(高清版)GBT 17626.11-2023 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 第11部分：對(duì)每相輸入電流小于或等于16 A設(shè)備的電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化抗擾度試驗(yàn)

第11部分：對(duì)每相輸入電流小于或Electromagneticcompatibility—TestingandmeasuremePart11:Voltagedips,shortPart4-11:Testingandmeasurementtechniques—Voltagedips,short國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局發(fā)布國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)I Ⅲ V 1 1 1 3 35.1通則 3 3 4 7 7 9 9 98.1通則 98.2實(shí)驗(yàn)室參考條件 9試驗(yàn)結(jié)果評(píng)價(jià) 附錄A(規(guī)范性)試驗(yàn)電路說(shuō)明 A.1試驗(yàn)發(fā)生器峰值沖擊電流驅(qū)動(dòng)能力 A.2測(cè)量峰值沖擊電流能力的電流監(jiān)視器特性 附錄B(資料性)電磁環(huán)境分類 附錄C(資料性)試驗(yàn)儀器 附錄D(資料性)發(fā)生器的電壓、上升時(shí)間和下降時(shí)間、沖擊電流容量的基本原理 D.1基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)的理念 18D.3快速下降時(shí)間需求的基本原理 D.4EUT測(cè)試上升時(shí)間和下降時(shí)間的解釋 D.5主要結(jié)論 D.6沖擊電流容量的原理 20Ⅲ電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)抗擾度試驗(yàn)總論；電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗(yàn)；電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)；電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)；電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)浪涌(沖擊)抗擾度試驗(yàn)；電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度；電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)供電系統(tǒng)及所連設(shè)備諧波、間諧波的測(cè)電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)工頻磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)；電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)脈沖磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)；電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)第11部分：對(duì)每相輸入電流小于或等 電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)振鈴波抗擾度試驗(yàn)；電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)電壓波動(dòng)抗擾度試驗(yàn)；電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)閃爍儀功能和設(shè)計(jì)規(guī)范；電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)0Hz～150kHz共模傳導(dǎo)騷擾抗擾度電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)直流電源輸入端口紋波抗擾度試驗(yàn)；電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)阻尼振蕩波抗擾度試驗(yàn)； 