TYNZYC 0100-2023 基于射頻識(shí)別的中藥（中成藥）生產(chǎn)追溯系統(tǒng) 第5部分：性能測(cè)試規(guī)范

ICS65.020.99CCSB00YNZYC團(tuán) 體 標(biāo) 準(zhǔn)T/YNZYC0100—2023（5RadiofrequencyIdentified-basedproductiontraceabilitysystemfortraditionalChinesemedicine(proprietaryChinesemedicine)-Part5:Performancetestspecification2023-12-11發(fā)布 2023-12-11實(shí)施云南省中藥材種植養(yǎng)殖行業(yè)協(xié)會(huì)??發(fā)布T/YNZYC0100T/YNZYC0100—2023II前 言本文件按照GB/T1.1—2020《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則 第1部分：標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則》的定起草。請(qǐng)注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利。本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別這些專利的責(zé)任。本文件由云南省中藥材種植養(yǎng)殖行業(yè)協(xié)會(huì)提出并歸口。T/YNZYC0100T/YNZYC0100—2023PAGEPAGE10（中成藥5范圍本文件規(guī)定了中成藥行業(yè)基于射頻識(shí)別的生產(chǎn)追溯系統(tǒng)中，對(duì)射頻識(shí)別電子標(biāo)簽和讀寫器相關(guān)性能的測(cè)試方法。本文件適用于中成藥行業(yè)基于射頻識(shí)別的生產(chǎn)追溯系統(tǒng)的選型、測(cè)試、驗(yàn)證等。規(guī)范性引用文件（不包括勘誤的內(nèi)容術(shù)語(yǔ)和定義下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件。射頻識(shí)別(RFIDradiofrequencyidentification在頻譜的射頻部分，利用電磁耦合或感應(yīng)耦合，通過(guò)各種調(diào)制和編碼方案，與射頻標(biāo)簽進(jìn)行通信，并讀取射頻標(biāo)簽的信息的技術(shù)。radiofrequencytagreader/writer一種電子設(shè)備，執(zhí)行從射頻標(biāo)簽獲取數(shù)據(jù)和向射頻標(biāo)簽寫入數(shù)據(jù)的過(guò)程。適當(dāng)時(shí)，執(zhí)行沖突仲裁、錯(cuò)誤控制、信道編碼、信道解碼、信源編碼、信源譯碼和交換源端數(shù)據(jù)等過(guò)程。系統(tǒng)性能空中接口空中接口遵循GB/T29768，標(biāo)簽與讀寫器都應(yīng)符合標(biāo)準(zhǔn)要求。識(shí)讀距離讀寫器與標(biāo)簽之間的讀寫距離不小于50厘米。動(dòng)態(tài)識(shí)別次數(shù)讀寫器與標(biāo)簽之間相對(duì)速度1米/秒的情況下，應(yīng)能識(shí)別超過(guò)30次。識(shí)別率系統(tǒng)正確識(shí)別率應(yīng)超過(guò)99%。產(chǎn)品檢測(cè)方法標(biāo)簽檢驗(yàn)方法盤點(diǎn)識(shí)別測(cè)試裝置多臺(tái)不同型號(hào)基準(zhǔn)讀寫器。適用場(chǎng)景本文件適用于生產(chǎn)、庫(kù)存、測(cè)試等場(chǎng)景。