光伏器件 第8-1部分：多結(jié)光伏器件光譜響應(yīng)的測量 征求意見稿

1GB/TXXXXX—XXXX地面用光伏組件設(shè)計鑒定和定型第2部分：試驗(yàn)程序本文件規(guī)定了適合在露天氣候下長期運(yùn)行的地面光伏組件的設(shè)計鑒定要求。組件的使用壽命是否達(dá)標(biāo)取決于其設(shè)計、環(huán)境和運(yùn)行條件。測試結(jié)果不能被用作預(yù)測組件壽命依據(jù)。在98th%運(yùn)行溫度超過70℃的氣候條件下，建議用戶采用IECTS63126中描述的更高溫度的測試條件進(jìn)行測試。在對預(yù)期壽命較低的光伏產(chǎn)品進(jìn)行認(rèn)證時，建議用戶使用如IECTS63163中所述針對消費(fèi)者設(shè)計的光伏電子產(chǎn)品進(jìn)行測試。為確保量產(chǎn)組件與用于IEC61215的測試組件的特性保持一致，建議用戶依據(jù)IEC62941對光伏制造進(jìn)行質(zhì)量體系核查。本文件適用于所有地面用平板組件材料，例如晶體硅類型組件以及薄膜組件。本文件不適用于帶聚光器的組件，但可用于低聚光組件（1到3個太陽光）。對于低聚光組件，所有測試應(yīng)在預(yù)先設(shè)計的聚光條件下的輻照度、電流、電壓和功率等級下進(jìn)行。該測試序列的目的是驗(yàn)證組件的電氣特性，并在合理的成本和時間內(nèi)，證明該組件能夠承受長時間的戶外暴露。加速測試條件是根據(jù)經(jīng)驗(yàn)，基于重現(xiàn)現(xiàn)場觀察到的故障所需的條件而設(shè)定，并適用于所有類型組件。加速因子可能因產(chǎn)品設(shè)計而異，并非所有衰退機(jī)制都可能表現(xiàn)出來。有關(guān)加速測試方法的更多信息，包括術(shù)語定義，請參見IEC62506。由于產(chǎn)生故障所需的時間過長且在大面積組件上施加必要應(yīng)力條件所需的成本過高，一些長期退化機(jī)制只能在零部件測試層面體現(xiàn)。已達(dá)到足夠成熟度來設(shè)置高置信度的通過/失敗標(biāo)準(zhǔn)的零部件試驗(yàn)通過補(bǔ)充GB/TXXXX-1-202X表1的方式納入GB/TXXXX—202X系列。相反，在GB/TXXXX-2中所述的試驗(yàn)程序是在組件上進(jìn)行的。2規(guī)范性引用文件下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中，注日期的引用文件，僅該日期對應(yīng)的版本適用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本文件。GB/T2421.1環(huán)境試驗(yàn)第1部分：概述和指南GB/T2423.60電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)U：引出端及整體安裝件強(qiáng)度GB/T2423.3環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)GB/T6495.4晶體硅光伏器件I-V實(shí)測特性的溫度和輻照度修正方法GB/T6495.1光伏器件第1部分：光伏電流—電壓特性的測量GB/T6495.2光伏器件第2部分：標(biāo)準(zhǔn)太陽能電池的要求GB/T6495.3光伏器件第3部分：地面用光伏器件的測量原理及標(biāo)準(zhǔn)光譜輻照度數(shù)據(jù)GB/T6495.7光伏器件第7部分：光伏器件測量過程中引起的光譜失配誤差的計算GB/T6495.8光伏器件第8部分：光伏器件光譜響應(yīng)的測量GB/T6495.9光伏器件第9部分：太陽模擬器性能要求GB/T6495.10光伏器件第10部分：線性特性測量方法GB/T20047.1光伏（PV)組件安全鑒定第1部分：結(jié)構(gòu)要求2GB/TXXXXX—XXXXGB/T43057光伏組件動態(tài)機(jī)械載荷試驗(yàn)GB/T27025檢測和校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室能力的通用要求GB/T2423.3-2016環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)GB/TXXXX-1-202X地面用光伏組件—設(shè)計鑒定和定型—第1部分：測試要求IEC60904-1-1光伏器件第1-1部分：多結(jié)光伏（PV)器件的電流—電壓特性的測量（PhotovoltaicDevices-Part1-1:MeasurementofCurrent-voltageCharacteristicsofMultijunctionPhotovoltaicDevices）IECTS60904-1-2光伏器件第1-2部分：光伏電流—電壓特性的測量（PhotovoltaicDevices-Part1-2:MeasurementofofCurrent-voltageCharacteristicsofBifacialPhotovoltaicDevices）IECTR60904-14光伏器件第14部分：標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)條件下單結(jié)光伏組件最大功率輸出和報告的生產(chǎn)線測量指南（PhotovoltaicDevices-Part14:GuidelinesforProductionLineMeasurementsofSingle-junctionPVModuleMaximumPowerOutputandReportingatStandardtestConditions）IEC61140電擊防護(hù)裝置和設(shè)備的通用部分（ProtectionAgainstElectricShock-CommonaspectsforInstallationandEquipment）IEC61730-2光伏（PV)組件安全鑒定第2部分：試驗(yàn)要求(Photovoltaic(PV)modulesafetyqualification–Part2:Requirementsfortesting)IECTS61836太陽光伏能源系統(tǒng)–術(shù)語、定義和符號（Solarphotovoltaicenergysystems–Terms,definitionsandsymbols）IEC62790光伏組件接線盒安全要求和試驗(yàn)（Junctionboxesforphotovoltaicmodules–Safetyrequirementsandtests）IECTS62804-1:2015光伏（PV）組件–電位誘導(dǎo)衰減檢測的試驗(yàn)方法–第1部分：晶體硅（Photovoltaic(PV)modules–Testmethodsforthedetectionofpotentialinduceddegradation–Part1:Crystallinesilicon）IECTS63163消費(fèi)產(chǎn)品的地面光伏（PV）組件—設(shè)計鑒定和型式認(rèn)證(Terrestrialphotovoltaic(PV)modulesforconsumerproducts–Designqualificationandtypeapproval）IEC61853地面光伏組件的性能試驗(yàn)和能量標(biāo)定（PerformanceTestingandEnergyRatingofTerrestrialPhotovoltaic（PV）Modules）3術(shù)語和定義IECTS61836和GB/TXXXX—202X界定的以及下列術(shù)語和定義適用于本文件。ISO和IEC在以下地址維護(hù)用于標(biāo)準(zhǔn)化的術(shù)語數(shù)據(jù)庫：.IEC電子百科全書：可從/獲取.ISO在線瀏覽平臺：可從/obp獲取3.1精確度（測量裝置的精確度）測量裝置提供的指示值接近被測量實(shí)際值的能力的特性。[符合國際計量詞匯表（VIM），5.18][來源：GB/T2900.77-2008，311-06-08]3.2控制裝置輻照度傳感器（如參考電池或組件），用于檢測太陽模擬器的漂移和其他問題。3GB/TXXXXX—XXXX3.3穩(wěn)定的功率輸出電平光伏組件在長期自然陽光下運(yùn)行的狀態(tài)。3.4重復(fù)性（測量結(jié)果的重復(fù)性）在相同測量條件下，對同一被測量進(jìn)行連續(xù)測量所得結(jié)果之間的一致性程度，即：–通過相同的測量程序，–使用相同的測量裝置，–在相同條件下使用，–在同一實(shí)驗(yàn)室，在相對較短的時間間隔內(nèi)[≈VIM，3.6]。[來源：GB/T2900.77-2008，311-06-06]3.5Gate1如GB/TXXXX—202X所述，組件性能與其銘牌規(guī)格之間的通過/失敗比較標(biāo)準(zhǔn)。3.6Gate2如GB/TXXXX—202X所述，組件在經(jīng)受應(yīng)力前后性能的通過/失敗比較標(biāo)準(zhǔn)。4試驗(yàn)程序下述各小節(jié)詳細(xì)介紹了進(jìn)行每一項(xiàng)組件鑒定試驗(yàn)（MQT）的具體操作指南。關(guān)于資格認(rèn)證的報告和測試順序要求，在GB/TXXXX-1標(biāo)準(zhǔn)中進(jìn)行了闡述。