GB∕T 43594-2023 均勻光源通 用規(guī)范（正式版）

均勻光源通用規(guī)范2023-12-28發(fā)布國家市場監(jiān)督管理總局國家標準化管理委員會I前言 l2規(guī)范性引用文件 13術語和定義 14技術要求 24.1光譜范圍 24.2相關色溫 34.3輻射亮度偏差 34.4輻射照度偏差 34.5光譜匹配度 34.6面非均勻性 34.7角度非均勻性 34.8輻射亮度動態(tài)范圍 44.9輻射照度動態(tài)范圍 44.10非穩(wěn)定性 44.11有效輻射面(有效輻照面) 44.12準直角 44.13供電及控制單元 4 45測試條件 45.1環(huán)境條件 45.2測試準備 55.3儀器設備 56測試項目 57測試方法 67.1測量原理 67.2光譜范圍 77.3相關色溫 77.4輻射亮度偏差 77.5輻射照度偏差 87.6光譜匹配度 87.7面非均勻性 97.8角度非均勻性 ⅡGB/T43594—20237.9輻射亮度動態(tài)范圍 7.10輻射照度動態(tài)范圍 7.11非穩(wěn)定性 7.12有效輻射面(有效輻照面) 7.13準直角 7.14供電及控制單元 7.15外觀 8標志 9隨行文件 10包裝、運輸和貯存 10.2運輸和貯存 參考文獻 Ⅲ本文件按照GB/T1.1—2020《標準化工作導則第1部分：標準化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則》的規(guī)定起草。請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利。本文件的發(fā)布機構(gòu)不承擔識別專利的責任。本文件由中國科學院提出。本文件由全國光電測量標準化技術委員會(SAC/TC487)歸口。本文件起草單位：中國科學院西安光學精密機械研究所、中國計量科學研究院、杭州遠方光電信息股份有限公司、長春理工大學、中國計量大學、中國科學院空天信息創(chuàng)新研究院、深圳中國計量科學研究院技術創(chuàng)新研究院、沐瀾光學(上海)有限公司、廣東科視光學技術股份有限公司。1均勻光源通用規(guī)范本文件規(guī)定了均勻光源的技術要求以及包裝運輸要求，描述了測試方法。本文件適用于結(jié)構(gòu)形式為球型、平板型和準直型，光輻射波長或波段范圍在220nm～2500nm(含),用于光電測量與校準或照明的具有均勻輻射特性的光源，用于其分類、設計和測試。2規(guī)范性引用文件下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中，注日期的引用文件，僅該日期對應的版本適用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改單)適用于本文件。GB/T19510.1—2023光源控制裝置第1部分：一般要求和安全要求JJG963—2022通信用光波長計3術語和定義下列術語和定義適用于本文件。球型均勻光源sphereuniformlightsource由光源、供電單元、球型勻光裝置及控制單元等部分組成，在一定方向或角度內(nèi)具有均勻輻亮度特性的裝置。平板型均勻光源plateshapeduniformlightsource由光源、供電單元、平板勻光裝置及控制單元等部分組成，在一定方向內(nèi)具有均勻輻亮度特性的裝置。