JBT 12403.1-2015 數(shù)控深孔珩磨機床 第1部分：精度檢驗

備案號：51635—2015數(shù)控深孔珩磨機床第1部分：精度檢驗CNCdeep-holehoningmachines—Part1:Testingoftheaccuracy2015-10-10發(fā)布 Ⅱ1范圍 12規(guī)范性引用文件 13結構型式 14一般要求 24.1計量單位 24.2執(zhí)行標準 24.3檢驗順序 24.4檢驗項目 24.5檢驗工具 24.6預調檢驗 34.7工作精度檢驗 34.8模擬方向 34.9最小公差 35預調檢驗 36幾何精度檢驗 66.1磨桿箱 66.2主軸箱主軸 96.3磨桿箱主軸 6.4支架 7數(shù)控軸線的定位精度和重復定位精度檢驗 8工作精度檢驗 1 2Ⅱ——第1部分：精度檢驗；——第2部分：技術條件。本部分為JB/T12403的第1部分。本部分由全國金屬切削機床標準化技術委員會(SAC/TC22)歸口。本部分起草單位：山東普利森集團有限公司、沈陽機床(集團)有限責任公司。1數(shù)控深孔珩磨機床第1部分：精度檢驗1范圍JB/T12403的本部分規(guī)定了數(shù)控深孔珩磨機床的幾何精度、定位精度和工作精度的要求及檢驗方法。本部分適用于珩孔直徑20mm～500mm、最大珩孔深度至16000mm的數(shù)控深孔珩磨機床(以下2規(guī)范性引用文件凡是不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改單)適用于本文件。GB/T17421.1—1998機床檢驗通則第1部分：在無負荷或精加工條件下機床的幾何精度GB/T17421.2—2000機床檢驗通則第2部分：數(shù)控軸線的定位精度和重復定位精度的確定3.1工件固定型，其主要部件如圖1所示。5——排屑斗；7——床身；23.2工件旋轉型，其主要部件如圖2所示。84一般要求本部分中的所有線性尺寸及相應的公差均用毫米(mm)表示；角度偏差及相應的公差一般用比值表示，但在有些情況下為了清晰，也可使用微弧度(μrad)或角秒(”)表示，其換算關系見下式：0.010/1000=10×10?=10μrad≈2”使用本部分時應按GB/T17421.1—1998中第3章的規(guī)定，尤其是機床檢驗前的安裝、主軸和其他運動部件的空運轉溫升、檢驗方法和檢驗工具的推薦精度。4.3檢驗順序本部分所列出的檢驗項目順序，并不表示實際檢驗順序，為了拆裝檢驗工具和檢驗方便，可按任意4.4檢驗項目檢驗機床時，根據(jù)結構特點并不是必須檢驗本部分的所有項目。為了驗收目的而要求檢驗時，可由用戶取得制造廠同意選擇一些感興趣的檢驗項目，但這些檢驗項目必須在機床定貨時明確提出。4.5檢驗工具本部分所規(guī)定的檢驗工具僅為舉例，可以使用相同指示量和具有至少相同精度的其他檢驗工具。指示器應具有0.001mm或更高的分辨率。3預調檢驗只在裝配或用戶安裝調平后進行，在負荷試驗前后不再復檢。本部分所指的縱向是平行于磨桿箱軸線的方向，橫向是垂直于磨桿箱軸線的方向。當實測長度與本部分規(guī)定的長度不同時，公差應根據(jù)GB/T17421.1—1998中2.3.1.1的規(guī)定按能夠測量的長度折算。折算結果小于0.005mm時，按0.005mm計。5預調檢驗檢驗項目床身導軌在垂直平面內的直線度。簡圖ZZ公差1000行程上：0.030;行程每增加1000,公差增加0.015;局部公差：在任意500測量長度上為0.020。精密水平儀、專用檢具或光學測量儀器。