探傷標準匯編

編制說明為了進一步貫徹《中華人民共和國標準化法》,加強標準化工作,提高產(chǎn)品質(zhì)量和市場競爭力,同時結(jié)合4300mm寬厚板項目投產(chǎn)的需要,科技質(zhì)量部組織專業(yè)人員對首秦公司有關(guān)鋼坯、鋼板生產(chǎn)所需的產(chǎn)品標準進行了匯編。本套標準匯編共分二部分：第一部分為國內(nèi)產(chǎn)品標準，涉及國家標準、行業(yè)標準和公司標準；第二部分為國外標準，涉及日本、美國、歐共體、英國國際標準等鋼板生產(chǎn)的相關(guān)內(nèi)容。本匯編所哀悼的標準所有是目前正在執(zhí)行的最新標準，由于時間倉促，翻譯、摘編水平有限，難免有誤，各部門在使用過程中發(fā)現(xiàn)不妥之處，請立即與技術(shù)質(zhì)量部聯(lián)系，由技術(shù)質(zhì)量部做出解釋和修正。本匯編在收集過程中得到了總公司技術(shù)質(zhì)量部標準科和首鋼板材有限公司技術(shù)質(zhì)量部的大力幫助，在此表達感謝。秦皇島首秦金屬材料有限公司技術(shù)質(zhì)量部≤探傷標準匯編≥編委員會成員主任：副主任：委員；編輯：校對：審閱：編制說明秦皇島首秦金屬材料有限公司制造部2023年4月XX日中華人民共和國國家標準無損檢測術(shù)語超聲檢測GB/T12606、1-901、中主題內(nèi)容與合用范圍本標準規(guī)定了在超聲檢測的一般概念、超聲檢測設(shè)備，器件和材料、超聲檢測方法中使用的術(shù)語。本標準合用于超聲檢測。供制訂標準和指導(dǎo)性技術(shù)文獻及編寫和翻譯教材、圖書、刊物等出版物時使用。2超聲檢測的一般概念2.1超聲探傷ultrasonicflawdetection超聲波在被檢材料中傳播時，根據(jù)材料的缺陷所顯示的聲學(xué)性質(zhì)對超聲波傳播影響的來探測其缺陷的方法。2.2彈性介質(zhì)elasticmedium互相間由彈性力連系著的質(zhì)點所組成的物質(zhì)。2.3波wave振動能量在彈性介質(zhì)中的傳播過程，波是物質(zhì)的原子或分子質(zhì)點的一種運動形式。2.4聲波acousticwave彈性介質(zhì)中傳播的一種機械波，超源于發(fā)聲體的振動。機械波的傳播只有振動能量的傳遞而無質(zhì)量的傳輸。2.5超聲波ultrasonicwave頻率約高于20230Hz（超過人耳可聽范圍）的聲波。2.6波前wavefront在波的傳播中同一時刻，由最前面的具有相同相位的各個點所構(gòu)成的連續(xù)表面。同義詞：波陣面2.7波形waveform聲波在介質(zhì)中傳播的方式，以波傳播的波陣面為特性。如平面波、球面波和柱面波等。2.8平面波planewave波陣面為平面的波。2.9球面波spericalwave波陣面為同心球面的波。2.10柱面波cylindricalwave波陣面為同軸圓柱面的波。2.11波型mode以質(zhì)點振動方向與波傳播方向的相對關(guān)系來表征的在介質(zhì)中傳播的超聲波的類型。如縱波、橫波等。同義詞：振動模式modeofvibration2.12縱波longitudinalwave聲波在介質(zhì)中傳播時，介質(zhì)質(zhì)點的振動方向與波的傳播方向一致的波?？v波可以在各種介質(zhì)中傳播，在固體介質(zhì)中傳播時，其傳播速度約為橫波的兩倍。同義詞：壓縮波compressionalwave2.13橫波transversewave聲波在介質(zhì)中傳播時，介質(zhì)質(zhì)點的振動方向與波的傳播方向垂直的波。橫波只能在固體和切變模數(shù)高的粘滯液體中傳播，其傳播速度約為縱波的一半。同義詞：切變波shearwave2.14表面波surfacewave沿介質(zhì)兩個相之間的表面上傳播的波。表面波的幅值隨表面下的深度迅速減小，其傳播速度約為橫波的0.9倍，質(zhì)點振動的軌跡為橢圓。同義詞：瑞利波Rayleighwave2.15樂甫波Lovewave在一定條件下，可在覆蓋于半無限固體介質(zhì)表面上另一薄層介質(zhì)中無衰減地傳播的一種橫波。2.16爬波creepingwave超聲縱波以第一臨界角附近的角度傾斜入射到傳聲介質(zhì)中時，產(chǎn)生沿介質(zhì)表面下一定距離傳播的一種波，其聲速與縱波相稱。同義詞：爬行縱波；表面下縱波2.17板波platewave在無限大板狀介質(zhì)(具有上下兩個平行自由界面)中傳播的一種聲波。板波僅在頻率、入射角及板厚為特定值時才干產(chǎn)生。在板波的傳播中，按板中振動的形態(tài)分為對稱型和非對稱型兩種，且質(zhì)點振動的軌跡為橢圓，其傳播速度與材質(zhì)、板厚及頻率等有關(guān)。同義詞：蘭姆波Lambwave2.18膨脹波dilatationalwave在板、棒或管材中連續(xù)對稱地膨脹和壓縮傳播的波，垂直于傳播方向的尺寸小于波長。2.19彎曲波flexuralwave在無限長細桿和無限大薄板(桿直徑和板厚遠小于波長)中傳播的一種波，其質(zhì)點振動方向與桿軸或板面垂直，隨著波的傳播，伴有桿或板的彎曲發(fā)生。2.20扭轉(zhuǎn)波torsionwave在圓柱形棒、管和線材中旋轉(zhuǎn)傳播的波，其軸線與傳播方向相一致。2.21棒波barwave在棒材中傳播的膨脹波、彎曲波或扭轉(zhuǎn)波，或是兩者的組合波。2.22脈沖波pulse就聲波來說，是指其前后不存在其他聲波的很短的一列聲波。同義詞：脈沖2.23連續(xù)波continuouswave與脈沖波相反，它是一種連續(xù)振動的聲波。2.24脈沖長度pulselength以時間或周期數(shù)值表達的脈沖連續(xù)時間。同義詞：脈沖寬度pulsewidth2.25脈沖幅度pulseamplitude脈沖信號的電壓幅值。當采用A型顯示時，通常為時基線到脈沖峰頂?shù)母叨取?.26脈沖能量pulseenergy單個脈沖所包含的總能量。2.27脈沖包絡(luò)pulseenvelope脈沖顯示的輪廓。2.28質(zhì)點(振動)速度particlevelocity在聲波傳播時，介質(zhì)質(zhì)點在其平衡位置上往返振動的速度。2.29聲速soundvelocity聲波在介質(zhì)中傳播的速度，即聲波在單位時間內(nèi)傳播的距離。2.30群速度groupvelocity頻率和相速度只有微小差異的相干波波群包絡(luò)面的速度。2.31相速度phasevelocity單色行波中檔相面沿法向的傳播速度，其數(shù)值等于波長與波源振動頻率的乘積。2.32色散dispersion聲速隨頻率變化的現(xiàn)象。2.33色散介質(zhì)dispersivemedium超聲波的相速度和群速度隨頻率變化的材料。2.34波長wavelength在波的傳播方向，兩個相鄰?fù)辔毁|(zhì)點的距離。2.35波列wavetrain由同一個源產(chǎn)生的，具有相同的特性，并沿同樣途徑傳播的一列聲波。2.36干涉interference由兩個(或兩個以上)波源發(fā)出的具有相同頻率、相同振動方向和恒定相位差的波在空間疊加時，在交疊區(qū)的不同地點，波振幅提高或下降的現(xiàn)象。2.37駐波standingwave；stationarywave兩個振幅相同的相干波在同一直線上沿相反方向傳播疊加而成的波稱為駐波。其特點是具有在空間固定的波腹和波節(jié)。2.38波腹antinode；waveloop駐波中振幅最大的點。2.39波節(jié)wavenode駐波中振幅最小(一般為零)的點。2.40超聲場ultrasonicfield充滿超聲波的空間，2.41聲壓soundpressure超聲場中介質(zhì)質(zhì)點在交變振動的某一瞬時所受的附加壓強。2.42聲強soundintensity單位時間內(nèi)在垂直于聲束傳播方向的介質(zhì)單位面積上所通過的平均聲能量，即聲波的能流密度。2.43聲強級soundintensitylevel某一頻率的聲以分貝為單位的聲強，等于這個聲的強度與基準聲強即10-12w/m2的比值的常用對數(shù)乘以10。2.44分貝(dB)decibel兩個振幅或強度比的對數(shù)表達。2.45聲阻抗acousticimpedance聲波的聲壓與質(zhì)點振動速度之比，通常用介質(zhì)的密度р和速度c的乘積表達。