電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)橫電磁波(TEM)波導(dǎo)中的電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)混波室試驗(yàn)方法；電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)全電波暗室中的輻射發(fā)射和抗擾度電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)三相電壓不平衡抗擾度試驗(yàn)；電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)工頻頻率變化抗擾度試驗(yàn)；電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)直流電源輸入端口電壓暫降、短時(shí)中V——GB/T17626.30—2012電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)電能質(zhì)量測(cè)量方法；——GB/T17626.31—2021電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)第31部分：交流電源端口寬帶傳導(dǎo)騷 -GB/T17626.33—2023電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)第33部分：高功率瞬態(tài)參數(shù)測(cè)量——GB/T17626.34—2012電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)主電源每相電流大于16A的設(shè)備的本文件代替GB/T17626.11—2008《電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化b)增加了電壓暫降和短時(shí)中斷產(chǎn)生的原因(見(jiàn)第4章)。本文件修改采用IEC61000-4-11:2020《電磁兼容(EMC)第4-11部分：試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)對(duì)每相本文件與IEC61000-4-11:2020的技術(shù)差異及其原因如下：——?jiǎng)h除了表1、表2和表3中有關(guān)60Hz的參數(shù)指標(biāo)，包括表1、表2中電壓暫降、短時(shí)中斷的試驗(yàn)等級(jí)和持續(xù)時(shí)間的60Hz頻率點(diǎn)，以及表1、表2中2類和3類的持續(xù)時(shí)間12周期、30周期和300周期的要求及腳注c,表3中電壓增加所需時(shí)間的60Hz頻率點(diǎn)，以及表3中電壓試驗(yàn)等級(jí)為70%時(shí)電壓增加所需時(shí)間30周期的要求及腳注b,以適用于我國(guó)國(guó)情(見(jiàn)第5章);——為與我國(guó)標(biāo)準(zhǔn)體系一致，將標(biāo)準(zhǔn)名稱改為《電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)第11部分：對(duì)每相輸 請(qǐng)注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利。本文V -第13部分：交流電源端口諧波、諧間波及電網(wǎng)信號(hào)的低頻抗擾度試驗(yàn)。目的在于建立通M——第14部分：電壓波動(dòng)抗擾度試驗(yàn)。目的在于建立通用的和可重現(xiàn)的基準(zhǔn)，以評(píng)估電氣和電子——第15部分：閃爍儀功能和設(shè)計(jì)規(guī)范。目的在于為所有實(shí)際的電壓波動(dòng)波形顯示正確的閃爍——第16部分：0Hz～150kHz共模傳導(dǎo)騷擾抗擾度試驗(yàn)。目的在于建立電氣和電子設(shè)備經(jīng)受共 在實(shí)驗(yàn)室條件下對(duì)電氣和電子設(shè)備進(jìn)行來(lái)自于如整流系統(tǒng)和/或蓄電池充電時(shí)疊加在直流電——第18部分：阻尼振蕩波抗擾度試驗(yàn)。目的在于建立通用的和可重現(xiàn)的基準(zhǔn)——第19部分：交流電源端口2kHz～150kHz差模傳導(dǎo)騷擾和通信信號(hào)抗擾度試驗(yàn)。