儀器分析-AAS教材

原子吸收分光光度分析法概述generalization第1節(jié)原子吸收光譜分析概述AtomicAbsorptionSpectrometry,AASbasicprincipleofAAS2024/6/17一、原子吸收光譜法（原子吸收分光光度法）

它是利用待測元素所產(chǎn)生的基態(tài)原子對其特征譜線的吸收程度來進行定量分析的方法。

原子吸收分光光度計裝置示意圖

2024/6/17在原子發(fā)射光譜分析中，我們曾提到過光源的自吸現(xiàn)象，即光源中內(nèi)層原子發(fā)射的光被外層基態(tài)原子吸收，其實，這就是原子吸收。如果我們把中間層作為一個光源，使之發(fā)出的光通過試樣原子蒸氣，測定吸收了多少，這就實現(xiàn)了原子吸收分析。2024/6/17對原子吸收現(xiàn)象的認(rèn)識是19世紀(jì)初的事。

1802年，渥拉斯通（W.H.Wollaston）發(fā)現(xiàn)太陽光的連續(xù)光譜中有幾條黑線。

1860年，由柯?；舴颍℅.Kirchoff）解釋了產(chǎn)生黑線的原因，他認(rèn)為這是由于比太陽溫度低的氣體吸收了從太陽發(fā)出的光。

1955年，澳大利亞物理學(xué)家瓦爾士（A.Walsh）首先提出利用原子吸收進行化學(xué)分析的可能性，隨后，人們在實踐和理論上不斷總結(jié)和研究。原子吸收分光光度法廣泛應(yīng)用于冶金、地質(zhì)、石油、化工、醫(yī)學(xué)、環(huán)保等行業(yè)，目前這種方法能分析70多種元素，如果利用間接分析法，還可測定非金屬元素。2024/6/17二、AAS與UV-vis比較：2024/6/17三、AAS的基本過程：去活（去激）基態(tài)M激發(fā)態(tài)M*光能hν

E

1、試樣霧化

2、原子化

3、光源輻射待測元素特征譜線

4、測定輻射減弱程度，即吸光度，定量分析。原子吸收光譜分析利用的是原子吸收過程M→M*；原子發(fā)射光譜分析利用的是原子發(fā)射現(xiàn)象。M*→M2024/6/17四、原子吸收光譜特點：

AES以Ni為依據(jù)，測定的是占原子總數(shù)不到1%的激發(fā)態(tài)原子。

AAS以No為依據(jù)，測定的是占原子總數(shù)99%以上的基態(tài)原子。2.精密度高，準(zhǔn)確度高。原子吸收程度受溫度變化影響較小。重現(xiàn)性好，穩(wěn)定性好。1.

靈敏度高，比原子發(fā)射光譜高幾個數(shù)量級，絕對靈敏度達(dá)10-13-10-15g2024/6/173.選擇性好，干擾少，易排除。4.應(yīng)用范圍廣?？蓽y70多種元素，既可測低含量和主量元素，又可測微量、痕量和超痕量元素。可測金屬，還可間接測非金屬元素，S、P、N等可測土壤、植物、生物組織等樣品中的元素含量。2024/6/17局限性：1、進行多元素分析受限制。測定一個元素得換一個空心陰極燈作為銳線光源，雖然，目前已研制成新的光源——多元素?zé)簦嘣責(zé)舻姆€(wěn)定性、光源強度受到一定的限制，應(yīng)用不是很廣。2、不能作結(jié)構(gòu)分析和AES一樣它只能作組分分析，不能作結(jié)構(gòu)分析。2024/6/17第二節(jié)AAS的基本原理（一）共振線與吸收線

A、基態(tài)

第一激發(fā)態(tài),吸收一定頻率的輻射能量，產(chǎn)生共振吸收線

吸收光譜

B、激發(fā)態(tài)