準直型均勻光源collimatingtypeuniformlightsource由光源、供電單元、光學積分器、準直鏡及控制單元等部分組成，在特定方向具有準直特性的高輻照度的裝置。光譜匹配度spectralmatchfactor均勻光源的出射光譜與目標光譜的匹配性。注：目標光譜包含單色光譜、復色光譜、太陽光譜和特定光譜等。面非均勻性spatialnon-uniformity均勻光源輻射面內(nèi)不同位置的(光譜)輻射亮度的相對偏差。均勻光源輻射面的中心法向不同角度(光譜)輻射亮度的相對偏差。2輻射亮度動態(tài)范圍radiancedynamierange均勻光源輸出輻亮度的變化范圍。輻射照度動態(tài)范圍irradiancedynamicrange均勻光源輸出輻照度的變化范圍。在均勻光源的輻射面內(nèi)任意給定位置上和規(guī)定的記錄時間范圍內(nèi)，均勻光源的輻亮度(輻照度)在時間序列中的最大值和最小值之間的相對偏差。注：非穩(wěn)定性包括短期非穩(wěn)定性和長期非穩(wěn)定性。有效輻射面effectiveradiationplane均勻光源指定輻射面的輻亮度和非均勻性滿足使用要求的幾何平面。有效輻照面effectiveirradiationplane均勻光源指定輻照面的輻照度和非均勻性滿足使用要求的幾何平面。準直角angleofcollimation準直型均勻光源出射光線保持平行的能力。注：準直角用光線間的夾角表示。4技術要求4.1光譜范圍4.1.1近紫外均勻光源均勻光源輻射面所發(fā)出光線的光譜范圍應在220nm～380nm(含),且為連續(xù)光譜。4.1.2可見-近紅外均勻光源均勻光源輻射面所發(fā)出光線的光譜范圍應在380nm～1100nm(含),且為連續(xù)光譜。4.1.3短波紅外均勻光源均勻光源輻射面所發(fā)出光線的光譜范圍應在1100nm～2500nm(含),且為連續(xù)光譜。均勻光源輻射面所發(fā)出光線的峰值波長與制造商標稱峰值波長的偏離應不大于±5nm。制造商標稱峰值波長在380nm～780nm(含)的可見單色均勻光源，其半峰寬度應不大于50nm。制造商標稱峰值波長在780nm～1100nm(含)的近紅外單色均勻光源，其半峰寬度應不大于制造商標稱峰值波長在1100nm～2500nm(含)的短波紅外單色均勻光源，其半峰寬度應不大于3GB/T43594—20234.2相關色溫近紫外均勻光源、可見-近紅外均勻光源和短波紅外均勻光源的相關色溫固定或連續(xù)可調(diào)，范圍一般在1100K～12000K。近紫外均勻光源的相關色溫與制造商的標稱值偏差不大于±100K,可見-近紅外均勻光源的相關色溫與制造商的標稱值偏差不大于±200K,短波紅外均勻光源的相關色溫與制造商的標稱值偏差不大于±300K。4.3輻射亮度偏差與標稱值的偏差應不大于10%。4.4輻射照度偏差與標稱值的偏差應不大于10%。4.5光譜匹配度均勻光源的光譜匹配度用相關系數(shù)表征，其具體要求由技術文件確定。4.6面非均勻性根據(jù)均勻光源輻射面的面積及其用途，其面非均勻性值宜符合表1的要求。表1面非均勻性值均勻光源輻射面面積Sm2面非均勻性均勻照明%光電測量%校準%S≤0.050.05<S≤14.7角度非均勻性根據(jù)均勻光源輻射面的輻射角及其用途，其角度非均勻性值宜符合表2的要求。表2角度非均勻性值均勻光源輻射面使用輻射角0角度非均勻性均勻照明%光電測量%校準%44.8輻射亮度動態(tài)范圍當均勻光源的輸出輻亮度可調(diào)節(jié)時，其具體要求由技術文件確定。