2.46聲阻抗匹配acousticalimpedancematching聲阻抗相稱的兩介質(zhì)間的耦合。2.47近場nearfield鄰近換能器并具有復(fù)雜聲束能量的超聲區(qū)域。同義詞：菲涅耳區(qū)Fresnelrange2.48近場長度nearfieldlength主聲束軸線上最后一個聲壓極大值與晶片表面間的距離。2.49遠場farfield近場以遠的聲場，在遠場中，超聲波以一定的指向角傳播，并且聲壓隨距離的增大而單調(diào)地衰凋(下降)。同義詞：夫瑯荷費區(qū)Fraunhoferrange2.50聲束beam在聲源的指向性方向上集中發(fā)射的，束超聲波。同義詞：波束2.51聲束軸線beamaxis探頭聲束圖的聲中心線，在遠場中被定義為最大聲壓點的軌跡，并延伸到近場。2.52主聲束mainbeam聲源正前方聲能最集中的區(qū)域。同義詞：主瓣mainlobe2.53副瓣sidelobe位于聲源附近主聲束周邊的超聲束的峰部或明顯凸出部。同義詞：旁瓣2.54聲束擴散beamspread超聲波通過介質(zhì)時聲束的發(fā)散。2.55指向性directivity超聲能量集中在一個方向發(fā)射的特性。晶片尺寸越大，頻率越高，則指向性越好。2.56指向角angleofspread表達指向性銳度的角。同義詞：半擴散角2.57聲束有效截面effectivecross-sectionofbeam邊沿聲壓比聲束軸線聲壓低ndB(如一6dB和20dB)的聲束的截面。2.58反射reflection當超聲束從一種介質(zhì)進入另一種聲阻抗不同的介質(zhì)時，一部分能量被反射回原介質(zhì)的現(xiàn)象。2.59全反射totalreflection根據(jù)折射定理，當入射角等于或大于臨界角時，聲波不能透入透入第二介質(zhì)（即折射），稱為全反射。2.60反射角angleofreflection反射聲束與反射點處界面法線之間的夾角。2.61反射系數(shù)reflectioncoefficient反射面上反射波聲壓與入射波聲壓之比。2.62入射角angleofincidence介質(zhì)(即折射)，稱為全反射，超聲束傾斜射入探測面的角度，即超聲束與入射點處探測面法線之間的夾角。2.63折射refraction當超聲束傾斜地從一種介質(zhì)進入另一種聲速不同的介質(zhì)時，其傳播方向的角度發(fā)生改變的現(xiàn)象。2.64折射角angleoffrefraction折射波的傳播方向與入射點處的探測面法線之間的夾角。2.65折射率refractiveindex兩種聲接觸介質(zhì)的聲速之比。2.66臨界角criticalangle超聲束的某個入射角，超過此角時，某種特定波型的折射或反射波就不再存在。2.67第一臨界角firstcriticalangle當縱波折射角增大至90°時的縱波入射角。2.68第二臨界角secondcriticalangle當橫波折射角增大至90°時的縱波入射角。2.69第三臨界角thirdcriticalangle當縱波反射角增大至90°時的橫波入射角。2.70透射transmission當超聲波垂直入射于異質(zhì)界面上時，部分能量透過界面進入第二介質(zhì)的現(xiàn)象。2.71透射系數(shù)transmissioncoefficient透射波聲壓或聲強與入射波聲壓或聲強之比。2.72往復(fù)透過率echotransmittanceofsoundpressure在脈沖反射法探傷中，探頭接受到的返回聲壓與入射聲壓之比。2.73透聲層soundtransparentlayer能透過聲波而不使聲強明顯損耗的薄層介質(zhì)。2.74掠射角grazingangle聲波以接近90°入射的角。2.75頭波headwave當縱波以掠射角射及固體的自由表面時，由波型轉(zhuǎn)換而產(chǎn)生的一種橫波在鋼中，頭波的角度為33°。2.76波型轉(zhuǎn)換modetransformation給定波型的波在傳播過程中，由于在表面或邊界上反射或折射而產(chǎn)生其他波型的波的過程。2.77角反射效應(yīng)cornereffect超聲束垂直入射在兩垂直平面交線上的反射現(xiàn)象。同義詞：角效應(yīng)2.78聲散射soundscattering由于在介質(zhì)中碰到小于波長的障礙物或其他不連續(xù)性，而使超聲波向各個不同方向產(chǎn)生不規(guī)則反射、折射或衍射的現(xiàn)象。2.79聲繞射sounddiffraction聲波在傳播過程中通過障礙物邊沿或小孔時所發(fā)生的展衍現(xiàn)象。同義詞：聲衍射2.80陰影區(qū)shadow由于被檢件的幾何形狀或存在不連續(xù)性，而使給定方向傳播的超聲能量不能到達的區(qū)域。2.81衰減attenuation超聲波在介質(zhì)中傳播時，隨著傳播距離的增大，聲壓逐漸減弱的現(xiàn)象。2.82總衰減totalattenuation任何形狀的超聲束，其特定波型的聲壓隨傳播距離的增大，由于散射、吸取和聲束擴散等共同引起的減弱。2.83衰減系數(shù)attenuationcoefficient超聲波在介質(zhì)中傳播時，因材質(zhì)散射在單位距離內(nèi)聲壓的損失，通常以每厘米分貝表達。2.84吸取absorption在傳聲介質(zhì)中，由于部分超聲能量轉(zhuǎn)變?yōu)闊崮芏a(chǎn)生的衰減。2.85基頻fundamentalfrequency在共振檢測法中，當波長為被檢件厚度兩倍時的頻率。2.86諧頻harmonics為基頻整倍數(shù)的頻率。2.87超聲頻譜ultrasonicspectroscopy超聲波中各頻率成分的幅度分布。2.88不連續(xù)(性)discontinuity工件正常組織、結(jié)構(gòu)或外形的任何間斷，這種間斷也許會，也也許不會影響工件的可用性。2.89缺陷defect尺寸、形狀、取向、位置或性質(zhì)對工件的有效使用會導(dǎo)致?lián)p害，或不滿足規(guī)定驗收標準規(guī)定的不連續(xù)性。2.90傷flaw工件或材料的一種不完善，它也許是，也也許不是有害的。假如是有害的，就屬于缺陷或不連續(xù)性。2.91指示indication在探傷中，須要對其重要性作出解釋的響應(yīng)或形跡。2.92相關(guān)指示relevantindication須作評估的不連續(xù)性的指示。2.93非相關(guān)指示nonrelevantindication是一些由無法控制的實驗條件所產(chǎn)生的真實指示，但與也許構(gòu)成為一缺陷的不連續(xù)性并無關(guān)系，2.94假指示falseindication通過不適當?shù)姆椒ɑ蚪鉀Q所得到的，也許被錯誤地解釋為不連續(xù)性或缺陷的指示。2.95解釋interpretation擬定指示是相關(guān)指示還是非相關(guān)指示或假指示的過程。2.96評估evaluation在對所注意的指示作出解釋后，就其是否符合規(guī)定的驗收標準進行擬定。3超聲檢測設(shè)備、器件和材料3.1超聲檢測系統(tǒng)ultrasonictestingsystem由超聲檢測儀器、探頭和電纜組成的系統(tǒng)。3.2超聲探傷儀ultrasonicflawdetector運用超聲波反射或透射原理，以檢查工件缺陷的儀器。其重要組成部分有同步電路、發(fā)射電路、接受電路、掃描電路、顯示電路、電源電路和探頭等。按顯示方式不同，可分為A型、B型、c型顯示等。3.3超聲測厚儀ultrasonicthicknessgauge根據(jù)超聲波在材料或被檢件中的傳播時間或產(chǎn)生共振的原理設(shè)計的、用于測量材料或被檢件厚度的儀器。3.4超聲顯微鏡ultrasonicmicroscope運用超聲輻射工作的一種特殊的顯微鏡。3.5A型顯示A-scope；A-scan以水平基線(x軸)表達距離或時間，用垂直于基線的偏轉(zhuǎn)(Y軸)表達幅度的一種信息顯示方法。3.6B型顯示B-scope；B-sean一種可以顯示被檢件的橫截面圖象，指示反射體的大體尺寸及其相對位置的超聲信息顯示方法。3.7C型顯示C-scope；C-sean一種可以顯示被檢件縱剖面圖象的超聲信息顯示方法。