檢驗方法(應按GB/T17421.1—1998中5.2.1.2.2的規(guī)定)在床身導軌上放一專用檢具，專用檢具上縱向放置精密水平儀，移動檢具，每隔500記錄一次讀數(shù)，在導軌全行程上檢驗，畫出導軌誤差曲線。導軌誤差曲線上各點對其兩端點連線間坐標值的最大差值不應超過公差值。局部誤差以任意相鄰線兩端點連線間坐標值的最大差值計。也可以用光學測量儀器檢驗。4檢驗項目G02床身導軌在垂直平面內的角度偏差。簡圖22公差檢驗工具精密水平儀、平尺或專用檢具。檢驗方法(應按GB/T17421.1—1998中5.2.3.2.2.1的規(guī)定)在床身導軌上放一平尺或專用檢具，專用檢具上橫向放置精密水平儀，移動檢具，每隔500記錄一次讀數(shù)，在導軌全行程上檢驗。水平儀最大和最小讀數(shù)的差值不應超過公差值。5檢驗項目床身導軌在水平面內的直線度。Z簡圖Z公差1000行程上：0.030;行程每增加1000,公差增加0.015;局部公差：在任意500測量長度上為0.020。檢驗工具專用檢具、鋼絲和顯微鏡或光學測量儀器。檢驗方法(應按GB/T17421.1—1998中5.2.1.2.1.2的規(guī)定)在床身導軌的兩端沿縱向張緊一根鋼絲。導軌上放一專用檢具，檢具上固定顯微鏡。調整鋼絲，使顯微鏡讀數(shù)在鋼絲兩端相等。移動檢具，每隔500記錄一次讀數(shù)，在全行程上檢驗。顯微鏡最大和最小讀數(shù)的差值不應超過公差值。局部誤差以任意兩點顯微鏡讀數(shù)的最大差值計。也可以用光學測量儀器檢驗。6檢驗項目磨桿箱移動在垂直平面內的直線度。簡圖ZZ公差1000行程上：0.030;行程每增加1000,公差增加0.015;局部公差：在任意500測量長度上為0.020。精密水平儀或光學測量儀器。檢驗方法(應按GB/T17421.1—1998中5.2.1.2.2的規(guī)定)床身上各部件置于床身一端。在磨桿箱拖板上縱向放置精密水平儀，移動檢具，每隔500記錄一次讀數(shù)，在導軌全行程上檢驗，畫出導軌誤差線兩端點連線間坐標值的最大差值計。也可以用光學測量儀器檢驗。7檢驗項目磨桿箱移動在垂直平面內的角度偏差。簡圖Z1公差檢驗工具精密水平儀、平尺或專用檢具。檢驗方法(應按GB/T17421.1—1998中5.2.3.2.2.1的規(guī)定)床身上各部件置于床身一端。在磨桿箱拖板上橫向放置精密水平儀，移動箱體，每隔500記錄一次讀數(shù)，在全行程上檢驗。精密水平儀最大和最小讀數(shù)的差值不應超過公差值。也可用光學測量儀器檢驗。8檢驗項目磨桿箱移動在水平面內的直線度。簡圖ZZ公差1000行程上：0.030;行程每增加1000,公差增加0.015;局部公差：在任意500測量長度上為0.020。專用檢具、鋼絲和顯微鏡或光學測量儀器。檢驗方法(應按GB/T17421.1—1998中5.2.1.2.2的規(guī)定)床身上各部件置于床身一端。顯微鏡最大和最小讀數(shù)的差值不應超過公差值。局部誤差以任意兩點顯微鏡讀數(shù)的最大差值計。9檢驗項目主軸箱主軸的軸向竄動。簡圖FF公差檢驗工具指示器、檢驗棒、鋼球。檢驗方法(應按GB/T17421.1—1998中5.6.2.2.2的規(guī)定)在主軸箱主軸錐孔內插入檢驗棒。固定指示器，使其測頭觸及檢驗棒中心孔內的鋼球表面，旋轉主軸檢驗。誤差以指示器讀數(shù)的最大差值計。施加力F的數(shù)值由制造廠規(guī)定。當機床具有消除主軸軸承的軸向游隙結構時，可以不施加力F。檢驗項目主軸箱主軸錐孔軸線的徑向跳動：a)靠近主軸端面；b)距主軸端面300處。