DLT417-91執(zhí)行標準與規(guī)范

中華人民共和國電力試驗設(shè)備準及規(guī)范DLT17-91電力設(shè)局部電場量導則規(guī)程概述：DT417-91電力設(shè)備局部放電現(xiàn)場測量導則適用于在變電所現(xiàn)場或?qū)嶒炇覘l件下，利用交流 電壓下的脈沖電力法測量變壓器，互感器，套管，及固體絕緣結(jié)構(gòu)的局部放電。電力設(shè)備局部放電現(xiàn)場測量導則其測定物理量為：a測定電力設(shè)備在某一規(guī)定電壓下的局部放電量；b測定電力設(shè)備局部放電的起始電壓和熄滅電壓；對長DT417-91電力設(shè)備局部放電現(xiàn)場測量導則進行測量時根據(jù)不同試品應參照有關(guān)電力設(shè)備的國家標準或行業(yè)標準中的有關(guān)條款規(guī)定。名詞術(shù)語：1局部放電是指設(shè)備絕緣系統(tǒng)中部分被擊穿的電氣放電這種放電可以發(fā)生在導電附近，也可發(fā)生在其他位置。2視在放電量是指在試品兩端注入一定電荷量使試品端電壓的變化量和局部放電時端電壓變化量相同標準編號：DT417-91規(guī)程名稱：電力設(shè)備局部放電現(xiàn)場測量導則發(fā)布時間：1991-12-02實施時間：1992-04-01發(fā)布部門：中華人民共和國能源部制造廠商：武漢鼎升電力自動化有限責任公司產(chǎn)品名稱：DBJF-H數(shù)字局部放電檢測系統(tǒng) http://ww.kv-kaco/220/Copyright?2014武漢鼎升電力自動化有限責任公司鄂ICP備14004560號武漢鼎升電力自動化有限責任公司 2015-7中華人民共和國電力行業(yè)標準DL417—91電力設(shè)備局部放電現(xiàn)場測量導則中華人民共和國能源部1991-12-02批準 1992-04-01實施1主題內(nèi)容本導則題內(nèi)容是依據(jù)國家標準GB7354—8《局部放電測量規(guī)定的要求結(jié)合現(xiàn)場實際情況，推薦電氣法局部放電試驗的測量方法、測量儀器和校準方法；規(guī)定有關(guān)通用的試驗程序；給出識別試品內(nèi)部放電和外界干擾脈沖的圖譜與說明。2適用范圍本導則主要適用于在變電所現(xiàn)場或試驗室條件下，利用交流電壓下的脈沖電流法測量變壓器、互感器、套管、耦合電容器及固體絕緣結(jié)構(gòu)的局部放電。其測定的物理量為：a.測定電力設(shè)備在某一規(guī)定電壓下的局部放電量；b.測定電設(shè)備局部放電的起始電壓和熄滅電壓。對長電的局部放電試驗，本導則不作介紹。在以本導則進行測量時，根據(jù)不同試品，應參照有關(guān)電力設(shè)備的國家標準或行業(yè)標準中的有關(guān)條款規(guī)定。3名詞術(shù)語3.1局部放電1)是指設(shè)備緣系統(tǒng)中部分被擊穿的電氣放電種放電可以發(fā)生在導體電極)附近，也可發(fā)生在其它位置。注：1)導體(電極)周圍氣體中的局部放電有時稱為“電”這一名詞不適用于其它形式的局部放電“游離是指原子與分子等等形式的電離常不應游離這廣義性名詞用來表示局部放電。3.2視在放電量1)q是在試品兩端注入一定電荷量，使試品端電壓的變化量和局部放電時端電壓變化量相同。此時注入的電荷量即稱為局部放電的視在放電量，以皮庫(pC)表示。注:1)實際上視在放電量與試品實際點的放電量并不相等后者不能直接測得試品放電引起的電流脈沖在測量阻抗端子上所產(chǎn)生的電壓波形可能不同于注入脈沖引起的波形，但通?？梢哉J為這二個量在測量儀器上讀到的響應值相等。3.3局部放電起始電壓Ui是指試驗電壓從不產(chǎn)生局部放電的較低電壓逐漸增加時在試驗中局部放電量超過某一規(guī)定值時的最低電壓值。