3.8D型顯示D-scope；D-sean對被檢件體積內(nèi)的反射體作立體的圖形顯示。3.9MA型顯示MA-scope；MA-sean在探頭掃查過程中，將所得到的A型顯示圖形連續(xù)疊加的顯示。3.10發(fā)射脈沖transmittedpulse為了產(chǎn)生超聲波而加到換能器上的電脈沖。3.11時基線timebaseA型顯示熒光屏中表達時間或距離的水平掃描線。同義詞：掃描線時間軸3.12掃描sweep電子束橫過探傷儀熒光屏所作同同樣式的反復(fù)移動。3.13掃描速度sweepspeed熒光屏上的橫軸與相應(yīng)聲程的比值。3.14掃描范圍sweeprange熒光屏時基線上能顯示的最大聲程。同義詞：時基范圍3.15延時掃描delayedsweep在A型或B型顯示中，使時基線的起始部分不顯示出來的掃描方法。3.16界面觸發(fā)interfacetrigger以界面信號作為起始點，將該點作為其他時序系統(tǒng)(例如閘門位置)的參照基準。3.17時基線展寬expandedtime—basesweep時基線光點掃描速度的增長，能將被檢件厚度或長度范圍內(nèi)選定區(qū)域的回波更具體地在超聲探傷儀熒光屏上顯示出來。同義詞：標尺展寬scaleexpansion3.18水平線性horizontallinearity；timeordistancelinearity超聲探傷儀熒光屏時間或距離軸上顯示的信號與輸入接受器的信號(通過校正的時間發(fā)生器或來自已知厚度平板的多次回波)成正比關(guān)系的限度。同義詞：距離線性；時基線性3.19垂直線性verticallinearity超聲探傷儀熒光屏上顯示的信號幅度與輸入接受器的信號幅度成正比關(guān)系的限度。同義詞；幅度線性amplitudelinearity3.20水平極限horizontallimit熒光屏上可以顯示的最大水平偏轉(zhuǎn)距離。3.21垂直極限verticallimit熒光屏上可以顯示的反射脈沖的最大幅值。3.22動態(tài)范圍dynamicrange在增益調(diào)節(jié)不變時，超聲探傷儀熒光屏上能分辨的最大與最小反射面積波高之比。通常以分貝表達3.23脈沖反復(fù)頻率pulserepetitionfrequency為了產(chǎn)生超聲波，每秒內(nèi)由脈沖發(fā)生器激勵探頭晶片的脈沖次數(shù)。同義詞；脈沖反復(fù)率pulserepetitionrate3.24檢測頻率inspectionfrequency；testfrequency超聲檢測時所使用的超聲波頻率。通常為0.4～15MHz。同義詞：探傷頻率3.25回波頻率echofrequency回波在時間軸上進行擴展觀測所得到的峰值間隔時間的倒數(shù)。3.26靈敏度sensitivity在超聲探傷儀熒光屏上產(chǎn)生可辨指示的最小超聲信號的一種量度。3.27靈敏度余量surplussensitivity超聲探傷系統(tǒng)中，以一定電平表達的標準缺陷探測靈敏度與最大探測靈敏度之間的差值。3.28穿透深度penetration超聲探傷時，在被檢件中可以測出回波信號的最大深度。3.29盲區(qū)deadzone在一定探傷靈敏度下，從探測面到最近可探缺陷在被檢件中的深度。盲區(qū)由探頭、超聲探傷儀及被檢件的特性擬定。3.30分辨力resolution超聲探傷系統(tǒng)可以區(qū)分橫向、縱向或深度方向相距最近的一定大小的兩個相鄰缺陷的能力。3.31縱向分辨力longitudinalresolution沿聲束傳播方向的分辨力。3.32橫向分辨力transverseresolution在距探頭橫向的一定距離上，垂直于聲束方向的分辨力。3.33脈沖調(diào)諧pulsetuning在某些超聲探傷儀上采用的一種控制方法，即通過調(diào)整發(fā)射脈沖的頻譜以使探頭和電纜對發(fā)射器具有最佳的響應(yīng)。3.34飽和saturation輸入信號幅度增大而熒光屏上回波信號幅度不增大的一種現(xiàn)象。3.35觸發(fā)／報警狀態(tài)trigger／alarmcondition超聲儀器發(fā)現(xiàn)被檢件中有超標檢出信號時發(fā)出指示的狀態(tài)。3.36觸發(fā)／報警標準trigger／alarmlevel超聲儀器用以區(qū)分被檢件為合格或不合格的信號幅度差的基準。3.37視頻顯示videopresentation探頭接受到的超聲高頻信號，經(jīng)檢波放大后形成探傷圖形的顯示方法，同義詞：檢波顯示3.38射頻顯示radiofrequency(r—f)display探頭接受到的超聲高頻信號，被放大后直接進行顯示的方法。同義詞：不檢波顯示3.39時標markers用電子方法產(chǎn)生的一系列脈沖或其他方式使熒光屏時基線上依次出現(xiàn)的標志信號，用于距離或時間的測定。3.40距離刻度distancemarker;timemarker為便于直接指示缺陷位于被檢件內(nèi)的深度、水平距離、聲程等而加在探傷儀熒光屏時基線上的等分刻度。3.41克制reject；suppression在超聲探傷儀中，為了減少或消除低幅度信號(電或材料的噪聲)，以突出較大信號的一種控制方法。3.42閘門gate為監(jiān)控探傷信號或作進一步解決而選定一段時間范圍的電子學(xué)方法。3.43衰減器attenuator使信號電壓(聲壓)定量改變的裝置。衰減量以分貝表達。3.44準直器collimator控制超聲束的尺寸及方向的裝置，3.45信噪比signal-to-noiseratio超聲信號幅度與最大背景噪聲幅度之比。通常以分貝表達。3.46信號泄漏crosstalk聲或電信號穿過預(yù)設(shè)隔離層的泄漏現(xiàn)象。3.47阻塞quenching接受器在接受到發(fā)射脈沖或強脈沖信號后的瞬間引起的靈敏度減少或失靈的現(xiàn)象。3.48增益gain超聲探傷儀接受放大器的電壓放大量的對數(shù)形式。以分貝表達。3.49距離幅度校正distanceamplitudecorrection；sweptgain；timevariablegain；timecorrectedgain用電子學(xué)方法改變放大量，使不同深度上的相同反射體能產(chǎn)生同樣的回波幅度。同義詞：DAC校正；深度補償3.50距離幅度曲線distancegainsizecurve根據(jù)規(guī)定的條件，由產(chǎn)生回波的已知反射體的距離D(A)、探傷儀的增益G(V)和反射體的大小S(G)三個參量繪制的一組曲線。實際探傷時，可由測得的缺陷距離和增益值，從此曲線上估算出缺陷的當量尺寸。同義詞：DGS曲線；AVG曲線3.51面積幅度曲線areaamplituderesponsecurve表達在垂直入射時，傳聲介質(zhì)中離探頭等距但面積不同的平面反射體回波幅度變化的曲線。3.52耦合coupling在探頭和被檢件之間起傳導(dǎo)聲波的作用。3.53耦合劑couplant施加于探頭和探測面之間，以改善超聲能量傳遞的液態(tài)介質(zhì)。同義詞：耦合介質(zhì)couplingmedium3.54噴液器bubbler運用噴射液流使超聲束與被檢件耦合的裝置。3.55施利倫系統(tǒng)Schlierensystem一種用于可視顯示超聲束在透明介質(zhì)中傳播情況的光學(xué)系統(tǒng)。3.56試塊testblock用于鑒定超聲檢測系統(tǒng)特性和探傷靈敏度的樣件。3.57標準試塊standardtestblock材質(zhì)、形狀和尺寸均經(jīng)主管機關(guān)或權(quán)威機構(gòu)檢定的試塊，用于對超聲檢測裝置或系統(tǒng)的性能測試及靈敏度調(diào)整。同義詞：校準試塊calibrationblock3.58對比試塊referenceblock調(diào)整超聲檢測系統(tǒng)靈敏度或比較缺陷大小的試塊。一般采用與被檢材料特性相似的材料制成。同義詞：參考試塊3.59壓電效應(yīng)piezoelectriceffect某些材料，在被施加作用力時，能使其表面上產(chǎn)生電荷積累且可逆的效應(yīng)，稱為壓電效應(yīng)。3.60磁致伸縮效應(yīng)magnetostrictiveeffect某些材料，在磁場中產(chǎn)生形變且可逆的效應(yīng)，稱為磁致伸縮效應(yīng)。