基態(tài),發(fā)射出一定頻率的輻射，產(chǎn)生共振發(fā)射線

發(fā)射光譜

一、原子吸收與光吸收定量2024/6/17假設(shè)有一束頻率為υ，強度為I0的平行光通過寬度為L的蒸氣云時，即通過寬度為L的火焰時，被原子蒸氣吸收后的出射光強為Iυ，則和紫外—可見分光光度法的基本原理相似，透射光強度可用下式表示：Iυ=I0e-KvL2024/6/17透射光服從光的吸收定律：

I

=I

0e-KvL

Kv：吸收系數(shù)，表示基態(tài)原子蒸氣對頻率為

的光的吸收系數(shù)。它與入射光的頻率

、基態(tài)原子蒸氣密度及原子化溫度有關(guān)。

吸光度:（二）吸收線的輪廓與譜線變寬原子蒸氣I0

I

L1、吸收定律2024/6/172、譜線輪廓原子吸收譜線盡管很窄，但不是嚴(yán)格的幾何線，有一定的寬度和輪廓譜線輪廓:指譜線強度I

或吸收系數(shù)Kv與輻射頻率

的關(guān)系曲線。當(dāng)強度為I0的不同頻率的光，通過原子蒸氣時，透過光的強度I

與頻率

關(guān)系圖吸收系數(shù)2024/6/173、表征吸收線輪廓(峰)的參數(shù)：中心頻率

O(峰值頻率)：最大吸收系數(shù)對應(yīng)的頻率；此時的K也稱峰值吸收系數(shù)或中心吸收系數(shù)K0半寬度：0.5倍K0處吸收線輪廓上兩點間的距離（頻率差）Δ

O，簡稱吸收線寬度。2024/6/172024/6/17（1）自然寬度Δ

N（naturalwidth）

與環(huán)境無關(guān)，可以忽略不計。（2）多普勒變寬Δ

D（Dopplerwidth)

由于原子在空間作無規(guī)則的熱運動引起的，又稱為熱變寬。Δ

D是譜線變寬的主要因素。4、影響譜線輪廓的因素broadeneffect

吸收線的寬度受多種因素影響，一類是由原子性質(zhì)所決定，另一類是外界因素空心陰極燈的溫度與燈電流有關(guān)，燈電流越大，溫度越高，Doppler變寬就越大，因此，在原子吸收光譜分析中，燈電流不宜過大。2024/6/17（3）壓力變寬（pressurebroading）

也叫碰撞變寬，由于原子相互碰撞使能量發(fā)生稍微變化。

勞倫茲（Lorentz）變寬Δ

L：異種原子間碰撞赫魯茲馬克（Holtsmark）變寬（共振變寬）Δ

R

：

同種原子碰撞。（4）自吸變寬光源空心陰極燈發(fā)射的共振線被燈內(nèi)同種基態(tài)原子所吸收產(chǎn)生自吸現(xiàn)象。燈電流越大，自吸現(xiàn)象越嚴(yán)重。（5）場致變寬外界電場、帶電粒子、離子形成的電場及磁場的作用

在一般分析條件下吸收線輪廓主要受多普勒變寬Δ

D和勞倫茲變寬Δ

L影響為主。2024/6/17二、原子吸收法的測量（一）積分吸收測量法

吸收線下所包圍的整個面積稱為積分吸收(integratedabsorption)，由下式積分得到：為常數(shù)，以k表示這是一種絕對測量方法，現(xiàn)在的分光裝置無法實現(xiàn)。

Why？？N≈No，N∝C，則No∝C2024/6/17由于原子吸收譜線的寬度僅有10-3nm，很窄，要準(zhǔn)確測積分吸收，需使用分辨率很高的單色器，一般光譜儀器很難滿足。例：原子吸收線的半寬度△λ=10-3nm，例如λ取600nm，單色器分辨率R=λ/△λ=600/10-3=6×105長期以來無法解決的難題！1、需要分辨率很高的單色器2024/6/172、采用連續(xù)光源進行測量困難另一方面，即使用分辨率很高的單色器，采用普通的分光光度法所用的連續(xù)光源，獲得0.2nm純度很高的光作為入射光，只有很少一部分被吸收，大部分通過，入射光和透過光強度沒有差別，靈敏度很差。2024/6/171955年澳大利亞物理學(xué)家瓦爾西提出采用銳線光源作為輻射源，及溫度不太高的火焰條件下，峰值吸收系數(shù)K0與N0成線性關(guān)系，只要測出K0即可獲得N0，即峰值吸收法，用峰值吸收代替積分吸收。(二)峰值吸收測量法（實際測量方法）2024/6/17銳線光源（narrow-linesource），即發(fā)射線的半寬度很窄的光源來測量譜線的峰值吸收系數(shù)代替積分吸收。必要條件：（1）光源的發(fā)射線與吸收線的中心頻率ν0一致。（2）發(fā)射線的半寬度小于吸收線的半寬度（Δνe<Δνa）提供銳線光源的方法：

