2024聚乙烯燃?xì)夤艿篮附咏宇^檢測(cè)評(píng)價(jià)方法數(shù)字射線檢測(cè)方法

聚乙烯燃?xì)夤艿篮附咏宇^檢測(cè)評(píng)價(jià)方法—數(shù)字射線檢測(cè)方法II目 次范圍 1規(guī)性用件 1術(shù)和1一要求 2檢方法 4圖質(zhì)及定 6圖保與儲(chǔ) 9結(jié)解和價(jià) 9質(zhì)分級(jí) 9測(cè)告 11附錄A（規(guī)范性）系統(tǒng)辨核方法 12附錄B（規(guī)范性）典型照式 13附錄C（規(guī)范性）雙絲像計(jì)識(shí)別 14附錄D（規(guī)范性）歸一信比試法 15附錄E（規(guī)范性）典型陷列 16附錄F（規(guī)范性）X射數(shù)成檢報(bào)格式 21PAGEPAGE10聚乙烯燃?xì)夤艿篮附咏宇^檢測(cè)評(píng)價(jià)方法-數(shù)字射線檢測(cè)方法范圍XXX300kV。X（GB/T15558.1燃?xì)庥寐竦鼐垡蚁≒E）管道系統(tǒng)第1部分：管材GB/T15558.2燃?xì)庥寐竦鼐垡蚁≒E）管道系統(tǒng)第2部分：管件GB18871電離輻射防護(hù)與輻射源安全基本標(biāo)準(zhǔn)GB/T23901.2無損檢測(cè)射線照相檢測(cè)圖像質(zhì)量第2部分：階梯孔型像質(zhì)計(jì)像質(zhì)值的測(cè)定GB/T23901.5無損檢測(cè)射線照相檢測(cè)圖像質(zhì)量第5部分:雙絲型像質(zhì)計(jì)圖像不清晰度的測(cè)定GB/T23903射線圖像分辨力測(cè)試計(jì)GB/T26592無損檢測(cè)儀器工業(yè)X射線探傷機(jī)性能測(cè)試方法GB/T26594無損檢測(cè)儀器工業(yè)用X射線管性能測(cè)試方法TSGD7004壓力管道定期檢驗(yàn)規(guī)則—公用管道GBZ117工業(yè)探傷放射防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)NB/T47013.1承壓設(shè)備無損檢測(cè)第1部分：通用要求NB/T47013.11承壓設(shè)備無損檢測(cè)第11部分：X射線數(shù)字成像檢測(cè)JB/T11608無損檢測(cè)儀器工業(yè)用X射線探傷裝置T/CASEI006 下列術(shù)語和定義適用于本文件。imagequalityindicatorcoldwelding聚乙烯燃?xì)夤艿篮附訒r(shí)因欠壓（輸入或輸出電壓太低）時(shí)造成焊縫容易形成焊接缺陷的焊接方式?？锥碶hhole聚乙烯焊接過程中因于夾雜較大固體顆粒或由于局部較大縮孔、氣孔等原因形成焊縫內(nèi)部的孔穴，造成的焊縫結(jié)構(gòu)不連續(xù)。\hquilt\hinclusion聚乙烯焊接過程中由于焊接過程中外來物質(zhì)摻入熔合面形成異質(zhì)夾雜物，造成整個(gè)熔合面粘接不牢，導(dǎo)致接頭性能急劇下降的焊縫結(jié)構(gòu)不連續(xù)。其表現(xiàn)為熔合面的整體脆性斷裂失效或大面積不均勻的韌性斷裂失效。。小徑管外直徑De小于等于100毫米的聚乙烯管子XXTSGZ8001XXXXXJB/T11608GB/T265922000:1，A/D12bit。