3.4局部放電熄滅電壓Ue是指試驗電壓從超過局部放電起始電壓的較高值逐漸下降時，在試驗中局部放電量小于某一規(guī)定值時的最高電壓值。4試驗回路和測量儀器4.1試驗回路測量局放電的基本回路有3種，如圖1示，其中圖1(a)、(b)可統(tǒng)稱為直接法測量回路：(c)稱為平衡法測量回路。4.1.1第一種回路主要包括：武漢鼎升電力自動化有限責任公司 2015-7圖1局放電測量的基本回路(a)測量抗與耦合電容器串聯(lián)回路；(b)測量阻抗與試品串聯(lián)回路；(c)平衡回路Zf—高壓濾波器；Cx—試品等效電容；Ck—耦合電容；Z—測量阻抗；Z—調(diào)平衡元件；M—測量儀器a.試品等效電容Cx。b.耦合容Ck。Ck在試驗電壓下不應有明顯的局部放電。c.測量抗Z測量阻抗是一個四端網(wǎng)絡(luò)的元件它以是電阻R或電感L的單一元件，也可以是電阻電容并聯(lián)或電阻電感并聯(lián)的RC和RL電路，也可以由電阻電感電容組成RLC調(diào)諧回路。調(diào)諧回路的頻率特性應與測量儀器的工作頻率相匹配。測量阻抗應具有阻止試驗電源頻率進入儀器的頻率響應。連接測量阻抗和測量儀器中的放大單元的連線，通常為單屏蔽同軸電纜。d.根據(jù)試時干擾情況試驗回路接有一阻塞阻抗Zf以降低來自電源的干擾也能適當提高測量回路的最小可測量水平。e.測量器M。4.1.23種驗回路一般可按下面基本原則選擇：a.試驗電壓下，試品的工頻電容電流超出測量阻抗Zm允許值，或試品的接地部位固定接地時，可采用圖1(a)驗回路。b.試驗電下，試品的工頻電容電流符合測量阻抗Zf允許值時，可采用圖1(b)驗回路。c.試驗電下，圖1(a)、(b)試驗回路有過高的干擾信號時，可采用圖1(c試驗回路。d.當用Model5(英國Robinon公制造)及類似的測量儀器時，應使Ck和Cx后的效電容值在測量阻抗所要求的調(diào)諧電容C的范圍。4.2測量儀器4.2.1測量儀器的頻帶常用的量儀器的頻帶可分為寬頻帶和窄頻帶兩種，其由下列參數(shù)確定：圖2測量器的頻帶(a)寬頻帶；(b)窄頻帶a.下限頻率f1上限頻率f2其定義為對一恒定的正弦輸入電壓的響應A寬頻帶儀器分別自一恒定值下降3dB的一對(上下限頻率窄頻帶儀器分別自峰值下降6dB時的一對(上、下限)頻率，如圖2所。b.頻帶寬Δf：寬頻帶和窄頻帶兩種儀器的頻帶寬度均定義為武漢鼎升電力自動化有限責任公司 2015-7Δf=f2-f1寬頻帶器的Δf與f2有同一數(shù)量級；窄頻帶儀器Δf的數(shù)量級小于f2的數(shù)量級。c.諧振率f0：窄頻帶儀器的響應具有諧振峰值，相應的頻率稱為諧振頻率f0。4.2.2現(xiàn)場測量時儀器的選擇現(xiàn)場進行局部放電試驗時，可根據(jù)環(huán)境干擾水平選擇相應的儀器。當干擾較強時，一般選用窄頻帶測量儀器例如f0=(30~200)KHzΔf=(5~15)KHz當干擾較弱時一般選用寬頻帶測量儀器例如f1=(10~50)KHzf2=(80~400)KHz對于f2=(1~10)KHz的很寬頻帶的儀器，具有較高的靈敏度，適用于屏蔽效果好的試驗室。4.2.3指示系統(tǒng)局部放電的測量儀器按所測定參量可分不同類別。目前有標準依據(jù)的是測量視在放電量的儀器這種儀器的指示方式通常是示波屏與峰值電壓表(pC)或數(shù)字顯示并用用示波屏是必須的。示波屏上顯示的放電波形有助于區(qū)分內(nèi)部局部放電和來自外部的干擾。放電脈沖通常顯示在測量儀器的示波屏上的李沙育(橢圓)基線上。測量儀器的掃描頻率應與試驗電源的頻率相同。5視在放電量的校準確定整試驗回路的換算系數(shù)K，稱為視在放電量的校準，換算系數(shù)K受回路Cx、Ck、Cs(高壓對的雜散電容)及Zm等元件參量的影響。因此，試驗回路每改變一次必須進行一次校準。5.1校準的基本原理視在放量校準的基本原理是：以幅值為U0的方波通過串接容C0試品，此注入的電荷量為U00式中U0——方波電壓幅值，；C0——電容，pF；Q0——電荷量，pC。