空心陰極燈、無極放電燈2024/6/17采用銳線光源進行測量，則Δνe<Δνa，由圖可見，在輻射線寬度范圍內(nèi)，吸收系數(shù)Kν可近似認(rèn)為不變，為常數(shù)，并近似等于峰值吸收系數(shù)K0，即Kν＝K02024/6/17

A=k

N0

L

N0∝N∝cN0基態(tài)原子數(shù)，N原子數(shù)總數(shù)，c待測元素濃度

所以：A=lg(IO/I)=K'c（三）定量基礎(chǔ)我們不必測定具體的K0，而只要測定峰值處的吸光度即可進行定量分析，這也是原子吸收光譜分析法的定量基礎(chǔ)。2024/6/17第3節(jié)原子吸收光譜儀及主要部件2024/6/17原子吸收儀器（2）2024/6/17原子吸收儀器（4）2024/6/17原子吸收光譜儀又叫原子吸收分光光度計?；鹧嬖踊踊绞?/p>

非火焰原子化按入射光束單光束雙光束2024/6/172024/6/17不管型號如何變化，都是由光源、原子化器、分光系統(tǒng)和檢測系統(tǒng)四大部件組成。

2024/6/172024/6/17一、光源1.作用

提供待測元素的特征光譜。獲得較高的靈敏度和準(zhǔn)確度。2.空心陰極燈(Hollowcathodelamp)HCL2024/6/17

它是一個封閉的氣體放電管。用被測元素純金屬或合金制成圓柱形空心陰極，用鎢、鈦或鋯做成陽極。燈內(nèi)充Ne或Ar惰性氣體，壓力為數(shù)百帕。發(fā)射線波長在370.0nm以下的用石英窗口，370.0nm以上的用光學(xué)玻璃窗口。2024/6/172024/6/17工作原理：在陰極和陽極間加上足夠的電壓，陰極上有電子產(chǎn)生，在電場作用下，高速射向陽極，在向陽極運動過程中與內(nèi)充的惰性氣體碰撞并使之電離，電離產(chǎn)生的正離子在電場作用下高速射向陰極，陰極的金屬原子濺射出來，濺射出的原子與其它粒子碰撞而被激發(fā)，從激發(fā)態(tài)返回基態(tài)時，發(fā)射待測元素的特征譜線。2024/6/17試樣原子化器主要有火焰原子化，石墨爐原子化和低溫原子化三類。

二、原子化系統(tǒng)（主要環(huán)節(jié)）

——將試樣中的待測元素轉(zhuǎn)化為氣態(tài)的基態(tài)原子的裝置.2024/6/17火焰原子化法和無火焰原子化法。

前者具有簡單，快速，對大多數(shù)元素有較高的靈敏度和檢測限的優(yōu)點，因而至今使用仍最廣泛。但近年來，無火焰原子化技術(shù)有了很大改進，它比火焰原子化技術(shù)具有較高的原子化效率、靈敏度和檢測限，因而發(fā)展很快。2024/6/171、火焰原子化法