3×33（320012）NB/T470XNB/T4704像質(zhì)計(jì)GB/T23901.2GB/T23901.51131A3表1 工藝程及相因素序號(hào)相關(guān)因素1被檢測(cè)工件的類型、規(guī)格（形狀、尺寸、壁厚和材質(zhì)）2依據(jù)的法規(guī)、標(biāo)準(zhǔn)3檢測(cè)設(shè)備器材以及校準(zhǔn)、核查、運(yùn)行核查或檢查的要求4檢測(cè)工藝(透照方式、透照參數(shù)、幾何參數(shù)、運(yùn)動(dòng)參數(shù)等)5工藝試驗(yàn)報(bào)告6缺陷評(píng)定與質(zhì)量分級(jí)：X檢測(cè)工藝參數(shù)（）；XGB18871GBZ117XGBZ117T（壁厚）≤8mm；g（焊縫寬度）≤Do/4（122管徑＞100mm100mmX10mm。Xff≥10d?b2/3；圖1 成像何照意圖說明：1—探測(cè)器；2—被檢工件；b：被檢工件表面到探測(cè)器的距離；d：有效焦點(diǎn)尺寸。Xf50Xf20％。理論上，對(duì)于給定的檢測(cè)系統(tǒng)，可由式（1）計(jì)算最佳放大倍數(shù)?！ぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁ?1)式中：M0—最佳放大倍數(shù)；d—焦點(diǎn)尺寸；Uc—探測(cè)器固有不清晰度（約等于探測(cè)器像素大小的2倍）。式（2）給出了圖像分辨率與透照幾何參數(shù)之間的關(guān)系，對(duì)于給定的檢測(cè)系統(tǒng)和被檢工件，可結(jié)合實(shí)際檢測(cè)工況，基于式（2）選擇系統(tǒng)宜采用的透照幾何參數(shù)?！ぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁ?2)式中：M—放大倍數(shù)［計(jì)算見式（3）］；Ug—幾何不清晰度；Ur—應(yīng)達(dá)到的圖像分辨力（約等于應(yīng)分辨的雙絲絲徑的2倍）?！ぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁ?3)式中：F—X射機(jī)至探測(cè)器的距離：f—X射線機(jī)至被檢工件表面的距離。透照時(shí)X射線束中心應(yīng)垂直指向透照區(qū)中心，需要時(shí)可選用有利于發(fā)現(xiàn)缺陷的方向透照。100902對(duì)于曲面外徑大于100mmK求。實(shí)際檢測(cè)時(shí)應(yīng)根據(jù)采用的XXX應(yīng)盡量選用較低的管電壓。在采用較高管電壓時(shí)，應(yīng)保證適當(dāng)?shù)钠毓饬俊D2規(guī)定了不同透照厚度2圖2 不同照度的X線最透管壓曝光量mA?s標(biāo)記定位標(biāo)記一般包括中心記“”和搭接標(biāo)記“↑”。中心標(biāo)記指示透照部區(qū)段的中心位對(duì)于連續(xù)成像檢測(cè)，在測(cè)的起始位置做定位標(biāo)“”，其中“→”指向調(diào)方向，可5mm5mm檢測(cè)前應(yīng)清理被檢工件處可能掩蓋或干擾缺陷影像的異物，必要時(shí)需對(duì)表面不規(guī)則形狀做適當(dāng)修整。X應(yīng)采用濾波板、準(zhǔn)直器（光闌）、鉛箔、鉛板等適當(dāng)指施，減少散射線和無用X射線。