(高清版)GB∕T 3323.1-2019 焊縫無損檢測射線檢測第1部分：X和伽瑪射線的膠片技術(shù)

GB/T3323.1—2019代替GB/T3323—2005焊縫無損檢測射線檢測Part1:X-andgamma-raytechniqueswithfilm國家市場監(jiān)督管理總局中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會IGB/T3323.1—2019 Ⅲ 1 13術(shù)語和定義 1 2 3 37推薦的射線檢測技術(shù) 58檢測報(bào)告 附錄A(規(guī)范性附錄)最低像質(zhì)值 附錄B(規(guī)范性附錄)對接環(huán)焊縫100%射線檢測的推薦曝光次數(shù) ⅢGB/T3323.1—2019本部分為GB/T3323的第1部分。本部分按照GB/T1.1—2009給出的規(guī)則起草?！薷牧朔秶?見第1章，2005年版的第1章);——修改了規(guī)范性引用文件(見第2章，2005年版的第2章);——修改了部分術(shù)語定義和符號(見第3章，2005年版的第3章);——增加了符號和縮略語(見第4章);——修改了最低圖像質(zhì)量要求(見6.9,2005年版的5.9);——修改了人員資格(見6.10,2005年版的5.10); 修改了管電壓1000kV以下的X射線機(jī)(見7.2.1,2005年版的6.2.1)附錄A);——?jiǎng)h除了2005年版的附錄D～附錄E。附錄B的順序?！裨黾右昧说韧捎脟H標(biāo)準(zhǔn)ISO5579的GB/T19943(見第1章);12604.2代替了ISO5576(見第3章);●用等同采用國際標(biāo)準(zhǔn)的GB/T23901.1代替了ISO23901.2代替了ISO●用等同采用國際標(biāo)準(zhǔn)的GB/T23901.4代替了ISO●用等同采用國際標(biāo)準(zhǔn)的GB/T●用等同采用國際標(biāo)準(zhǔn)的GB/T9445代替了ISO9712(見6.10);●用修改采用國際標(biāo)準(zhǔn)的GB/T●用等同采用國際標(biāo)準(zhǔn)的GB/T●用等同采用國際標(biāo)準(zhǔn)的GB/TGB/T3323.1—2019本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為：——GB/T3323—1982、GB/T3323—1987、GB/T3323—2005。M1GB/T3323.1—2019焊縫無損檢測射線檢測GB/T9445無損檢測人員資格鑒定與認(rèn)證(GB/T9445—2015,ISO9712:2012,IDT)GB/T12604.2無損檢測術(shù)語射線照相檢測(GB/T12604.2—2005,ISO5576:1997,IDT)GB/T19348,1無損檢測工業(yè)射線照相膠片第1部分：工業(yè)射線照相膠片系統(tǒng)的分類(GB/T19348.1—2014,ISO11699-1:2008,MOD)GB/T19348.2無損檢測工業(yè)射線照相膠片第2部分：用參考值方法控制膠片處理(GB/T19348.2—2003,ISO11699-2:1998,IDT)GB/T19802無損檢測工業(yè)射線照相觀片燈最低要求(GB/T19802—2005,ISO5580:1985,IDT)GB/T19943無損檢測金屬材料X和伽瑪射線照相檢測基本規(guī)則(GB/T19943—2005,ISO5579:1998,IDT)GB/T23901.1無損檢測射線照相檢測圖像質(zhì)量第1部分：線型像質(zhì)計(jì)像質(zhì)值的測定(GB/T23901.1—2019,ISO19232-1:2013,IDT)GB/T23901.2無損檢測射線照相檢測圖像質(zhì)量第2部分：階梯孔型像質(zhì)計(jì)像質(zhì)值的測定(GB/T23901.2—2019,ISO19232-2:2013,IDT)GB/T23901.4無損檢測射線照相檢測圖像質(zhì)量第4部分：像質(zhì)值和像質(zhì)表的實(shí)驗(yàn)評價(jià)(GB/T23901.4—2019,ISO19232-4:2013,IDT)GB/T25758(所有部分)無損檢測工業(yè)X射線系統(tǒng)焦點(diǎn)特性EN12679無損檢測射線檢測工業(yè)射線伽瑪源尺寸的確定(Non-destructivetesting—Radio-graphictesting—Determinationofthesizeofindustrialradiographicgammasources)2GB/T3323.1—2019t3.2W3.33.43.5bd3.63.8fD。b工件—膠片距離b'射線源側(cè)被檢工件表面至膠片的垂直距離D.外徑d源尺寸3GB/T3323.1—2019表1(續(xù))F膠片f射線源—工件距離射線源至被檢工件表面的垂直距離射線源一工件最小距離像質(zhì)計(jì)S射線源射線源一膠片距離t公稱厚度穿透厚度差W透照厚度5射線檢測技術(shù)分級射線檢測技術(shù)分為兩個(gè)等級：當(dāng)A級技術(shù)的靈敏度不能滿足要求時(shí)，采用B級技術(shù)。存在比B級更優(yōu)的技術(shù)，當(dāng)使用更優(yōu)的技射線檢測技術(shù)的選擇應(yīng)由合同各方商定。