——用火焰的熱能使試樣原子化的方法

全消耗型原子化器

將試樣直接噴入火焰預(yù)混型原子化器**

用霧化器先霧化再噴入火焰

優(yōu)：操作簡便，原子化條件穩(wěn)定，火焰穩(wěn)定干擾少，應(yīng)用廣泛缺：原子化效率不高。主要討論預(yù)混型原子化器2024/6/17（一）火焰原子化器主要的部分有：噴霧器、霧化室、燃燒器、火焰和氣體供應(yīng)等。其中噴霧器是整個原子化器乃至整個原子吸收儀最關(guān)鍵的部件。因霧化效率的高低直接影響原子化效率，最終影響測定的靈敏度和準(zhǔn)確度。

2024/6/171.噴霧器—它的作用是將試液霧化對霧化器的要求：霧化效率高(一般為10%—12%)，霧滴細(xì)，噴霧穩(wěn)定。當(dāng)助燃?xì)庖砸欢▔毫Ω咚購膰娮熘袊姵鰰r，毛細(xì)管尖端產(chǎn)生負(fù)壓，將試液吸上來經(jīng)噴霧器形成霧珠，較大的霧珠在撞擊球上撞成更小的霧珠，較小的霧珠在混合器中與助燃?xì)?、燃?xì)饣旌虾筮M入燃燒器燃燒，大的霧珠冷凝后沿廢液管流出。2024/6/17作用：將試液霧化。2、霧化室（1）使較大霧粒沉降、凝聚。從廢液口排出（2）是為了讓燃?xì)?、助燃?xì)猓ˋir）及試樣霧充分混合，以便得到一個穩(wěn)定、平靜的火焰。（3）穩(wěn)定混合氣氣壓改進的霧化器：（1）加熱霧化室（2）超聲霧化法（3）高效預(yù)混合霧化室2024/6/173.燃燒器：是將霧珠中的待測元素原子化霧化后試樣進入火焰——蒸發(fā)——汽化成氣態(tài)——離解成基態(tài)原子長狹縫燃燒器：單縫、三縫2024/6/174.火焰——進行原子化的能源試樣的脫水、汽化、離解成基態(tài)原子直接影響原子化程序。溫度過高，會使試樣原子激發(fā)或電離，基態(tài)原子數(shù)減少，吸光度下降。溫度過低，不能使試樣中鹽類解離或解離太小。測定的靈敏度會受影響。因此根據(jù)情況選擇合適的火焰溫度。2024/6/17火焰原子化2024/6/175、火焰溫度的選擇：

（a）保證待測元素充分離解為基態(tài)原子的前提下，盡量采用低溫火焰；（b）火焰溫度越高，產(chǎn)生的熱激發(fā)態(tài)原子越多；常用空氣—乙炔火焰，最高溫度2600K，能測35種元素?；鹧娣N類溫度/K丙烷-空氣焰2200氫氣-空氣焰2300乙炔-空氣焰2600乙炔-氧化亞氮焰32002024/6/17富燃火焰化學(xué)計量火焰貧燃火焰燃助比~1︰6乙炔少氧化性較強，溫度較低。適用于堿金屬和不宜氧化的元素如：Au.Pt.Pd等~1︰4正?；鹧?，溫度高適用于多數(shù)元素原子化~1︰3乙炔多，溫度較低，還原性強。適用于難熔氧化物的原子化Al、Cr、Ba等2024/6/176、火焰原子化系統(tǒng)的優(yōu)缺點

優(yōu)點：火焰原子吸收法裝置較簡單，操作方便快速，測定精度好，已經(jīng)成為完善和定型的方法，廣泛用于常規(guī)分析。缺點：靈敏度還不夠高。（1）霧化效率低，到達(dá)火焰的試樣僅為提升量（4—6mL/min）的10%，大部分試液排泄掉了。（2）火焰氣氛的稀釋作用和高速燃燒限制了靈敏度的提高。這些作用不但使原子化效率低而且使基態(tài)原子在吸收區(qū)內(nèi)停留的時間很短（約10-3s）。

消耗試液量多，一般為0.5—1mL。對于數(shù)量很少的試樣（如血液、活體組織等）的分析，受到限制。

不能直接分析固體試樣。

2024/6/17（二）無火焰原子化器

無火焰原子化法是利用電熱、陰極濺射、高頻感應(yīng)或激光等方法使試樣中待測元素原子化。其中，應(yīng)用最廣泛的是石墨爐原子化器（GFA）GraphiteFurnaceAtomizer