XF“F＂2表2 階梯型質(zhì)適范圍階梯孔型像質(zhì)計(jì)材料代號(hào)PE（聚乙烯）階梯孔型像質(zhì)計(jì)材料聚乙烯適用的材料范圍聚乙烯如）（）2～5°）如）3表3 圖像辨率公稱厚度T或透照厚度W范圍/mm圖像分辨率/（lp/mm）絲號(hào)絲徑/mm＞3.5～55.00D100.10＞5～103.85D90.13＞10～253.125D80.16＞25～552.50D70.20＞55～1502.00D60.25注：對(duì)于雙壁單影透照方式，應(yīng)取公稱厚度T；對(duì)于小徑管雙壁雙影透照方式，透照厚度應(yīng)取管子直徑。雙絲型像質(zhì)計(jì)的識(shí)別方法見附錄C。按照采用的透照方式，圖像靈敏度應(yīng)符合表4的規(guī)定。圖像分辨率應(yīng)滿足表3的規(guī)定。對(duì)于小徑管雙壁雙影透照方式，透照厚度應(yīng)取管子直徑。如果圖像分辨率達(dá)不到表3的規(guī)定，可通過提高信噪比來提高圖像靈敏度，以補(bǔ)償由于不清晰度達(dá)6.2.410mmW13D9W14D81表4 圖像敏值應(yīng)識(shí)別孔號(hào)（孔徑/mm）單壁透照、像質(zhì)計(jì)置于X射線機(jī)側(cè)雙壁雙影、像質(zhì)計(jì)置于X射線機(jī)側(cè)雙壁單影或雙壁雙影、像質(zhì)計(jì)置于探測(cè)器側(cè)公稱厚度e/mm透照厚度W/mm透照厚度W/mmH7(0.500)——＞14～22H8(0.630)＞15～24＞10～19＞22～36H9(0.800)＞24～30＞19～35＞36～50H10(1.000)＞30～40—＞50～8020％～80％；5。表5 歸一信比低求管電壓范圍/kV歸一化信噪比≤100170DICONDE8保存檢測(cè)圖像的光盤或硬盤等數(shù)字存儲(chǔ)介質(zhì)應(yīng)防磁、防潮、防塵、防積壓、防劃傷。NB/T470NB/T47013.2L根據(jù)接頭中存在的缺陷性質(zhì)、數(shù)量和密集程度，其質(zhì)量等級(jí)可劃分為Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ級(jí)。Ⅰ、Ⅱ級(jí)焊接接頭內(nèi)不允許有裂紋和未熔合缺陷?？锥碔II孔洞缺欠的質(zhì)量分級(jí)級(jí)別單個(gè)孔洞組合孔洞I級(jí)X/L＜5%且h＜5%T累積尺寸X/L＜10%且h＜5%TII級(jí)X/L＜10%且h＜10%T累積尺寸X/L＜15%且h＜10%TIII級(jí)大于II級(jí)者注：X為該缺欠在熔合面周向方向的尺寸，L為熱熔接頭長(zhǎng)度，T為熱熔接頭管材壁厚，h為孔洞的自身高度。III6表1 熔面欠質(zhì)分級(jí)質(zhì)量等級(jí)工件厚度/mm單個(gè)缺欠多個(gè)缺欠表面缺欠埋藏缺陷長(zhǎng)度Lmax高度h3若L＞Lmax缺欠高度h1長(zhǎng)度Lmax高度h2若L＞Lmax缺欠高度h1I級(jí)6≤e≤8e1.0-e1.51.0若多個(gè)缺欠其各自高度h均h1≤hh2h3范圍內(nèi)，且深度在工件厚度40%范圍內(nèi)（最小可為6mm，但最大不超過過2t且最大值為150mm；對(duì)于單個(gè)或多個(gè)允許的表面整條焊縫長(zhǎng)度的5%且最長(zhǎng)不得超過200mm。8≤e≤1582.01.082.01.015≤e≤30152.51.5152.51.5表6（續(xù)）質(zhì)量等級(jí)工件厚度/mm單個(gè)缺欠多個(gè)缺欠表面缺欠埋藏缺陷長(zhǎng)度Lmax高度h3若L＞Lmax缺欠高度h1長(zhǎng)度Lmax高度h2若L＞Lmax缺欠高度h1II級(jí)6≤e≤8e1.51.0e1.51.0若多個(gè)缺欠其各自高度h均h1≤hh2h3范圍內(nèi)，且深度在工件厚度40%范圍內(nèi)（最小可為6mm，但最大不超過過3t且最大值為200mm；對(duì)于單個(gè)或多個(gè)允許的表面整條焊縫長(zhǎng)度的10%超過300mm。