4.9輻射照度動態(tài)范圍當均勻光源的輸出輻照度可調(diào)節(jié)時，其具體要求由技術文件確定。4.10非穩(wěn)定性根據(jù)均勻光源輻射面的用途，其非穩(wěn)定性值宜符合表3的要求。表3非穩(wěn)定性值均勻光源輻射面用途短期非穩(wěn)定性(0.5h)%長期非穩(wěn)定性(4h)%均勻照明光電測量校準4.11有效輻射面(有效輻照面)均勻光源的有效輻射面(有效輻照面)的幾何尺寸不宜小于輻射面(輻照面)總幾何尺寸的90%。圓形輻射面的有效輻射面(有效輻照面)幾何尺寸一般以直徑表示。矩形輻射面的有效輻射面(輻照面)幾何尺寸一般以兩個方向的邊長來表示。其他特殊形狀輻射面的有效輻射面(有效輻照面)幾何尺寸根據(jù)具體形狀進行描述。4.12準直角準直型均勻光源，其準直角應優(yōu)于±1'。4.13供電及控制單元當均勻光源所用燈源，其供電為250V以下直流電源或1000V(50Hz或60Hz)以下交流電源時，應滿足GB/T19510.1—2023的要求。當對均勻光源的外觀有要求時，應滿足以下要求：a)外表面清潔，無污物，無明顯的劃痕、碰傷以及其他影響外觀的缺陷；b)內(nèi)表面反射涂層涂覆均勻、清潔、無污物，無龜裂或脫落現(xiàn)象；c)電連接器插針無彎曲和松動，插孔無堵塞現(xiàn)象；d)可活動部件運轉(zhuǎn)靈活，無卡滯；e)緊固件連接可靠，有防松動措施，無松動現(xiàn)象，緊固到位。5測試條件5.1環(huán)境條件若無特殊規(guī)定，測試環(huán)境應滿足以下條件。5b)相對濕度：≤80%。d)其他條件：光學暗室條件，環(huán)境清潔通風，無影響儀器正常工作的電磁場及機械振動。所有指標的測試，均應在被測均勻光源啟動并預熱穩(wěn)定后開始。5.3儀器設備測試用計量器具和測量標準應經(jīng)計量技術機構(gòu)檢定合格或校準，并在有效期內(nèi)。5.3.2光譜輻亮度計光譜輻亮度計是用于測量均勻光源的光譜輻亮度分布的儀器設備，其測量波長范圍應不小于被測均勻光源的光譜范圍。220nm～1000nm的帶寬不大于5nm,波長測量示值誤差不大于±1nm;1001nm～2500nm的帶寬不大于10nm,波長測量示值誤差不大于士2nm;最小采樣間隔不大于5nm,光譜輻亮度的測量誤差應小于規(guī)定值的1/10。光譜輻照計是用于測量均勻光源的光譜輻照度分布的儀器設備，其測量波長范圍應不小于被測均勻光源的光譜范圍。220nm～1000nm的帶寬不大于5nm,波長測量示值誤差不大于±1nm;1001nm～2500nm的帶寬不大于10nm,波長測量示值誤差不大于士2nm;最小采樣間隔不大于5nm,光譜輻照度的測量誤差應小于規(guī)定值的1/10。波長計是用于單色光源為激光器的均勻光源的波長測量的儀器設備，應滿足JJG963—2022的要求。色溫測量儀是用于測量均勻光源輻射面的相關色溫的儀器設備，最大允許誤差優(yōu)于±20K(標準A光源)。5.3.6尺寸測量儀器尺寸測量儀器是用于測量均勻光源均勻輻射面外形和尺寸的儀器設備，測量精度高于技術文件規(guī)定值1個數(shù)量級。6測試項目根據(jù)均勻光源的結(jié)構(gòu)形式，其測試項目按照表4的要求。