4.1外觀檢查(MQT01)4.1.1目的檢查組件中的任何外觀缺陷。4.1.2程序按照GB/TXXXX—202X的規(guī)定，在不低于1000lx的照度下，對每個組件仔細(xì)檢查。記錄和/或拍攝任何可能屬于GB/TXXXX—202X中定義的主要外觀缺陷。還需記錄和/或拍攝任何裂紋、氣泡或分層等的狀態(tài)和位置，這些缺陷可能會在后續(xù)的試驗(yàn)中加劇并對組件性能產(chǎn)生不良影響。記錄任何失效原因和相關(guān)試驗(yàn)或?qū)嶒?yàn)室條件的相關(guān)信息。4.1.3要求不應(yīng)存在GB/TXXXX—202X中定義的主要外觀缺陷。4.2最大功率確定(MQT02）4.2.1目的確定在穩(wěn)定后以及各種環(huán)境應(yīng)力試驗(yàn)前后組件的最大功率。4GB/TXXXXX—XXXX4.2.2裝置a)符合IEC60904-1測量I-V特性的裝置；b)符合IEC60904-2的光伏參考裝置；c)應(yīng)使用以下兩種選項(xiàng)中的至少一種來減少不確定度的光譜失配分量：.執(zhí)行光譜失配修正。組件的光譜響應(yīng)度應(yīng)根據(jù)IEC60904-8進(jìn)行測量。光譜響應(yīng)數(shù)據(jù)可能來自執(zhí)行GB/TXXXX—202X的同一實(shí)驗(yàn)室，或來自不同實(shí)驗(yàn)室。用于獲取光譜響應(yīng)數(shù)據(jù)的樣品可能是測試組件，也可能是使用與測試組件相同的材料清單制成的參考電池。然后應(yīng)根據(jù)IEC60904-7利用太陽模擬器的光譜分布進(jìn)行光譜失配修正。.使用匹配的參考電池或組件。參考裝置應(yīng)采用與測試組件相同的電池技術(shù)，以匹配光譜響應(yīng)度。對電池或組件的大小沒有要求。d)光源：自然陽光或符合IEC60904-9的CAA級或更好的太陽模擬器。對于GB/TXXXX—202X中定義的超大組件，可使用CBA級模擬器；注1：根據(jù)IEC60904-9，CBA級定義為：AM1.5光譜匹配被歸類為C級，為了實(shí)現(xiàn)高精度的功率測量，太陽模擬器的光譜輻照度分布應(yīng)覆蓋被測光伏器件的光譜響應(yīng)所涵蓋的整個波長范圍。參見IECTR60904-14和IEC60904-9:2020。e)合適的支架，以便支撐測試樣品和參考裝置處于垂直于輻射光束的平面上。注2：MQT02測量程序旨在將不確定度降至最低，例如由經(jīng)認(rèn)證的測試實(shí)擬器，可以適用于其他應(yīng)用，如工廠的質(zhì)量控制。僅需要重復(fù)性的應(yīng)用，例如在長時間應(yīng)力前后比較組件性4.2.3程序使用4.2.2中所述的設(shè)備，根據(jù)IEC60904-1，在一組特定的輻照度和溫度條件下（推薦的范圍是電池溫度在20℃和50℃之間，輻照度在700W/m2和1100W/m2之間）確定組件的電流-電壓特性。在特殊情況下，當(dāng)組件設(shè)計用于在不同條件下運(yùn)行時，可使用與預(yù)期運(yùn)行條件類似的溫度和輻照度水平測量電流-電壓特性。對于線性組件（如IEC60904-10所定義），可根據(jù)IEC60891進(jìn)行溫度和輻照度校正，以比較環(huán)境試驗(yàn)前后在同一組件上進(jìn)行的測量值。對于非線性組件（如IEC60904-10中所定義），測量應(yīng)在規(guī)定輻照度的±5%和規(guī)定溫度的±2℃范圍內(nèi)進(jìn)行。但是，應(yīng)盡一切努力確保在類似的操作條件下進(jìn)行峰值功率測量，即通過在近似相同的溫度和輻照度下對特定組件進(jìn)行所有峰值功率測量，將校正幅度降至最低。對于柔性組件，最大功率測定應(yīng)在柔性組件處于平坦位置時進(jìn)行測量。4.3絕緣試驗(yàn)（MQT03）4.3.1目的確定組件的帶電部分與可接觸部分之間的絕緣是否良好。4.3.2裝置a)有限流的直流電壓源，能夠?yàn)楦鞣N組件施加表1第三列中的規(guī)定電壓；b)測量絕緣電阻的裝置。4.3.3條件對組件進(jìn)行試驗(yàn)的條件：溫度為環(huán)境溫度（見IEC60068-1），相對濕度不超過75%。5GB/TXXXXX—XXXX施加在組件上的電壓應(yīng)力水平由組件的最大系統(tǒng)電壓（Vsys）、組件等級以及是否存在膠結(jié)接頭決定。組件類別的定義取自IEC61140，并在IEC61730-1:2016第4條中與光伏組件相關(guān)的內(nèi)容中進(jìn)行了討論。IEC61730-1:2016第3.4.2條中給出了膠結(jié)接頭的定義，并在IEC61730-1:2016第B.5和B.9條中進(jìn)行了進(jìn)一步討論。本試驗(yàn)中采用的電壓應(yīng)力水平與IEC61730-2MST16中采用的電壓應(yīng)力水平相同。4.3.4程序a)將組件引出線短路后接到有限流裝置的直流絕緣測試儀的正極。b)將組件暴露的金屬部分接到絕緣測試儀的負(fù)極。如果組件無邊框或邊框是不良導(dǎo)體，將組件的周邊和背面用導(dǎo)電箔包裹，再將導(dǎo)電箔連接到絕緣測試儀的負(fù)極。c)如果組件與邊框保持正電壓時，某些組件技術(shù)可能對靜態(tài)極化敏感。在這種情況下，應(yīng)以相反的方式連接測試儀。如適用，制造商應(yīng)提供有關(guān)靜態(tài)極化敏感性的信息，并記錄在試驗(yàn)報告中。d)讀取表1第三列中的“一分鐘預(yù)處理”電壓VTest1。以不超過500V/s的速率將測試儀施加的電壓增加至等于VTest1的最大值。將電壓保持在此水平1分鐘。e)將施加的電壓降至零，將絕緣測試儀的正負(fù)極短路，以釋放組件中積聚的電壓。f)拆除短路裝置。g)讀取表1第四列中的“兩分鐘應(yīng)力”電壓VTest2。以不超過500V/s的速率將測試儀施加的電壓增加至VTest2的電壓。將電壓保持在此水平2分鐘。然后測定絕緣電阻。h)將施加的電壓降至零，將絕緣測試儀的正負(fù)極短路，以釋放組件中積聚的電壓。i)拆除短路裝置并斷開組件與測試設(shè)備的連接。VV0否大于500或V否2000+4*V大于500或V否0是大于500或V是大于500或V是4.3.5試驗(yàn)要求a)無絕緣擊穿或表面起痕。b)對于面積小于0.1m2的組件，絕緣電阻不小于400MΩ。c)對于面積大于0.1m2的組件，測得的絕緣電阻乘以組件面積應(yīng)不小于40MΩ·m2。4.4溫度系數(shù)的測量（MQT04）根據(jù)IEC60891標(biāo)準(zhǔn)，通過組件測量確定電流(α)、電壓(β)和峰值功率(δ)的溫度系數(shù)。所確定的系數(shù)適用于進(jìn)行測量時的輻照度條件。關(guān)于不同輻照度水平下組件溫度系數(shù)的評估，見IEC60904-10。對于雙面組件，使用相同的程序確定溫度系數(shù)，但應(yīng)確保沒有背面輻照。應(yīng)覆蓋背面，以使組件非暴露側(cè)的貢獻(xiàn)不超過IECTS60904-1-2規(guī)定的“非輻照背景”水平。如果由于組件集成了電子設(shè)6GB/TXXXXX—XXXX備而無法測量開路電壓或短路電流，相關(guān)的溫度系數(shù)應(yīng)報告為“由于組件集成了電子設(shè)備，無法測量”。開路電壓或短路電流的測量應(yīng)僅限于直接測量方法，不應(yīng)使用如外推等其他方法。注：對于符合IEC60904-10的線性組件，溫度系數(shù)在輻照水平的±30%范圍內(nèi)有效。4.5空白條款，原組件標(biāo)稱工作溫度（NMOT）組件標(biāo)稱工作溫度（NMOT）測試（原名MQT05）不再是本文件的一部分。保留此子條款，以便在文檔的以下子項(xiàng)中，MQT編號與子條款編號匹配。4.6標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)（測試）條件下的性能（MQT06.1）4.6.1目的確定組件在STC（1000W/m2，25℃電池溫度，IEC60904-3參考太陽光譜輻照度分布）條件下電性能隨負(fù)載變化的情況。MQT06.1是在STC條件下進(jìn)行的最大功率測量（MQT02）的實(shí)例。MQT06.1旨在驗(yàn)證組件銘牌信息，并用于確定應(yīng)力測試后的功率損耗。不確定度m1應(yīng)包括光譜不匹配的分量，基于光譜響應(yīng)的測試或給定技術(shù)類型的最壞情況可能性，以及模擬器強(qiáng)度的設(shè)置方法。對于銘牌驗(yàn)證，不確定度m1應(yīng)符合技術(shù)特定部分中規(guī)定的限值。在確定應(yīng)力測試的功率損失時，試驗(yàn)的再現(xiàn)性r應(yīng)符合技術(shù)特定部分中規(guī)定的限值。4.6.2裝置a)該裝置應(yīng)符合4.2.2（MQT02）的規(guī)定；b)還應(yīng)配備監(jiān)測試樣和參考裝置溫度的裝置，精確度為±1℃,重復(fù)性為±0.5℃;c)對于雙面組件的測量，還需要具備以下能力：根據(jù)4.6.2a條款的要求，使用的輻射源必須能夠進(jìn)行操作，具有可調(diào)節(jié)的輻照度級別和/或背面輻照功能，從而確?？