《車(chē)規(guī)級(jí)電源芯片高溫運(yùn)行壽命認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)（征求意見(jiàn)稿）》

1T/ZJBDTXXXX—XXXX車(chē)規(guī)級(jí)電源芯片高溫運(yùn)行壽命認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)本文件規(guī)定了車(chē)規(guī)級(jí)電源芯片高溫運(yùn)行壽命的技術(shù)要求和計(jì)算方法。本文件適用于車(chē)規(guī)級(jí)電源芯片高溫運(yùn)行壽命的可靠性認(rèn)證及壽命計(jì)算。2規(guī)范性引用文件下列文件中的內(nèi)容通過(guò)文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中，注日期的引用文件，僅該日期對(duì)應(yīng)的版本適用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本文件。AECQ100JFailureMechanismBasedStressTestQualificationForIntegratedCircuitsInAutomotiveApplications3術(shù)語(yǔ)和定義請(qǐng)選擇適當(dāng)?shù)囊龑?dǎo)語(yǔ)AECQ100J界定的以及下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件。HTOLHighTemperatureOperatingLife高溫運(yùn)行壽命。在高溫環(huán)境下用于評(píng)估車(chē)規(guī)電源芯片的實(shí)際運(yùn)行壽命4壽命標(biāo)準(zhǔn)等級(jí)4.1根據(jù)目前車(chē)規(guī)電源芯片產(chǎn)品的應(yīng)用場(chǎng)景，分成如下三個(gè)溫度等級(jí)表1車(chē)規(guī)電源芯片高溫運(yùn)行壽命測(cè)試溫度等級(jí)表產(chǎn)品名稱(chēng)車(chē)規(guī)電源芯片高溫運(yùn)行壽命測(cè)試溫度2級(jí)0級(jí)車(chē)規(guī)電源芯片150℃175℃4.2對(duì)于車(chē)規(guī)電源芯片，高溫運(yùn)行壽命等級(jí)參考表2。表2車(chē)規(guī)電源芯片高溫運(yùn)行壽命等級(jí)表產(chǎn)品名稱(chēng)車(chē)規(guī)電源芯片高溫運(yùn)行測(cè)試壽命2級(jí)0級(jí)車(chē)規(guī)電源芯片>=100hrs>=1000hrs>=1000hrs2T/ZJBDTXXXX—XXXX5技術(shù)要求車(chē)規(guī)級(jí)電源芯片高溫運(yùn)行壽命推薦值應(yīng)符合表2中要求。6計(jì)算方法6.1車(chē)規(guī)級(jí)電源芯片高溫運(yùn)行壽命計(jì)算的方法符合AECQ100J中對(duì)計(jì)算方法的規(guī)定。6.2車(chē)規(guī)級(jí)電源芯片高溫運(yùn)行壽命計(jì)算公式：車(chē)規(guī)級(jí)電源芯片高溫運(yùn)行壽命測(cè)試時(shí)間按公式(1)計(jì)算：Af加速因子按Arrhenius公式(2)計(jì)算:式中：tu----averageoperatingusetime平均運(yùn)行使用壽命；tt----testtime測(cè)試時(shí)間；Tu----averagejunctiontemperatureinuseenvironment使用環(huán)境下平均結(jié)溫（單位KTt----junctiontemperatureintestenvironment測(cè)試環(huán)境下結(jié)溫（單位K）；exp----自然指數(shù)函數(shù)；kB----Boltzmann’sConstant玻爾茲曼常數(shù)kB=8.61733x10-5eV/K；Ea----activationenergy;0.7eVisatypicalvalue,actualvaluesdependonfailuremechanismandrangefrom-0.2to1.4eV)激活能；0.7電子伏特是一個(gè)典型值，它的取值范圍為-0.2到1.4電子伏特，實(shí)際的值取決于失效機(jī)制。6.3車(chē)規(guī)級(jí)電源芯片高溫運(yùn)行壽命計(jì)算根據(jù)車(chē)規(guī)級(jí)電源芯片的MissionProfile來(lái)計(jì)算選取合適的測(cè)試時(shí)間以足夠等效產(chǎn)品實(shí)際的運(yùn)行壽命。例如如下產(chǎn)品：Theassumedmissionprofileis:?Lifetime:15years?Totaloperatinghours:12500表3TemperatureprofileforpackageddeviceTj/℃-20250300095425030003T/ZJBDTXXXX—XXXX625總時(shí)間12500取Ea=0.7eV，按照6.2節(jié)中公式，將Temperatureprofile的時(shí)間等效成175℃條件下的測(cè)試時(shí)間如表4表4175℃條件下的等效測(cè)試時(shí)間表Tj/℃等效175℃測(cè)試時(shí)間（hrs）-202501130003954250833000397625215總時(shí)間12500825175℃測(cè)試條件下825hrs測(cè)試壽命等效于該Temperatureprofile下15years/12500hrs運(yùn)行壽命。綜上，車(chē)規(guī)級(jí)電源芯片可靠性測(cè)試高溫運(yùn)行壽命推薦值1000hrs滿足該Temperature