石墨原子爐化器的原理是在惰性氣體下，利用大電流通過高阻值的石墨管時所產(chǎn)生的高溫，使置于其中的樣品蒸發(fā)、原子化，也稱為電熱原子化法。2024/6/17外氣路中Ar氣體沿石墨管外壁流動，冷卻保護石墨管；內(nèi)氣路中Ar氣體由管兩端流向管中心，從中心孔流出，用來保護原子不被氧化，同時排除干燥和灰化過程中產(chǎn)生的蒸汽。2024/6/172、原子化過程

原子化過程采用程序升溫的方式，分為干燥、灰化、原子化、凈化四個階段，待測元素在高溫下生成基態(tài)原子。2024/6/17（1）干燥：在低溫下蒸發(fā)除去溶劑，避免溶劑存在導(dǎo)致灰化和原子化過程飛濺。溫度通?？刂圃谏愿哂谌軇┓悬c。（2）灰化：進一步除去有機物和低沸點無機物，以減少基體組分對待測元素的影響。溫度為500～800℃（3）原子化：使待測元素在一定溫度下解離為基態(tài)原子蒸氣。溫度隨被測元素不同。（4）凈化（除殘）：將溫度升至最高，除去殘留物，消除記憶效應(yīng)。2024/6/17石墨爐原子化法的優(yōu)缺點

優(yōu)點：檢出限很低，對許多元素的測定比火焰法低2—3個數(shù)量級。該法的利用率達(dá)100%，并且不被稀釋，能夠在很短的時間獲得較高濃度的基態(tài)原子并能有較長的停留時間（0.1-1s）

試樣用量少，每次測定僅需5-100

L。

能夠在原子化器內(nèi)處理很大的試樣，便于通過控制升溫條件，提高測定的選擇性和靈敏度。

能直接進行粘度很大的樣液、懸浮液和固體樣品的分析。2024/6/17缺點：由于干擾大，必須有扣除背景裝置，設(shè)備比火焰法復(fù)雜、昂貴；

測定的精密度較差（相對偏差約等于3%）；

分析所需的時間比火焰法要長等。2024/6/17通過溶液中特定的化學(xué)反應(yīng)實現(xiàn)待測元素的原子化。（1）氫化物原子化

是低溫原子化方法的一種，（700~900゜C）

主要應(yīng)用于：As、Sb、Bi、Sn、Ge、Se、Pb等元素

原理：在酸性介質(zhì)中與強還原劑硼氫化鈉反應(yīng)生成低沸點氣態(tài)氫化物。例：

AsCl3+4NaBH4+HCl+8H2O=AsH3+4NaCl+4HBO2+13H2特點：原子化溫度低；靈敏度高（對砷、硒可達(dá)10-9g）；

基體干擾和化學(xué)干擾?。?、化學(xué)原子化法2024/6/17（2）冷原子化法也是一種低溫原子化方法（一般為室溫）；

主要應(yīng)用于：各種試樣中Hg元素的測量；原理：將試樣中的汞離子用SnCl2或鹽酸羥胺完全還原為金屬汞后，用氣流將汞蒸氣帶入具有石英窗的氣體測量管中進行吸光度測量。特點：常溫測量；靈敏度、準(zhǔn)確度較高（可達(dá)10-8g汞）；（3）陰極濺射原子化法利用HCL在輝光放電時的陰極濺射2024/6/17三、分光系統(tǒng)分光系統(tǒng)的作用就是將待測元素的分析線與干擾譜線分開，只讓分析線通過，非分析線不讓通過。分光系統(tǒng)：入射狹縫、反射鏡、色散元件、出射狹縫等組成。色散元件：是分光系統(tǒng)主要的關(guān)鍵部位，它的作用是將共振線與干擾線分開，要求色散均勻，色散率高，工作波段范圍廣，成本低。2024/6/172024/6/17（二）單色器（內(nèi)光路）1.作用