梢酝ㄟ^至少一種IECTS60904-1-2標(biāo)準(zhǔn)所允許的方法施加BNPI（定義見IEC61215-1:2021）；d)對于多結(jié)組件的測量，模擬器和參考裝置應(yīng)滿足IEC60904-1-1規(guī)定的附加要求。4.6.3STC下的測量程序（MQT06.1）按照IEC60904-1規(guī)定，使用4.6.2中所述的設(shè)備，將組件保持在（25±2）℃,并在（1000±100）W/m2的輻照度（通過適當(dāng)?shù)膮⒖佳b置測量）下跟蹤其電流-電壓特性。依據(jù)IEC60904系列及IEC60891標(biāo)準(zhǔn)，使用溫度系數(shù)將組件溫度校正至25℃。對于雙面組件，應(yīng)按照IECTS60904-1-2的規(guī)定進(jìn)行測量。MQT06應(yīng)在STC和BNPI下進(jìn)行Gate1判定。每次在STC條件下進(jìn)行MQT06測試時，應(yīng)根據(jù)IECTS60904-1-2標(biāo)準(zhǔn)，測量短路電流(φIsc=Iscr/Iscf）、開路電壓(φVoc=Vocr/Vocf）和功率(φPmax=Pmaxr/Pmaxf）的STC雙相系數(shù)。IECTS60904-1-2中規(guī)定了這些參數(shù)的定義、測量方法及描述它們所使用的符號。評估Gate2（即應(yīng)力后）時，MQT06測試僅在BNPI條件下執(zhí)行。應(yīng)力測試后，除非MQT應(yīng)力測試程序中有明確說明，否則無需重新測量雙面性系數(shù)。在單面照明測量中，可利用測得的預(yù)應(yīng)力雙面系數(shù)來計算適當(dāng)?shù)牡刃?qiáng)度。在BNPI下執(zhí)行MQT06時，只要滿足最大不確定度m1的要求，可使用IEC60891中描述的任何方法將施加的輻照度校正為所需的等效正面輻照度。注1：使用IEC60891中的方法，將施加的輻照度校正為所需的等效正性系數(shù)的微小差異而需要對每個組件進(jìn)行不同7GB/TXXXXX—XXXX對于柔性組件，應(yīng)在柔性組件處于平坦（即完全展開）狀態(tài)時測量最大功率。對于非常大的組件（如IEC61215-1:2021所定義），測試實(shí)體可在制造商工廠進(jìn)行測試，但仍應(yīng)滿足4.6.2中規(guī)定的要求。對于多結(jié)組件，應(yīng)按照IECTS60904-1-1的規(guī)定進(jìn)行測量。4.7低輻照度下的性能（MQT07）4.7.1目的確定組件在25℃和輻照度為200W/m2條件下，電性能隨負(fù)載變化的情況。4.7.2裝置a)該裝置應(yīng)符合4.2.2（MQT02）的規(guī)定；該裝置還應(yīng)具有以下能力：b)將輻照度調(diào)整到200W/m2的設(shè)備，根據(jù)IEC60904-10的要求，應(yīng)不影響相對光譜輻照度的分布及空間均勻性；c)監(jiān)測測試樣品和標(biāo)準(zhǔn)器件的溫度的裝置，要求溫度準(zhǔn)確度為±1℃,重復(fù)性為±0.5℃;d)對于雙面組件的測量，還需要以下設(shè)備：能夠圍繞組件邊緣安裝的擋板，以及一種非反射性覆蓋材料，該材料用于暫時遮擋對組件另一面的光照，從而可以分別評估雙面組件的前后兩面的性能；e)對于多結(jié)組件的測量，模擬器和參考裝置應(yīng)滿足IEC60904-1-1規(guī)定的附加要求。4.7.3程序根據(jù)IEC60904-1，使用第4.7.2節(jié)中規(guī)定的設(shè)備，在（25±2）℃和（200±20）W/m2的輻照度下，測量組件的電流-電壓特性。應(yīng)使用中性濾光器或其他不影響光譜輻照度分布的技術(shù)將輻照度降低至規(guī)定水平(有關(guān)在不改變光譜輻照度分布的情況下降低輻照度的技術(shù)指導(dǎo)，請參見IEC60904-10。）依據(jù)IEC60904系列及IEC60891標(biāo)準(zhǔn)，使用溫度系數(shù)將組件溫度校正至25℃。對于柔性組件，應(yīng)在柔性組件處于平坦（即完全展開）位置時測量最大功率。對于非常大的組件（如IEC61215-1:2021所定義），測試實(shí)體可在制造商工廠進(jìn)行測試，但仍應(yīng)滿足4.7.2中規(guī)定的要求。對雙面組件，使用擋板和背面遮擋屏，在200W/m2輻照度下分別對組件的正面和背面進(jìn)行兩次單面測量。依據(jù)IECTS60904-1-2標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的方法計算低輻照度下的雙面系數(shù)，但使用的輻照度為200W/m對于多結(jié)組件，應(yīng)按照IECTS60904-1-1的規(guī)定進(jìn)行測量。4.8室外曝露試驗(yàn)（MQT08）4.8.1目的初步評估組件經(jīng)受室外條件曝曬的能力，并揭示可能在實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)中測不出來的綜合衰減效應(yīng)。4.8.2裝置a)一個開放式支架，以規(guī)定的方式固定測試組件及太陽輻射監(jiān)測設(shè)備。支架的設(shè)計應(yīng)盡量減少組件的熱傳導(dǎo)，并盡量減少對組件前后表面熱輻射的干擾。對于不適用于開放式架安裝的組件，則應(yīng)按照制造商的建議安裝測試組件；b)太陽輻照度監(jiān)測器，精度為±5%，安裝于組件的同一平面上，并且安裝位置需距離測試陣列0.3米以內(nèi)；c)指按照制造商的建議，將組件安裝在與輻照度監(jiān)測器共面的位置；8GB/TXXXXX—XXXXd)一個可使組件在其最大功率點(diǎn)附件工作的電阻負(fù)載或者一個電子最大功率點(diǎn)跟蹤器（MPPT）。4.8.3程序a)測試組件的位置應(yīng)確保其垂直于本地緯度±5°。在測試報告中應(yīng)記錄測試組件的安裝傾角；b)按照制造商的建議，將電阻負(fù)載或電子最大功率點(diǎn)跟蹤器連接至組件，并將其安裝在室外，與輻照監(jiān)測器共面。測試組件前，應(yīng)安裝制造商推薦的熱斑保護(hù)裝置；c)對組件進(jìn)行至少60kWh/m2的總輻照測試，輻照量通過監(jiān)測設(shè)備進(jìn)行測量。根據(jù)制造商提供的說明，測試組件在測試期間或測試結(jié)束后可進(jìn)行清潔處理。4.8.4最后試驗(yàn)重復(fù)MQT01和MQT15的試驗(yàn)。4.8.5要求a)無GB/TXXXX—202X中規(guī)定的嚴(yán)重外觀缺陷；b)濕漏電流應(yīng)滿足與初始試驗(yàn)相同的要求。4.9熱斑耐久試驗(yàn)（MQT09）4.9.1目的確定組件承受熱斑加熱效應(yīng)的能力，例如焊接熔化或封裝退化。電池不匹配或裂紋、內(nèi)部連接失效、局部被遮光或弄臟均會引起這種缺陷。雖然絕對溫度和相對功率損耗不是本試驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn)，但仍使用最嚴(yán)酷的熱斑條件來確保設(shè)計的安全性。4.9.2熱斑效應(yīng)當(dāng)組件的工作電流超過遮擋或故障電池或電池組的減少短路電流（Isc）時，組件中會發(fā)生反向偏置熱斑加熱。當(dāng)這種情況發(fā)生時，受影響的電池或電池組被迫反向偏置，并將耗散功率，從而導(dǎo)致過熱。如果功耗足夠高或局部足夠高，則反向偏置電池可能過熱，導(dǎo)致（取決于技術(shù)）焊接熔化、密封劑、前板和/或背板劣化、上層玻璃、基板和/或覆蓋玻璃開裂。正確使用旁路二極管可以防止熱斑損壞的發(fā)太陽能電池的反向特性可能有很大的不同。電池可以在反向性能受電壓限制的情況下具有高并聯(lián)電阻，也可以在反向性能受電流限制的情況下具有低并聯(lián)電阻。每種類型的電池都會出現(xiàn)熱斑問題，但方式不同。低并聯(lián)電阻電池：.最差的遮擋情況發(fā)生在整片電池（或大部分）被遮擋。.由于局部分流，通常采用低并聯(lián)電阻電池。在這種情況下，由于大量電流在小面積內(nèi)流動，因此會發(fā)生熱斑加熱。因?yàn)檫@是一種局部化現(xiàn)象，所以這種電池的性能有很大的分散性。當(dāng)反向偏置時，并聯(lián)電阻最低的電池極有可能在過高的溫度下工作。.由于加熱是局部的，低并聯(lián)電阻電池的熱斑失效會很快發(fā)生。主要的技術(shù)問題是如何確定最低并聯(lián)電阻電池，以及隨后如何確定這些電池的最壞遮擋情況。此過程取決于技術(shù)，將在本文件系列的技術(shù)特定部分中予以說明。高并聯(lián)電阻電池：.最差遮擋情況發(fā)生在電池被部分遮擋。9GB/TXXXXX—XXXX.連接處故障和高溫的發(fā)生比較緩慢。遮擋需要保持一段時間以產(chǎn)生最壞情況下的熱斑加4.9.3電池內(nèi)部連接的分類串聯(lián)連接：在單個串中所有單元的串聯(lián)連接。參考圖1。帶有串聯(lián)電池的組件可由單個（圖1，左側(cè)）或多個（圖1，右側(cè)）旁路二極管保護(hù)。圖1串聯(lián)電路，帶可選旁路二極管的串聯(lián)連接并串連接：并聯(lián)-串聯(lián)連接，即（S）組電池串聯(lián)連接，每組（P）個電池并聯(lián)連接。請參閱圖2。