測(cè)試步驟提供被測(cè)標(biāo)簽唯一標(biāo)識(shí)符；被測(cè)標(biāo)簽處于基準(zhǔn)讀寫器的有效識(shí)別范圍內(nèi)；使用多臺(tái)不同型號(hào)的基準(zhǔn)讀寫器讀取被測(cè)標(biāo)簽唯一標(biāo)識(shí)符，記錄標(biāo)簽返回。合格判據(jù)被測(cè)標(biāo)簽唯一標(biāo)識(shí)符能被正確讀出并通過(guò)該標(biāo)識(shí)符選中標(biāo)簽。盤點(diǎn)識(shí)別速度測(cè)試裝置多臺(tái)不同型號(hào)基準(zhǔn)讀寫器。適用場(chǎng)景本文件適用于生產(chǎn)、庫(kù)存、測(cè)試等場(chǎng)景。測(cè)試步驟布放固定數(shù)量的標(biāo)簽，并提供被測(cè)標(biāo)簽唯一標(biāo)識(shí)符；被測(cè)標(biāo)簽處于基準(zhǔn)讀寫器的有效識(shí)別范圍內(nèi)；使用多臺(tái)不同型號(hào)的基準(zhǔn)讀寫器讀取被測(cè)標(biāo)簽唯一標(biāo)識(shí)符，記錄標(biāo)簽返回，記錄讀取時(shí)間。合格判據(jù)統(tǒng)計(jì)并給出盤點(diǎn)識(shí)別速度。盤點(diǎn)識(shí)別率測(cè)試裝置多臺(tái)不同型號(hào)基準(zhǔn)讀寫器。適用場(chǎng)景本文件適用于生產(chǎn)、庫(kù)存、測(cè)試等場(chǎng)景。測(cè)試步驟布放固定數(shù)量的標(biāo)簽，并提供被測(cè)標(biāo)簽唯一標(biāo)識(shí)符；被測(cè)標(biāo)簽處于基準(zhǔn)讀寫器的有效識(shí)別范圍內(nèi)；使用多臺(tái)不同型號(hào)的基準(zhǔn)讀寫器讀取被測(cè)標(biāo)簽唯一標(biāo)識(shí)符，記錄標(biāo)簽返回；合格判據(jù)統(tǒng)計(jì)并給出盤點(diǎn)識(shí)別率。閱讀器檢驗(yàn)方法射頻性能測(cè)試裝置如圖1所示連接。圖1測(cè)試裝置鏈接適用場(chǎng)景本文件適用于生產(chǎn)、庫(kù)存、測(cè)試等場(chǎng)景。測(cè)試步驟待測(cè)讀寫設(shè)備安裝安全模塊，與PC聯(lián)通；頻譜儀通過(guò)衰減器和線纜，直接連接到讀寫設(shè)備的天線端口上；通過(guò)PC控制讀寫設(shè)備發(fā)送射頻信號(hào)；在頻譜儀讀取讀寫設(shè)備的射頻參數(shù)大小，并記錄。合格判據(jù)工作頻率：840MHz~845MHz920MHz~925MHz載波頻率容限：≤20×10-6發(fā)射功率（ERP）：15DBm~30DBm，可動(dòng)態(tài)調(diào)整，調(diào)整步進(jìn)≤1DB，設(shè)置與實(shí)際輸出的功率誤差≤1DB鄰道功率泄露比：第一鄰道<-40DB；第二鄰道<-60DB射頻包絡(luò)參數(shù)：符合GB/T29768的要求盤點(diǎn)識(shí)別測(cè)試裝置多個(gè)不同型號(hào)基準(zhǔn)標(biāo)簽。適用場(chǎng)景本文件適用于生產(chǎn)、庫(kù)存、測(cè)試等場(chǎng)景。測(cè)試步驟提供基準(zhǔn)標(biāo)簽的唯一標(biāo)識(shí)符；被測(cè)讀寫器和基準(zhǔn)標(biāo)簽處于有效識(shí)別范圍內(nèi)；被測(cè)讀寫器分別讀取多批不同型號(hào)標(biāo)簽的唯一標(biāo)識(shí)符，記錄標(biāo)簽返回。合格判據(jù)能正確讀出標(biāo)簽唯一標(biāo)識(shí)符并通過(guò)該標(biāo)識(shí)符選中標(biāo)簽。盤點(diǎn)識(shí)別速度測(cè)試裝置如圖2所示。圖2測(cè)試裝置適用場(chǎng)景本文件適用于生產(chǎn)、庫(kù)存、測(cè)試等場(chǎng)景。