3.61壓電材料piezoelectricmaterial具有壓電效應(yīng)性質(zhì)的材料，如石英、鈦酸鋇、鋯鈦酸鉛等。3.62探頭probe；searchunit發(fā)射或接受(或既發(fā)射又接受)超聲能量的電聲轉(zhuǎn)換器件。該器件一般由商標、插頭、外殼、背襯、壓電元件、保護膜或楔塊組成。同義詞：換能器transducer3.63壓電換能器piezoelectrictransducer以壓電效應(yīng)的形式，將電信號和機械振動信號作可逆轉(zhuǎn)換的換能器。3.64電磁聲換能器electro-magneticacoustictransducer由金屬表面電磁感應(yīng)產(chǎn)生的渦流和金屬內(nèi)恒定磁場之間互相作用而產(chǎn)生的洛侖茲力進行電能與機械能的轉(zhuǎn)換，發(fā)射或接受超聲波的換能器。3.65磁致伸縮換能器magnetostrictivetransducer以磁致伸縮效應(yīng)的形式，將電能和機械能可逆轉(zhuǎn)換的換能器。3.66直探頭normalprobe進行垂直探傷用的探頭，重要用于縱波探傷。同義詞；直射聲束探頭straightbeamprobe3.67斜探頭angleprobe進行斜射探傷用的探頭，重要用于橫波探傷。同義詞：斜射聲束探頭anglebeamprobe3.68縱波探頭longitudinalwaveprobe發(fā)射和接受縱波的探頭。3.69橫波探頭shearwaveprobe發(fā)射和接受橫波的探頭，如Y切石英探頭。3.70表面波探頭surfacewaveprobe發(fā)射和接受表面波的探頭，用于表面波探傷。3.71聚焦探頭focusingprobe能使超聲束聚焦的探頭。3.72可變角探頭variableangleprobe可以連續(xù)改變?nèi)肷浣堑奶筋^。3.73液浸探頭immersionprobe用于液浸法探傷的探頭。3.74水柱耦合探頭watercolumnprobe進行水柱耦合法探傷用的探頭。同義詞：局部水浸探頭3.75輪式探頭wheeltypeprobe;wheelsearchrnit一個或多個壓電元件裝在一個注滿液體的活動輪胎中，超聲束通過輪胎的滾動接觸面與探測面相耦合的一種探頭。3.76單晶片探頭singlecrystalprobe用單個晶片制成的探頭，可兼作發(fā)射和接受。3.77雙晶片探頭dorblecrystalprobe;twinprobe;T-Rprobe;S-Eprobe裝有兩個晶片的探頭，一個作為發(fā)射器，另一個作為接受器。同義詞：聯(lián)合雙探頭；分割式探頭3.78硬膜探頭hard-facedprobe為了減小磨損，用硬質(zhì)材料，如鋼或陶瓷制成保護膜的探頭。3.79軟膜探頭soft—facedprobe采用彈性膜做保護膜，晶片與膜片之間的空隙充以液態(tài)耦合劑的探頭。3.80晶片—crystal超聲探頭中的電聲轉(zhuǎn)換元件。重要采用石英、鈦酸鋇和鋯鈦酸鉛等壓電材料制成，其形狀有平面曲面等。3.81晶片負載crystalloading由晶片向與之作聲耦合的介質(zhì)傳遞的單位面積的機械功。3.82機電耦合系數(shù)electro—mechanicalcouplingfactor壓電晶片機械能和電能之間互相轉(zhuǎn)換效率(耦合強弱)的參數(shù)。3.83壓電應(yīng)變常數(shù)piezoelectricstrainconstant單位電場強度產(chǎn)生應(yīng)變的大小。3.84壓電電壓常數(shù)piezoelectricvoltageconstant單位壓力產(chǎn)生開路電場強度的大小。3.85壓電應(yīng)力常數(shù)piezoelectricstressconstant單位電場強度產(chǎn)生應(yīng)力的大小。3.86壓電勁度常數(shù)piezoelectricstiffnessconstant單位應(yīng)變產(chǎn)生電場強度的大小。3.87介電常數(shù)dielectricconstant.材料的介電特性。介電常數(shù)與壓電晶片附上電極后的電容有關(guān)，也就是與壓電晶片呈現(xiàn)的電氣阻抗有關(guān)。3.88頻率常數(shù)frequencyconstant晶片共振頻率與其厚度的乘積。3.89品質(zhì)因數(shù)qualityfactor表達因材料內(nèi)部摩擦而產(chǎn)生的機械損耗大小。品質(zhì)因數(shù)越大，機械損耗越小。3.90居里點Curiepoint對壓電材料而言，是指鐵電相和順電相之間轉(zhuǎn)變的溫度。同義詞：居里溫度Curietemperature3.91電位移electricdisplacement電場強度乘以介質(zhì)常數(shù)。3.92保護膜diaphragm為了保護晶片而貼在晶片前面的薄片。3.93斜楔wedge為了使超聲波傾斜入射于探測面而附加在晶片前面的楔狀物體。3.94聲透鏡acorsticallens裝配在晶片前面，使聲束聚焦的器件。3.95接觸塊contactshoe；probeshoe為了保護探頭，或為了適應(yīng)特殊探測面以提高發(fā)射和接受效率而附在探頭前面的塊狀物體。3.96延遲塊delayblock為使超聲脈沖連續(xù)時間等影響落在延遲過程中而附加在探頭晶片前的透聲材料，如雙晶片直探頭前的塊狀物體。3.97隔聲層soundinsulatinglayer雙晶片探頭中用以使兩者在聲路上分割開來的吸聲性強的隔片。3.98探頭背襯probebacking在壓電晶片輻射有用超聲的另一面所粘接的用強吸聲和強阻尼材料制作的塊狀物體。3.99探頭阻尼probedamping用電或機械方法減小探頭相繼各周的振動幅度，以限制探頭受脈沖激勵所產(chǎn)生的信號連續(xù)時間，3.100阻尼塊dampingblock與晶片或楔塊組合具有高阻尼效率的塊狀物體。3.101標稱角度nominalangle探頭上標志的入射角或鋼中折射角。3.102K值Kvalue斜探頭折射角的正切值，3.103標稱頻率nominalfrequency探頭標志頻率。3.104工作頻率operatingfrequency探頭發(fā)出的超聲脈沖頻譜的中心頻率。3.105探頭等效阻抗probeequivalentimpedance探頭有一定聲負載條件下，輸入端電阻抗的絕對值。3.106偏向角angleofsquint探頭側(cè)邊與聲束軸線在探測面上投影的夾角，對于斜探頭，偏向角通常與橫向偏差有關(guān)。3.107屋頂角roofangle斜探頭中為在探測面上聲束投影和晶片法線之間的夾角；直探頭中為聲束軸線和晶片法線之間的夾角。3.108焦距focaldistance聚焦探頭聲束實測焦點到探頭表面的距離。3.109焦點長度focuslength在焦點前后同焦點聲壓比差一定分貝數(shù)的長度。3.110焦點寬度focuswidth聚焦直探頭焦點處的聲束寬度或聚焦斜探頭在焦點處沿水平方向的寬度。3.111會聚點convergencepoint雙晶片探頭發(fā)射和接受聲場軸線的交點。同義詞：交叉點3.112延遲聲程delaypath晶片至探測面的聲程。3.113探頭入射點probeindex橫波探頭或表面波探頭上發(fā)射聲束軸線通過探頭底面的點。3.114前沿距離frontdistance從斜探頭的入射點到探頭底面前端的距離。4超聲檢測方法4.1脈沖反射法pulseechomethod將超聲脈沖發(fā)射到被檢件內(nèi)，根據(jù)反射波的情況來檢測缺陷、材質(zhì)等的方法。同義詞：脈沖回波法4.2穿透法throrghtransmissiontechnique;transmissiontedhniaue超聲波由一個探頭發(fā)射，并由在被檢件相對一面的另一個探頭接受，根據(jù)超聲波的穿透限度來進行探傷的方法。4.3共振法resonancemethod改變連續(xù)超聲波的頻率以擬定被檢件的共振特性，從而鑒別被檢件的某些性質(zhì)，例如厚度、剛性或粘接質(zhì)量的一種方法。4.4縱波法longitudinalwavetechnique使用縱波進行探傷的方法。4.5橫波法shearwavetechnique使用橫波進行探傷的方法。4.6表面波法surfacewavetechnique使用表面波進行探傷的方法。這種方法重要用于表面光滑的材料或被檢件。