圖2并串聯(lián)電路，帶可選旁路二極管的并串聯(lián)連接串并連接：串聯(lián)-并聯(lián)連接方式，即（P）組電池并聯(lián)連接，每組（S）個電池串聯(lián)連接。請參閱圖3。GB/TXXXXX—XXXX圖3串并聯(lián)電路，帶可選旁路二極管的串并聯(lián)連接每個連接方式都需要特定的熱斑耐久試驗(yàn)程序。4.9.4裝置a)光源：自然陽光或符合IEC60904-9的BBB級（或更好）穩(wěn)態(tài)太陽模擬器。任一類型的輻射源的輻照度應(yīng)為（1000±100）W/m2。當(dāng)對組件施加最壞情況遮擋時，該輻射源將用于施加長時間應(yīng)力。該輻射源可用于遮擋單元的選擇，或可選脈沖模擬器（如4.9.4g所述）可用于單元選擇；對于雙面組件，用于長時間暴露的輻射源應(yīng)具有可調(diào)節(jié)的輻照度水平和/或后側(cè)輻照度，以便BSI（定義見IEC61215-1:2021）可通過IECTS60904-1-2允許的至少一種方法應(yīng)用?？傒椪斩裙睿瑹o論是單面配置還是雙面配置，均不得大于±50W/m2；b)組件I-V曲線測試儀；c)電流測量設(shè)備；d)用于測試電池遮擋的完全不透明的蓋板；e)用于測量和記錄組件溫度的紅外成像儀，其特征分辨率應(yīng)允許小于一個電池；f)記錄輻照度水平、總輻照量和環(huán)境溫度的設(shè)備?？蛇x項(xiàng)：g)可以選用符合IEC60904-9的BBB級或更優(yōu)的瞬態(tài)模擬器，輻照度為800-1000W/m2，進(jìn)行I-V測量來選擇電池，此時電池對熱斑加熱最為敏感。4.9.5程序概述GB/TXXXXX—XXXX根據(jù)太陽能電池技術(shù)和制造工藝，存在兩種不同的程序。MQT09.1通常適用于標(biāo)準(zhǔn)晶體硅等基于晶圓的技術(shù)。對于最常見的單片集成薄膜技術(shù)（CdTe、CIGS、a-Si），程序MQT09.2適用。雙面組件也將使用MQT09.1進(jìn)行測試。如果使用代表性樣品執(zhí)行MQT09.1，則代表性樣品每個旁路二極管的電池數(shù)量應(yīng)與全尺寸產(chǎn)品相同。根據(jù)產(chǎn)生的樣本量，該要求可能會對執(zhí)行測試所需輻射源的選擇造成影響?；诠杵夹g(shù)（WBT）的試驗(yàn)程序MQT09.1該程序的第一步是選擇并聯(lián)電阻最低和最高的電池（詳見下文步驟c）、d）和e）。如果組件電路可以觸及，則可直接監(jiān)測通過遮擋電池的電流。如果要測試的光伏組件沒有可拆卸的二極管或可接近的電路，可以使用以下非侵入性方法。所選方法基于獲取一塊組件每塊電池依次遮擋后的一系列的I-V曲線。圖4顯示了示例組件的一系列I-V曲線。當(dāng)并聯(lián)電阻最低的電池被遮擋時，取二極管導(dǎo)通點(diǎn)處泄漏電流最大的曲線。當(dāng)具有最高并聯(lián)電阻的電池被遮擋時，取二極管導(dǎo)通點(diǎn)處泄漏電流最小的曲線。圖4完全遮擋不同電池片時組件的I-V特性使用以下步驟識別熱斑效應(yīng)電池片：a)使用以下方法之一將無遮擋組件暴露在輻照度介于800W/m2和1100W/m2之間的光源中：.一個瞬態(tài)模擬器，組件溫度接近室溫（25±5）℃;.一個穩(wěn)態(tài)模擬器，其中組件溫度應(yīng)在開始測量前穩(wěn)定在±5℃范圍內(nèi)。.太陽光，其中組件溫度應(yīng)在開始測量前穩(wěn)定在±5℃范圍內(nèi)。對于雙面組件，電池選擇的曝光是在組件正面，組件背面被遮蓋，以充分限制組件非暴露側(cè)的貢獻(xiàn)達(dá)到或低于IECTS60904-1-2中規(guī)定的“背面無輻照”水平。b)依次對每個電池進(jìn)行完全遮擋，測量產(chǎn)生的I-V曲線，并準(zhǔn)備一組如圖4所示的曲線。對于雙面組件，如果使用雙面照射，則電池的正面和背面都應(yīng)完全遮擋。如果使用單面照射，則根據(jù)IECTS60904-1-2中規(guī)定的背面無輻照要求來實(shí)現(xiàn)背面遮擋。注：對于SP，組件I-V曲線的變形被添加到全照射平行分段的截面c)選擇靠近組件邊緣的具有最低并聯(lián)電阻的電池，即泄漏電流最大的電池。d)選擇兩個具有最低并聯(lián)電阻的電池（除c中的電池外），即泄漏電流最大的電池。e)選擇并聯(lián)電阻最大的電池。GB/TXXXXX—XXXXf)對于雙面組件，如果某些電池因設(shè)計（如接線盒或背面圍擋）而永久遮擋，則還應(yīng)選擇這些電池進(jìn)行熱斑測試。g)通過確定每個選定電池的最壞情況遮擋條件，開始電池測試程序：1)將無遮擋組件暴露在800W/m2至1100W/m2范圍內(nèi)的單面輻照度下。暴露應(yīng)符合a）中所述的要求。2)在達(dá)到±5℃的熱穩(wěn)定后，測量組件I-V特性并確定最大功率電流IMP1（初始性能PMP1）。3)將組件暴露在符合a）要求的輻照度下。然后使用下面步驟4）中的方法之一確定每個選定電池的最壞遮擋情況。4)使用以下方法i）至iii）中的一種確定每個選定測試電池的最壞遮擋情況。i.如果可以進(jìn)入電池電路，則使組件短路并連接電流測量設(shè)備，使其僅讀取通過被測電池串的電流。對于每個選定的測試電池，對該電池進(jìn)行遮擋處理，并確定何種遮擋面積導(dǎo)致通過遮擋電池的電流等于步驟g）2中確定的未遮擋電池的IMP1。這是該電池最糟糕的遮擋情況。ii.如果無法進(jìn)入電池電路，則確定最壞遮擋情況的第一個選擇涉及繪制I-V曲線。取一組I-V曲線，每個選定的測試電池在圖5所示的不同水平上遮擋。確定最壞情況遮擋條件，當(dāng)通過遮擋電池的電流（旁路二極管打開的點(diǎn)）與a）中確定的原始未遮擋的IMP1一致時，如圖5中的曲線c），與a）中使用的輻照度水平相同。如果所選電池完全遮擋時旁通二極管未接通，則通過完全遮擋電池達(dá)到最壞情況下的熱斑條件。iii.如果無法進(jìn)入電池電路，確定最壞情況遮擋的第二個選項(xiàng)涉及溫度測量。使組件短路。在100%遮擋條件下依次對每個選定的測試電池進(jìn)行遮擋處理，并測量電池溫度。減少遮擋10%。如果溫度降低，則100%遮擋是最壞情況遮擋條件。如果溫度升高或保持不變，則繼續(xù)減少遮擋10%，直到溫度確實(shí)降低。使用上一個遮擋級別作為最壞的遮擋情況。5)對于c中選擇的電池，（即組件邊緣并聯(lián)電阻最低的電池），應(yīng)進(jìn)一步規(guī)定在長時間曝光期間施加蓋板的位置。將組件短路。當(dāng)電100%遮擋時，使用紅外攝像機(jī)確定電池上的最熱點(diǎn)。如果可能，確保在步驟i）的長時間曝光期間，該最熱點(diǎn)位于照明區(qū)域內(nèi)。h)將步驟c）至f）中確定的一個選定單元格遮擋化為g）中確定的最壞情況。如果將在步驟i）中為雙面組件使用雙面照明，則應(yīng)在背面對電池進(jìn)行相同的遮擋；i)使組件短路。將組件暴露在穩(wěn)態(tài)輻照度下。對于單面組件，輻照度應(yīng)為（1000±100）W/m2。對于雙面組件，輻照度應(yīng)為BSI±50W/m2。該試驗(yàn)應(yīng)在（55±15）℃范圍內(nèi)的組件溫度下進(jìn)行。j)對于所選電池，按g）中確定的最壞情況下的遮擋條件保持1小時。如果遮擋電池的溫度在1小時結(jié)束時仍在升高，則繼續(xù)曝光至5小時。k)對在步驟c）至f）中選擇的每個電池重復(fù)步驟h）至j）。GB/TXXXXX—XXXX圖5被測電池不同遮擋狀態(tài)下組件I-V特性單片集成（MLI）薄膜技術(shù)的試驗(yàn)程序MQT0.3.1概述熱斑試驗(yàn)在組件長時間暴露于(1000±100)W/m2的情況下進(jìn)行的。注：串聯(lián)MLI薄膜電池的互連電路中通常不包括旁路二極管。因此，遮擋電池的反向電壓不受限制，組件電壓可以迫使一組電池反向偏置。MLI薄膜組件的電氣性能會受到短期遮擋的負(fù)面影響。應(yīng)注意，設(shè)置最壞情況條件和熱斑耐久性試驗(yàn)產(chǎn)生的影響應(yīng)明確分開。為此目的，收集Pmax1（應(yīng)用任何遮擋之前）、Pmax2（通過遮擋識別最壞情況后）和Pmax3（應(yīng)用擴(kuò)展應(yīng)力之后）的值。.2串聯(lián)連接圖6顯示了當(dāng)不同數(shù)量的電池被完全遮擋時，由電池串聯(lián)而成的MLI薄膜組件中的熱斑效應(yīng)。遮擋電池中消耗的功率等于組件電流與遮擋電池組中產(chǎn)生的反向電壓的乘積。對于任何輻照度水平，當(dāng)遮擋電池上的反向電壓等于組件中剩余照明電池產(chǎn)生的電壓時（最壞情況遮擋條件），最大消耗功率。此時，被遮擋組件的短路電流等于未遮擋組件的最大功率電流。GB/TXXXXX—XXXX注：在本例中，最壞情況下的遮擋條件是同時遮擋4個單元格。圖6具有串聯(lián)電池的MLI薄膜組件中的熱斑效應(yīng)應(yīng)使用以下方法選擇要遮擋的單元，并確定僅串聯(lián)組件（情況）的最壞遮擋條件。a)使用以下方法之一，將無遮擋組件暴露于光源中，使組件表面的總輻照度達(dá)到800W/m2至1100W/m2。.一個瞬態(tài)模擬器，組件溫度接近室溫（25±5）℃。.一個穩(wěn)態(tài)模擬器，開始測量前，組件溫度應(yīng)穩(wěn)定在±5℃范圍內(nèi)。.