測(cè)試步驟布放固定數(shù)量的基準(zhǔn)標(biāo)簽，并提供標(biāo)簽唯一標(biāo)識(shí)符；被測(cè)讀寫器和基準(zhǔn)標(biāo)簽處于有效識(shí)別范圍內(nèi)；被測(cè)讀寫器分別讀取多批不同型號(hào)標(biāo)簽的唯一標(biāo)識(shí)符，記錄標(biāo)簽返回，記錄讀取時(shí)間。合格判據(jù)統(tǒng)計(jì)并給出盤點(diǎn)識(shí)別速度。盤點(diǎn)識(shí)別率測(cè)試裝置如下圖3所示。圖3測(cè)試裝置適用場(chǎng)景本文件適用于生產(chǎn)、庫(kù)存、測(cè)試等場(chǎng)景。測(cè)試步驟布放固定數(shù)量的基準(zhǔn)標(biāo)簽，并提供標(biāo)簽唯一標(biāo)識(shí)符；被測(cè)讀寫器和基準(zhǔn)標(biāo)簽處于有效識(shí)別范圍內(nèi)；被測(cè)讀寫器分別讀取多批不同型號(hào)標(biāo)簽的唯一標(biāo)識(shí)符，記錄標(biāo)簽返回。合格判據(jù)統(tǒng)計(jì)并給出盤點(diǎn)識(shí)別率。應(yīng)用性能靜態(tài)讀距離測(cè)試裝置測(cè)試工具：標(biāo)簽、天線、讀寫設(shè)備測(cè)試環(huán)境：電磁干擾盡可能小的實(shí)際環(huán)境。如圖4所示。圖4測(cè)試環(huán)境適用場(chǎng)景本文件適用于生產(chǎn)、庫(kù)存、測(cè)試等場(chǎng)景。測(cè)試步驟連接設(shè)備和天線，并設(shè)置讀寫設(shè)備功率和頻率；將標(biāo)簽移動(dòng)至天線中心法線上；連續(xù)移動(dòng)標(biāo)簽，記錄識(shí)讀的盲區(qū)位置以及連續(xù)識(shí)讀范圍。合格判據(jù)靜態(tài)最大讀寫距離≥50托盤動(dòng)態(tài)信息采集測(cè)試裝置測(cè)試工具：后臺(tái)、標(biāo)簽、天線、讀寫設(shè)備。測(cè)試環(huán)境：具備流水線的實(shí)際生產(chǎn)環(huán)境圖5測(cè)試裝置適用場(chǎng)景本文件適用于生產(chǎn)場(chǎng)景。測(cè)試方法：連接設(shè)備和天線，并設(shè)置讀寫設(shè)備功率和頻率；0.1M/s查看讀寫設(shè)備是否能夠正常讀電子標(biāo)簽的數(shù)據(jù)，并統(tǒng)計(jì)讀寫次數(shù)；重復(fù)上述步驟直到獲取足夠的數(shù)據(jù)為止。技術(shù)指標(biāo)要求：讀寫設(shè)備連接1個(gè)天線，測(cè)試托盤上粘貼1張標(biāo)簽時(shí)，讀取次數(shù)≥30次。讀寫設(shè)備連接2個(gè)天線，測(cè)試托盤上粘貼2張標(biāo)簽時(shí)，平均讀取次數(shù)≥10次/張，每張標(biāo)簽至少讀取2次。托盤動(dòng)態(tài)采集率測(cè)試裝置測(cè)試工具：后臺(tái)、標(biāo)簽、天線、讀寫設(shè)備。測(cè)試環(huán)境：具備流水線的實(shí)際生產(chǎn)環(huán)境。圖6測(cè)試裝置適用場(chǎng)景本文件適用于生產(chǎn)場(chǎng)景。測(cè)試方法：連接設(shè)備和天線，并設(shè)置讀寫設(shè)備功率和頻率；1m/s查看讀寫設(shè)備是否能夠正常讀電子標(biāo)簽的數(shù)據(jù)，記錄通過(guò)標(biāo)簽的數(shù)量和采集到信息的數(shù)據(jù)；重復(fù)上述步驟直到獲取足夠的數(shù)據(jù)為止。技術(shù)指標(biāo)要求：采集到標(biāo)簽的數(shù)量占通過(guò)標(biāo)簽數(shù)量超過(guò)99.99%?