6表4均勻光源測試項目表測試項目球型均勻光源平板型均勻光源準直型均勻光源光譜范圍√√√相關色溫√√√輻射亮度偏差√√輻射照度偏差— √光譜匹配度√√√面非均勻性√√√角度非均勻性√————輻射亮度動態(tài)范圍√√—輻射照度動態(tài)范圍—√非穩(wěn)定性√√√有效輻射面(有效輻照面)√√√準直角√供電及控制單元√√√外觀))標志O○〇隨行文件O○O注：“√”表示測試項目，“〇”表示檢查項目，“—”表示非測試項目。7測試方法7.1測量原理均勻光源的性能測量原理示意圖見圖1,圖1中測量儀器根據(jù)不同測量項目進行選擇。標引序號說明：1——均勻光源；2—-輻射面；3——測量儀器。圖1均勻光源性能測量原理示意圖7GB/T43594—20237.2光譜范圍測量原理示意圖見圖1,在均勻光源輻射面的工作位置擺放測量儀器，此處使用光譜輻亮度計(光譜輻照度計)。使光譜輻亮度計(光譜輻照度計)的光軸與均勻光源的輻射面垂直，使用光譜輻亮度計(光譜輻照度計)測量其光譜，按公式(1)進行歸一化處理，計算得到其光譜范圍曲線。 (1)式中：L'(λ;)——被測均勻光源波長λ,處的光譜輻亮度(輻照度)測量值的歸一化計算值；——光譜輻亮度計(光譜輻照度計)的測量波長的序數(shù)，j≤i≤k;L(a?)——被測均勻光源波長λ,處的光譜輻亮度(光譜輻照度)測量值，光譜輻亮度的單位為瓦每平方米球面度納米(w·m-2·sr-1·nm-1),光譜輻照度的單位為瓦每平方米納米(w·m-2·nm-l);λ;——光譜輻亮度計(光譜輻照度計)的測量波長，單位為納米(nm);λ;——光譜輻亮度計(光譜輻照度計)的起始測量波長，單位為納米(nm);λk——光譜輻亮度計(光譜輻照度計)的終止測量波長，單位為納米(nm);L(λ,,λ?)mx——光譜輻亮度計(光譜輻照度計)在起始測量波長與終止測量波長之間，光譜輻亮度(光譜輻照度)的測量值的最大值，光譜輻亮度的單位為瓦每平方米球面度納米(w·m-2·sr-l·nm-1),光譜輻照度的單位為瓦每平方米納米(w·m-2·nm-1)。單色均勻光源的光譜范圍用半峰值寬度表示，其光譜輻亮度(輻照度)歸一化曲線中，位于歸一化曲線峰值的50%所對應的兩個波長點的差值即為光譜范圍，歸一化曲線的峰值即為峰值波長。當單色光源為激光器時，使用波長計測量其峰值波長，其半峰寬度即為光譜范圍。7.3相關色溫測量原理示意圖見圖1,在均勻光源輻射面的工作位置擺放測量儀器，此處使用色溫測量儀。使色溫測量儀的光敏面與輻射面相垂直。待均勻光源預熱完成后，使用色溫測量儀測量其相關色溫。7.4輻射亮度偏差測量原理示意圖見圖1,在均勻光源輻射面的工作位置擺放測量儀器，當均勻光源為球型均勻光源或平板型均勻光源時，使用光譜輻亮度計。根據(jù)被測均勻光源的輸出口徑與工作位置，為光譜輻亮度計安裝具有一定視場角的光學鏡頭，使被測均勻光源的輻射面能充滿光學鏡頭的視場，并使光學鏡頭的光軸與輻射面的中心垂直。使用光譜輻亮度計測量其光譜輻亮度，按公式(2)計算光譜輻亮度在指定波長范圍內(nèi)的積分值，即為被測均勻光源的輻亮度，按公式(3)計算輻亮度偏差。 (2) 式中：L——被測均勻光源在波長(λ?,λ?)范圍內(nèi)的輻亮度，單位為瓦每平方米球面度(w·m-8GB/T43594—2023L(a?)——被測均勻光源在波長λ,處的光譜輻亮度，單位為瓦每平方米球面度納米(w·m-2·sr-1·nm-1);λ?——被測均勻光源光譜輻亮度積分的起始波長，單位為納米(nm);λ?——被測均勻光源光譜輻亮度積分的終止波長，單位為納米(nm);e?