目，若發(fā)現(xiàn)質(zhì)量問(wèn)題或可疑問(wèn)題，應(yīng)視情況予以校正，檢查原因或返工。8.2.3 工作階段或批次測(cè)量結(jié)束后（如轉(zhuǎn)移駐地等），首先在測(cè)試組成員內(nèi)部進(jìn)行互檢，檢查其他測(cè)

測(cè)試工作。檢查合格率應(yīng)不低于

95%。8.2.4

F

1、4

項(xiàng)中的實(shí)進(jìn)行相應(yīng)檢查，并將結(jié)果填入檢查記錄表第

1、4

項(xiàng)。對(duì)于每次檢查發(fā)現(xiàn)的問(wèn)題、改正措施與結(jié)果應(yīng)填寫(xiě)于記錄表最后一欄。10XX/T

XXXXX—XXXX9 報(bào)告編寫(xiě)和資料提交9.1 報(bào)告編寫(xiě)按附錄G第二章內(nèi)容主要包括測(cè)點(diǎn)布設(shè)、波譜儀、波譜測(cè)試，第三章內(nèi)容主要包括野外與室內(nèi)波譜測(cè)試的數(shù)量、位置以及典型的波譜圖，第四章內(nèi)容主要包括質(zhì)量檢查的過(guò)程與結(jié)果，第五章包括提交的資料的類型、材料圖、巖礦鑒定分析報(bào)告（巖礦鑒定、X射線衍射分析、化學(xué)分析等）等。9.2 資料提交9.2.1 提交內(nèi)容片、測(cè)點(diǎn)布設(shè)圖、實(shí)際材料圖、巖礦鑒定分析報(bào)告（巖礦鑒定、X射線衍射分析、化學(xué)分析等）等。9.2.2 提交要求9.2.2.1 以紙介質(zhì)形式提交圖件、波譜測(cè)試報(bào)告，電子版形式所有圖件、數(shù)據(jù)、報(bào)告。9.2.2.2 巖礦鑒定分析報(bào)告（巖礦鑒定、X

射線衍射分析、化學(xué)分析等）應(yīng)鑒定分析工作結(jié)束后

1

個(gè)月內(nèi)對(duì)任務(wù)下達(dá)單位完成資料提交。11/m/nm/Km/°/m2/m/°/°/m/°/XXX/T

XXXXX—XXXXAA附

錄 A（規(guī)范性附錄）巖礦波譜測(cè)試記錄表巖礦波譜測(cè)試記錄表見(jiàn)表。表A.1巖礦波譜測(cè)試記錄表

12BS測(cè)點(diǎn)”表示，測(cè)線與測(cè)點(diǎn)用數(shù)字表示，如“BS2-1號(hào)布設(shè)點(diǎn)。BS-1起，一條測(cè)線上布設(shè)點(diǎn)編號(hào)從開(kāi)始順序編起。若未布設(shè)測(cè)線，一個(gè)測(cè)區(qū)內(nèi)布設(shè)點(diǎn)編號(hào)從測(cè)線測(cè)點(diǎn)”表示，測(cè)線與測(cè)點(diǎn)用數(shù)字表示，如“C2-1號(hào)測(cè)線號(hào)測(cè)點(diǎn)。如果無(wú)測(cè)線，測(cè)線字段可省略，如“C-1”。一個(gè)測(cè)區(qū)內(nèi)測(cè)線的編號(hào)從開(kāi)始順序編起，一條測(cè)線-LBC2-1-LB1的文件名采用“測(cè)點(diǎn)編號(hào)-LB”表示，如“C2-1-LBC2-1測(cè)點(diǎn)的所有野外露頭波譜-YPC2-1-YP1C2-1-YP1-ZPXX/T

XXXXX—XXXXBB附

錄B（規(guī)范性附錄）波譜測(cè)試編號(hào)命名規(guī)則表波譜測(cè)試編號(hào)命名規(guī)則見(jiàn)表B.1。表

表

B.1 波譜測(cè)試編號(hào)命名規(guī)則表°×cos(2

×π

×°×cos(2

×π

×

CC附

錄C（資料性附錄）太陽(yáng)高度角、方位角計(jì)算公式太陽(yáng)赤緯計(jì)算公式為：γ= ×πγ

.....