5.2校準方波的波形校準方的上升時間應使通過校準電容C0的電流脈沖的持續(xù)時間比1/f2要短，校準方波的上升時間不應大于0.1μs，衰減時間通常在100μs到1000μs范圍內(nèi)選取。目前大選用晶體管或汞濕繼電器做成小型電池開關(guān)式方波發(fā)生器，作為校準電源。5.3直接校準將已知荷量Q0注入試品兩端稱為直接校準其目的是直接求得指示系統(tǒng)和以視在放電量Q表征的試品內(nèi)部放電量之間的定量關(guān)系，即求得換算系數(shù)K。這種校準方式是由國家標準GB7354—8《局放電測量推薦的直接法和平衡法測量回路的直接校準電路如圖3所示，其方法是：接好整個試驗回路，將已知電荷量Q0=U0C0入試品兩端，則指示系統(tǒng)響應為L′取下校準方波發(fā)生器加電壓試驗當試品內(nèi)部放電時指示系統(tǒng)響應為L。由此則可得換算系數(shù)Kh為武漢鼎升電力自動化有限責任公司 2015-7圖3直接準的接線(a)直接法測量的直接校準接線；(b)平衡法測量的直接校準接線KhLL則視在電量Q為QU00Kh式中Q——視在放電量，pC；0——波電壓幅值，V；C0——電容，pF；Kh——換算系數(shù)。為了使準保證有一定的精度，C0必須滿足C C .001xC C .010pF式中C——測量阻抗兩端的等值電容。5.4間接校準將已知荷量Q0注入測量阻抗Zm兩端稱為間接校準，其目的是求得回路衰減系數(shù)K1。直接法和平衡法測量回路的間接校準電路，如圖4所示。圖4間接準的接線(a)直接法測量的間接校準接線；(b)平衡法測量的間接校準接線圖4中的Cs是高壓對地的總雜散電容，其值隨試品和試驗環(huán)境的不同而易武漢鼎升電力自動化有限責任公司 2015-7測得的不定值。因此，通常以測量的方式求得回路衰減系數(shù)K1，其方法是：接好整個試驗回路，將已知電荷量Q0注入測量阻抗Zm兩端，則指示系統(tǒng)響應為β。再以一等值的已知電荷量Q0注入試品Cx兩端則指示系統(tǒng)響應為β′這兩個不同的響應之比即為回路哀減系數(shù)K1，即111)1則視在放電量QU001直接法校準時，加電壓試驗的校準方波發(fā)生器需脫離試驗回路，不能與試品內(nèi)部放電脈沖直觀比較。間接法校準時，校準方波發(fā)生器可接在試驗回路并能與試品內(nèi)部放電脈沖進行直觀比較。因此，目前國內(nèi)外的許多檢測儀器均設(shè)計成具有間接校準的功能。注1)雜散電容Cs的影響可忽略時，圖4中的3種線方式的回路衰減系數(shù)為CC11xCCk計算與測表明只要存有很小雜散電容Cs則回路哀減系數(shù)K1會產(chǎn)生很大的誤差因此在許多情況下雜散電容是不能忽略的此時圖4中的3種校準接線的回路衰減系數(shù)Kls為直接法接線時，Zm與Ck串聯(lián)接線C CC Cs1xC CC Ck k直接法接線時，Zm與Ck并聯(lián)接線CC Cs1CC Ck s平衡法線時若Ck和Ck與對地雜散電容Cs接近(以另一類同于Cx的設(shè)備代替Ck或Ck的幾何尺寸及對地距離，均與試品Cx接近)，當電橋平衡時，分布電容Cs對稱，Kls=1。5.5校準時的注意事項5.5.1校準方波發(fā)生器的輸出電壓U0和串聯(lián)電容C0的值要用一定精度的儀器定期測定，如U0一般可用經(jīng)校核好的示波器進行測定；C0一般可用合適的低壓電容電橋或數(shù)字式電容表測定。每次使用前應檢查校準方波發(fā)生器電池是否充足電。5.5.2從C0到CX的引線應盡可能短直C0與校準方波發(fā)生器之間的連線最好選用同軸電纜，以免造成校準方波的波形畸變。5.5.3當更換試品或改變試驗回路任一參數(shù)時，必須重新校準。6電力設(shè)備的局部放電試驗6.1電力設(shè)備局部放電試驗前對試品的要求a.本試驗在所有高壓絕緣試驗之后進行必要時可在耐壓試驗前后各進行一次以資比較