簡圖公差檢驗棒、指示器、專用檢具。檢驗方法(應按GB/T17421.1—1998中5.6.1.2.3的規(guī)定)在主軸錐孔內插入一檢驗棒，在專用檢具上固定指示器，使其測頭分別觸及靠近主軸端面和距主軸端面300處的檢驗棒表面，旋轉主軸檢驗。拔出檢驗棒旋轉90°,重新插入，再依次重復檢驗三次。a)、b)誤差分別計算，以指示器讀數(shù)的最大差值計。檢驗項目主軸箱主軸的端面跳動。簡圖公差檢驗工具指示器。檢驗方法(應按GB/T17421.1—1998中5.6.3.2的規(guī)定)固定指示器，使其測頭觸及主軸端面，分別在相隔90°的四個位置上旋轉主軸進行檢驗。誤差以指示器讀數(shù)的最大差值計。應在最大直徑上檢驗。檢驗項目主軸箱定心軸頸的徑向跳動。簡圖公差檢驗工具指示器。檢驗方法(應按GB/T17421.1—1998中5.6.1.2.3的規(guī)定)固定指示器，使其測頭觸及主軸定心軸頸的表面，旋轉主軸進行檢驗。誤差以指示器讀數(shù)的最大差值計。當表面為圓錐面時，指示器測頭應垂直于圓錐表面。檢驗項目主軸箱主軸軸線對床身導軌的平行度：a)在垂直平面內；b)在水平面內。簡圖公差a)在300測量長度上為0.035(只許向上偏);b)在300測量長度上為0.030。檢驗工具指示器、檢驗棒、專用檢具。檢驗方法(應按GB/T17421.1—1998中5.4.1.2.1和5.4.2.2.3的規(guī)定)和水平表面，移動專用檢具檢驗。主軸旋轉180°,再檢驗一次。a)、b)誤差分別計算，以兩次測量結果的平均值計。檢驗項目磨桿箱主軸的軸向竄動。簡圖FF公差檢驗工具檢驗棒、鋼球、指示器。檢驗方法(應按GB/T17421.1—1998中5.6.2.2.2的規(guī)定)在磨桿箱主軸錐孔內插入檢驗棒。固定指示器，使其測頭觸及檢驗棒中心孔內的鋼球表面，旋轉主軸檢驗。誤差以指示器讀數(shù)的最大差值計。施加力F的數(shù)值由制造廠規(guī)定。當機床具有消除主軸軸承的軸向游隙結構時，可以不施加力F。檢驗項目磨桿箱主軸錐孔軸線的徑向跳動：a)靠近主軸端面；b)距主軸端面300處。簡圖公差檢驗工具檢驗棒、指示器、專用檢具。檢驗方法(應按GB/T17421.1—1998中5.6.1.2.3的規(guī)定)磨桿箱主軸錐孔內插入一檢驗棒，在專用檢具上固定指示器，使其測頭分別觸及靠近磨桿箱主軸端面和距主軸端面300處的檢驗棒表面，旋轉主軸檢驗。拔出檢驗棒旋轉90°,重新插入，再依次重復檢驗三次。a)、b)誤差分別計算，誤差以四次測量結果的平均值計算。檢驗項目磨桿箱主軸的端面跳動。簡圖公差指示器、專用檢具。檢驗方法(應按GB/T17421.1—1998中5.6.3.2的規(guī)定)應在最大直徑上檢驗。檢驗項目磨桿箱定心軸頸的徑向跳動。簡圖公差檢驗工具指示器、專用檢具。檢驗方法(應按GB/T17421.1—1998中5.6.1.2.2的規(guī)定)指示器測頭觸及磨桿箱定心軸頸，旋轉磨桿箱主軸進行檢驗。誤差以指示器讀數(shù)的最大差值計。當表面為圓錐面時，指示器測頭應垂直于圓錐表面。檢驗項目磨桿箱主軸軸線對床身導軌的平行度：a)在垂直平面內；b)在水平面內。簡圖公差a)在300測量長度上為0.035(只許向上偏);b)在300測量長度上為0.030。檢驗工具指示器、檢驗棒、專用檢具。檢驗方法(應按GB/T17421.1—1998中5.4.1.2.1和5.4.2.2.3的規(guī)定)在磨桿箱主軸孔內插入檢驗棒，在專用檢具上固定指示器，使其測頭分別觸及檢驗棒的垂直和水平表面，移動專用檢具檢驗。