將待測元素的共振線與鄰近譜線分開。

2.組件

色散元件（棱鏡、光柵），凹凸鏡、狹縫等。3.單色器性能參數(shù)（1）線色散率（D）倒線色散率dλ/dX（nm/mm）（2）分辨率

儀器分開相鄰兩條譜線的能力。R＝λ/Δλ

（3）通帶寬度（W）指單色器出射光束波長區(qū)間的寬度。當(dāng)?shù)咕€色散率（D）一定時，可通過選擇狹縫寬度（S）來確定：

W=D

S2024/6/17單色器的光譜通帶：W=D·SS狹縫寬度（mm）

被測元素共振吸收線與干擾線近，選用W要小，干擾線較遠(yuǎn)，可用大的W。

對具體儀器來說，色散率已固定，此時的分辨能力僅與儀器的狹縫寬度有關(guān)。減少狹縫寬度，出射光的強度減弱，可提高分辨能力，有利于消除干擾譜線。但若太小，透過光強度減弱，分辨靈敏度下降。一般情況，對于譜線較少的元素，狹縫宜大一點，而譜線較多的元素宜小一點。2024/6/17四、檢測系統(tǒng)主要由檢測器、放大器、對數(shù)變換器、顯示記錄裝置組成。1.檢測器--------將單色器分出的光信號轉(zhuǎn)變成電信號。如：光電池、光電倍增管、光敏晶體管等。分光后的光照射到光敏陰極K上，轟擊出的光電子又射向光敏陰極1，轟擊出更多的光電子，依次倍增，在最后放出的光電子比最初多到106倍以上，最大電流可達(dá)10μA，電流經(jīng)負(fù)載電阻轉(zhuǎn)變?yōu)殡妷盒盘査腿敕糯笃鳌?/p>

Photomutipliertube,PMT2024/6/17二、原子吸收分光光度計類型按入射光束單光束原子吸收分光光度計 雙光束原子吸收分光光度計（一）單光束原子吸收分光光度計簡單、便宜2024/6/17（二）雙光束原子吸收分光光度計

兩束光，既可以消除火焰干擾，又可以消除光源波動漂移的影響2024/6/17（三）多通道原子吸收分光光度計由兩個或多個不同的光源，經(jīng)光柵或棱鏡合成多色光，再經(jīng)切光器調(diào)制后通過火焰透射到多道單色器狹縫上，經(jīng)分光轉(zhuǎn)換成吸光度?？梢酝瑫r測定多種元素，但裝置復(fù)雜、價格昂貴2024/6/17原子吸收分光光度分析法一、光譜干擾及抑制spectruminterferenceandelimination二、物理干擾及抑制physicalinterferenceandelimination三、化學(xué)干擾及抑制chemicalinterferenceandelimination第4節(jié)

干擾及其抑制interferencesandeliminationatomicabsorptionspectrometry,AAS2024/6/17一、光譜干擾分為譜線干擾和背景干擾兩種。（一）譜線的干擾及抑制1.發(fā)射線的鄰近線干擾

2.其它吸收線的干擾抑制干擾的方法：調(diào)小狹縫、換用純度較高的單元素?zé)簟⒎蛛x共存干擾元素等。第4節(jié)干擾及其抑制2024/6/17

1.背景干擾及抑制

分子吸收

光散射火焰氣體吸收（二）背景干擾及校正方法2024/6/172.背景干擾的校正方法氘燈連續(xù)光譜背景校正A氘=A背

A空=A總=A待+A背通常用空白校正，氘燈校正、塞曼效應(yīng)校正等方法消除背景吸收。2024/6/17二、物理干擾及抑制

試樣在轉(zhuǎn)移、蒸發(fā)過程中物理因素變化引起的干擾效應(yīng)。是非選擇性的。

可通過控制試液與標(biāo)準(zhǔn)溶液的組成盡量一致，并在相同條件下進行測定的方法來抑制。2024/6/17三、化學(xué)干擾及抑制主要影響到待測元素的原子化效率，是AAS的主要干擾源，是一種具有選擇性的干擾。