；ゲ僮餍再|(zhì)量保證規(guī)定檢驗(yàn)分類本規(guī)范規(guī)定的檢驗(yàn)分類如下：鑒定檢驗(yàn)；質(zhì)量一致性檢驗(yàn)。檢測(cè)環(huán)境生產(chǎn)環(huán)境：表1 生產(chǎn)環(huán)境參數(shù)環(huán)境參數(shù)定義流水線速度不低于托盤間距不小于10cm讀寫器天線和標(biāo)簽距離不小于30cm天線屏蔽無(wú)屏蔽，空間無(wú)干擾測(cè)試環(huán)境測(cè)試環(huán)境搭建一個(gè)檢測(cè)平臺(tái)，模擬老化測(cè)試環(huán)境的應(yīng)用場(chǎng)景。環(huán)境參數(shù)如表2所示：表2 查詢環(huán)境參數(shù)環(huán)境參數(shù)定義天線最大發(fā)射功率2dbi（30cm-40cm1dbi離與dbi7）標(biāo)簽布放托盤側(cè)面讀寫器天線和標(biāo)簽距離不小于30cm圖7不同天線接讀寫模塊讀距展示功能檢測(cè)項(xiàng)功能檢測(cè)項(xiàng)目及說(shuō)明如表3所示：表3 功能性檢測(cè)項(xiàng)列表編號(hào)檢測(cè)項(xiàng)檢測(cè)項(xiàng)說(shuō)明1追溯與防偽查詢流程標(biāo)簽盤點(diǎn)識(shí)別必測(cè)項(xiàng)2防偽數(shù)據(jù)讀取必測(cè)項(xiàng)3密鑰準(zhǔn)備必測(cè)項(xiàng)4讀寫器和標(biāo)簽雙向鑒別與信息顯示必測(cè)項(xiàng)5追溯數(shù)據(jù)讀取必測(cè)項(xiàng)6查詢結(jié)果記錄和用戶通告必測(cè)項(xiàng)7脫機(jī)防偽查詢必測(cè)項(xiàng)8盤點(diǎn)識(shí)別兼容方案兼容方案必測(cè)項(xiàng)性能檢測(cè)項(xiàng)性能檢測(cè)項(xiàng)及說(shuō)明如表4所示表4 性能檢測(cè)項(xiàng)列表編號(hào)檢測(cè)項(xiàng)檢測(cè)項(xiàng)說(shuō)明1盤點(diǎn)識(shí)別速度完成一組標(biāo)簽盤點(diǎn)識(shí)別的速度2盤點(diǎn)識(shí)別率完成一組標(biāo)簽盤點(diǎn)識(shí)別的成功率3防偽查詢的時(shí)間完成一次完整防偽查詢的時(shí)間檢驗(yàn)項(xiàng)目和檢驗(yàn)順序檢驗(yàn)項(xiàng)目和檢驗(yàn)順序如表5所示。表5 檢驗(yàn)項(xiàng)目和檢驗(yàn)順序表檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)順序鑒定檢驗(yàn)質(zhì)量一致性檢驗(yàn)要求章條號(hào)試驗(yàn)方法章條號(hào)A組B組C組追溯與防偽查詢流程標(biāo)簽盤點(diǎn)識(shí)別1●●——盤點(diǎn)識(shí)別速度2●●盤點(diǎn)識(shí)別率3●●防偽數(shù)據(jù)讀取4●●——密鑰準(zhǔn)備5●●讀寫器和標(biāo)簽雙向鑒別與信息顯示6●●追溯數(shù)據(jù)讀取7●●查詢結(jié)果記錄和用戶通告8●●脫機(jī)防偽查詢9●●防偽查詢的時(shí)間10●●盤點(diǎn)識(shí)別兼容方案11●—●注：“●”表示必檢項(xiàng)目；“○”表示訂購(gòu)方和承制方協(xié)商的檢驗(yàn)項(xiàng)目；“—”表示不檢項(xiàng)目。鑒定檢驗(yàn)檢驗(yàn)時(shí)機(jī)遇到下列情況之一時(shí)應(yīng)進(jìn)行鑒定檢驗(yàn)：新產(chǎn)品試制完成時(shí)；設(shè)計(jì)、工藝及關(guān)鍵元器件有重大變更可能影響鑒定結(jié)論時(shí)；2（2）又恢復(fù)生產(chǎn)或轉(zhuǎn)廠生產(chǎn)時(shí)。