——被測均勻光源輻亮度與目標輻亮度的偏差，單位為瓦每平方米球面度(w·m-2·sr-1);L,——被測均勻光源輻亮度目標值，單位為瓦每平方米球面度(w·m-2·sr-l)。當對均勻光源某一波長處的光譜輻亮度有要求，且光譜輻亮度計可直接給出其測量值時，按公式(3)計算該波長處光譜輻亮度與目標值的偏差作為測量結(jié)果。如果光譜輻亮度計不能直接給出測量值時，可采用插值方法計算其光譜輻亮度，按公式(3)計算與目標值的偏差作為測量結(jié)果。7.5輻射照度偏差測量原理示意圖見圖1,在均勻光源面的工作位置擺放測量儀器，當均勻光源為準直型均勻光源使光譜輻照度計的光敏面的法線與輻照面的中心垂直。使用光譜輻亮度計測量其光譜輻照度，按公式(4)計算光譜輻照度在指定波長范圍內(nèi)的積分值，即為被測均勻光源的輻照度，按公式(5)計算輻照度偏差。E——被測均勻光源在波長范圍(λ?,λ?)內(nèi)的輻照度，單位為瓦每平方米(w·m-2);E(λ;)——被測均勻光源在波長λ;處的光譜輻照度，單位為瓦每平方米納米(w·m-2·nm-l);ee——被測均勻光源輻照度與目標輻照度的偏差，單位為瓦每平方米(w·m-2);E——被測均勻光源輻照度目標值，單位為瓦每平方米(w·m-2)。當對均勻光源某一波長處的光譜輻照度有要求，且光譜輻照度計可直接給出其測量值時，按公式(5)計算該波長處光譜輻照度與目標值的偏差作為測量結(jié)果。如果光譜輻照度計不能直接給出測量值時，可采用插值方法計算其光譜輻照度，按公式(5)計算與目標值的偏差作為測量結(jié)果。7.6光譜匹配度測量原理示意圖見圖1,在均勻光源輻射面的工作位置擺放測量儀器，此處使用光譜輻亮度計(光譜輻照度計)。使光譜輻亮度計(光譜輻照度計)的光軸與輻射面垂直，設定測量儀器的光譜測量步長(一般不大于測量儀器光譜分辨率的2倍)。使用光譜輻亮度計(光譜輻照度計)測量其光譜，按公式(6)～公式(8)計算光譜匹配度。 (8)9式中：r——光譜匹配度；P(λ;)——被測均勻光源在波長λ;處的目標光譜輻亮度(光譜輻照度),光譜輻亮度的單位為瓦每平方米球面度納米(w·m-2·sr-1·nm-1),光譜輻照度的單位為瓦每平方米納米(w·m-2·nm-1); 被測均勻光源的目標光譜輻亮度(光譜輻照度)P(λ;)在光譜范圍(λ;,λ?)內(nèi)的平均值，光譜輻亮度的單位為瓦每平方米球面度納米(w·m-2·sr-1·nm-1),光譜輻照度的單位為瓦每平方米納米(w·m-2·nm-1);L(à)——L(λ;)——被測均勻光源在波長a;處的實際光譜輻亮度(光譜輻照度),光譜輻亮度的單位為瓦每平方米球面度納米(w·m-2·sr-1·nm-l),光譜輻照度的單位為瓦每平方米納米被測均勻光源的目標光譜輻亮度(光譜輻照度)L(λ;)在光譜范圍(λ;,λ?)內(nèi)輸出實測值的平均值，光譜輻亮度的單位為瓦每平方米球面度納米(w·m-2·sr-1·nm-1),光譜輻照度的單位為瓦每平方米納米(w·m-2·nm-l)。7.7面非均勻性7.7.1球型均勻光源測量原理示意圖見圖1,在均勻光源輻射面的工作位置架設測量儀器，此處測量儀器選用光譜輻亮度計，使光譜輻亮度計的光軸通過輻射面的中心，并與輻射面垂直。在測量范圍內(nèi)，光譜輻亮度計借助平面定位裝置等間隔的在不同位置完成輻亮度測量，平面定位裝置的定位精度優(yōu)于±2mm。球型均勻光源的面非均勻性測量間隔值宜符合表5的要求，測試點分布示意圖見圖2,P。點為均勻光源輻射面的中心，其余各測點按測量間隔等間隔排列。