目的在于確認(rèn)電氣和電子設(shè)備在公用電網(wǎng)下工作時(shí)能承受來(lái)自諸如電力電子和電力線通信系統(tǒng)(PLC)——第20部分：橫電磁波(TEM)波導(dǎo)中的發(fā)射和抗擾度試驗(yàn)。目的在于給出TEM波導(dǎo)的性能、——第21部分：混波室試驗(yàn)方法。目的在于建立使用混波室評(píng)估電氣和電子設(shè)——第22部分：全電波暗室中的輻射發(fā)射和抗擾度測(cè)量。目的在于規(guī)定在同一 第23部分：HEMP和其他輻射騷擾防護(hù)裝置的試驗(yàn)方法。目的在于通過(guò)描述HEMP試驗(yàn)的-第24部分：HEMP傳導(dǎo)騷擾保護(hù)裝置的試驗(yàn)方法。目的在于規(guī)定HEMP傳 —第27部分：三相電壓不平衡抗擾度試驗(yàn)。目的在于為電氣和電子設(shè)備在受 -第29部分：直流電源輸入端口電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn)。目的在于建立評(píng)價(jià)直流電氣、電子設(shè)備在經(jīng)受電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化時(shí)的抗擾度的通用 —第30部分：電能質(zhì)量測(cè)量方法。目的在于規(guī)定50Hz交流供電系統(tǒng)中電能質(zhì)量參數(shù)測(cè)量方法 第31部分：交流電源端口寬帶傳導(dǎo)騷擾抗擾度試驗(yàn)。目的在于建立通和電子設(shè)備交流電源端口在遭受有意和/或無(wú)意寬帶信號(hào)源產(chǎn)生的傳導(dǎo)騷擾時(shí)的抗擾度。 第32部分：高空核電磁脈沖(HEMP)模擬器概述。目的在于提供國(guó)際上現(xiàn)有的系統(tǒng)級(jí)MHEMP模擬器以及它們作為抗擾度試驗(yàn)與驗(yàn)證設(shè)備時(shí)所需要的相關(guān)信息?！?3部分：高功率瞬態(tài)參數(shù)測(cè)量方法。目的在于給出高功率電磁瞬態(tài)響應(yīng)目的在于建立評(píng)價(jià)電氣和電子設(shè)備在經(jīng)受電壓暫降、短 —第35部分：高功率電磁(HPEM)模擬器概述。目的在于提供國(guó)際上現(xiàn)有的帶(窄譜)和寬帶(寬譜、亞超寬譜和超寬譜)模擬器以及它們作為抗擾度試驗(yàn)與驗(yàn)證設(shè)備時(shí)所——第36部分：設(shè)備和系統(tǒng)的有意電磁干擾抗擾度試驗(yàn)。目的在于為評(píng)估設(shè)備——第38部分：電壓波動(dòng)和閃爍合規(guī)測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試、驗(yàn)證和校準(zhǔn)協(xié)議。目的——第39部分：近場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)。目的在于建立通用的基準(zhǔn)，以評(píng)估暴露——第40部分：調(diào)制或失真信號(hào)功率的數(shù)字測(cè)量方法。目的在于介紹兩種適用我國(guó)在1999年和2008年先后發(fā)布了2個(gè)版本的GB/T17626.11,規(guī)定了與低壓供電網(wǎng)連接的電氣和電子設(shè)備對(duì)電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn)方法和優(yōu)選的試驗(yàn)等級(jí)范圍。4-11部分于2020年發(fā)布了第3版。鑒于此，確有必要修訂GB/T17626.11,以不斷適應(yīng)國(guó)內(nèi)外相關(guān)技1電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)第11部分：對(duì)每相輸入電流小于或本文件規(guī)定了與低壓供電網(wǎng)連接的電氣和電子設(shè)備對(duì)電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度試本文件適用于額定輸入電流每相小于或等于16A且連接到50Hz交流網(wǎng)絡(luò)的電氣和電子設(shè)備。本文件不適用于與400Hz交流網(wǎng)絡(luò)相連接的電氣和電子設(shè)備。