鑒定檢驗(yàn)應(yīng)該在鑒定機(jī)構(gòu)批準(zhǔn)的試驗(yàn)室進(jìn)行，試驗(yàn)的樣品應(yīng)是用正常生產(chǎn)中所用的設(shè)備和工藝生產(chǎn)的。樣品數(shù)量1005合格判據(jù)當(dāng)檢驗(yàn)樣品全部合格時(shí)，判定鑒定檢驗(yàn)合格，否則判定鑒定檢驗(yàn)不合格。對(duì)鑒定檢驗(yàn)不合格的處理方法對(duì)鑒定檢驗(yàn)不合格的處理方法如下：對(duì)失效樣品進(jìn)行分析，找出失效原因；分析失效原因；制定整改措施并落實(shí)。鑒定合格資格的保持承制方應(yīng)定期提供有關(guān)試驗(yàn)數(shù)據(jù)，證明其標(biāo)簽鑒定合格的有效性。質(zhì)量一致性檢驗(yàn)檢驗(yàn)分組質(zhì)量一致性檢驗(yàn)分為以下三組：ABC檢驗(yàn)批的構(gòu)成檢驗(yàn)批的構(gòu)成應(yīng)符合GB/T的規(guī)定。A檢驗(yàn)?zāi)康暮瓦m用范圍A組檢驗(yàn)是為證實(shí)產(chǎn)品是否符合規(guī)范要求而對(duì)一個(gè)檢驗(yàn)批中的樣品所進(jìn)行的非破壞性試驗(yàn)。A組檢驗(yàn)用來(lái)檢查那些容易受生產(chǎn)工藝或生產(chǎn)技能變化影響的標(biāo)簽特性，以及對(duì)于達(dá)到預(yù)定要求至關(guān)重要的性能。檢驗(yàn)項(xiàng)目A組檢驗(yàn)項(xiàng)目參照7.2.2表5執(zhí)行。檢驗(yàn)方案對(duì)提交的批產(chǎn)品進(jìn)行抽樣檢驗(yàn)。抽樣方案按國(guó)家相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，采用一次正常抽樣和一般檢驗(yàn)水平??？山邮召|(zhì)量水平A組可接收質(zhì)量水平為：連續(xù)批的可接收質(zhì)量水平值(AQL)為：0.65；孤立批的極限質(zhì)量(LQ)值為：1.5。檢驗(yàn)樣品的處理A組檢驗(yàn)批中，對(duì)有缺陷的標(biāo)簽，承制方應(yīng)剔除，不應(yīng)作為產(chǎn)品提交。B檢驗(yàn)?zāi)康暮瓦m用范圍B組檢驗(yàn)一般是比A組檢驗(yàn)更復(fù)雜或需要更多試驗(yàn)時(shí)間的一種非破壞性試驗(yàn)。B組檢驗(yàn)用來(lái)檢查那些受零部件和設(shè)備質(zhì)量影響較大，受生產(chǎn)工藝或生產(chǎn)技能影響較小的標(biāo)簽特性。B組檢驗(yàn)為逐批抽樣檢驗(yàn)。檢驗(yàn)項(xiàng)目B組檢驗(yàn)項(xiàng)目參照7.2.2表5執(zhí)行。檢驗(yàn)方案受試樣品應(yīng)從A組檢驗(yàn)合格的批中隨機(jī)抽取，抽樣方案按國(guó)家相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，采用一次正常抽樣和特殊檢驗(yàn)水平S-2?？山邮召|(zhì)量水平B組可接收質(zhì)量水平為：連續(xù)批的可接收質(zhì)量水平值(AQL)為：0.65；孤立批的極限質(zhì)量(LQ)值為：1.5。檢驗(yàn)樣品的處理B組檢驗(yàn)批中，對(duì)有缺陷的標(biāo)簽，承制方應(yīng)負(fù)責(zé)剔除，不應(yīng)作為產(chǎn)品提交。C檢驗(yàn)?zāi)康暮瓦m用范圍C組檢驗(yàn)一般是周期性的破壞性試驗(yàn)，用來(lái)定期檢查那些與標(biāo)簽設(shè)計(jì)及材料有關(guān)的特性。CB檢驗(yàn)時(shí)機(jī)出現(xiàn)下列情況之一的提交批應(yīng)進(jìn)行C組檢驗(yàn)：提交批為孤立批；6