太陽光，開始測量前，組件溫度應(yīng)穩(wěn)定在±5℃范圍內(nèi)。b)達(dá)到熱穩(wěn)定后，測量組件I-V特性并確定最大功率電流IMP1和最大功率Pmax1。確定最大功率電流范圍（Imin<I<Imax），其中Imax為無遮擋組件的最大功率電流，Imin為0.95Imax。此電流范圍命名為I(*)。c)測量下一步中描述的每個位置的短路電流。d)從組件的一個邊緣開始，使用不透明的蓋板將一個電池完全遮住。平行于電池移動蓋板，增加被遮擋組件的面積（遮擋電池數(shù)量），直到短路電流落在非遮擋組件的電流范圍內(nèi)。在這些條件下，最大功率在選定的電池組內(nèi)消耗（見圖6）。短路電流測量間隔的最大步長為一個電池的寬度。蓋板最小寬度為兩個電池的寬度。如果需要遮擋少于兩個電池才能獲得規(guī)定范圍內(nèi)的電流，則蓋板寬度應(yīng)固定為最小值。如果對某些數(shù)量的“n”電池進(jìn)行遮擋處理導(dǎo)致電流過高，并且如果對n+1電池進(jìn)行遮擋處理導(dǎo)致電流過低，則應(yīng)選擇更窄的蓋板寬度（n個電池）。e)在組件上緩慢移動不透明蓋板（尺寸見上文d），并測量每個位置的短路電流。短路電流測量間隔的最大步長為蓋板寬度(因此，在該步驟中，組件中的每個電池都應(yīng)被遮擋過。）如果在某個位置短路電流低于規(guī)定的電流范圍I(*)，則以一個單元寬度的增量減小蓋板的尺寸，直到電流再次在所需范圍內(nèi)。如果在此過程中的任何時候，蓋板寬度減小到其兩個單元寬度的最小值，則其尺寸不得進(jìn)一步減小，并且在組件上移動蓋板的過程完成。如果對某些數(shù)量的“n”單元進(jìn)行遮擋處理導(dǎo)致電流過高，并且如果對n+1單元進(jìn)行遮擋處理導(dǎo)致電流過低，則應(yīng)選擇較窄的蓋板寬度（n個單元）。在此過程中，輻照度的變化不得超過±2%。任何時候都不得使蓋板變大，即在步驟g）期間，如果短路電流超過I(*)的上限，則蓋板寬度應(yīng)保持不變。f)覆蓋物的最終寬度，以及受最終遮罩寬度影響的每個區(qū)域中顯示最低電流的位置，決定了導(dǎo)致最壞情況下遮擋條件的最小遮擋區(qū)域。這是用于熱斑測試的遮擋區(qū)域。GB/TXXXXX—XXXXg)拆下蓋板并目視檢查組件。注：步驟d）和e）中電池的反向偏壓操作可能導(dǎo)致Ph)重新測量組件I-V特性并確定最大功率Pmax2。i)將蓋板放在組件上。將蓋板放在步驟e）和f）中確定的位置。j)使組件短路，包括監(jiān)控組件電流的方法，例如電流表。k)將組件暴露在穩(wěn)態(tài)輻射源下，總輻照度為（1000±100）W/m2，在組件表面使用以下方法之一：.一個穩(wěn)態(tài)模擬器，開始測量前，組件溫度應(yīng)穩(wěn)定在±5℃范圍內(nèi)。.太陽光，開始測量前，組件溫度應(yīng)穩(wěn)定在±5℃范圍內(nèi)。l)該試驗(yàn)應(yīng)在（55±15）℃范圍內(nèi)的組件溫度下進(jìn)行。關(guān)注Isc的值，并保持組件電流高于I（*）的下限。如果Isc低于I(*)的下限，則以一個單元格寬度的增量減小遮罩寬度，直到Isc再次超過I(*)的下限。如果電流低于所需范圍，但蓋板已經(jīng)是最小寬度，則不應(yīng)進(jìn)行調(diào)整。m)在這種條件保持總暴露時間1小時。n)在耐久性試驗(yàn)結(jié)束時，使用以下方法確定遮擋電池片上最熱的區(qū)域：紅外攝像機(jī)或適當(dāng)?shù)臏囟葯z測器。.3串并連接圖3說明了串并聯(lián)連接，即P串并聯(lián)連接，每個P串串聯(lián)S單元。如果組件為串聯(lián)-并聯(lián)型（串并連接），應(yīng)使用以下方法選擇要遮擋的單元，并確定最壞情況遮擋條件。a)使用以下方法之一，將無遮擋組件暴露于光源中，使組件表面的總輻照度達(dá)到800W/m2至1100W/m2。.一個瞬態(tài)模擬器，組件溫度接近室溫（25±5）℃。.一個穩(wěn)態(tài)模擬器，開始測量前，組件溫度應(yīng)穩(wěn)定在±5℃范圍內(nèi)。.太陽光，開始測量前，組件溫度應(yīng)穩(wěn)定在±5℃范圍內(nèi)。b)達(dá)到熱穩(wěn)定后，測量組件I-V特性并確定最大功率電流IMP1和最大功率Pmax1。確定最大功率電流范圍（Imin<I<Imax），其中Imax為無遮擋組件的最大功率電流，Imin為0.95Imax。c)然后根據(jù)以下公式計算可接受的最大功率電流范圍I（*）。Imin/N+Isc·（N-1）/N<I（*）<Imax/N+Isc·（N-1）/N其中N是組件的并連串?dāng)?shù)。d)選擇要測量的子串。以下標(biāo)準(zhǔn)用于選擇在延長應(yīng)力期間可能經(jīng)歷更高溫度的子串。如果部分接線盒位于組件發(fā)電區(qū)域的后面，請選擇接線盒區(qū)域最大部分前面的子串。如果接線盒區(qū)域在兩個子串之間等分，或者組件在兩個不同的子串上包含兩個接線盒，請選擇位于接線盒區(qū)域一半前面的任一子串。如果接線盒不位于組件發(fā)電部分的后面（例如，接線盒位于邊緣刪除區(qū)域），請選擇位于組件標(biāo)簽最大部分前面的子串。如果接線盒或標(biāo)簽的任何部分都不位于組件發(fā)電區(qū)域的后面，請選擇離組件幾何中心最近的子串。e)測量下一步中描述的每個位置的短路電流。f)從組件的一個邊緣開始，使用不透明的蓋子將選定子字符串的一個單元格完全遮住。平行于電池移動蓋子，增加遮擋子串組件面積（遮擋電池數(shù)量），直到短路電流落在電流范圍I（*）內(nèi)。在這些條件下，最大功率在選定的電池組內(nèi)消耗（見圖6）。短路電流測量之間的最大步長為一個單元寬度。最小遮罩寬度為兩個單元格寬度。如果需要遮擋少于兩個電池才能獲得規(guī)定范圍內(nèi)的電流，則遮罩寬度應(yīng)固定在最小值。如果對某些數(shù)量的“n”單元進(jìn)行遮擋處理GB/TXXXXX—XXXX導(dǎo)致電流過高，并且如果對n+1單元進(jìn)行遮擋處理導(dǎo)致電流過低，則應(yīng)選擇較窄的遮罩寬度（n個單元）。g)在組件上緩慢移動不透明蓋板（尺寸見上文f），并測量每個位置的短路電流。短路電流測量之間的最大步長為蓋板寬度(因此，在該步驟中，組件中的每個單元應(yīng)在某個點(diǎn)上被遮擋。）如果在某個位置，短路電流低于規(guī)定的電流范圍I(*)，則以較小的增量減小蓋子的尺寸，直到電流再次在所需范圍內(nèi)。如果在此過程中的任何時候，蓋板寬度減小到其兩個單元寬度的最小值，則其尺寸不得進(jìn)一步減小，并且在組件上移動蓋板的過程完成。如果遮擋一定數(shù)量的“n”單元導(dǎo)致電流過高，如果遮擋n+1單元導(dǎo)致電流過低，則應(yīng)選擇較窄的遮罩寬度（n個單元）。在此過程中，輻照度變化不得超過±2%。任何時候都不得使蓋板變大，即在步驟g）期間，如果短路電流超過I(*)的上限，則蓋板寬度應(yīng)保持不變。h)覆蓋層的最終寬度，以及子串內(nèi)顯示受最終遮罩寬度影響的每個區(qū)域的最低電流的位置，確定導(dǎo)致最壞情況下遮擋條件的最小遮擋區(qū)域。這是用于熱點(diǎn)測試的遮擋區(qū)域。i)拆下蓋板并目視檢查組件。注：步驟f）和g）中電池的反向偏壓操作可能導(dǎo)致結(jié)擊穿，并導(dǎo)致可見斑點(diǎn)不規(guī)則地分布在組件區(qū)域。這些j)重新測量組件I-V特性并確定最大功率Pmax2。k)將蓋放在組件上。將蓋放在步驟g）和h）中確定的位置。l)使組件短路，包括監(jiān)測組件電流的方法，如電流表。m)將組件暴露在穩(wěn)態(tài)輻射源下，在組件表面提供（1000±100）W/m2的總輻照度。這可以通過以下方式實(shí)現(xiàn)：.一個穩(wěn)態(tài)模擬器，開始測量前，組件溫度應(yīng)穩(wěn)定在±5℃范圍內(nèi)。.太陽光，開始測量前，組件溫度應(yīng)穩(wěn)定在±5℃范圍內(nèi)的陽光。該試驗(yàn)應(yīng)在（55±15）℃范圍內(nèi)的組件溫度下進(jìn)行。注意Isc的值，并保持組件電流高于I(*)的下限。如果Isc低于I（*）的下限，則以一個單元格寬度的增量減小蓋板寬度，直到Isc再次超過I(*)的下限。如果電流低于所需范圍，但蓋板已經(jīng)是最小寬度，則不應(yīng)進(jìn)行調(diào)整。n)保持這些條件進(jìn)行1h的曝曬。o)在耐久性試驗(yàn)結(jié)束時，使用紅外攝像機(jī)或適當(dāng)?shù)臏囟葯z測器確定遮擋電池上的最熱區(qū)域。.4并串連接如果并聯(lián)-串聯(lián)型組件（并串連接）具有不可訪問的內(nèi)部單元電路，但不包含內(nèi)部旁路二極管或等效的反向偏置保護(hù)裝置，則應(yīng)使用以下方法選擇要遮擋的單元，并確定最壞情況下的遮擋條件。a)將無遮擋組件暴露在組件表面的總輻照度為800W/m2至1100W/m2。這可以通過以下方式實(shí)現(xiàn)：.一個瞬態(tài)模擬器，組件溫度接近室溫（25±5）℃。.一個穩(wěn)態(tài)模擬器，開始測量前，組件溫度應(yīng)穩(wěn)定在±5℃范圍內(nèi)。.太陽光，開始測量前，組件溫度應(yīng)穩(wěn)定在±5℃范圍內(nèi)。