拔出檢驗棒旋轉180°,重新插入再檢驗一次。a)、b)誤差分別計算，以兩次測量結果的平均值計。檢驗項目G14工件支架孔軸線對床身導軌的平行度：a)在垂直平面內；b)在水平面內。簡圖公差在300長度上0.030。檢驗工具檢驗棒、指示器、專用檢具。檢驗方法(應按GB/T17421.1—1998中5.4.1.2.1和5.4.2.2.3的規(guī)定)在工件支架內插入一檢驗棒，且檢驗棒在工件支架兩端的伸出長度相等。在床身上放一專用檢具，檢具上固定指示器，使其測頭分別觸及檢驗棒的垂直和水平表面，移動專用檢具檢驗。將檢驗棒旋轉180°,重新插入再檢驗一次。a)、b)誤差分別計算，以兩次測量結果的平均值計。檢驗項目磨桿導向架孔軸線對床身導軌的平行度：a)在垂直平面內；b)在水平面內。簡圖Z公差a)和b)在300長度上0.040。檢驗棒、指示器、專用檢具。檢驗方法(應按GB/T17421.1—1998中5.4.1.2.1和5.4.2.2.3的規(guī)定)指示器，使其測頭分別觸及檢驗棒的垂直和水平表面，移動專用檢具檢驗。將檢驗棒旋轉180°,重新插入再檢驗一次。a)、b)誤差分別計算，以兩次測量結果的平均值計。檢驗項目磨桿支架孔軸線對床身導軌的平行度：a)在垂直平面內；b)在水平面內。簡圖Z公差在300長度上0.040。檢驗工具檢驗棒、指示器、專用檢具。檢驗方法(應按GB/T17421.1—1998中5.4.1.2.1和5.4.2.2.3的規(guī)定)在磨桿支架孔內插入一檢驗棒，且檢驗棒在支架兩端的伸出長度相等。在床身上放一專用檢具，檢具上固定指示器，使其測頭分別觸及檢驗棒的垂直和水平表面，移動專用檢具檢驗。將檢驗棒旋轉180°,重新插入再檢驗一次。a)、b)誤差分別計算，以兩次測量結果的平均值計。檢驗項目G17主軸箱主軸軸線和磨桿導向架孔軸線對床身導軌的等距度：a)在垂直平面內；b)在水平面內。簡圖Z公差檢驗工具檢驗棒、指示器、專用檢具。檢驗方法(應按GB/T17421.1—1998中5.4.3.2.1的規(guī)定)在主軸箱主軸孔及磨桿導向架孔內各插入一直徑相等的檢驗棒。在床身上放一專用檢具，檢具上固定指示器，使其測頭分別觸及檢驗棒的垂直平面和水平面的根部表面，移動檢具檢驗。a)、b)誤差分別計算。指示器最大和最小讀數(shù)的差值不應超過公差值。檢驗項目磨桿箱主軸軸線和磨桿導向架孔軸線對床身導軌的等距度：a)在垂直平面內；b)在水平面內。簡圖公差a)0.050(只許磨桿箱高);檢驗工具檢驗棒、指示器、專用檢具。檢驗方法(應按GB/T17421.1—1998中5.4.3.2.1的規(guī)定)在磨桿箱主軸孔及磨桿導向架孔內各插入一直徑相等的檢驗棒。在床身上放一專用檢具，檢具上固定指示器，使其測頭分別觸及檢驗棒的垂直平面和水平面的根部表面，移動檢具檢驗。a)、b)誤差分別計算。指示器最大和最小讀數(shù)的差值不應超過公差值。檢驗項目工件支架孔軸線和磨桿導向架孔軸線對床身導軌的等距度：a)在垂直平面內：b)在水平面內。簡圖2公差檢驗工具檢驗棒、指示器、專用檢具。檢驗方法(應按GB/T17421.1—1998中5.4.3.2.1的規(guī)定)在工件支架及磨桿導向架孔內各插入一直徑相等的檢驗棒。在床身上放一專用檢具，檢具上固定指示器，使其測頭分別觸及檢驗棒的垂直平面和水平面的根部表面，移動檢具檢驗。a)、b)誤差分別計算。指示器最大和最小讀數(shù)的差值不應超過公差值。檢驗項目磨桿支架孔軸線和磨桿導向架孔軸線對床身導軌的等距度：a)在垂直平面內；b)在水平面內。簡圖公差檢驗工具檢驗棒、