當(dāng)由于技術(shù)或結(jié)構(gòu)原因不能滿足B級技術(shù)的透照條件時(shí)(例如射線源類型、射線源—工件距離等),經(jīng)合同各方商定，可選用A級技術(shù)規(guī)定的透照條件。此時(shí)，靈敏度的損失可通過將底片的最低黑度提高至3.0或選用較高等級且底片最低黑度為2.6的膠片系統(tǒng)來補(bǔ)償，但B級規(guī)定的其他條件應(yīng)保持不變，特別是應(yīng)達(dá)到的圖像質(zhì)量(見附錄A中表A.1～表A.12)。由于補(bǔ)償后的靈敏度優(yōu)于A級技術(shù)，可認(rèn)為工件是按B級技術(shù)透照的。針對7.1.4和7.1.5的透照布置，若按7.6減小射線源—膠片的距6通則6.1輻射安全防護(hù)如果缺少適當(dāng)?shù)姆雷o(hù)措施，X或伽瑪射線會對人體健康造成重大危害。X射線設(shè)備或放射源的使用應(yīng)符合放射防護(hù)法規(guī)的要求。開展射線檢測工作時(shí)，應(yīng)嚴(yán)格執(zhí)行相關(guān)法律法規(guī)規(guī)定的安全防護(hù)措施。6.2表面處理和檢測時(shí)機(jī)覆層。6.3射線底片上焊縫定位4GB/T3323.1—2019并確保每一區(qū)段標(biāo)記明確無誤。若材料性質(zhì)或使用條件不允許在工件表面上作永久性標(biāo)記時(shí)，可通過透照示意圖或拍照等方式記錄。6.6膠片搭接被透照。應(yīng)將高密度搭接標(biāo)記置于搭接區(qū)的工件表面，并使之能顯示在6.7最低像質(zhì)值金屬材料焊縫射線檢測的最低像質(zhì)值要求見表A.1～表A,12。其他材料射線檢測的像質(zhì)值要求應(yīng)按GB/T23901.4規(guī)定，由合同各方商定。要求執(zhí)行：雙壁雙影透照技術(shù)，A級和B級(w=2t):——使用Ir192,10mm<w≤25mm,允許像質(zhì)值減1;——使用Se75,5mm<w≤12mm,允許像質(zhì)值減1。 使用Ir192,10mm<w≤24mm,允許像質(zhì)值減2;——使用Ir192,24mm<w≤30mm,允許像質(zhì)值減1;——使用Se75,5mm<w≤24mm,允許像質(zhì)值減1。 使用Ir192,10mm<w≤40mm,允許像質(zhì)值減1:——使用Se75,5mm<w≤20mm,允許像質(zhì)值減1。6.8像質(zhì)計(jì)的類型與使用采用GB/T23901.1(絲型像質(zhì)計(jì))或GB/T23901.2(階梯孔型像質(zhì)計(jì))測定射線檢測圖像質(zhì)量。示在黑度均勻的區(qū)段(通常是鄰近焊縫的母材區(qū)域)。按7.1.6和7.1.7的透照布置曝光時(shí)，絲采用7.1.6和7.1.7透照布置時(shí)，像質(zhì)計(jì)可放置于射線源側(cè)或膠片側(cè)。只有當(dāng)像質(zhì)計(jì)無法放置于射5GB/T3323.1—2019側(cè)時(shí)，不必作對比試驗(yàn)。此時(shí)像質(zhì)值按表A.3～表A.12確定。如果采取相關(guān)措施能保證，相同被檢工件或區(qū)域透照部位是以相同的透照參數(shù)和透照技術(shù)進(jìn)行射對比度靈敏度確定要求宜由合同各方商定。間隔放置至少三個(gè)像質(zhì)計(jì)。底片的觀察條件應(yīng)滿足GB/T19802的要求。按本部分實(shí)施射線檢測的人員，應(yīng)按GB/T9445或合同各方商定后進(jìn)行資格鑒定與認(rèn)證，取得射線檢測相關(guān)工業(yè)門類的資格等級證書，并由雇主或其代理對其進(jìn)行崗位7推薦的射線檢測技術(shù)7.1透照方式通常情況下，焊縫射線檢測技術(shù)應(yīng)按圖1～圖19的規(guī)定執(zhí)行。膠片應(yīng)盡可能貼近被檢工件放置。D。大于100mm,或t大于8mm,或焊縫寬度大于D./4的管對接環(huán)焊縫，不宜使用圖11的雙壁雙影橢圓透照技術(shù)。雙壁雙影橢圓透照時(shí)，若t/D。小于0.12,相隔90°透照2次，不滿足條件則相隔外徑D。小于或等于100mm的管對接環(huán)焊縫，雙壁雙影橢圓透照有困難時(shí)，可按7.1.7采用垂直透照技術(shù)(見圖12)相隔120°或60°透照3次。采用圖11、圖13和圖14透照布置時(shí)，射線束入射角度應(yīng)盡可能小，但要防止上下兩側(cè)焊縫影像重疊。在滿足7.6的前提下，采用圖13透照布置時(shí)，f應(yīng)盡可能小。像質(zhì)計(jì)和鉛字“F”應(yīng)緊貼膠片放置。厚度補(bǔ)償。注：對接環(huán)焊縫100%透照時(shí)所需的曝光次數(shù)見附錄B。6GB/T3323.1—2019圖1縱縫單壁透照法的透照布置圖2環(huán)焊縫單壁外透照法的透照布置圖3插入式管座焊縫單壁外透照法的透照布置7GB/T3323.1—2019圖4安放式管座焊縫單壁外透照法的透照布置射線源位于被檢工件內(nèi)側(cè)中心處，膠片位于外側(cè)，見圖5～圖7。FF圖5環(huán)焊縫周向曝光的透照布置圖6插入式管座焊縫單壁中心透照法的透照布置8GB/T3323.1—2019圖7安放式管座焊縫單壁中心透照法的透照布置7.1.5偏心透照法射線源位于被檢工件內(nèi)側(cè)偏心處，膠片位于外側(cè)，見圖8～圖10。