達(dá)到熱穩(wěn)定后，測量組件I-V特性并確定最大功率Pmax1。b)將組件暴露在穩(wěn)態(tài)輻射源下，在組件表面提供總輻照度（1000±100）W/m2。該試驗(yàn)應(yīng)在（55±15）℃范圍內(nèi)的組件溫度下進(jìn)行。c)將組件短路，并在組件中隨機(jī)遮擋一個塊。對試塊內(nèi)至少10%的電池進(jìn)行遮擋處理，并對試塊的增加區(qū)域進(jìn)行遮擋處理，直到使用熱成像設(shè)備或其他適當(dāng)方法確定最高溫度。d)重新測量無遮擋組件I-V特性，并確定最大功率Pmax2。e)使用步驟c)中的遮擋，并保持這些條件進(jìn)行1h的曝曬。在耐久性試驗(yàn)結(jié)束時，使用紅外攝像機(jī)或適當(dāng)?shù)臏囟葯z測器確定遮擋電池上的最熱區(qū)域。GB/TXXXXX—XXXX4.9.6最后試驗(yàn)重復(fù)MQT01、MQT02、MQT03和MQT15的試驗(yàn)。4.9.7要求a)無GB/TXXXX—202X中規(guī)定的嚴(yán)重外觀缺陷，尤其要檢查焊接熔化、外殼開口、分層和燒斑的跡象。如果嚴(yán)重?fù)p壞但不屬于嚴(yán)重外觀缺陷，則在同一組件內(nèi)的另外兩個電池上重復(fù)測試。如果這兩個電池周圍沒有可見損壞，則組件類型通過熱斑耐久試驗(yàn)；b)驗(yàn)證組件I-V特性，但MQT02功率結(jié)果（Gate2）的損耗，不能作為的通過/失敗的判定依據(jù)；c)絕緣試驗(yàn)結(jié)果應(yīng)結(jié)果滿足初始試驗(yàn)同樣的要求；d)濕漏電流應(yīng)結(jié)果滿足初始試驗(yàn)同樣的要求；e)應(yīng)在試驗(yàn)報告中注明因確定最壞情況遮擋而造成的任何損壞。4.10紫外預(yù)處理試驗(yàn)（MQT10）4.10.1目的在熱循環(huán)/濕凍試驗(yàn)之前，對組件進(jìn)行紫外線（UV）輻射預(yù)處理，以確定易受紫外線降解的材料和粘合劑。注：MQT10旨在檢測組件對紫外線降解的總敏感性，因?yàn)榕c現(xiàn)代組件4.10.2裝置a)一個帶有紫外線光源和待測組件安裝的溫控測試設(shè)備，該設(shè)備應(yīng)具備將組件溫度維持（60±5）℃的能力。b)測量并記錄組件溫度的裝置，準(zhǔn)確度為±2℃,重復(fù)性為±0.5℃。溫度傳感器應(yīng)安裝在靠近組件中部的上表面或后表面，不阻擋任何紫外線入射到組件內(nèi)電池上。如果同時試驗(yàn)的組件多于一個，只需監(jiān)測一個代表組件的溫度。c)能測試照射到組件試驗(yàn)平面上的紫外輻照度的裝置，波長范圍為280nm到320nm和320nm到400nm，準(zhǔn)確度為±15%或更佳。d)一個紫外光源，在測試組件的平面上生成輻照度均勻性為±15%的紫外輻射，在280納米以下波長不產(chǎn)生輻照度，并且能夠根據(jù)4.10.3條款定義的不同光譜區(qū)域的需求，提供必要的總輻照度。e)依照制造商建議，組件在測試過程中應(yīng)處于短路或開路狀態(tài)。測試報告中需明確記錄本次測試采用的電路條件。4.10.3程序a)使用已校準(zhǔn)的輻射儀測量組件試驗(yàn)平面上的輻照度，確保波長在280nm到400nm的輻照度不超過250W/m2（約等于5倍的自然光水平），且在整個測量平面上輻照度均勻性到達(dá)±15%。b)根據(jù)4.10.2e）中的建議，對組件短路或斷路。將其安裝在測試平面內(nèi)根據(jù)步驟a）選擇的位置，垂直于UV輻照度光束。確保組件溫度傳感器讀數(shù)為（60±5）℃。對于柔性組件，應(yīng)根據(jù)制造商文件，在試驗(yàn)期間使用規(guī)定的基材和粘合劑或連接/安裝方式安裝組件。GB/TXXXXX—XXXXc)使組件正面經(jīng)受波長范圍在280nm到400nm之間的紫外輻射至少15kWh/m2，其中波長為280nm到320nm的紫外輻射為總紫外輻射能量的3%-10%，在試驗(yàn)過程中將組件溫度維持在前面規(guī)定的范圍內(nèi)。對于雙面組件，在組件背面重復(fù)上述紫外線輻射程序。4.10.4最后試驗(yàn)重復(fù)MQT01和MQT15的試驗(yàn)。4.10.5要求a)無GB/TXXXX—202X中規(guī)定的嚴(yán)重外觀缺陷；b)濕漏電流應(yīng)滿足與初始試驗(yàn)相同的要求。4.11熱循環(huán)試驗(yàn)（MQT11）4.11.1目的確定組件承受由溫度反復(fù)變化引起的熱失配、疲勞和其他應(yīng)力的能力。4.11.2裝置a)一個氣候室，有自動溫度控制、使內(nèi)部空氣循環(huán)和避免在試驗(yàn)過程中水分凝結(jié)在組件表面的裝置，而且能容納一個或多個組件進(jìn)行如圖7所示的熱循環(huán)試驗(yàn)。b)氣候室中安裝或支撐組件的裝置，保證周圍的空氣能自由循環(huán)。安裝或支撐裝置的熱傳導(dǎo)應(yīng)小，實(shí)際上，應(yīng)使組件處于絕熱狀態(tài)。c)測量和記錄組件溫度的裝置，準(zhǔn)確度為±2.0℃,重復(fù)性為±0.5℃。d)施加持續(xù)電流的裝置，電流值在本文件特殊技術(shù)要求部分中定義。e)監(jiān)測試驗(yàn)過程中流經(jīng)每一組件電流的裝置。f)一個連接于組件電氣終端導(dǎo)線的5N重物。圖7熱循環(huán)試驗(yàn)–溫度和施加電流要求4.11.3程序GB/TXXXXX—XXXXa)將一個合適的溫度傳感器連接到組件正面或背面靠近中間的位置。如果一個以上同類型組件同時試驗(yàn)，只需監(jiān)測其中一個組件的溫度。b)在室溫下將組件裝入氣候室。使用以下兩個選項(xiàng)之一，將一5N重物掛在接線盒上。如圖8a所示，可利用每個組件的電氣端子引線連接重物，使其垂直懸掛在接線盒上。如圖8b所示，也可以由測試人員引入導(dǎo)線將重物連接到接線盒上。由測試人員引入的導(dǎo)線不得連接到接線盒蓋上。無論采用哪種方式，重物均不得碰撞或損壞組件背面，且在試驗(yàn)開始時，重物應(yīng)至少高于地板或組件邊框5cm，如圖8b所示。如果每個組件有多個類似的接線盒，只需對一個接線盒連接重物，如圖8b）或圖8c）所示。然而，如果接線盒的設(shè)計不同，則每個接線盒應(yīng)獨(dú)立承載重物。對于柔性組件，試驗(yàn)期間應(yīng)根據(jù)制造商文件，使用規(guī)定的基材和粘合劑或附件/安裝方式安裝組件。c)將溫度監(jiān)測設(shè)備連接到溫度傳感器。將每個組件的正極引出端連接到電流源正極，負(fù)極引出端連接到其負(fù)極。在熱循環(huán)試驗(yàn)期間，在從-40℃至+80℃的加熱階段對組件施加4.11.2d）特殊技術(shù)要求的連續(xù)電流。在冷卻、-40℃保持階段和高于80℃時，連續(xù)電流應(yīng)減少至不超過所測STC峰值功率電流的1.0%，以監(jiān)測連續(xù)性。如果溫度在最低溫度時上升過快（超過100℃/h），則可以延長電流的啟動點(diǎn)，直至溫度到-20℃。d)關(guān)閉氣候室，按照圖7所示，使組件溫度在（-40±2）℃和（+85±2）℃之間循環(huán)。最低和最高溫度之間溫度變化速率不超過100℃/h，在每個極端溫度下應(yīng)保持穩(wěn)定至少10min。單個循環(huán)時間不得超過6h，除非組件具有較高的熱容性需要更長的循環(huán)時間。循環(huán)次數(shù)見GB/TXXXX—202X圖2中的相關(guān)序列。組件周圍的空氣循環(huán)應(yīng)保證在試驗(yàn)中每塊組件滿足溫度循環(huán)圖的要求。e)在整個試驗(yàn)過程中，記錄組件的溫度并監(jiān)控通過組件的電流。在試驗(yàn)報告中記錄在高溫和低溫下的實(shí)際駐留時間。注：在具有并聯(lián)電路的組件中，一個支路的開路將導(dǎo)致電壓不連續(xù)，但不會導(dǎo)致電流為零。a)b)c)圖8通過適當(dāng)?shù)姆绞綄?N重物連接到組件接線盒a)電氣端子引線，b）或用于連接的線，以及c）僅使用一個接線盒4.11.4最后試驗(yàn)組件處于開路狀態(tài)，并在（23±5）℃的室溫和低于75%RH的環(huán)境下至少恢復(fù)1小時之后，重復(fù)MQT01和MQT15的試驗(yàn)。GB/TXXXXX—XXXX4.11.5要求a)試驗(yàn)過程中無電流中斷。對于有并聯(lián)電路的組件，電流中斷意味著某一個支路中斷。b)無GB/TXXXX—202X中規(guī)定的嚴(yán)重外觀缺陷。c)濕漏電流應(yīng)滿足與初始試驗(yàn)相同的要求。4.12濕凍試驗(yàn)（MQT12）4.12.1目的確定組件承受高溫、高濕以及隨后再遭受零度以下溫度影響的能力。本試驗(yàn)非熱沖擊試驗(yàn)。4.12.2裝置a)氣候室，該氣候室能自動控制溫度和濕度，能容納一個或多個組件并進(jìn)行如圖9所規(guī)定的濕凍循環(huán)試驗(yàn)。b)在氣候室中有安裝或支撐組件的裝置，并保證周圍的空氣能自由循環(huán)。安裝或支撐裝置的熱傳導(dǎo)應(yīng)小，實(shí)際上應(yīng)使組件處于絕熱狀態(tài)。c)測量和記錄組件溫度的裝置，精度為±2.0℃,重復(fù)性為±0.5℃。d)在試驗(yàn)過程中監(jiān)測通過每一組件內(nèi)部電流連續(xù)性的裝置。