表5面非均勻性測量間隔值單位為毫米均勻光源輻射面直徑D測量間隔值均勻照明光電測量校準D/10D>500D/10D/25圖2球型均勻光源面非均勻性測試點分布示意圖篩選有效位置測量點，按公式(9)計算被測均勻光源的面非均勻性。有效位置測量點是指剔除位于輻射面邊緣，測量值具有明顯變化的測點，或小于輻射面直徑區(qū)域內(nèi)的測點。GB/T43594—2023……………(9)式中：△Lara——被測均勻光源的面非均勻性；m——除中心P?點位置外的其余測量點總數(shù)；L——第i個位置點的輻亮度值(i=1,2,4,…,m),單位為瓦每平方米球面度(w·m-2·sr-1);Larg.o——中心P?點位置的輻亮度值，單位為瓦每平方米球面度(w·m-2·sr-l)。7.7.2平板型均勻光源平板型均勻光源的面非均勻性測試方法可采用25點或者13點測量法。測量原理示意圖見圖1,在均勻光源輻射面的工作位置架設測量儀器，此處測量儀器選用光譜輻亮度計，使光譜輻亮度計的光軸通過輻射面的中心，并與面垂直，直接測量各位置點的輻亮度。測試點分布見圖3和圖4的示意圖，P。點為均勻光源輻射面的中心(25點法P。點等同于Pia點，13點法P。點等同于P?點)。按公式(9)計算被測均勻光源的面非均勻性。標引序號說明：V——面光源的高；H——面光源的寬。圖3平板型均勻光源面非均勻性測試點分布1標引序號說明：V——面光源的高；H——面光源的寬。圖4平板型均勻光源面非均勻性測試點分布27.7.3準直型均勻光源準直型均勻光源的面非均勻性測試方法見7.7.1,此處測量儀器選用光譜輻照度計，其光敏面積直徑應不大于相應均勻光源輻照面的測量間隔。GB/T43594—2023注：當測試球型均勻光源和平板型均勻光源時，根據(jù)被測均勻光源的輸出口徑與工作位置，為光譜輻亮度計安裝具有一定視場角的光學鏡頭，使被測均勻光源的輻射面能充滿光學鏡頭的視場。7.8角度非均勻性球型均勻光源的角度非均勻性測試示意圖見圖5。標引序號說明：1——均勻光源；2——輻射面；3——光譜輻亮度計；4——光譜輻亮度計移動軌跡。圖5球型均勻光源的角度非均勻性測試原理示意圖在被測均勻光源輻射面的工作位置搭建角度掃描裝置，使其掃描平面與均勻光源的輻射面垂直。在掃描裝置的載物臺上安裝光譜輻亮度計，使其繞輻射面中心轉(zhuǎn)動且光軸始終指向輻射面中心，轉(zhuǎn)動半徑與輻射面半徑相同。根據(jù)被測均勻光源的輸出口徑與工作位置，為光譜輻亮度計安裝具有一定視場角的光學鏡頭，使被測均勻光源的輻射面能充滿光學鏡頭的視場，同時光學鏡頭的視場角不大于3°。在掃描角度范圍內(nèi)，使光譜輻亮度計等間隔的完成輻亮度測量，測量間隔不大于角度范圍的1/10。按公式(10)計算被測均勻光源的角度非均勻性。式中：n——除0。角度外，其余角度測點的總數(shù)，為偶數(shù)；L(0?)——在θ,角度，被測均勻光源的輻亮度值，其中i=1,2,3,…,n/2,分別對應正向角度，單位為瓦每平方米球面度(w·m-2·sr-l);L(0?)——在0。角度，被測均勻光源的輻亮度值，單位為瓦每平方米球面度(w·m-?·sr-l);L(θ;)——在θ;角度，被測均勻光源的輻亮度值，其中j=n/2+1,n/2+2,n/2+3,…,n,分別對應負向角度，單位為瓦每平方米球面度(w·m-2·sr-l)。注：角度定位裝置的回轉(zhuǎn)半徑與被測均勻光源輻射面的半徑相同，旋轉(zhuǎn)范圍覆蓋輻射面的法向角度范圍，定位精度優(yōu)于1°。