S圖8環(huán)焊縫單壁偏心透照法的透照布置圖9插入式管座焊縫單壁偏心透照法的透照布置圖10安放式管座焊縫單壁偏心透照法的透照布置9GB/T3323.1—2019圖12管對接環(huán)焊縫雙壁雙影垂直透照法的透照布置GB/T3323.1—2019圖13環(huán)焊縫雙壁單影透照法的透照布置(像質(zhì)計(jì)位于膠片側(cè))圖15縱縫雙壁單影透照法的透照布置圖16插入式管座焊縫雙壁單影透照法的透照布置GB/T3323.1—2019圖17角焊縫透照布置圖18角焊縫透照布置圖19多膠片技術(shù)透照布置7.2管電壓和射線源的選擇7.2.1管電壓1000kV及以下的X射線機(jī)為獲得良好的檢測靈敏度，宜選擇盡可能低的管電壓。圖20給出X射線透照不同材料和不同厚度時(shí)，所允許使用的最高管電壓。GB/T3323.1—2019對某些被檢區(qū)內(nèi)厚度變化較大的工件透照時(shí)，可使用高于圖20所示的管電壓。但要注意，管電壓過高會導(dǎo)致檢測靈敏度降低。檢測鋼時(shí)最大允許提高50kV,檢測鈦時(shí)最大允許提高40kV,檢測鋁時(shí)最大允許提高30kV。U——X射線管電壓；圖201000kV及以下X射線機(jī)透照不同材料和厚度所允許使用的最高管電壓伽瑪射線和1MeV以上的X射線允許的透照厚度范圍見表2。經(jīng)合同各方商定，采用Ir192時(shí)，最小透照厚度可降至10m操作方便、易于接近被檢部位等優(yōu)點(diǎn)，當(dāng)使用X射線機(jī)有困難時(shí)，可在表2給出的透照厚度范圍內(nèi)使用用伽瑪射線檢測時(shí)，輸送射線源的往返時(shí)間應(yīng)不超過總曝光時(shí)間的10%。GB/T3323.1—2019射線源透照厚度w/mmA級B級Tml70w≤5w≤5Yb169*2≤w≤12Se75%20≤w≤10020≤w≤90Co6040≤w≤20060≤w≤150X射線1MeV～4MeV30≤w≤20050≤w≤180X射線4MeV～12MeVw≥50w≥80X射線>12MeVw≥80w≥100對鋁和鈦，透照厚度：A級時(shí)，10≤w≤70;B級時(shí)，25≤w≤55。對鋁和鈦，透照厚度：A級時(shí)，35≤w≤120。7.3射線膠片系統(tǒng)和金屬增感屏射線檢測所使用的膠片系統(tǒng)類別應(yīng)按GB/T19348.1確定。對不同的射線源，可選用的最低膠片系統(tǒng)類別見表3和表4。使用金屬增感屏?xí)r，膠片與增感屏之間要求接觸良好，可通過使用真空包裝的膠片或適當(dāng)按壓達(dá)到。采用不同射線源透照時(shí)，推薦選用的增感屏材質(zhì)及厚度見表3和表4。射線源透照厚度w/mm膠片系統(tǒng)類別金屬增感屏類型和厚度/mmA級B級A級B級X射線≤100kV一不用屏或用鉛屏(前后)≤0.03X射線>100kV～150kV鉛屏(前后)≤0.15X射線>150kV～250kV鉛屏(前后)0.02～0.15Yb169Tm170w<5不用屏或用鉛屏(前后)≤0.03w≥5鉛屏(前后)0.02～0.15X射線>250kV～500kVw≤50鉛屏(前后)0.02～0.2w>50鉛屏(前)0.1～0.2b;鉛屏(后)0.02～0.2X射線>500kV～1000kVw<75鋼或銅屏(前后)0.25～0.7w>75—鉛屏(前后)0.02～0.2鉛屏(前)0.02～0.2鉛屏(前)0.1～0.2b鉛屏(后)0.02～0.2GB/T3323.1—2019表3(續(xù))射線源透照厚度w/mm膠片系統(tǒng)類別金屬增感屏類型和厚度/mmA級B級A級B級Co60w≤100鋼或銅屏(前后)0.25～0.7°w>100X射線>1MeV～4MeVw≤100鋼或銅屏(前后)0.25～0.7°w>100X射線>4MeV～12MeVw≤100銅、鋼或鉭屏(前)≤1d銅或鋼屏(后)≤1及鉭屏(后)≤0.5100<w≤300w>300X射線>12MeVw≤100不適用鉭屏(前)≤1不用后屏100<w≤300w>300鉭屏(前)≤1鉭屏(后)≤0.5可使用更好的膠片系統(tǒng)類別，見GB/T19348.1。b在工件與膠片之間放置0.1mm附加鉛屏，可使用前屏≤0.03mm的真空包裝膠片。*A級，可使用0.5mm～2mm鉛屏。d經(jīng)合同各方商定，A級可用0.5mm～1mm鉛屏。*經(jīng)合同各方商定可使用鎢屏。表4鋁和鈦射線檢測所適用的膠片系統(tǒng)類別和金屬增感屏射線源膠片系統(tǒng)類別增感屏類型和厚度/mmA級B級X射線≤150kV不用屏或用鉛屏(前)≤0.03;鉛屏(后)≤0.15X射線>150kV～250kV鉛屏(前后)0.02～0.15X射線>250kV～500kV鉛屏(前后)0.1～0.2Yb169鉛屏(前后)0.02～0.15鉛屏(前)0.2h;鉛屏(后)0.1～0.2可使用更好的膠片系統(tǒng)類別，見GB/T19348.1。可用2個(gè)0.1mm鉛屏取代1個(gè)0.2mm鉛屏。7.4射線方向另擇方向進(jìn)行透照。射線檢測的其他透照方法可由合同各方商定。例如，為了有效檢測焊縫坡口未熔GB/T3323.1—2019為減少散射線的影響，射線束透照時(shí)應(yīng)盡可能對準(zhǔn)被檢區(qū)域。