4.12.3程序a)將組件前表面或后表面靠近中間的位置安裝適當(dāng)?shù)臏囟葌鞲衅?。如果同時測試同一類型的多個組件，則只需監(jiān)測其中一塊測試組件的溫度即可。b)在室溫條件下將組件安裝到氣候室中。對于柔性組件，應(yīng)根據(jù)制造商文件，在試驗(yàn)期間使用規(guī)定的基材和粘合劑或安裝方式安裝組件。c)將溫度監(jiān)測設(shè)備連接至溫度傳感器。將每塊組件與適當(dāng)?shù)碾娫催B接，組件的正極連接到電源的正極，第二個端子也相應(yīng)連接。在濕凍試驗(yàn)期間，將連續(xù)電流設(shè)置為不超過所測STC峰值功率電流的0.5%，如果測得的STC電流的0.5%小于100mA，則施加100mA。d)關(guān)閉氣候室，使組件完成圖9所示的10次循環(huán)。最高和最低溫度應(yīng)在指定溫度的±2℃范圍內(nèi)，當(dāng)溫度達(dá)到最大值85℃時，相對濕度應(yīng)保持在規(guī)定值的±5%范圍內(nèi)。組件周圍的空氣循環(huán)必須確保每個被測組件都滿足溫度循環(huán)曲線。e)測試過程中，記錄組件溫度，并監(jiān)控組件的電流和電壓。4.12.4最后試驗(yàn)組件處于開路狀態(tài)，在（23±5）℃、濕度小于75%RH的環(huán)境條件下，恢復(fù)2h至4h，重復(fù)試驗(yàn)MQT01和MQT15。4.12.5要求a)試驗(yàn)過程中無電流中斷。對于有并聯(lián)電路的組件，電流中斷意味著某一個支路中斷。b)無GB/TXXXX—202X中規(guī)定的嚴(yán)重外觀缺陷。c)濕漏電流應(yīng)滿足與初始試驗(yàn)相同的要求。GB/TXXXXX—XXXX圖9濕凍試驗(yàn)–溫度和濕度分布4.13濕熱試驗(yàn)（MQT13）4.13.1目的確定組件承受長期濕氣滲透的能力。4.13.2裝置試驗(yàn)箱要求在GB/T2423.3-2016條款4.1中列出。4.13.3程序試樣進(jìn)入試驗(yàn)箱并開始測試的過程見GB/T2423.3-2016條款4.4。同時滿足以下規(guī)定：嚴(yán)酷度:試驗(yàn)溫度：(85±2)℃相對濕度：(85±5)%試驗(yàn)時間100048）h無需進(jìn)行預(yù)處理。除非某些特殊技術(shù)要求部分中提出了施加電流，否則應(yīng)將組件連接器做短接處理。對于柔性組件，應(yīng)根據(jù)制造商文件，在試驗(yàn)期間使用規(guī)定的基材和粘合劑或安裝方式安裝組件。4.13.4最后試驗(yàn)組件處于開路狀態(tài)，在（23±5）℃、濕度小于75%RH的環(huán)境條件下，恢復(fù)2h至4h，重復(fù)試驗(yàn)MQT01和MQT15。4.13.5要求GB/TXXXXX—XXXXa)無GB/TXXXX—202X中規(guī)定的嚴(yán)重外觀缺陷。b)濕漏電流應(yīng)滿足與初始試驗(yàn)相同的要求。4.14引出端強(qiáng)度試驗(yàn)（MQT14）4.14.1目的確定端子、端子連接以及線纜與組件主體的連接，耐受常規(guī)組裝或搬運(yùn)操作中可能遇到的應(yīng)力的能力。按照GB/TXXXX-1:202X標(biāo)準(zhǔn)中提供的測試流程，4.14.2（MQT14.1）和4.14.3（MQT14.2）的測試應(yīng)在完成MQT12測試后，在C序列中進(jìn)行。4.14.2接線盒牢固度試驗(yàn)（MQT14.1）裝置向試樣中心施加40N力的裝置，同時避免對接線盒產(chǎn)生扭力影響。將施力裝置連接至接線盒時，不應(yīng)影響接線盒的正常功能。程序在平行組件安裝面的每個方向上，逐漸施加40N的力并保持（10±1）s（根據(jù)IEC60068-2-21每次間隔90°。在垂直安裝表面的方向上，逐漸施加40N的力，持續(xù)（10±1）s，且無任何沖擊。最后試驗(yàn)重復(fù)試驗(yàn)MQT01和MQT15。要求試驗(yàn)過程中，接線盒安裝表面上不應(yīng)有影響其隔離特性的位移出現(xiàn)。a)無GB/TXXXX—202X中規(guī)定的嚴(yán)重外觀缺陷。b)濕漏電流應(yīng)滿足與初始試驗(yàn)相同的要求。4.14.3線纜錨固試驗(yàn)（MQT14.2）與組件分離的接線盒應(yīng)按照IEC62790“線纜錨固試驗(yàn)”進(jìn)行試驗(yàn)，并應(yīng)符合其中的要求。如果接線盒在GB/TXXXX-202X測試之前已通過資格預(yù)審，試驗(yàn)報告應(yīng)注明測試實(shí)驗(yàn)室名稱和符合要求的日期。線纜錨固試驗(yàn)不適用于連接器一體式接線盒，因此連接器一體式接線盒不受此要求的限制。試驗(yàn)報告中應(yīng)注明豁免。4.15濕漏電流試驗(yàn)（MQT15）4.15.1目的評價組件在潮濕工作條件下的絕緣性能，驗(yàn)證雨、霧、露水或融雪的濕氣不會進(jìn)入組件回路中的帶電部件，這可能會引起腐蝕、漏電或安全事故。4.15.2裝置a)一個淺槽或容器，其尺寸應(yīng)足夠大，能夠?qū)н吙虻慕M件水平放入其內(nèi)部的溶液中。該淺槽或容器裝有符合以下要求的水或溶液：GB/TXXXXX—XXXX電阻率：3500Ω·cm或更小溶液溫度22±2）℃溶液深度應(yīng)能覆蓋所有表面，接線盒入口除外。b)裝有相同溶液的噴淋裝置。c)有限流措施的直流電源，可提供500V或組件最大額定系統(tǒng)電壓中較大值的電壓。d)測量絕緣電阻的設(shè)備。4.15.3程序采用推薦的典型現(xiàn)場安裝方式進(jìn)行接線，并確保漏電流不是由連接到組件的裝置產(chǎn)生的。a)將組件浸沒在盛有滿足要求溶液的容器內(nèi)，溶液的深度應(yīng)能覆蓋除接線盒入口外的組件所有表面。線纜入口應(yīng)用溶液徹底噴淋。如果組件采用了配套連接器，則試驗(yàn)過程中連接器也應(yīng)進(jìn)行噴淋。b)將組件輸出端短路并連接到測試設(shè)備的正極，使用適當(dāng)?shù)慕饘賹?dǎo)體將測試溶液連接到測試設(shè)備的負(fù)極。當(dāng)組件邊框保持正電壓時，某些組件技術(shù)可能容易產(chǎn)生靜電極化。在這種情況下，應(yīng)以相反的方式連接測試設(shè)備。如適用，制造商應(yīng)提供有關(guān)靜電極化敏感性的信息，并記錄在試驗(yàn)報告中。c)以不超過500V/s的速度將測試設(shè)備電壓增加至500V或組件的最大系統(tǒng)電壓（兩者中的較高值），保持該電壓2min，然后確定絕緣電阻。d)將施加的電壓降低至零，并將測試設(shè)備的端子短路以釋放組件上累積的電壓。e)在后續(xù)測試前，確保將使用過的溶液從組件上沖洗干凈。4.15.4要求——對于面積小于0.1m2的組件，絕緣電阻不小于400MΩ?！獙τ诿娣e大于0.1m2的組件，測得的絕緣電阻乘以組件面積應(yīng)不小于40MΩ·m2。4.16靜態(tài)機(jī)械載荷試驗(yàn)（MQT16）4.16.1目的本試驗(yàn)的目的是確定組件耐受最低靜態(tài)載荷的能力。特定場地所需的最低設(shè)計荷載取決于結(jié)構(gòu)、適用的標(biāo)準(zhǔn)、建筑規(guī)范、事件發(fā)生概率、設(shè)計假設(shè)和位置/氣候，可能需要更高的取樣率和其他安全系數(shù)m。確定最大可能的試驗(yàn)荷載，例如，試驗(yàn)直至構(gòu)件失效，不屬于本文件的范圍。MQT16驗(yàn)證最低試驗(yàn)載荷。制造商的最低設(shè)計荷載由上述最低試驗(yàn)荷載反推而來。試驗(yàn)荷載的定義式中安全系數(shù)γm至少應(yīng)≥1.5。本文件要求的最低設(shè)計荷載為1600Pa，可以得出最低試驗(yàn)荷載為2400Pa。制造商可為某些應(yīng)用條件指定更高的正向（向下）、反向（向上）設(shè)計荷載和更高的γm。制造商應(yīng)在文件中根據(jù)每種安裝方法規(guī)定設(shè)計荷載和γm。示例：制造商規(guī)定了以下設(shè)計荷載：正向3600Pa和反向2400Pa，γm=1.5。試驗(yàn)順序?qū)?個循環(huán)，每個循環(huán)在5400Pa正荷載和3600Pa負(fù)荷載下進(jìn)行。GB/TXXXXX—XXXX每塊進(jìn)行MQT16試驗(yàn)的組件應(yīng)按照GB/TXXXX-202X的序列E進(jìn)行預(yù)試驗(yàn)，除非組件是一個額外的、全尺寸的、非常大的組件，可以與代表性樣品一起進(jìn)行試驗(yàn)，如GB/TXXXX-1:202X第4條所述。注：不均勻雪荷不在本試驗(yàn)之內(nèi)，可使用IEC62938:2020。4.16.2裝置a)一個剛性試驗(yàn)平臺，可使組件正面朝上或朝下安裝。在制造商規(guī)定的安裝方法約束下，組件在施加載荷時應(yīng)能自由偏轉(zhuǎn)。b)測試過程中監(jiān)測組件電氣連續(xù)性的裝置。c)適當(dāng)?shù)闹亓炕蚴菏侄?，向組件逐漸且均勻地施加荷載?？赏ㄟ^氣動方式或砝碼施加試驗(yàn)荷載。應(yīng)垂直于組件表面施加所有力。該裝置不得增加組件的剛度（例如，通過大平板施加的力）。d)應(yīng)均勻、緩慢地在組件表面施加載荷，而不應(yīng)造成沖擊峰值。