8≤e≤15e2.01.0e2.01.515≤e≤30e2.51.5e3.02.0錯(cuò)邊最大錯(cuò)邊量應(yīng)小于管材壁厚的10%，或者按合同規(guī)定執(zhí)行。A熔合面夾雜缺陷按表9的規(guī)定進(jìn)行分級(jí)評(píng)定。表2 熔合夾缺的量級(jí)級(jí)別與內(nèi)冷焊區(qū)貫通的熔接面夾雜的缺陷長(zhǎng)度與內(nèi)冷焊區(qū)不貫通的熔接面夾雜的缺陷長(zhǎng)度Ⅰ—不大于標(biāo)稱熔合區(qū)長(zhǎng)度L/10Ⅱ不大于標(biāo)稱熔合區(qū)長(zhǎng)度L/10不大于標(biāo)稱熔合區(qū)長(zhǎng)度L/5Ⅲ大于Ⅱ級(jí)者注：L為標(biāo)稱熔合區(qū)長(zhǎng)度?？锥幢? 孔洞陷質(zhì)分級(jí)級(jí)別單個(gè)孔洞組合孔洞ⅠX/L＜5%且h＜5%T累計(jì)尺寸X/L＜10%且h＜5%TⅡX/L＜10%且h＜10%T累計(jì)尺寸X/L＜15%且h＜10%TⅢ大于Ⅱ級(jí)者注：X為該缺陷在熔合面軸向方向上尺寸，L為標(biāo)稱熔合區(qū)長(zhǎng)度，T為電熔接頭管材壁厚，h為孔洞自身高度。11表4 電阻錯(cuò)缺的量級(jí)級(jí)別電阻絲錯(cuò)位量Ⅰ無明顯錯(cuò)位Ⅱ錯(cuò)位量小于電阻絲間距Ⅲ大于Ⅱ級(jí)者或相鄰電阻絲相互接觸Ⅰ、Ⅱ級(jí)電熔接頭中不允許存在承插不到位缺陷。BX射線數(shù)字成像檢測(cè)報(bào)告應(yīng)至少包括下列內(nèi)容：附錄A（規(guī)范性）系統(tǒng)分辨率核查方法GB/T23901．5。2°～5°X1000±50mmF，5%。50kV，1mm50％。80um，SNRn≥14080um，SNRn≥100.C。4附錄B（）圖B.1環(huán)焊縫X射線機(jī)在外雙壁單影透照方式圖B.2小徑管環(huán)焊縫垂直透照方式圖B.3環(huán)縫X射線機(jī)在內(nèi)單壁透照方式

附錄C（規(guī)范性）雙絲型像質(zhì)計(jì)的識(shí)別）如2～5°。21C.1（C.1）?！ぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁぁ?C.1)式中:△GV——可分辨的最細(xì)線對(duì)的灰度差；BGV——背景灰度。R＞202020圖C.1雙絲型像質(zhì)計(jì)可識(shí)別率圖示

附錄D（規(guī)范性）歸一化信噪比測(cè)試方法歸一化信噪比SNRn由式（D.1）計(jì)算得到：式中：

······························································(D.1)PumPPSNRm—測(cè)量信噪比。（20×55SNRm。

附錄E（規(guī)范性）典型缺陷圖列卷邊不良縱向穿孔母材、焊縫麻點(diǎn)

雜質(zhì)外露異物雜質(zhì)、

雜質(zhì)、卷邊不良卷邊不良、焊縫不對(duì)稱卷邊不良、焊縫錯(cuò)位

卷邊不良、過寬卷邊不良、過窄融合異常(帶水分融合異常(帶水分)電阻線錯(cuò)亂夾雜紙條 承插不到位工藝缺陷孔洞、電阻絲錯(cuò)位 電阻絲輕微錯(cuò)位報(bào)告編號(hào)：

附錄F