當(dāng)采用新的透照布置時(shí)，應(yīng)在每個(gè)暗袋后背貼上鉛字“B”(高度大于或等于10mm,厚度大于或等A級：f/d≥7.5·b2/3 (1)B級：f/d≥15·b2/3 (2)當(dāng)b<1.2t,式(1)和式(2)及圖21中的b可由t取代。fm可按圖21的諾模圖確定。圖2121中的b值可取外徑De。采用雙壁單影透照技術(shù)(見7.1.8),在確定射線源一工件最小距離時(shí)，b值可取t。法時(shí)(見7.1.4圖5),允許的fmm減少值不應(yīng)超過規(guī)定值的50%。在圖像質(zhì)量滿足要求的前提下，經(jīng)合同各方商定可進(jìn)一步減少f。GB/T3323.1—2019圖21確定射線源一工件最小距離fmin的諾模圖平板縱焊縫透照(圖1、圖15、圖17和圖18)和射線源偏心布置透照曲面焊縫(圖2～圖4、圖8～圖射線經(jīng)過厚度均勻評定區(qū)外端的斜向穿透厚度與中心束的透照厚度之比，A級應(yīng)不大于1.2,B級應(yīng)不大于1.1。底片上由于射線穿透厚度變化所引起的黑度值變化的范圍，其下限值不宜低于7.8規(guī)定的數(shù)值，同時(shí)不宜高于觀片燈亮度所允許的最大黑度值。工件被檢區(qū)域應(yīng)包括焊縫和熱影響區(qū)，通常焊對接環(huán)焊縫100%檢測時(shí)推薦的曝光次數(shù)見附錄B。選擇的曝光條件宜使底片的黑度滿足表5的規(guī)定。GB/T3323.1—2019表5底片黑度等級黑度AB允許測量誤差士0.1。經(jīng)合同各方商定，可降為1.5。經(jīng)合同各方商定，可降為2.0。當(dāng)觀片燈亮度滿足7.10規(guī)定時(shí)，可采用較高的底片黑度?？稍u定的最大底片黑度取決于觀片燈及其最大亮度(見GB/T19802)。觀片燈應(yīng)標(biāo)識出可評定的最大底片黑度?；异F度是指未經(jīng)曝光即進(jìn)行暗室處理的膠片的總黑度(片基十乳劑)。為避免膠片老化、顯影或溫7.9膠片處理膠片的暗室處理按照膠片及化學(xué)藥劑制造商推薦的條件進(jìn)行，以獲得選定的膠片系統(tǒng)的性能。特別應(yīng)注意溫度、顯影時(shí)間和沖洗時(shí)間。膠片處理應(yīng)按GB/T19348.2進(jìn)行定期檢查。射線底片上不宜7.10評片條件燈應(yīng)滿足GB/T19802要求。8檢測報(bào)告對檢測結(jié)果進(jìn)行查詢。檢測報(bào)告應(yīng)至少包含以下信息：a)檢測單位；b)工件名稱；c)材質(zhì)；e)焊縫的坡口形式；f)公稱厚度；g)焊接方法；j)透照布置；k)標(biāo)記；GB/T3323.1—2019m)射線源種類和焦點(diǎn)尺寸及所選用的設(shè)備；p)曝光時(shí)間和射線源—膠片距離；r)像質(zhì)計(jì)型號和位置；t)合同各方商定的與本部分的差異說明；v)透照和檢測報(bào)告日期。GB/T3323.1—2019(規(guī)范性附錄)最低像質(zhì)值A(chǔ).1單壁透照技術(shù)；像質(zhì)計(jì)位于源側(cè)最低像質(zhì)值要求見表A.1～表A.4。A級公稱厚度t/mm像質(zhì)值W18W172<t≤3.5W163.5<t≤5W15A級公稱厚度t/mm像質(zhì)值W18W172<t≤3.5W163.5<t≤5W155<t≤7W147<t≤10W13W12W1125<t≤32W1032<t≤40W940<t≤55W855<t≤85W785<t≤150W6150<t≤250W5W4A級公稱厚度t/mm像質(zhì)值H32<t≤3.5H43.5<≤6H56<t≤10H6H7H824<t≤30H930<t≤40H1040<t≤60H1160<t≤100H12100<t≤150H13150<t≤200H14200<t≤250H15250<t≤320H16320<t≤400H17H18B級公稱厚度t/mm像質(zhì)值t≤2.5B級公稱厚度t/mm像質(zhì)值t≤2.5B級公稱厚度t/mm像質(zhì)值t≤1.520A.2雙壁雙影技術(shù)；像質(zhì)計(jì)位于源側(cè)最低像質(zhì)值要求見表A.5～表A.8。表A.5絲型像質(zhì)計(jì)透照厚度w/mm像質(zhì)值w≤1.22<w≤3.5w>380表A.7絲型像質(zhì)計(jì)B級透照厚度w/mm像質(zhì)值w≤1.5W191.5<w≤2.5W182.5<w≤4W174<w≤6W166<w≤8W158<w≤15W14W1325<w≤38W1238<w≤45W1145<w≤55W1055<w≤70W970<w≤100W8100<w≤170W7170<w≤250W6w>250W5表A.6階梯孔型像質(zhì)計(jì)A級透照厚度w/mm像質(zhì)值w≤12<w≤3.53.5<w≤5.5表A.8階梯孔型像質(zhì)計(jì)B級透照厚度w/mm像質(zhì)值w≤1H21<w≤2.5H32.5<w≤4H44<w≤6H56<w≤11H6H720<w≤35H821GB/T3323.1—2019A.3雙壁單影或雙壁雙影技術(shù)；像質(zhì)計(jì)位于膠片側(cè)最低像質(zhì)值要求見表A.9～表A.12。