4.7板波法platewavetechnique使用板波進行探傷的方法。這種方法重要用于薄板的探傷。同義詞：蘭姆波法4.8垂直法normalbeammethod；straightbeammethod使用與探測面相垂直的超聲束進行探傷的方法。4.9斜射法anglebeammethod使用與探測面成斜角的超聲束進行探傷的方法。4.10聲阻法acousticimpedancemethod運用被檢件的振動特性，即被檢件對探頭所呈現(xiàn)的聲阻抗的變化來進行檢測的方法。4.11直接接觸法directcontactmethod探頭與探測面直接接觸的探傷方法。4.12接觸法contactinspection僅通過一層極薄的耦合劑使探頭與探測面接觸的探傷方法。4.13液浸法immersiontesting將探頭和被檢件浸入(至少為局部浸入)液體(通常為水)中，探頭與探測面不直接接觸，以液體(水)為耦合介質(zhì)的探傷方法。4.14水柱耦合法watercolumncouplingmethod將被檢件的一部分浸在水中或被檢件與探頭之間保持水層而進行探傷的方法。同義詞：局部水浸法4.15一次波法singletraversetechnique在斜射探傷中，超聲束不經(jīng)被檢件底面反射而直接指向缺陷的方法。同義詞：直射法directscan4.16二次波法doubletraversetechnique在斜射探傷中，超聲束在被檢件底面只反射一次而指向缺陷的方法。同義詞：一次反射法sindebuncetcchniquc4.17三次波法tripletraversetechnique在斜射探傷中，超聲束在被檢件底面和探測面各反射一次后指向缺陷的方法。同義詞：二次反射法doublebouncetechnique4.18四次波法quadrupletraversetechnique在斜射探傷中，超聲束在被檢件底面和探測面相繼反射三次后而指向缺陷的方法。同義詞：三次反射法triplebouncetechnique4.19多次反射法multipleechomethod運用底面的多次反射波檢測材料中的超聲衰減、缺陷及被檢件厚度的方法。4.20陰影法shadowtechnique運用障礙物對超聲波產(chǎn)生的陰影(聲影)檢出被檢件中缺陷的方法。4.21單探頭法singleprobetechnique用同一個探頭既發(fā)射又接受超聲波的探傷方法。4.22雙探頭法doubleprobetechnique用兩個探頭分別發(fā)射和接受超聲波的探傷方法，4.23多探頭法multipleprobetechnique使用兩個以上的探頭進行探傷的方法。4.24一發(fā)一收法pitchandcatchtechnique使用兩個分離探頭，其中一個用來將超聲能量射入被檢件，另一個置于能接受到缺陷反射波的位置的超聲檢測方法。4.25雙發(fā)雙收法doubletransceivertechnique同時使用兩個探頭，每個探頭分別兼作發(fā)射器和接受器的超聲探傷方法。4.26初探pre—test在超聲探傷中，預(yù)先用高于規(guī)定探傷靈敏度進行的探傷。4.27復(fù)探finaltest在超聲探傷中，對初探中發(fā)現(xiàn)的缺陷，用規(guī)定靈敏度仔細進行操作，以擬定其性質(zhì)、位置、大小和形狀等。4.28手工檢測.manualtesting探頭由手工操作，信號通過探傷人員觀測和評價的檢測方法。4.29機械化檢測remotecontrolledtesting檢測的實行，缺陷的信號觀測及評價所有或部分由機械裝置完畢的檢測方法。4.30自動檢測automatictesting用電氣、油壓和氣壓等能量進行探頭的機械掃查并能自動記錄探傷結(jié)果的檢測方法。4.31探測testsurface在超聲檢測時，超聲能量進入或離開被檢件時所通過的表面。同義詞：探傷面4.32界面interface；boundary聲阻抗不同的兩種介質(zhì)的分界面。4.33底面bottomsurface在垂直探傷中，與探測面相對的最遠的被檢件表面。同義詞：背面backsurface；backwall4.34側(cè)面sidewall在垂直探傷中，被檢件除探測面和底面之外的面。4.35端面edge在斜射探傷和板波探傷中，指能反射超聲波的板厚方向的側(cè)面，相稱于垂直探傷中的底面。4.36缺陷有效反射面effectivereflectionsurfaceofflaw聲束射及缺陷時，能被沿原途徑反射回來的缺陷表面。4.37回波echo從反射體上反射回來的超聲信號。同義詞：反射波reflectedwave4.38回波指示echoindication超聲探傷儀上所顯示的回波。4.39界面回波interfaceecho由聲阻抗不同的兩種介質(zhì)的交界面產(chǎn)生的回波。同義詞：界面波4.40邊界一次回波boundaryecho(first)來自被檢件任何邊界的反射，以也許最短的聲程返回到探頭所在表面的回波。此術(shù)語僅限于橫波和表面波探傷時使用。4.41底面回波bottomecho由被檢件底面反射回來的波。同義詞：背面回波backreflection；back—wallecho4.42參考回波controlecho從一個恒定的反射面，例如底面反射回來的參考信號。4.43穿透顯示displaythrough在穿透法中所顯示的接受到的聲信號。4.44干擾回波parasiticecho妨礙探傷結(jié)果評估的各種回波總稱為干擾回波。其中涉及假反射波，楔內(nèi)反射波以及因儀器的噪聲、外界干擾等產(chǎn)生的反射波等。4.45形狀回波formecho因被檢件的幾何形狀引起的回波，4.46棱邊回波edgeecho來自邊沿的形狀回波。同義詞：棱邊波4.47多次回波multipleecho超聲波在兩個不同的界面之間相繼多次往復(fù)所形成的回波。同義詞：多次反射multiplereflections4.48多次底面反射multiplebackreflections來自被檢件底面的相繼多次反射。4.49底面反射損失lossofbackreflection被檢件底面反射波幅度的減弱或消失。同義詞：背面反射損失4.50遲到回波delayedecho來自同一反射體的回波，因所經(jīng)的途徑不同或在途中發(fā)生波型轉(zhuǎn)換而遲后到達的回波。4.51表面回波surfaceecho從被檢件表面反射回來的波。4.52幻象回波phantomecho由于超聲探傷儀反復(fù)頻率過高，在透聲性良好的材料中所出現(xiàn)的非真實回波(虛幻波)。4.53反常回波ghostecho由于脈沖反復(fù)頻率和時基線頻率匹配組合失當而形成的回波顯示。4.54草狀回波grass由于超聲波在材料的晶界或微小反射體上反射而形成的空間隨機信號。同義詞：林狀回波4.55楔內(nèi)回波spuriousecho聲束斜入射至楔底時，有一部分被反射，由于這部分聲能在楔內(nèi)的雜亂反射而形成在熒光屏上出現(xiàn)始脈沖后的回波。4.56缺陷回波flawecho由被檢件內(nèi)部或表面缺陷引起的回波。同義詞：缺陷反射波；傷波4.57密集回波clusterecho為數(shù)甚多且彼此間距離甚小的一群回波。4.58游動回波travellingecho在正常探傷靈敏度下，隨著探頭的移動而在熒光屏上有明顯游動的缺陷回波，稱為游動回波。4.59噪聲noise對有用信號的接受、解釋或解決起干擾作用的任何無用的(電或聲)信號。4.60表面噪聲surfacenoise由于表面凹凸不平，在耦合層內(nèi)的超聲反射形成的不希望有的信號，通常顯示在離發(fā)射脈沖很近的距離上。4.61電子噪聲electronicnoise由探傷儀放大器中電子干擾和熱噪聲引起的隨時間而迅速變化的無用的無規(guī)則信號。4.62反射體reflector超聲束碰到聲阻抗改變時產(chǎn)生反射的界面，按其形狀有球面、圓柱形、圓盤形和槽形等。4.63人工缺陷artificialdefect在探傷過程中，為了調(diào)蹩或校準探傷系統(tǒng)的靈敏度等，用各種方法在試塊或被檢件上加工制成的人工傷，如平底孔、橫孔、槽等。4.64平底孔flat—bottomedhole平底的圓柱形盲孔，其圓平面用作為超聲反射體。4.65橫孔cross-drilledhole平行于探測面并與所置的探頭成正交方向的圓柱形鉆孔，其圓柱面形成超聲反射體。