這些網(wǎng)絡(luò)的試驗(yàn)將在以后的標(biāo)準(zhǔn)本文件的目的是建立一種評(píng)價(jià)電氣和電子設(shè)備在經(jīng)受電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化時(shí)的抗擾度GB/T17626的本文件中所規(guī)定的試驗(yàn)方法為評(píng)估設(shè)備或系統(tǒng)對(duì)定義的電磁現(xiàn)象的抗擾度表述了下列文件中的內(nèi)容通過(guò)文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中，注日期的引用文IECTR61000-2-8電磁兼容(EMC)第2-8部分：環(huán)境公用供電系統(tǒng)中的電壓暫降、短時(shí)中斷及其測(cè)量統(tǒng)計(jì)結(jié)果[Electromagneticcompatibility(EMC)—shortinterruptionsonpublicelectricpowersupply3術(shù)語(yǔ)和定義——IECElectropedia:http://www.electrop2供電系統(tǒng)某一點(diǎn)上所有相位的電壓突然下降到規(guī)定的中斷閾限以下，隨后經(jīng)歷一段短暫間隔恢復(fù)6章給出的規(guī)范。3電壓暫降和短時(shí)中斷是由于(公用或非公用)供電網(wǎng)絡(luò)或設(shè)施中大型負(fù)載突然變化引發(fā)故障的。某些情況下會(huì)出現(xiàn)兩次或更多次連續(xù)的暫降或中斷。電壓變化是由連接到電網(wǎng)的負(fù)荷連續(xù)變化引所以，本文件中規(guī)定了不同類型的試驗(yàn)來(lái)模擬電壓突變的效應(yīng)。在產(chǎn)品規(guī)有關(guān)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)的責(zé)任是確定哪些現(xiàn)象是與本文件所考慮的——如果額定電壓的范圍不超過(guò)其下限電壓值的20%,則在該范圍內(nèi)可確定一個(gè)電壓作為試驗(yàn)等——IECTR61000-2-8給出了試驗(yàn)等級(jí)和持續(xù)時(shí)間的選擇Ur和變化后的電壓之間的變化是突發(fā)性的。其階躍可以在供電電壓的任意相位角上開(kāi)始和停止。采用下述電壓試驗(yàn)等級(jí)(以%Ur表示):0%,40%,70%和80%,相對(duì)應(yīng)于暫降后剩余電壓為參考電壓的0%,40%,70%和80%。對(duì)于電壓暫降，優(yōu)先采用的試驗(yàn)等級(jí)和持續(xù)時(shí)間列于表1。示例見(jiàn)圖la)和圖1b)。上升和下降時(shí)間如圖3所示。表1和表2中給出的優(yōu)先采用的試驗(yàn)等級(jí)和持續(xù)時(shí)間考慮了IECTR61000-2-8給出的信息。意味著對(duì)所有的暫降都具有抗擾度。更多更嚴(yán)酷的暫降，例如：0%、持續(xù)1s的暫降和平衡的三相暫表4規(guī)范了發(fā)生器在電壓突變期間的上升時(shí)間t,和下降時(shí)間t。產(chǎn)品規(guī)范中應(yīng)給出試驗(yàn)等級(jí)和持續(xù)時(shí)間，試驗(yàn)等級(jí)為0%相當(dāng)于完全電壓中斷，實(shí)際上，從0到20%額定電壓Ur的電壓試驗(yàn)等級(jí)都可以認(rèn)為是完全中斷。宜進(jìn)行表1中較短的持續(xù)時(shí)間，尤其是半個(gè)周期的試驗(yàn)，以確定受試設(shè)備(EUT)能否按其預(yù)定的員會(huì)宜特別注意沖擊電流對(duì)試驗(yàn)結(jié)果帶來(lái)的影響。對(duì)于此類產(chǎn)品，在電壓暫降之后由于電源變壓器鐵4芯的磁通飽和造成的沖擊電流可能會(huì)達(dá)到額定電流的10倍～40倍。類別電壓暫降的試驗(yàn)等級(jí)和持續(xù)時(shí)間(t,)1類持續(xù)時(shí)間0.5周期持續(xù)時(shí)間1周期持續(xù)時(shí)間25周期持續(xù)時(shí)間0.5周期持續(xù)時(shí)間1周期持續(xù)時(shí)間10周期持續(xù)時(shí)間25周期持續(xù)時(shí)間250周期X×XXX“×類”由有關(guān)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)進(jìn)行定義，對(duì)于直接或者間接連接到公用電網(wǎng)的設(shè)備，嚴(yán)酷等級(jí)不應(yīng)低類別短時(shí)中斷的試驗(yàn)等級(jí)和持續(xù)時(shí)間(t?)1類持續(xù)時(shí)間250周期持續(xù)時(shí)間250周期ד×類”由有關(guān)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)進(jìn)行定義，對(duì)于直接或者間接連接到公用電網(wǎng)的設(shè)備，嚴(yán)酷等級(jí)不應(yīng)低本試驗(yàn)考慮在額定電壓Ur和變化后的電壓之間規(guī)定一個(gè)過(guò)渡過(guò)程。