7.9輻射亮度動態(tài)范圍測試原理示意圖見圖1,在均勻光源輻射面的工作位置擺放測量儀器，使用光譜輻亮度計。根據(jù)被測均勻光源的輸出口徑與工作位置，為光譜輻亮度計安裝具有一定視場角的光學鏡頭，使被GB/T43594—2023測均勻光源的輻射面能夠充滿光學鏡頭的視場，并使光學鏡頭的光軸與輻射面的中心垂直。分別調(diào)整均勻光源的輸出輻亮度為最大值和最小值，分別測量其最大輻亮度和最小輻亮度，按公式(11)計算被測均勻光源的輻射亮度動態(tài)范圍。式中：DR,——被測均勻光源的輻射亮度動態(tài)范圍，單位為分貝(dB);………………Lmy被測均勻光源的最大輸出輻亮度，單位為瓦每平方米球面度(w·m-2·sr-l);Lmin——被測均勻光源的最小輸出輻亮度，單位為瓦每平方米球面度(w·m-2·sr-1)。7.10輻射照度動態(tài)范圍測試原理示意圖見圖1,在均勻光源輻射面的工作位置擺放測量儀器，使用光譜輻照度計。使光譜輻照度計的光敏面的法線通過輻照面的中心，并與輻照面垂直。分別調(diào)整均勻光源的輻照度為最大值和最小值，分別測量其最大輻照度和最小輻照度，按公式(12)計算被測均勻光源的輻照度動態(tài)范圍。式中：DRg——被測均勻光源的輻射照度動態(tài)范圍，單位為分貝(dB);Emx——被測均勻光源的最大輸出輻照度，單位為瓦每平方米(w·m-2);Emin——被測均勻光源的最小輸出輻照度，單位為瓦每平方米(w·m-2)。7.11非穩(wěn)定性測試原理示意圖見圖1,在均勻光源輻射面的工作位置擺放測量儀器，使測量儀器的光軸與被測均勻光源的輻射面垂直。當被測均勻光源為球型均勻光源或平板型均勻光源時，測量儀器選用光譜輻亮度計。根據(jù)被測均勻光源的輸出口徑與工作位置，為光譜輻亮度計安裝具有一定視場角的光學鏡頭，使被測均勻光源的輻射面能充滿光學鏡頭的視場。當被測均勻光源為準直型均勻光源時，測量儀器選用光譜輻照度計。設定測量時間間隔，測量短期非穩(wěn)定性時，采集頻率不小于1次/30s,測量長期非穩(wěn)定性時，采集頻率不小于1次/5min。按照非穩(wěn)定性測量時長，以規(guī)定時間間隔，對均勻光源輻亮度(輻照度)進行多頻次(不小于10次)測量并記錄其算術平均值。按公式(13)計算被測均勻光源的非穩(wěn)定性?！?13)式中：u,——被測均勻光源的非穩(wěn)定性；V(t;)——t;時刻的輻亮度(輻照度)多頻次測量的平均值，單位為瓦每平方米球面度秒(w·m-2·sr-1·s-1)或瓦每平方米秒(w·m-2·s-l);V(t;)mx—-規(guī)定時間段內(nèi)V(t;)的最大值，單位為瓦每平方米球面度(w·m-?·sr-1)或瓦每平方米(w·m-2);V(t;)min——規(guī)定時間段內(nèi)V(t;)的最小值，單位為瓦每平方米球面度(w·m-2·sr-1)或瓦每平方米(w·m-2)。GB/T43594—20237.12有效輻射面(有效輻照面)當被測均勻光源在指定工作位置，指定幾何尺寸內(nèi)的輻射面的輻亮度(輻照度)和非均勻性滿足有關技術文件規(guī)定時，其幾何尺寸即為被測均勻光源的有效輻射面(有效輻照面)。若不滿足，可縮減被測輻射面(輻照面)尺寸，直到其輻亮度(輻照度)和非均勻性滿足有關技術文件規(guī)定，此時的輻射面(輻照面)即為有效輻射面(有效輻照面)。當輻射面(輻照面)為圓形時，使用尺寸測量儀器直接測量均勻光源出射口的