A級透照厚度w/mm像質(zhì)值A(chǔ)級透照厚度w/mm像質(zhì)值A(chǔ)級像質(zhì)值w≤1.22<w≤3.5w>375B級透照厚度w/mm像質(zhì)值w≤2.52.5<w≤5.55.5<w≤9.5B級透照厚度w/mm像質(zhì)值w≤2.52.5<w≤5.55.5<w≤9.5B級透照厚度w/mm像質(zhì)值w≤1.5W191.5<w≤2.5W182.5<w≤4W174<w≤6W166<w≤12W15W14W1330<w≤45W1245<w≤55W1155<w≤70W1070<w≤100W9100<w≤180W8180<w≤300W7w>300W622GB/T3323.1—2019(規(guī)范性附錄)對接環(huán)焊縫100%射線檢測的推薦曝光次數(shù)B.1概述外徑大于100mm的對接環(huán)焊縫100%透照的推薦曝光次數(shù)見圖B.1～圖B.4。如要檢出工件中個(gè)別橫向裂紋，還應(yīng)在圖B.1～圖B.4查出值的基礎(chǔ)上增加曝光次數(shù)。B.2B級技術(shù)推薦曝光次數(shù)當(dāng)穿透厚度差與公稱厚度之比△t/t小于或等于10%(B級)時(shí)，推薦曝光次數(shù)見圖B.1和圖B.2。此技術(shù)有利于檢測出橫向裂紋。圖B.1△t/t=10%(B級)時(shí)，單壁外透照法最少曝光次數(shù)N與t/D。和D./f的關(guān)系GB/T3323.1—2019D,/D,/SFD1成16789000.050.10.153D。21——管壁。最少曝光次數(shù)N與t/D。和D./SFD的關(guān)系GB/T3323.1—2019B.3A級技術(shù)推薦曝光次數(shù)當(dāng)穿透厚度差與公稱厚度之比△t/t小于或等于20%(A級)時(shí)，推薦曝光次數(shù)見圖B.3和圖B.4。只有當(dāng)焊縫中出現(xiàn)橫向裂紋的可能性較小或此類缺欠還采用其他無損檢測方法檢測時(shí)，才推薦使用此圖B.3△t/t=20%(A級)時(shí)，單壁外透照法透照環(huán)焊縫的最少曝光次數(shù)N與t/D。和D?/f的關(guān)系命D./SFD命D./SFD21678N=12500圖B.4△t/t=20%(A級)時(shí)，偏心透照法和雙壁單影透照法透照環(huán)焊縫的最少曝光次數(shù)N與t/D。和D./SFD的關(guān)系ICS29.260.20K35GB/T3836.12—2019/ISO/IEC80079-20-2:2016代替GB/T12476.8—2010,GB/T12476.9—2010,GB/T12476.10—2010爆炸性環(huán)境Part12:Materialcharacteristicsforcombustibledusts—Testmethods(ISO/IEC80079-20-2:Part20-2:MaterialcharacteristicsIGB/T3836.12—2019/ISO/IEC80079-20-2:2016 Ⅲ 1 1 14粉塵樣品要求 24.1試驗(yàn)樣品的接收 24.2試驗(yàn)樣品特性說明 24.3試驗(yàn)樣品制備 24.4試驗(yàn)條件 35測定可燃性粉塵和可燃性飛絮 35.1試驗(yàn)順序 35.2測定物質(zhì)是否是可燃性粉塵或可燃性飛絮的試驗(yàn) 36測定可燃性粉塵或可燃性飛絮特性的程序 47測定物質(zhì)是否是可燃性粉塵或可燃性飛絮的試驗(yàn)方法 77.1改進(jìn)的哈特曼管 77.220L球 87.3對少量試驗(yàn)物質(zhì)的替代試驗(yàn)方法 98測定可燃性粉塵特性的試驗(yàn)方法 9 9 8.3測定粉塵/空氣混合物最小點(diǎn)燃能量的方法 8.4電阻率試驗(yàn) 附錄A(規(guī)范性附錄)熱金屬板表面溫度分布測量 附錄B(資料性附錄)Godbert-Greenwald爐(GG) 附錄C(資料性附錄)火花發(fā)生系統(tǒng)示例 20附錄D(規(guī)范性附錄)垂直管(改進(jìn)的哈特曼管)設(shè)備 25附錄E(資料性附錄)20L球 附錄F(資料性附錄)BAM爐 28附錄G(資料性附錄)粉塵爆炸特性數(shù)據(jù) 附錄H(資料性附錄)1m3容器 ⅢGB/T3836.12—2019/ISO/IEC80079-20-2:2016——第1部分：設(shè)備通用要求；——第3部分：由增安型“e”保護(hù)的設(shè)備； ——第5部分：由正壓外殼“p”保護(hù)的設(shè)備； 第7部分：由充砂型“q”保護(hù)的設(shè)備；——第9部分：由澆封型“m”保護(hù)的設(shè)備；——第11部分：氣體和蒸氣物質(zhì)特性分類試驗(yàn)方法和數(shù)據(jù)；——第12部分：可燃性粉塵物質(zhì)特性試驗(yàn)方法；——第16部分：電氣裝置的檢查與維護(hù)；——第17部分：由正壓房間“p”和人工通風(fēng)房間“v”保護(hù)的設(shè)備；——第18部分：本質(zhì)安全電氣系統(tǒng)；——第20部分：設(shè)備保護(hù)級別(EPL)為Ga級的設(shè)備；——第21部分：設(shè)備生產(chǎn)質(zhì)量體系的應(yīng)用；——第22部分：光輻射設(shè)備和傳輸系統(tǒng)的保護(hù)措施；——第23部分：用于瓦斯和/或煤塵環(huán)境的I類EPLMa級設(shè)備；——第24部分：由特殊型“s”保護(hù)的設(shè)備；——第25部分：可燃性工藝流體與電氣系統(tǒng)之間的工藝密封要求；——第26部分：靜電危害指南；本部分按照GB/T1.1—2009給出的規(guī)則起草。