4.66探測范圍testrange按比例調(diào)整后熒光屏整個時間軸(滿刻度)所代表的距離范圍。4.67探傷靈敏度workingsensitivity在規(guī)定條件(頻率、增益、克制等)下能探出最小缺陷的能力。4.68掃查靈敏度scanningsensitivity為防止漏檢，在初探中所采用的較規(guī)定靈敏度高的靈敏度。4.69規(guī)定靈敏度specifiedsensitivity根據(jù)產(chǎn)品的技術(shù)規(guī)定(規(guī)程、說明書等)擬定的靈敏度。4.70探傷圖形pattern在超聲探傷儀的熒光屏或記錄裝置上顯示或記錄探傷結(jié)果的圖形。4.71回波高度echoheight探傷圖形上的反射脈沖高度，用分貝值或標準刻度板上的百分數(shù)表達。同義詞：回波幅度echoamplitude4.72回波寬度echowidth從校正的超聲探傷儀熒光屏水平掃描線刻度上讀出的回波寬度。4.73始脈沖initialpulse發(fā)射脈沖在熒光屏上的顯示。4.74始波寬度initialpulsewidth始脈沖起始點(前沿)和結(jié)束點(后沿)之間的間距。同義詞：始脈沖寬度4.75直射聲束straightbeam垂直于探測面?zhèn)鞑サ某暿?.76斜射聲束anglebeam以一定入射角和一定折射角在被檢件內(nèi)傳播的超聲束。4.77聚焦聲束focusedbeam在特定距離上，聲能量聚集的聲束。4.78聲束入射點beamindex入射聲束軸線與被檢件表面的交點。4.79跨距點skippoint橫波探傷中，探測面上和底面上與聲束軸線相交的反射點。4.80透射點transmissionpoint與超聲能量進入被檢件的瞬間相一致的顯示在時基線上的一點。4.81耦合損失couplinglosses由于超聲波通過耦合劑而導(dǎo)致超聲波幅度的減少。4.82傳輸修正transfercorrection因被檢件與校準試塊的聲能透入量不同而對超聲儀器放大量進行的修正，涉及表面聲能損失修正(表面補償)和衰減補償。同義詞：傳輸補償4.83掃查scanning在進行超聲探傷時，探測面上的探頭與被檢件的相對移動。4.84掃查區(qū)域scanningzone探頭與探測面相對移動的范圍。4.85掃查速度scanningspeed探頭與探測面相對移動的速度。4.86掃查軌跡scanningpath探頭在探測面上移動的軌跡。4.87掃查間scanpitch當探頭在掃查區(qū)移動時，掃查線之間的間距或螺距。4.88間接掃查indirectscan運用被檢件的一個表面或幾個表面的反射，使超聲束對準缺陷的掃查方法。4.89間隙掃查gapscanning探頭與探測面之間通過少量液體耦合的掃查方法。4.90接觸掃查contactscanning探頭與被檢件在接觸狀態(tài)下進行的掃查方法。4.91全面掃查all-rorndscan探頭在整個探測面上無一漏掉地循序移動(相鄰掃查線的間距不大于探頭的直徑)的掃查方法。4.92局部掃查localscan在整個探測面上探頭按規(guī)定規(guī)定有間距地規(guī)則移動(相鄰掃查線的間距一般大于探頭的直徑)的掃查方法。4.93線掃查linearscan探頭在乎板類被檢件的探測面上以一定的間距作直線移動或斜直線移動的掃查方法。4.94格子線掃查scaoongridlines探頭按預(yù)先劃好的格子線先循一個方向作直線移動，然后再轉(zhuǎn)換90°，沿與原方向垂直的方向作直線移動的掃查方法。4.95點掃查spotscan探頭不作移動，僅作跳躍式地與被檢件指定點接觸，或者不作定點(等間距)接觸，而是根據(jù)需要在適當部位上抽檢的掃查方法。4.96前后掃查traversingscan；depthscan在橫波探傷中，探頭在焊縫垂直的方向前后移動的掃查方法。4.97左右掃查lateralscan在橫波探傷中，探頭與焊縫距離一定，將探頭平行于焊縫移動進行掃查的方法。4.98斜平行掃查lateralscanwithobliqueangle在橫波探傷中，使用一個探頭斜對著焊縫，平行于焊縫移動探頭的掃查方法。4.99圍繞掃查swivelscan被檢件送進的同時，探頭垂直于被檢表面，沿探測面旋轉(zhuǎn)的掃查方法。4.100轉(zhuǎn)動掃查rotationalscan在橫波探傷中，以探頭的入射點為中心，轉(zhuǎn)動探頭，以改變聲束相對焊縫的方向的掃查方法。4.101串列掃查tandemscan厚板焊縫等的橫波探傷中，在焊縫的一側(cè)前后排列兩個探頭，一發(fā)一收進行掃查的方法。4.102焊縫上掃查scanningdirectlyontheweld在橫波探傷中，對鏟平增強部分的焊縫，為檢查橫向裂紋等缺陷，把探頭置于焊縫上，使超聲束向著焊縫的方向，在焊縫上移動探頭的掃查方法。4.103交叉掃查straddlescan在焊縫的每一側(cè)各放置一個探頭，一發(fā)一收來探測對接焊縫橫向缺陷的掃查方法。同義詞：跨過掃查4.104平行掃查parallelscan探頭直接置于探測部位的表面，移動方向與該部位軸線并行，重要用于發(fā)現(xiàn)橫向缺陷。4.105鋸齒掃查zigzagscan在焊縫橫波探傷中，探頭一邊前后移動，一邊稍微平行于焊縫移動成鋸齒形軌跡的掃查方法。4.106聲程beampath；pathlength在探傷中，聲束單向通過的路程。4.107跨距skipdistance在斜射探傷中，在探測面上從聲波入射點到聲波經(jīng)底面反射回至該探測面的一點之間的水平距離。4.108定位location運用已知尺寸的試塊(或工件)作為反射體來調(diào)節(jié)探傷儀的時間軸，然后根據(jù)反射波出現(xiàn)在時間軸上的位置來擬定缺陷的位置。水平定位horizontallocation中華人民共和國國家標準GB/T2970—2023代替GB/T0970—1991厚鋼板超聲波檢查方法thickersteelplates—Methodforultrasonicinspection2023-05-09發(fā)布2023-10-01實行中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢查檢疫總局中國國家標準化管理委員會發(fā)布前言本標準代替GB/T2970—1991《中厚鋼板超聲波檢查方法》本標準與GB／T2970—1991相比，重要變化如下：——本標準合用范圍也可以涉及奧氏體不銹鋼板；——雙晶片直探頭可探厚度范圍由原20mm擴大到60mm——自動檢查用試樣有較大簡化；——雙晶直探頭性能規(guī)定有所改變；——對鋼板中不允許存在的單個缺陷的規(guī)定有所提高。本標準附錄A為規(guī)范性附錄。本標準由中國鋼鐵工業(yè)協(xié)會提出。本標準由全國鋼標準化技術(shù)委員會歸口，本標準起草單位：鋼鐵研究總院，冶金工業(yè)信息標準研究院。本標準重要起草人：張廣純、張建衛(wèi)、范弘、賈慧明、黃穎、董莉。本標準所代替的歷次版本發(fā)布情況為：——GB2970—1982、GB／T2970—1991。厚鋼板超聲波檢查方法1范圍本標準規(guī)定了厚鋼板超聲波檢核對比樣、檢查儀器和設(shè)備、檢查條件與方法、缺陷的測定與評估、鋼板的質(zhì)量分級、檢查報告等內(nèi)容。本標準合用于厚度不小于6mm的鍋爐、壓力容器、橋梁、建筑、造船、鋼結(jié)構(gòu)、管線、模具等用途鋼板的超聲波檢查。奧氏體不銹鋼板也可參照本標準。2規(guī)范性引用文獻下列文獻中的條款通過本標準的引用而成為本標準的條款，凡是注日期的引用文獻，其隨后所有的修改單（不涉及勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不合用于本標準。然而，鼓勵根據(jù)本標準達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文獻的最新版本。凡是不注日期的引用文獻，其最新版本合用于本標準。GB/T8651金屬板材超聲波板探傷方法GB/T12604.1無損檢測術(shù)語超聲檢測JB/T10061A型脈沖反射式超聲波探傷儀通用技術(shù)條件JB/4730—1994壓力容器無損檢測3一般規(guī)定3.1被檢板材表面應(yīng)平整、光滑、厚度均勻，不應(yīng)有液滴、油污、腐蝕和其他污物。3.2被檢板材的金相組織不應(yīng)在檢查時產(chǎn)生影響檢查的干擾回波。