1.化學(xué)干擾的類型

（1）待測元素與其共存物質(zhì)作用生成難揮發(fā)的化合物，致使參與吸收的基態(tài)原子減少。（2）待測離子發(fā)生電離反應(yīng)。生成離子，不產(chǎn)生吸收，總吸收強度減弱，電離電位≤6eV的元素易發(fā)生電離，火焰溫度越高，干擾越嚴(yán)重，（如堿及堿土元素）。2024/6/17

2.化學(xué)干擾的抑制

通過在標(biāo)準(zhǔn)溶液和試液中加入某種光譜化學(xué)緩沖劑來抑制或減少化學(xué)干擾：（1）釋放劑—加入一種過量金屬元素，與干擾元素生成更穩(wěn)定化合物使待測元素釋放出來。

例：磷酸鹽的存在對鈣的測定產(chǎn)生干擾，加入LaCl3與磷酸根生成更穩(wěn)定的LaPO4，可有效消除磷酸根對鈣的干擾。（2）保護劑—多為有機絡(luò)合物，與待測元素形成穩(wěn)定的絡(luò)合物，防止干擾物質(zhì)與其作用。

例：加入EDTA生成EDTA-Ca，避免磷酸根與鈣作用。加入足夠的干擾元素，使干擾趨于穩(wěn)定。

2024/6/17（3）基體改進劑——加入某些化學(xué)試劑以改變基體或被測定元素的穩(wěn)定性，避免化學(xué)干擾。

例：測定水中的痕量Si時，易形成難解離的SiC，加入基體改進劑CaO后，生成易解離的硅化鈣，降低了原子化溫度，提高了硅的原子化效率。（4）電離緩沖劑—也稱消電離劑，加入大量易電離的緩沖劑以抑制待測元素的電離。常用的消電離劑有KCl、NaCl等例：測鈣時有電離干擾，加入消電離劑KCl可抑制Ca的電離。（5）化學(xué)分離法

2024/6/17原子吸收分光光度分析法第5節(jié)原子吸收光譜定量分析方法atomicabsorptionspectrometry,AASbasicprincipleofAAS2024/6/17一、定量分析方法

A=k

N0

b

N0∝N∝c（N0為基態(tài)原子數(shù)，N為原子總數(shù)，c待測元素濃度）

所以：A=lg(IO/I)=K'c

說明當(dāng)吸收厚度一定時，在一定條件下，峰值吸收測量的吸光度與被測元素的含量成正比。2024/6/17（一）標(biāo)準(zhǔn)曲線法注意：①配制標(biāo)準(zhǔn)溶液的濃度，應(yīng)在線范圍內(nèi)；②標(biāo)準(zhǔn)溶液與待測試樣溶液應(yīng)用相同的試劑處理；③在整個操作過程中操作條件應(yīng)保持不變；④每次測定應(yīng)用標(biāo)準(zhǔn)溶液對吸光度進行檢查和校正。2024/6/17（二）標(biāo)準(zhǔn)加入法該法可消除基體干擾；不能消除背景干擾；Ax＝KCx；As＝K(Cx+Cs)與橫軸相交，As＝0，則Cx＝－Cs2024/6/17二、特征參數(shù)（靈敏度和檢出限）靈敏度和檢出限是AAS中儀器性能的兩個主要技術(shù)指標(biāo)。靈敏度可以檢查儀器是否處于正常狀態(tài)，檢出限表示一個分析方法的測定下限。2024/6/171.靈敏度

sensitivity靈敏度（S）——（即標(biāo)準(zhǔn)曲線的斜率）

Sc=ΔA/Δc

或

Sm=ΔA/Δm(1)特征濃度——指能產(chǎn)生1%凈吸收，或產(chǎn)生0.0044吸光度所對應(yīng)的待測元素濃度.1%吸收：A=lg(I0/I)=lg(100/99)=0.0044

cc=0.0044Δc/ΔA

單位：μg(ml1%)-1

(2)特征質(zhì)量

mc=0.0044Δm/ΔA

單位：g(1%)-12024/6/17例、1μg/g的Mg2+溶液，測得其吸光度為0.55，則其特征濃度為：