本部分代替GB/T12476.8—2010《可燃性粉塵環(huán)境用電氣設(shè)備第8部分：試驗(yàn)方法確定粉塵最低第9部分：試驗(yàn)方法粉塵層電阻氣混合物最小點(diǎn)燃能量的測定方法》。本部分整合了GB/T12476.8—2010、GB/T12476.9—2010和——修改了粉塵樣品的要求(見第4章，GB/T12476.9—2010的4.1和5.1,GB/T12476.9—2010的第5章，GB/T12476.10—2010的第5章);GB/T3836.12—2019/ISO/IEC80079-20-2:2016——增加了可燃性粉塵和可燃性飛絮的測定(見第5章);-——增加了測定可燃性粉塵或可燃性飛絮特性的程序(見第6章);——修改了粉塵云最低點(diǎn)燃溫度的試驗(yàn)方法(見8.1,GB/T12476.8—2010的第5章); 修改了粉塵層最低點(diǎn)燃溫度的試驗(yàn)方法(見8.2,GB/T12476.8—2010的第4章)——測定粉塵/空氣混合物最小點(diǎn)燃能量的方法(見8.3,GB/T12476.10—2010的第4章和第6章);的第4章、第6章和第7章);——增加了熱金屬板表面溫度分布測量(見附錄A);——增加了垂直管(改進(jìn)的哈特曼管)設(shè)備(見附錄D)。本部分使用翻譯法等同采用ISO/IEC80079-20-2:2016《爆炸性環(huán)境第20-2部分：物質(zhì)特性可——納入勘誤表ISO/IEC80079-20-2:2016/COR1:2017的內(nèi)容；——增加了附錄G中GESTIS-DUST-EX的網(wǎng)絡(luò)地址以便于使用。本部分由中國電器工業(yè)協(xié)會提出。本部分由全國防爆電氣設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC9)歸口。產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心、神華寧夏煤業(yè)集團(tuán)有限責(zé)任公司、招商局港口集團(tuán)股份有限公司赤灣港務(wù)本王巧立。本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為： GB/T12476.8—2010; GB/T12476.9—2010:——GB/T12476.10—2010。1GB/T3836.12—2019/ISO/IEC80079-20-2:2016第12部分：可燃性粉塵物質(zhì)特性試驗(yàn)方法1范圍《爆炸性環(huán)境》的本部分規(guī)定了測定可燃性粉塵和可燃性粉塵層的試驗(yàn)方法，用于對存在這類物質(zhì)的場所進(jìn)行分類，以便正確選擇和安裝可燃性粉塵環(huán)境用電氣設(shè)備和非電氣設(shè)備(機(jī)械設(shè)備等)。測定的可燃性粉塵特性適用于以下環(huán)境條件：—-—空氣中正常氧含量(體積比):通常為21%。本部分規(guī)定的試驗(yàn)方法不適用于：——不需要大氣中的氧即可燃燒的爆炸物質(zhì)或推進(jìn)劑。2規(guī)范性引用文件無。3.1標(biāo)稱尺寸500pm及以下，在標(biāo)準(zhǔn)大氣壓力和溫度下可能與空氣形成爆炸性混合物的微小固體顆粒。3.1.13.1.23.2可燃性飛絮combustibleflyings纖維。2GB/T3836.12—2019/ISO/IEC80079-20-2:20163.3在規(guī)定的試驗(yàn)條件下，儲存在電容器內(nèi)放電能夠有效點(diǎn)燃最敏感的粉塵空氣混合物的最小電氣——加濕。3GB/T3836.12—2019/ISO/IEC80079-20-2:2016注2:試樣制備過程中，出現(xiàn)溶劑后引起變化。應(yīng)在標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境溫度(20±10)℃和標(biāo)準(zhǔn)大氣壓力80kPa～110kPa條件下進(jìn)行試驗(yàn)，另有規(guī)定的情況除外。5測定可燃性粉塵和可燃性飛絮測定可燃性粉塵和可燃性飛絮物質(zhì)特性的試驗(yàn)順序見5.2、第6章以及圖1、圖2和圖3。注2:用哈特曼管(Hartmantube)試驗(yàn)是一種篩選法?？捎?0L球或GG爐直接開始試驗(yàn)程序?！绻镔|(zhì)含有可燃性飛絮和粉塵，用哈特曼管繼續(xù)試驗(yàn)程序(見5.2.3),確定飛絮和粉塵混合在一起是否是可燃性粉塵。在哈特曼管內(nèi)用火花進(jìn)行點(diǎn)燃試驗(yàn)(見7a)如果發(fā)生點(diǎn)燃，則物質(zhì)是可燃性粉塵或可燃性飛絮[繼續(xù)可燃性粉塵或可燃性飛絮的特性試驗(yàn)(見第6章)]。b)如果不發(fā)生點(diǎn)燃：1)在哈特曼管內(nèi)用熱線圈點(diǎn)燃源進(jìn)行試驗(yàn)(見7.1);2)可以假定最小點(diǎn)燃能量大于1J,試驗(yàn)物質(zhì)難以點(diǎn)燃。在哈特曼管內(nèi)用熱線圈點(diǎn)燃源進(jìn)行試驗(yàn)(見7.1):a)如果發(fā)生點(diǎn)燃，則物質(zhì)是可燃性粉塵或可燃性飛絮[繼續(xù)可燃性粉塵或可燃性飛絮的特性試驗(yàn)(見第6章)]。