離子風(fēng)機(jī)校準(zhǔn)規(guī)范

JJF(電子)XXXX─XXXX離子風(fēng)機(jī)校準(zhǔn)規(guī)范CalibrationSpecificationforIonizer××××-××-××發(fā)布××××-××-××實(shí)施歸口單位：中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院主要起草單位：中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院參加起草單位：深圳賽西信息技術(shù)有限公司北京東方計(jì)量測(cè)試研究所深圳市中明科技股份有限公司本規(guī)范技術(shù)條文委托起草單位負(fù)責(zé)解釋本規(guī)范主要起草人：李道政（中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院）吳永明（深圳賽西信息技術(shù)有限公司）韓玲玲（深圳市中明科技股份有限公司）參加起草人：高志良（北京東方計(jì)量測(cè)試研究所）李雷（中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院）王曉童（中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院）Ⅰ V 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 2 2 2 3 3 4 5 6 6 6 6 7 7 7Ⅱ1ANSI/ESD3.1-2015ForProtectionofElectrostaticDischargeSusceptibleItems。27.1.2被校離子風(fēng)機(jī)產(chǎn)品名稱、制造廠a）將被校離子風(fēng)機(jī)置于空氣流動(dòng)不受任何影響的工作臺(tái)表面上，工作臺(tái)表面應(yīng)為e）啟動(dòng)充電平板檢測(cè)儀衰減時(shí)間和殘余電壓測(cè)量功能。讀取充電平板檢測(cè)儀衰減3）；g）進(jìn)行校準(zhǔn)的日期，如果與校準(zhǔn)結(jié)果的有效性和應(yīng)用有關(guān)時(shí)，應(yīng)說(shuō)明被校對(duì)象的接4附錄A原始記錄格式k=2k=2TP1TP2TP3TP4TP5TP6TP7TP8TP9TP10TP11TP125附錄B校準(zhǔn)證書內(nèi)頁(yè)格式k=2k=2TP1TP2TP3TP4TP5TP6TP7TP8TP9TP10TP11TP126測(cè)量不確定度評(píng)定示例C.1衰減時(shí)間參數(shù)校準(zhǔn)利用離子風(fēng)機(jī)檢測(cè)儀，采用直接測(cè)量法進(jìn)行C.1.1測(cè)量模型tcal=tCPM…………（C.1）C.1.2標(biāo)準(zhǔn)不確定度評(píng)定C.1.2.1離子風(fēng)機(jī)檢測(cè)儀的衰減時(shí)間測(cè)量不準(zhǔn)引入的不確定度分量uB1C.1.2.2測(cè)量重復(fù)性引入的測(cè)量不確定度分量uA測(cè)量重復(fù)性等隨機(jī)因素引入的不確定度分量按A量，測(cè)量次數(shù)n=10，重復(fù)性測(cè)試數(shù)據(jù)見下表。根據(jù)下式，則uA1為：1234567879x Sn(x)/x kuB12uA1//不確定度分量uA1和uB1獨(dú)立不相關(guān)，則合成標(biāo)準(zhǔn)不確定度可計(jì)算C.1.4擴(kuò)展不確定度取值k=2，根據(jù)Urel=uc×k，則擴(kuò)展不確定度為：6.4%，k=2。C.2殘余電壓參數(shù)校準(zhǔn)利用離子風(fēng)機(jī)檢測(cè)儀，采用直接測(cè)量法進(jìn)行C.2.1測(cè)量模型VC.2.2標(biāo)準(zhǔn)不確定度評(píng)定C.2.2.1離子風(fēng)機(jī)檢測(cè)儀殘余電壓測(cè)量不準(zhǔn)引入的不確定度分量uB18C.2.2.2測(cè)量重復(fù)性引入的測(cè)量不確定度分量uA測(cè)量重復(fù)性等隨機(jī)因素引入的不確定度分量按A量，測(cè)量次數(shù)n=10，重復(fù)性測(cè)試數(shù)據(jù)見下表。根據(jù)下式，則uA1為：123456789xSn(x)/xkuB12uA1//不確定度分量uA1、uB1和uB2獨(dú)