ABB衰減震蕩分析儀微量氣體分析

?ABBGroupJuly23,2024|Slide1LGRIntroduction2015年1月曾鵬自我介紹郵箱:max-peng.zeng@電話號(hào)碼ABBGroupJuly23,2024|Slide2CompanyOverview

?ABBGroup7/23/2024|Slide3Foundedin1994,acquiredbyABBinOctober2013LocatedinSiliconValley(MountainView,California)46Employees(Upfrom32in2013)14Ph.D.scientistsPioneerandworldleaderinlaser-basedgassensingInventedallcavityenhancedabsorptionspectroscopymethodsincludingcavityringdownspectroscopy(CRDS),ICOS,Off-axisICOSManypatents(>12)grantedforanalyticalmethodsHundredsofscientificpapers/articlespublishedinpeer-reviewjournalsServesenvironmental,research,industrial,andmedicalmarketsSold>1000instrumentsonall7continents!?ABBGroup?ABBGroup?ABBGroup?ABBGroup?ABBGroup?ABBGroupLGR痕跡氣體分析儀應(yīng)用?ABBGroup?ABBGroup?ABBGroup?ABBGroup?ABBGroup?ABBGroup?ABBGroup?ABBGroupLGR痕跡氣體分析儀應(yīng)用無(wú)以倫比的優(yōu)異特性大部分實(shí)際抽樣包含多種物質(zhì),這些物質(zhì)在探測(cè)光譜區(qū)對(duì)激光有吸收。其它分子的吸收譜線之間的任何光譜重疊可能通過(guò)改變目標(biāo)吸收譜線的形狀和強(qiáng)度造成串?dāng)_。另外,含有永久偶極的氣體（像二氧化碳或水）濃度的變化甚至可能造成非重疊譜線形狀的細(xì)微變化,例如甲烷——著名的壓致增寬效應(yīng)。在幾個(gè)MHz的分辨率下對(duì)擴(kuò)展光譜進(jìn)行連續(xù)掃描使分析儀的分析軟件能夠識(shí)別并精確校正光譜重疊和/或增寬,以及存在的干擾。因此OA-ICOS具有出色的性質(zhì),其更不易受串?dāng)_或污染影響。同時(shí),OA-ICOS技術(shù)能夠連續(xù)顯示整個(gè)測(cè)量光譜,讓用戶(hù)明確地檢查樣品中的其它物質(zhì)。。?ABBGroupLGR痕跡氣體分析儀應(yīng)用-半導(dǎo)體超微量氣體檢測(cè)無(wú)卓越的準(zhǔn)確度基于光腔的激光吸收技術(shù)OA-ICOS技術(shù),LGR能實(shí)現(xiàn)十億分之一或更佳的精度,即使是在含有多種氣體的復(fù)雜流路中。卓越性能——測(cè)量多種物質(zhì)由于可在更廣泛區(qū)域內(nèi)對(duì)可調(diào)諧激光器的波長(zhǎng)進(jìn)行高分辨率掃描,OA-ICOS儀器能夠輕松地同時(shí)報(bào)告包含多種不同分子（比如、二氧化碳、甲烷、一氧化碳）。例如,用于監(jiān)測(cè)合成氣反應(yīng)器、鋼鐵廠和其它高溫液體的LGR工業(yè)排放分析儀能夠同時(shí)實(shí)時(shí)