b)如果不發(fā)生點(diǎn)燃：1)繼續(xù)進(jìn)行20L球試驗(yàn)(見7.2);2)可以假定最小點(diǎn)燃能量大于10J。4GB/T3836.12—2019/ISO/IEC80079-20-2:20165.2.420L球點(diǎn)燃試驗(yàn)用20L球進(jìn)行試驗(yàn)(見7.2):(見第6章)]。如果沒有足夠的物質(zhì)進(jìn)行20L球試驗(yàn)，可用1000℃的GG爐進(jìn)行試驗(yàn)作為替代辦法(見7.3):a)如果在1000℃時(shí)未發(fā)生點(diǎn)燃，則物質(zhì)不是可燃性粉塵或可燃性飛絮。b)如果在1000℃時(shí)發(fā)生點(diǎn)燃，則宜進(jìn)一步用20L球進(jìn)行驗(yàn)證，確認(rèn)物質(zhì)是可燃性粉塵或不是a)用下列方法測試粉塵云的最低點(diǎn)燃溫度(MIT)(見第8章):2)BAM爐(見8.1.3);b)進(jìn)行粉塵層MIT試驗(yàn)(見8.2);c)進(jìn)行粉塵云最小點(diǎn)燃能量(MIE)試驗(yàn)(見8.3);5GB/T3836.12—2019/ISO/IEC80079-20-2:2016否是否是粉塵的顆粒否是物質(zhì)不是可燃性粉塵環(huán)境否上升?是爆炸性粉塵環(huán)境適的電氣設(shè)備否物質(zhì)不是可燃性形成爆炸性粉塵環(huán)境圖1測定可燃性粉塵或可燃性飛絮特性流程6GB/T3836.12—2019/ISO/IEC80079-20-2:2016用火花在哈特曼管內(nèi)進(jìn)行點(diǎn)燃試驗(yàn)是是否點(diǎn)燃?否用灼熱線圈在哈特曼管內(nèi)進(jìn)行點(diǎn)燃試驗(yàn)是是否點(diǎn)燃?否物質(zhì)是否夠在20D球內(nèi)進(jìn)行試驗(yàn)?否在1000℃的GG內(nèi)試驗(yàn)是物質(zhì)是可燃性粉爆炸性粉塵環(huán)境2以便能夠選擇合適的電氣設(shè)備是用2×1000J能量在20L球內(nèi)進(jìn)行試驗(yàn)p≥點(diǎn)火器壓力否物質(zhì)不是可燃性粉塵/飛絮，不能形成爆炸性粉塵環(huán)境是是否點(diǎn)燃?否考慮物質(zhì)是可燃性形成爆炸性粉塵環(huán)的情況除外否是圖2確定能夠形成爆炸性粉塵環(huán)境的試驗(yàn)流程(可燃性粉塵/可燃性飛絮)7GB/T3836.12—2019/ISO/IEC80079-20-2:2016MIT試驗(yàn)是否是否否>1kQ·m?性粉塵環(huán)境是7測定物質(zhì)是否是可燃性粉塵或可燃性飛絮的試驗(yàn)8GB/T3836.12—2019/ISO/IEC80079-20-2:2016-——連續(xù)電感火花(電極間隙約4mm,變壓器額定電壓約15kV,額定容量約0.2kVA)。-—灼熱線圈(導(dǎo)線直徑約1.2mm,導(dǎo)線長度約470mm,線圈直徑約11mm,導(dǎo)線溫度至少擴(kuò)散杯底部和點(diǎn)燃源之間的垂直間隔約100mm。試驗(yàn)設(shè)備的詳細(xì)介紹見附錄D。將試驗(yàn)樣品放置在擴(kuò)散杯中，用空氣(50cm3,壓力700kPa～800kPa)吹散。粉塵濃度在250g/m3~1500g/m3變化(典型濃度250g/m3、500g/m3、750g/m3、1000g/m3、1500g/m3),目視觀察粉塵情況。每次點(diǎn)燃嘗試要對不同的量進(jìn)行一次試驗(yàn)，至少進(jìn)行3次點(diǎn)燃嘗試，每次應(yīng)重復(fù)擴(kuò)散粉塵。7.220L球粉塵在密閉耐壓的設(shè)備(20L球)內(nèi)擴(kuò)散，在標(biāo)準(zhǔn)壓力和溫度條件下形成粉塵云。用煙火點(diǎn)火器嘗試點(diǎn)燃粉塵。作為替代方法，也可用1m3容器進(jìn)行試驗(yàn)(參見附錄H)。測定粉塵云點(diǎn)燃性能的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)設(shè)備是20L球形抗爆炸壓力容器。試驗(yàn)設(shè)備的主要組成部分如下：——球形爆炸容器；——粉塵擴(kuò)散系統(tǒng)(回彈噴嘴);——點(diǎn)燃源(2×1000J煙火點(diǎn)火器);——控制裝置；——有不少于兩個(gè)傳感器的壓力測量系統(tǒng)(±10kPa);——擴(kuò)散過壓pz=(2000±100)kPa;——點(diǎn)燃溫度T?=(20±5)℃(水冷)。設(shè)備詳細(xì)介紹參見附錄E。對確定的粉塵/空氣混合物，應(yīng)按下列順序進(jìn)行試驗(yàn)。用空氣吹散爆炸容器內(nèi)的試驗(yàn)物質(zhì)，形成均9GB/T3836.12—2019/ISO/IEC80079-20-2:2016粉塵濃度在250g/m3~1500g/m3變化(典型濃度250g/m3、500g/m3、750g/m3、1000g/m3、1500g/m3),測量壓力增大情況。不同的濃度至少應(yīng)進(jìn)行一次試驗(yàn)。把規(guī)定量的粉塵放置在粉塵箱內(nèi)。粉塵試樣不應(yīng)超過粉塵箱的3/4,粉塵箱保持適當(dāng)正壓。粉塵箱內(nèi)的粉塵必需全部擴(kuò)散至20L球內(nèi)。