表3給出了優(yōu)先采用的電壓變化所需時(shí)間和電壓降低后持續(xù)時(shí)間。電壓變化率宜為常數(shù)，但電壓可以是步進(jìn)變化的。步進(jìn)宜定位在電壓過(guò)零附近，且不宜大于10%Ur。當(dāng)步進(jìn)在1%Ur以下，則可認(rèn)5表3短期供電電壓變化的時(shí)間設(shè)定電壓試驗(yàn)等級(jí)電壓降低所需時(shí)間(ta)電壓降低后維持時(shí)間(t,)電壓增加所需時(shí)間(t?)突變1周期25周期“×”由有關(guān)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)進(jìn)行規(guī)定。這一形態(tài)是電動(dòng)機(jī)啟動(dòng)時(shí)的典型波形。△t=t,△t=t,/圖1電壓暫降示例6tt,——電壓降低后持續(xù)時(shí)間。下沖<5%過(guò)沖<5%t準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)加以規(guī)定。7UrUr(均方根值)附錄C給出的是發(fā)生器原理的示例。允許發(fā)生器產(chǎn)生與目前標(biāo)準(zhǔn)中描述的特性(幅度和持續(xù)時(shí)間)相等的或者更嚴(yán)發(fā)生器性能和特性的技術(shù)要求見(jiàn)表4?？蛰d時(shí)輸出電壓100%輸出，0A～16A8表4發(fā)生器技術(shù)要求(續(xù))輸出電流能力額定電壓下每相電流的均方根值為16A。發(fā)生壓的80%下輸出20A,持續(xù)時(shí)間達(dá)到5s。在額定電壓的70%下輸出23A,持續(xù)時(shí)間達(dá)到3s。在額定電壓的40%下輸?shù)?s(根據(jù)EUT的額定穩(wěn)態(tài)電流情況，這一要求可以降低，見(jiàn)A.3)峰值沖擊電流驅(qū)動(dòng)能力(對(duì)電壓變化試驗(yàn)不作要求)不應(yīng)受發(fā)生器的限制，但發(fā)生器的最大峰值驅(qū)動(dòng)能(相對(duì)250V～600V電源),500A(相對(duì)220V～240V電源),250A(相對(duì)100V～120V電源)瞬間峰值過(guò)沖/欠沖電壓上升時(shí)間t.和下降時(shí)間t,見(jiàn)圖1b)、圖2和圖3相位變化(如果必要)0°~360°電壓暫降和中斷與電源頻率的相位關(guān)系<士10°發(fā)生器的過(guò)零控制 發(fā)生器100%,80%,70%和40%的輸出電壓均方根值應(yīng)與所選擇工作電壓(如220V、120V——發(fā)生器100%,80%,70%和40%的輸出電壓均方根值應(yīng)在空載時(shí)測(cè)量，且保持在Ur的規(guī)定——負(fù)載調(diào)整應(yīng)在每個(gè)輸出電壓的標(biāo)稱負(fù)載電流下驗(yàn)證。在標(biāo)稱電壓的100%,80%,70%和40%9若EUT產(chǎn)生的峰值沖擊電流小于標(biāo)準(zhǔn)發(fā)生器規(guī)定的峰值沖擊電流(例如對(duì)220V～240V電值沖擊電流應(yīng)小于發(fā)生器峰值驅(qū)動(dòng)能力的70%。實(shí)際EUT沖擊電流應(yīng)在冷啟動(dòng)和到70%、100%到40%和100%到0%進(jìn)行切換驗(yàn)證。切換檢驗(yàn)。且應(yīng)在相位角90°和180°處，從100%到80%和80%到100%,100%到70%和70%到100%,以及100%到40%和40%到100%進(jìn)行切換驗(yàn)證。 