重量應(yīng)施加在前面板（如玻璃不能施加在組件邊框或組件的橫向支撐軌道上。如果使用重物加載組件，附錄A的補(bǔ)充建議可以確保質(zhì)量控制和測試結(jié)果的一致性。注1：手動漸進(jìn)式加載重物的方式會產(chǎn)生沖擊應(yīng)力，不能代表現(xiàn)場的應(yīng)力沖擊，這e)如果使用活塞（或其他離散式應(yīng)用）自動化系統(tǒng)加載組件，應(yīng)在測試報告中記錄覆蓋率。覆蓋率是指吸盤下覆蓋的面積（連接到活塞或組件其他接觸點(diǎn)）與組件表面積之比。建議覆蓋率最小應(yīng)為10%，以確保組件上載荷的均勻性。f)試驗(yàn)的環(huán)境條件為（25±5）℃,相對濕度不超過75%。注2：由于大多數(shù)粘合劑在高溫下性能較差，因此室溫4.16.3程序a)給組件施加電流以便在試驗(yàn)過程中連續(xù)監(jiān)測其內(nèi)部電路的連續(xù)性。b)使用制造商規(guī)定的方法將組件安裝在剛性基礎(chǔ)上，包括安裝裝置（夾子/夾具和任何類型的緊固件）和下面的支撐軌。如果存在不同的方法，則需要單獨(dú)評估每種安裝方法。對于所有安裝方法，以最惡劣的載荷方式安裝組件。如果存在不同的方法，則需單獨(dú)評估每一種安裝配置。荷載最惡劣情況通常與最大懸臂（懸跨）或最大撓度有關(guān)。所有安裝配置應(yīng)遵循制造商對指定安裝方式的建議，同時，以固定點(diǎn)之間距離最惡劣的方式安裝組件，這通常會使組件產(chǎn)生最嚴(yán)重的形變。允許組件在MQT13之后平衡2h以上再施加載荷。對于柔性組件，應(yīng)根據(jù)制造商文件，在試驗(yàn)期間使用規(guī)定的基材和粘合劑或連接方式安裝組件。c)在前表面緩慢、均勻地施加載荷。整個組件的載荷均勻性應(yīng)優(yōu)于測試載荷的±5%。保持此載d)在組件背表面執(zhí)行步驟c)中的試驗(yàn)，或向前表面施加向上的載荷。e)重復(fù)步驟c）和步驟d）三次。4.16.4最后試驗(yàn)重復(fù)試驗(yàn)MQT01和MQT15。4.16.5要求a)組件內(nèi)部連續(xù)性無斷路情況。b)無GB/TXXXX—202X中規(guī)定的嚴(yán)重外觀缺陷。c)濕漏電流滿足與初始試驗(yàn)相同的要求。GB/TXXXXX—XXXX4.17冰雹試驗(yàn)（MQT17）4.17.1目的驗(yàn)證組件能經(jīng)受冰雹撞擊的能力。4.17.2裝置a)由合適材料構(gòu)成的用于澆鑄所需尺寸冰球的模具，最小直徑為25mm。對于容易發(fā)生冰雹的地區(qū)，可能需要用表2所示較大的冰球進(jìn)行測試。測試報告應(yīng)說明冰雹測試所用的冰球直徑和測試速度。b)一臺冷凍箱，控制在-10℃5℃范圍內(nèi)。c)一臺溫度設(shè)在-4℃2℃范圍內(nèi)的儲存冰球的存儲容器。d)一臺發(fā)射器，驅(qū)動冰球以限定速度5%撞擊組件指定位置。只要滿足試驗(yàn)要求，冰球從發(fā)射器到組件的路徑可以是水平、豎直或其他角度。e)一個堅(jiān)固支架以支撐被測組件，按制造商所描述的方法安裝，使碰撞表面與所發(fā)射冰球的路徑垂直。f)一臺用于測定冰球質(zhì)量的天平，準(zhǔn)確度為2%。g)一臺測量冰球速度的設(shè)備，準(zhǔn)確度為2%，速度傳感器距被測組件表面1m以內(nèi)。作為一個例子，圖10示出一組適合的裝置，該裝置包括水平氣動發(fā)射器、垂直支承組件的安裝件和測速器（利用電子技術(shù)測量冰球穿過兩光束間距離所用時間來測量其速度）。這僅是一個例子，其他設(shè)備如彈射器、彈簧驅(qū)動裝置等也都有成功應(yīng)用。圖10冰雹試驗(yàn)設(shè)備GB/TXXXXX—XXXX表2冰球質(zhì)量與試驗(yàn)速度gg4.17.3程序a)利用模具和冷凍箱制備足夠數(shù)量所需尺寸的冰球，包括初始調(diào)試發(fā)射器所需的數(shù)量。b)檢查每個冰球的尺寸、質(zhì)量及是否碎裂?？捎帽驊?yīng)滿足如下要求：.肉眼看不到裂紋；.直徑在要求值土5%范圍內(nèi)；.質(zhì)量在表2中相應(yīng)的標(biāo)稱值土5%的范圍內(nèi)。c)使用前，置冰球于儲存容器中至少1h。d)確保所有與冰球接觸的發(fā)射器表面溫度均接近室溫。e)按步驟g）方法對模擬靶發(fā)射幾次，調(diào)節(jié)發(fā)射器，直至指定位置上速度傳感器所測定冰球速度在表2給出的相應(yīng)冰雹試驗(yàn)速度的土5%范圍內(nèi)。f)根據(jù)制造商規(guī)范安裝組件。組件應(yīng)處于室溫下，撞擊面垂直于冰球路徑。對于柔性組件，應(yīng)根據(jù)制造商文件，在試驗(yàn)期間使用規(guī)定的基材和粘合劑或附件/安裝方式安裝組件。如果制造商規(guī)定允許在剛性安裝條件或柔性安裝條件下應(yīng)用，則應(yīng)在最壞情況下進(jìn)行試驗(yàn)。測試配置應(yīng)記錄在測試報告中。g)將冰球從儲存容器內(nèi)取出放入發(fā)射器，瞄準(zhǔn)表3指定的第一個撞擊位置并發(fā)射。冰球從容器內(nèi)移出到撞擊在組件上的時間間隔不應(yīng)超過60s。h)檢查組件碰撞區(qū)域是否有破損情況，記錄所有可見的撞擊影響。與指定位置偏差10mm以內(nèi)是允許的。i)如果組件沒有損壞，則對表3的其他撞擊位置重復(fù)進(jìn)行步驟g）和h），如圖11所示。表3撞擊位置12在組件窗口上，距組件在支架上的安裝點(diǎn)半4.17.4最后試驗(yàn)重復(fù)試驗(yàn)MQT01和MQT15。GB/TXXXXX—XXXX4.17.5要求a)無GB/TXXXX—202X中規(guī)定的嚴(yán)重外觀缺陷。b)濕漏電流滿足與初始試驗(yàn)相同的要求。圖11冰雹試驗(yàn)沖擊位置：上圖為硅片/電池片技術(shù)，下圖為單片加工薄膜技術(shù)4.18旁路二極管試驗(yàn)（MQT18）4.18.1旁路二極管熱試驗(yàn)（MQT18.1）目的評估旁路二極管熱設(shè)計的充分性和相對長期可靠性，以限制組件熱斑效應(yīng)的不利影響。該試驗(yàn)旨在確定連續(xù)運(yùn)行條件下二極管的溫度特性及其最大二極管結(jié)溫TJ。試驗(yàn)樣品如果組件的旁路二極管數(shù)量不超過3個，則對所有二極管進(jìn)行的正向電壓試驗(yàn)和4.18.2的功能試驗(yàn)。如果組件包含三個以上的二極管，則應(yīng)選擇3個旁路二極管進(jìn)行試驗(yàn)。由測試實(shí)驗(yàn)室選擇旁GB/TXXXXX—XXXX路二極管并選擇設(shè)計時可能承受最大應(yīng)力的代表性旁路二極管。測試實(shí)驗(yàn)室應(yīng)在報告中說明選擇了哪三個旁路二極管及選擇原因。a)當(dāng)3個以上的二極管嵌入層壓件時，選擇以下位置的二極管：1)最靠近接線盒中心（可能在接線盒下方）。2)最靠近組件框架（如果是無框架組件，則為組件邊緣）。3)最靠近組件中心。b)當(dāng)接線盒內(nèi)含有3個以上二極管時，請選擇以下位置的二極管：1)最靠近接線盒中心。2)次靠近接線盒中心。3)最靠近接線盒邊緣。如果被測型號組件無法觸及旁路二極管，則可為本試驗(yàn)制備一個特殊試樣。該試驗(yàn)的二極管應(yīng)能耐受與標(biāo)準(zhǔn)生產(chǎn)組件相同的熱環(huán)境，但不一定是帶電光伏組件。然后，按正常程序進(jìn)行試驗(yàn)。該特殊試樣僅用于測量中c）至k）的旁路二極管溫度。1.25倍STC短路電流的暴露試驗(yàn)應(yīng)在全功能組件上進(jìn)行，然后使用該組件進(jìn)行的最終測量。特殊試樣應(yīng)能按上述標(biāo)準(zhǔn)選擇的位置對三個旁路二極管進(jìn)行測試。裝置a)將組件加熱至（90±5）℃溫度的裝置。b)監(jiān)測組件溫度至±2.0℃精度的裝置，以及重復(fù)性為±0.5℃。c)測量旁路二極管結(jié)電壓VD的方法，精確度為2%。d)在整個試驗(yàn)過程中，施加等于被測組件1.25倍STC短路電流且脈沖寬度不超過1ms的電流的裝置，以及監(jiān)測通過組件的電流裝置。對于雙面組件，適用電流為GB/TXXXX-202X中規(guī)定的高輻照度BSI下短路電流的1.25倍。輻照度BSI下的短路電流可通過輻照度BSI下的測量（MQT06.1）確定，或通過假設(shè)短路電流與輻照度的線性關(guān)系（如IEC60904-10所定義）。如假設(shè)為線性，則允許使用Gate1（Isc-STC和Isc-BNPI）測得的Isc值和相關(guān)等效輻照度：1000W/m2、GBNPI和GBSI計算BSI、Isc-BSI處的短路電流。為了推斷Isc-BSI，這些數(shù)量組合如下：在上述公式中，等效輻照度按照IECTS60904-1-2計算，具體如下：GBNPI=1000W/m2+φ?135W/m2 GBSI=1000W/m2+φ?300W/m2 φ=Min(φIsc,φPmax） 程序a)將組件中所有的阻斷二極管短路。b)從商標(biāo)或說明書中確定組件在標(biāo)準(zhǔn)測試條件下的額定短路電流。對于雙面組件，使用GB/TXXXX-202X中定義的高輻照度BSI下的短路電流值。c)將VD和ID的引線連接到兩個二極管端子上，如圖12所示