3.3檢查場地應(yīng)避開強光、強磁場、強振動、腐蝕性氣體、嚴重粉塵等影響超聲探傷儀穩(wěn)定性或檢查人員可靠觀測的因素。3.4從事鋼板超聲波檢查人員應(yīng)通過培訓(xùn)，并取得權(quán)威部門認可的超聲探傷專業(yè)Ⅰ級及其以上資格證書。簽發(fā)探傷報告者應(yīng)獲得權(quán)威部門認可的超聲探傷專業(yè)Ⅱ級及其以上資格證書。3.5檢查方式可采用手工的接觸法、液浸（涉及局部液浸和壓電探頭或電磁超聲探頭的自動檢查法）。3.6所采用超聲波波型可為縱波、橫波和板波。4對比試樣4.1對比試樣材質(zhì)、聲學(xué)業(yè)性能應(yīng)與被檢查鋼板相同或相似，并應(yīng)保證內(nèi)部不存在影響檢查的缺陷。4.2用雙晶片直探頭檢查厚度不大于60mm的鋼板時，所用對比試樣如圖1所示。4.3用單晶片直探頭檢查鋼板時，對比試樣應(yīng)符合圖2、表1和表2的規(guī)定。4.4用壓電或電磁超聲自動超聲檢查方法時，試樣長邊應(yīng)平行于壓延方向，端面應(yīng)平直，厚度公差應(yīng)小于板厚2%。人工缺陷的位置如圖3所示。4.5采用板波、橫波檢查的對比試樣形式見GB/T8651和JB4730—1994附錄H。單位為毫米圖1板厚≤60mm的雙晶片直探頭檢查用對比試樣單位為毫米注：垂直角度α隨試塊厚度變化見表2。圖2單晶片直探頭檢查用對比試樣表1單晶片直探頭用對比試樣試塊編號被檢查鋼板厚度檢查面到平底孔的距離s試樣厚度T1>13～207≥152>20～4015≥203>40～6030≥404>60～10050≥655>100～16090≥1106>160～200140≥170表2垂直度α隨試樣厚度變化試樣厚度>20～40>40～60>60～100>100～160>160～200>200α0.150.200.250.300.400.55單位毫米注1：1#、2#人工缺陷為人工平底槽，加云母焊合，埋藏深度為板厚的1/2，缺陷自身高度為0mm～0.3mm；3#為表面銑槽（槽深為3mm）；注2：1#、2#、3#人工缺陷的長×寬為50mm×10mm；注3：根據(jù)探傷模式的不同，可在適當位置增長適當數(shù)量直徑為5mm的當量平底孔（孔深按表1）。圖3自動超聲檢查用動態(tài)試樣5檢查儀器和設(shè)備5.1探傷儀所用探傷儀的性能應(yīng)符合GB/T8651或JB/T10061的有關(guān)規(guī)定。5.2換能器5.2.1壓電直探頭的選用如表3。不管選用哪種探頭，都要保證有效探測區(qū)。板厚大于60mm時，若雙晶片直探頭性能指標能達成單晶片直探頭，也可選用雙晶片直探頭。表3探頭的選用板厚/mm所用探頭探頭標稱頻率/MHz6～13雙晶片直探頭5>13～60雙晶片直探頭或單晶片直探頭≥2.0>60單晶片直探頭≥2.05.2.2雙晶片直探頭的性能應(yīng)符合附錄A的規(guī)定。5.2.3當采用板波進行探傷時，波型波模及檢查方法的選擇應(yīng)符合GB/T8651的規(guī)定5.2.4當采用橫波探傷時，可參照JB4730—1994的附錄H6檢查條件和方法6.1檢查時間原則上在鋼板加工完畢后進行，也可在軋制后進行。6.2檢查面可以從鋼板任一軋制面進行檢查，被檢查鋼板的表面應(yīng)平整，應(yīng)清除影響檢查的氧化皮、腐蝕、油污等。6.3檢查靈敏度6.3.1用壓電探頭時，檢查靈敏度應(yīng)計入對比度樣與被檢查鋼板之間的表面耦合聲能損失（dB）。6.3.2用雙晶片直探頭檢查時，用圖1試樣或在同厚度鋼板上將第一次度波高度調(diào)整到滿刻度的50%，再提高靈敏度10dB作為檢查靈敏度。6.3.3用單晶片直探頭檢查時，靈敏度按圖2試樣平底孔的第一次反射波高等于滿刻度的50%來校準。6.3.4板厚大于探頭3倍近場區(qū)時，檢查靈敏度用計算法、通過第一次底面回波高度來擬定。6.3.5在動態(tài)狀況下，也可運用4.4中所述的動態(tài)試樣中相應(yīng)的缺陷，在無雜波的情況下，使人工缺陷反射波高不低于儀器熒光屏滿刻度的50%，再提高10dB作為檢查靈敏度。6.4探頭掃查形式6.4.1用壓電探頭時，探頭沿垂直于鋼板壓延方向、間距不大于100mm的平等線進行掃查；在鋼板周邊50mm（板厚大于100mm時，取板厚的一關(guān)）及坡口預(yù)定線（由供需雙方在協(xié)議或技術(shù)協(xié)議中擬定具體位置）兩側(cè)各25mm內(nèi)沿平行于鋼板壓延方向掃查。6.4.2用雙晶片探頭時,探頭隔聲層應(yīng)與壓延方向平行(垂直于壓延方向掃查)。6.4.3根據(jù)協(xié)議或技術(shù)協(xié)議或圖紙規(guī)定，也可進行其他形式的掃查或100%掃查。6.4.4自動檢查也可沿平行于鋼板壓延方向掃查。6.5檢查速度檢查速度應(yīng)不影響探傷，但在使用不帶自動報警功能的探傷裝置進行掃查時，檢查速度應(yīng)不大于200mm/s。7缺陷的測定與評估7.1在檢查過程中，發(fā)現(xiàn)下列情況應(yīng)記錄7.1.1缺陷第一次反射波（F1）波高大于或等于滿刻度的50%。7.1.2當?shù)自诘谝环瓷洳ǎ˙1）波高未達成滿刻度時，缺陷第一反射波（F1）波高與底面第一次反射波（B1）波高之比大于或等于50%。7.1.3當?shù)酌妫ɑ虬宥瞬浚┑谝淮畏瓷洳ǎ˙1）波高低于滿刻度的50%。7.2缺陷的邊界或指示長度的測定方法7.2.1檢查出缺陷后，在周邊進行檢查，以擬定缺陷的延伸。7.2.2用雙晶片探頭擬定缺陷的邊界或指示長度時，探頭移動方向應(yīng)與探頭的隔聲層相垂直。7.2.3運用半波高度法擬定缺陷的邊界或指示長度。7.2.4擬定7.1.2中缺陷的邊界或指示長度時，移動探頭，將板底面（端部）第一次反射波升高到檢查靈敏度條件下熒光屏滿刻度的50%。此時，探頭中心點即為缺陷的邊界點。7.2.5采用自動超聲方法檢查時，發(fā)現(xiàn)可疑缺陷后，缺陷的定量定位可用手工方法進行。缺陷的指示長度及邊界的精確測定亦用人工方法。7.3缺陷指示長度的評估規(guī)則單個缺陷按表現(xiàn)的最大長度作為該缺陷的指示長度，若指示長度小于40mm時，則其長度可不作記錄。7.4單個缺陷指示面積的評估規(guī)則7.4.1單缺陷按其表現(xiàn)的面積作為該缺陷的單個指示面積。7.4.2當多個缺陷的相鄰間距小于100mm或間距小于相鄰缺陷（以指示長度來比較）的指示長度（取其較大值）時，其各塊缺陷面積之和也作為單個缺陷指示面積。7.5缺陷密集的評估規(guī)則在任一1m×1m檢查面積內(nèi)，按缺陷面積占的比例來擬定。8鋼板的質(zhì)量分級8.1鋼板質(zhì)量分級見表4。8.2在鋼板周邊50mm（板厚大于100mm時，取板厚的一半）可檢查區(qū)域內(nèi)及坡口預(yù)定線兩側(cè)各25mm內(nèi)，單個缺陷的指示長度不得大于或等于50mm。表4鋼板質(zhì)量分級級別不允許存在的單個缺陷的指示長度/mm不允許存在的單個缺陷的指示面積/cm2在任一1m×1m檢查面積內(nèi)不允許存豐的缺陷面積比例/%以下單個缺陷指示面積不記/cm2Ⅰ≥80≥25＞3＜9Ⅱ≥100＞50＞5＜15Ⅲ≥120≥100＞10＜25Ⅳ≥150≥100＞10＜259檢查報告檢查報告應(yīng)涉及下列內(nèi)容：a）工件情況：材料牌號、材料厚度等；b）檢查條件：探傷儀型號、探頭類型、探頭標稱頻率、晶片尺寸、耦合劑、對比試樣等；c）檢查結(jié)果：涉及缺陷位置、缺陷分布示意圖、缺陷等級及其他；d）檢查人員、報告簽發(fā)人的姓名及資格等級、檢查日期、報告簽發(fā)日期等。附錄A（規(guī)范性附錄）雙晶片直探頭性能規(guī)定A.1探頭性能A.1.1距離-波幅特性曲線用圖1所示試樣測定每一厚度的回波高度，作出如圖A.1所示的特性曲線，其必須滿足下述條件：A.1.1.1要檢測的最大厚度的底面回波高度與最大回波高度差應(yīng)在0dB～-6dB范圍內(nèi)。對于與具有距離幅度補償功能的儀器聯(lián)合使用的以雙晶片直探頭，補償后規(guī)定檢測的最大的底面回波高度與最大回波高度差也應(yīng)在0dB～-6dB范圍內(nèi)。A.1.1.2距離為3mm處的回波高度與最大回波高度差應(yīng)在0dB～-6dB的范圍內(nèi)。對于具有距離幅度補償功能的儀器聯(lián)合使用的雙晶片直探頭，補償后規(guī)定距離為3mm處的回波高度與最大回波高度差也應(yīng)在0dB～-6dB范圍內(nèi)。