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YS/TXXXX-202X2本文件規(guī)定了用計算機斷層掃描(CT)技術(shù)來本文件適用于鈦及鈦合金材料孔隙率的測定?？紫堵蕼y定范圍0.01%～1%。文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改單)適用于本文件。GB17589X射線計算機斷層攝影裝置質(zhì)量保證檢測規(guī)范GB/T27025檢測和校準(zhǔn)實驗室能力的通用要求GB/T29034無損檢測工業(yè)計算機層析成像(CT)指南GB/T29070無損檢測工業(yè)計算機層析成像(CT3術(shù)語和定義3鈦及鈦合金孔隙率CT檢測技術(shù)，利用X射線管發(fā)射的X射線，穿透樣品，通過數(shù)據(jù)探測傳輸系統(tǒng)采集經(jīng)樣品吸收后的X光信號強度，對試樣進行360°或180°掃描，以特定算法，利用重構(gòu)軟件，求解出每個空間位置點的X光吸收系數(shù)，并以灰度顯示試樣中不同組分，獲得試樣孔6.1X射線顯微鏡：應(yīng)具有穩(wěn)定的X射線發(fā)射系統(tǒng)、載物系統(tǒng)、探測與成像系統(tǒng)。7.2樣品尺寸：不同儀器對樣品的幾何形狀和大小有不同的要求，將樣品加工成儀器可以接受的直徑應(yīng)為8mm±0.5mm,高度為直徑的10倍左右。除另有規(guī)定外，應(yīng)在下列環(huán)境中進行測試：溫度：15℃~25℃;濕度：不大于70%。X射線CT掃描儀應(yīng)按照GB/T29070的規(guī)定進行校準(zhǔn)，或采用設(shè)備生產(chǎn)廠家的校準(zhǔn)方法進行校X射線源的電壓、束流強度來調(diào)整X射線平均穿透率，記錄參數(shù)。4等于5000。9.2.5投影圖像數(shù)量選定：試驗過程中可根據(jù)實際情況本體與孔隙進行識別、提取，計算孔隙率P,按照GB/T8170規(guī)定進行數(shù)值修約。最終結(jié)果以孔隙率P表示-試樣中孔隙總體積與試樣總體積的比值。計算見公式(1):在重復(fù)性條件下獲得的兩次獨立測試結(jié)果的測定值，在表1給出的平均值范圍內(nèi)，兩個測試結(jié)果的絕對差值不超過重復(fù)性限(r),超過重復(fù)性限(r)的情況不超過5%,重復(fù)性限(r)按表1數(shù)r在再現(xiàn)性條件下獲得的兩次獨立測試結(jié)果的測定值，在表1給出的平均值范圍內(nèi)，兩個測試結(jié)果的絕對差值不超過再現(xiàn)性限(R),超過再現(xiàn)性限(R)

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