對(duì)每一項(xiàng)試驗(yàn)，應(yīng)記錄任何性能降低的情況，監(jiān)視設(shè)備宜能顯示試驗(yàn)中和試驗(yàn)后EUT運(yùn)行的狀除非負(fù)責(zé)通用或有關(guān)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)另有規(guī)定，否則實(shí)驗(yàn)室的氣候條件應(yīng)滿足EUT操作8.3試驗(yàn)EUT應(yīng)按每一種選定的試驗(yàn)等級(jí)和持續(xù)時(shí)間組合，順序進(jìn)行3次電壓暫降或中斷試驗(yàn)，最小間隔10s(兩次試驗(yàn)之間的間隔)。在每個(gè)典型的工作模式下均應(yīng)進(jìn)行試驗(yàn)。對(duì)于具有中線的三相系統(tǒng)的電壓暫降試驗(yàn)，根據(jù)5.2,應(yīng)每次單獨(dú)測(cè)量一個(gè)電壓(相-中線，相-相),這意味著進(jìn)行6個(gè)不同系列的試驗(yàn)，見(jiàn)圖5。試驗(yàn)結(jié)果應(yīng)依據(jù)受試設(shè)備的功能喪失或性能降低現(xiàn)象來(lái)分類，相關(guān)的性能等級(jí)由受試設(shè)備制造商 最小為1000A士10%(3ms脈寬)沖擊電流驅(qū)動(dòng)能力的70%。圖A.1確定短時(shí)中斷發(fā)生器沖擊電流驅(qū)動(dòng)能力的電路TG圖A.2確定EUT的峰值沖擊電流要求的電路第1類第2類第3類(資料性)圖C.1a)和C.1b)為兩種可能的電源模擬器的試驗(yàn)原理圖。為了顯示在特定條件下EUT的動(dòng)作情電壓的下降、上升和中斷可以通過(guò)交替閉合開(kāi)關(guān)1和開(kāi)關(guān)2來(lái)模擬。這兩個(gè)開(kāi)關(guān)絕不能同時(shí)閉這兩個(gè)開(kāi)關(guān)。采用功率半導(dǎo)體MOSFET和IGBT構(gòu)成的半導(dǎo)體開(kāi)關(guān)可以滿足這一要求，而可控硅和波形發(fā)生器和功率放大器可用來(lái)代替調(diào)壓變壓器和開(kāi)關(guān)(見(jiàn)圖C.1b)],這一結(jié)構(gòu)也可用于EUT的單相試驗(yàn)發(fā)生器(見(jiàn)圖C.1a)、圖C.1b)和圖C.1c)]也能用在三相試驗(yàn)中(見(jiàn)圖C.2)]。相線o—相線o-相線o-控制器波形中線(或者是相c)采用抽頭變壓器和開(kāi)關(guān)進(jìn)行電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化的試驗(yàn)儀器原理圖相線相線o-中線o-(資料性)GB/T17626系列的抗擾度基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)，是基于在一份文件中定義一個(gè)典型電磁騷擾的試驗(yàn)體系的基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)中給出的參數(shù)通常是從騷擾源的大量數(shù)據(jù)中折衷選擇的。如果抗擾度試驗(yàn)采用該參數(shù)能易于執(zhí)行，應(yīng)按照校準(zhǔn)設(shè)置來(lái)驗(yàn)證發(fā)生器輸出，驗(yàn)證時(shí)發(fā)生器的輸出端不應(yīng)連接EUT。校準(zhǔn)的目的D.2IEC61000-4-11:1994(第一版)國(guó)際發(fā)供電聯(lián)盟(UNIPEDE)報(bào)告中的數(shù)據(jù)表明在電壓降低和中斷期間存在短路。當(dāng)時(shí)，很少有測(cè)量結(jié)果顯示公用電網(wǎng)中同一相位上的設(shè)備是如何工業(yè)廠房中使用的設(shè)備在50m范圍內(nèi)受電壓暫降和短時(shí)中斷影響的風(fēng)險(xiǎn)更大。備的輸入整流二極管將從導(dǎo)通模式轉(zhuǎn)換到阻塞模式。由于這些二極管通常設(shè)計(jì)為自然線路換向，電壓2010年，發(fā)布了IEC61000-4-11:2004(第二版)的a)在IEC61000-4-11:2004中，表4不適用于EUT(受試設(shè)備)測(cè)試，而僅用于發(fā)生器的校準(zhǔn)和b)關(guān)于表1和表2,IEC61000-4-11:2004沒(méi)有關(guān)于EUT測(cè)試時(shí)的上升時(shí)間和下降時(shí)間的要求；c)關(guān)于表4,所有要求適用于發(fā)生器的設(shè)計(jì)和校準(zhǔn)。表4的要求僅適用于負(fù)載為100Ω無(wú)感電阻的情況。表4的要求在EUT測(cè)試期間不適用。D.5主要結(jié)論 [1]IEC60050-161:1990InternationalE