A.1.2雙晶片探頭的表面泄露回波高度直接接觸法測得的雙晶片探頭的表面泄露回波高度必須比最大回波高度低40dB。A.1.3檢出靈敏度（用圖A.2試樣測量）圖A.2試樣平底孔的回波高度與最大回波高度差必須在-10±2dB的范圍內(nèi)。A.1.4有效波束寬度使探裝潢難準A.2試塊φ5.6mm平底孔，并平行于雙晶探頭的聲場分割面移動，測定最大回波高度兩側(cè)下降6dB的范圍，所有寬度必須大于15mm。L0——圖1試樣中最大回波高度時的厚度；L——使用的最大厚度。圖A.1距離-波幅特性曲線注：圖中尺寸單位均為mm。圖A.2測定儀器和探頭組合性能試樣承壓設(shè)備無損檢測第3部分：超聲檢測GB/T4730、3-20231范圍JB／T4730的本部分規(guī)定了承壓設(shè)備采用A型脈沖反射式超聲波探傷儀檢測工件缺陷的超聲檢測方法和質(zhì)量分級規(guī)定。本部分合用于金屬材料制承壓設(shè)備用原材料、零部件和焊接接頭的超聲檢測，也合用于金屬材料制在用承壓設(shè)備的超聲檢測。與承壓設(shè)備有關(guān)的支承件和結(jié)構(gòu)件的超聲檢測，也可參照本部分使用。2規(guī)范性引用文獻下列文獻中的條款通過JB／T4730的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文獻，其隨后所有的修改單(不涉及勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不合用于本部分，然而，鼓勵根據(jù)本部分達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文獻的最新版本。凡是不注日期的引用文獻，其最新版本合用于本部分。JB／T4730.1承壓設(shè)備無損檢測第1部分：通用規(guī)定JB／T7913—1995超聲波檢測用鋼制對比試塊的制作與校驗方法JB／T9214—1999A型脈沖反射式超聲探傷系統(tǒng)工作性能測試方法JB／T10061—1999A型脈沖反射式超聲波探傷儀通用技術(shù)條件JB／T10062—1999超聲探傷用探頭性能測試方法JB／T10063—1999超聲探傷用1號標準試塊技術(shù)條件3一般規(guī)定3.1超聲檢測人員超聲檢測人員的一般規(guī)定應(yīng)符合JB／T4730.1的有關(guān)規(guī)定。3.2檢測設(shè)備3.2.1超聲檢測設(shè)備均應(yīng)具有產(chǎn)品質(zhì)量合格證或合格的證明文獻。3.2.2探傷儀、探頭和系統(tǒng)性能3.2.2.1探傷儀采用A型脈沖反射式超聲波探傷儀，其工作頻率范圍為0.5MHz-10MHz，儀器至少在熒光屏滿刻度的80％范圍內(nèi)呈線性顯示。探傷儀應(yīng)具有80dB以上的連續(xù)可調(diào)衰減器，步進級每檔不大于2dB，其精度為任意相鄰12dB的誤差在±ldB以內(nèi)，最大累計誤差不超過ldB。水平線性誤差不大于1％，垂直線性誤差不大于5％。其余指標應(yīng)符合JB／T10061的規(guī)定。3.2.2.2探頭3.2.2.2.1晶片面積一般不應(yīng)大于500mm2，且任一邊長原則上不大于25mm。3.2.2.2.2單斜探頭聲束軸線水平偏離角不應(yīng)大于2°，主聲束垂直方向不應(yīng)有明顯的雙峰。3.2.2.3超聲探傷儀和探頭的系統(tǒng)性能3.2.2.3.1在達成所探工件的最大檢測聲程時，其有效靈敏度余量應(yīng)不小于10dB。3.2.2.3.2儀器和探頭的組合頻率與公稱頻率誤差不得大于土10％。3.2.2.3.3儀器和直探頭組合的始脈沖寬度(在基準靈敏度下)：對于頻率為5MHz的探頭，寬度不大于10mm；對于頻率為2.5MHz的探頭，寬度不大于15mm。3.2.2.3.4直探頭的遠場分辨力應(yīng)不小于30dB，斜探頭的遠場分辨力應(yīng)不小于6dB。3.2.2.3.5儀器和探頭的系統(tǒng)性能應(yīng)按JB／T9214和JB／T10062的規(guī)定進行測試。3.3超聲檢測一般方法3.3.1檢測準備3.3.1.1承壓設(shè)備的制造、安裝和在用檢查中，超聲檢測的檢測時機及抽檢率的選擇等應(yīng)按相關(guān)法規(guī)、標準及有關(guān)技術(shù)文獻的規(guī)定。3.3.1.2所擬定檢測面應(yīng)保證工件被檢部分均能得到充足檢查。3.3.1.3焊縫的表面質(zhì)量應(yīng)經(jīng)外觀檢測合格。所有影響超聲檢測的銹蝕、飛濺和污物等都應(yīng)予以清除，其表面粗糙度應(yīng)符合檢測規(guī)定。表面的不規(guī)則狀態(tài)不得影響檢測結(jié)果的對的性和完整性，否則應(yīng)做適當?shù)慕鉀Q。3.3.2掃查覆蓋率為保證檢測時超聲聲束能掃查到工件的整個被檢區(qū)域，探頭的每次掃查覆蓋率應(yīng)大于探頭直徑的15％。3.3.3探頭的移動速度探頭的掃查速度不應(yīng)超過150mm／s。當采用自動報警裝置掃查時，不受此限。3.3.4掃查靈敏度掃查靈敏度通常不得低于基準靈敏度。3.3.5耦合劑應(yīng)采用透聲性好，且不損傷檢測表面的耦合劑，如機油、漿糊、甘油和水等。3.3.6靈敏度補償’a)耦合補償。在檢測和缺陷定量時，應(yīng)對由表面粗糙度引起的耦合損失進行補償。b)衰減補償。在檢測和缺陷定量時，應(yīng)對材質(zhì)衰減引起的檢測靈敏度下降和缺陷定量誤差進行補償。c)曲面補償。對探測面是曲面的工件，應(yīng)采用曲率半徑與工件相同或相近的試塊，通過對比實驗進行曲率補償。3.4系統(tǒng)校準和復(fù)核3.4.1一般規(guī)定系統(tǒng)校準應(yīng)在標準試塊上進行，校準中應(yīng)使探頭主聲束垂直對準反射體的反射面，以獲得穩(wěn)定和最大的反射信號。3.4.2儀器校準每隔3個月至少對儀器的水平線性和垂直線性進行一次測定，測定方法按JB／T10061的規(guī)定。3.4.3新購探頭測定，新購探頭應(yīng)有探頭性能參數(shù)說明書，新探頭使用前應(yīng)進行前沿距離、K值、主聲束偏離、靈敏度余量和分辨力等重要參數(shù)的測定。測定應(yīng)按JB／T10062的有關(guān)規(guī)定進行，并滿足其規(guī)定。3.4.4檢測前儀器和探頭系統(tǒng)測定3.4.4.1使用儀器—斜探頭系統(tǒng)，檢測前應(yīng)測定前沿距離、K值和主聲束偏離，調(diào)節(jié)或復(fù)核掃描量程和掃查靈敏度。3.4.4.2使用儀器—直探頭系統(tǒng)，檢測前應(yīng)測定始脈沖寬度、靈敏度余量和分辨力，調(diào)節(jié)或復(fù)核掃描量程和掃查靈敏度。3.4.5檢測過程中儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核遇有下述情況應(yīng)對系統(tǒng)進行復(fù)核：a)校準后的探頭、耦合劑和儀器調(diào)節(jié)旋鈕發(fā)生改變時；b)檢測人員懷疑掃描量程或掃查靈敏度有變化時；c)連續(xù)工作4h以上時；d)工作結(jié)束時。3.4.6檢測結(jié)束前儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核a)每次檢測結(jié)束前，應(yīng)對掃描量程進行復(fù)核。假如任意一點在掃描線上的偏移超過掃描線讀數(shù)的10％，則掃描量程應(yīng)重新調(diào)整，并對上一次復(fù)核以來所有的檢測部位進行復(fù)檢。b)每次檢測結(jié)束前，應(yīng)對掃查靈敏度進行復(fù)核。一般對距離一波幅曲線的校核不應(yīng)少于3點。如曲線上任何一點幅度下降2dB，則應(yīng)對上一次復(fù)核以來所有的檢測部位進行復(fù)檢；如幅度上升2dB，則應(yīng)對所有的記錄信號進行重新評估。3.4.7校準、復(fù)核的有關(guān)注意事項校準、復(fù)核和對儀器進行線性檢測時，任何影響儀器線性的控制器(如克制或濾波開關(guān)等)都應(yīng)放在“關(guān)”的位置或處在最低水平上。3.5試塊3.5.1標準試塊3.5.1.1