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文檔簡介
本征半導(dǎo)體
本征半導(dǎo)體
當(dāng)上式滿足時,導(dǎo)帶電子的電荷密度(-e)n同價(jià)帶空穴的電荷密度(+e)p大小相等,符號相反,半導(dǎo)體處于電中性狀態(tài),通常稱這種關(guān)系為電中性條件或電中性方程.一、電中性條件
所謂本征半導(dǎo)體,就是完全沒有雜質(zhì)和缺陷的半導(dǎo)體。導(dǎo)帶中的電子都是由價(jià)帶激發(fā)得到的,(只有導(dǎo)帶和價(jià)帶,禁帶中沒有雜質(zhì)能級),即半導(dǎo)體中共價(jià)鍵是飽和的、完整的。T>0K時,電子從價(jià)帶激發(fā)到導(dǎo)帶,稱為本征激發(fā)。若要求電子總數(shù)不變,必須導(dǎo)帶中的電子濃度等于價(jià)帶中的空穴濃度,即
在任何溫度下,要求半導(dǎo)體保持電中性條件,同保持電子總數(shù)不變的條件是一致的.(Intrinsicsemiconductor)二、本征費(fèi)米能級(intrinsicfermilevel)由電子和空穴濃度的表達(dá)式和電中性條件,得
兩端取對數(shù)后,得Ei表示本征半導(dǎo)體的費(fèi)米能級.,Ei恰好位于禁帶中央.實(shí)際上NC和NV并不相等,是1的數(shù)量級.所以Ei在禁帶中央上下約為kT的范圍之內(nèi).EcEiEv本征半導(dǎo)體的能帶圖當(dāng),若mdn=mdp
在室溫下(300K),,它與半導(dǎo)體的禁帶寬度相比還是很小的,如:Si的Eg=1.12eV。例:
室溫時硅(Si)的Ei就位于禁帶中央之下約為0.01eV的地方.
也有少數(shù)半導(dǎo)體,Ei相對于禁帶中央的偏離較明顯.如,在室溫下,本征費(fèi)米能級移向?qū)?Ei移向?qū)У兹?、本征載流子濃度任何非簡并半導(dǎo)體,熱平衡條件下,皆有:本征半導(dǎo)體電中性條件:三、本征載流子濃度
上式表明,本征載流子濃度只與半導(dǎo)體本身的能帶結(jié)構(gòu)和溫度T有關(guān)。在一定溫度下,禁帶寬度越窄的半導(dǎo)體,本征載流子濃度越大。對于一定的半導(dǎo)體,本征載流子濃度隨著溫度的升高而迅速增加.
表4.3中列出室溫下硅、鍺、砷化鎵三種半導(dǎo)體材料的禁帶寬度和本征載流子濃度的數(shù)值.表4.3在室溫下(300K),Si、Ge、GaAs的本征載流子濃度和禁帶寬度SiGeGaAsni(cm-3)Eg(eV)1.120.671.43
我們把載流子濃度的乘積np用本征載流子濃度ni表示出來,得
在熱平衡情況下,若已知ni和一種載流子濃度,則可以利用上式求出另一種載流子濃度.
一定溫度下,任何非簡并半導(dǎo)體的熱平衡載流子的濃度的乘積
即,與所含雜質(zhì)無關(guān)。因此,它不僅適用于本征半導(dǎo)體材料,而且也適用于非簡并的雜質(zhì)半導(dǎo)體材料。意義:可作為判斷半導(dǎo)體材料是否達(dá)到熱平衡的判據(jù)。熱平衡條件下,n0、p0均為常數(shù),,
單位時間單位體積內(nèi)產(chǎn)生的載流子數(shù)等于單位時間單位體積內(nèi)復(fù)合掉的載流子數(shù),即,產(chǎn)生率=復(fù)合率。電子和空穴濃度的另一種形式
把電子和空穴濃度公式用本征載流子濃度ni(或pi)和本征費(fèi)米能級Ei可寫成下面的形式:練習(xí)題:利用(4.22)和(4.25)式,導(dǎo)出上面兩個表達(dá)式(4.34)(4.35)一、載流子濃度導(dǎo)帶電子濃度討論載流子簡并化對載流子分布的影響:二、發(fā)生簡并的條件對于n型半導(dǎo)體,施主雜質(zhì)提供給導(dǎo)帶的電子密度接近導(dǎo)帶有效狀態(tài)密度時,半導(dǎo)體發(fā)生簡并;對于p型半導(dǎo)體,受主雜質(zhì)提供給價(jià)帶的空穴密度接近價(jià)帶有效狀態(tài)密度時,半導(dǎo)體發(fā)生簡并;雜質(zhì)電離能小的雜質(zhì),雜質(zhì)濃度較小時就會發(fā)生簡并。對于不同種類的半導(dǎo)體,導(dǎo)帶有效狀態(tài)密度和價(jià)帶有效密度各不相同。一般規(guī)律是有效狀態(tài)密度小的材料,其發(fā)生簡并的雜質(zhì)濃度較小。載流子簡并化引起禁帶變窄(帶尾效應(yīng))雜質(zhì)濃度高 電子相互間靠近,相互作用加劇電子波函數(shù)重疊 雜質(zhì)能級變能帶 雜質(zhì)電離能減小 雜質(zhì)能帶進(jìn)入導(dǎo)
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