然后粉塵箱加壓至2000kPa過壓。粉塵擴(kuò)散之后，20L球內(nèi)的壓力應(yīng)為大氣壓力。應(yīng)測量并記錄點(diǎn)燃瞬間20L球內(nèi)的實(shí)際壓力(初始壓力pi)。粉塵開始擴(kuò)散和觸發(fā)點(diǎn)燃源之間的延遲時(shí)間(點(diǎn)燃延遲tv)應(yīng)為(60±5)ms。記錄壓力與時(shí)間的關(guān)系。從壓力/時(shí)間曲線上確定爆炸壓力pex,取壓力傳感器測量的最大值的算術(shù)平均數(shù)(參見附錄E)。如果不同壓力傳感器測得的壓力差值平均大于10kPa,應(yīng)檢查傳感器的如果探測到過壓大于或等于點(diǎn)燃源本身在空氣中產(chǎn)生的過壓加上30kPa,則應(yīng)認(rèn)為發(fā)生了粉塵點(diǎn)燃(粉塵爆炸)。把少量的粉塵吹入加熱到1000℃的垂直管中(GG爐),目視檢查點(diǎn)燃情況。試驗(yàn)設(shè)備主要包括：—-—壁溫能夠達(dá)到1000℃的爐子；試驗(yàn)設(shè)備的詳細(xì)介紹參見附錄B。用空氣吹散爐內(nèi)的試驗(yàn)物質(zhì)。粉塵數(shù)量在0.3g～0.5g范圍內(nèi)變化。擴(kuò)散粉塵的空氣壓力在10kPa～50kPa之間變化。如果不確定是否探測出火焰，試驗(yàn)物質(zhì)應(yīng)認(rèn)為是可燃性粉塵或可燃性飛絮。最終應(yīng)按照7.2的8測定可燃性粉塵特性的試驗(yàn)方法8.1粉塵云MIT下面列出了兩種測量粉塵云MIT的試驗(yàn)方法，即8.1.2的GG爐法和8.1.3的BAM爐法。GB/T3836.12—2019/ISO/IEC80079-20-2:20168.1.2GG爐試驗(yàn)設(shè)備的主要部分如7.3.2所示。用空氣吹散爐內(nèi)的試驗(yàn)物質(zhì)。粉塵數(shù)量在0.05g～0.5g范圍內(nèi)變化(通常為0.1g、0.2g和0.3g)。擴(kuò)散粉塵的空氣壓力在在沒有初始信息的情況下，第一次試驗(yàn)宜在爐壁溫度500℃、粉塵數(shù)量0.3g、空氣壓力30kPa條件下進(jìn)行。如果在500℃時(shí)沒有觀察到點(diǎn)燃，宜增加溫度，每次增加50K,直至達(dá)到600℃。記錄試驗(yàn)結(jié)果，把最低點(diǎn)燃溫度作為按上述程序進(jìn)行試驗(yàn)點(diǎn)燃時(shí)爐子的最低溫度，爐溫高于300℃如果爐溫600℃時(shí)仍然沒有點(diǎn)燃，則應(yīng)在報(bào)告中記錄這一事實(shí)，記錄這時(shí)GG爐能夠達(dá)到的最高注2:沒有限制使用高于600℃的溫度。試驗(yàn)設(shè)備的主要部分如下：——壁溫至少能夠達(dá)到600℃的爐子；典型設(shè)備示例參見附錄F。GB/T3836.12—2019/ISO/IEC80079-20-2:2016粉塵擴(kuò)散后10s之內(nèi)，如果在500℃時(shí)沒有觀察到點(diǎn)燃，宜增加溫度，每次增加50K,直至達(dá)到降低50K,直至嘗試進(jìn)行3次點(diǎn)燃，沒有發(fā)生點(diǎn)燃。如果溫度高于300℃試驗(yàn)仍在繼續(xù)，直至發(fā)現(xiàn)引起點(diǎn)燃的溫度，該溫度比沒有引起點(diǎn)燃的最高溫度最多高20K。如果溫度為300℃或者300℃以下，繼續(xù)進(jìn)行試驗(yàn)，直至達(dá)到引起點(diǎn)燃的溫度，該溫度比沒有引起點(diǎn)燃的最高溫度最多高10K。接下來用最小和最大試驗(yàn)物質(zhì)體積進(jìn)行試驗(yàn)，溫度比最低溫度低10K(或者，如果大于300℃,低20K)進(jìn)行試驗(yàn)。行3次嘗試，沒有發(fā)生點(diǎn)燃。記錄的最低點(diǎn)燃溫度作為按上述程序進(jìn)行試驗(yàn)發(fā)生點(diǎn)燃時(shí)爐子的最低溫度，爐溫高于300℃時(shí)減去20K,爐溫等于或小于300℃時(shí)減去10K。如果爐溫600℃時(shí)沒有發(fā)生點(diǎn)燃，則應(yīng)在報(bào)告中記錄這一事實(shí)，記錄這是BAM爐能夠達(dá)到的最高溫度。如果最高試驗(yàn)溫度低于600℃時(shí)沒有發(fā)生點(diǎn)燃，則也應(yīng)在報(bào)告中說明沒有發(fā)生點(diǎn)燃的最高溫度。8.2粉塵層MIT試驗(yàn)設(shè)備由加熱板和粉塵環(huán)構(gòu)成。受熱表面應(yīng)由一圓形金屬板構(gòu)成，并且應(yīng)能提供直徑至少為200mm和厚度至少為20mm的工作a)受熱表面上沒有粉塵層時(shí)應(yīng)能達(dá)到400℃的最高溫度。c)當(dāng)受熱表面達(dá)到穩(wěn)定狀態(tài)，用附錄A中規(guī)定的程序通過直角上的兩個(gè)直徑測量時(shí)，整個(gè)表面的溫度應(yīng)始終穩(wěn)定在±5K的范圍內(nèi)。標(biāo)稱表面溫度為200℃和350℃時(shí)應(yīng)滿足此項(xiàng)要求。d)在形成粉塵層期間，溫度控制應(yīng)使記錄的表面溫度波動不超過±5K,在形成粉塵層的5min形成粉塵層時(shí)不應(yīng)壓縮粉塵層。應(yīng)通過金屬環(huán)頂部劃一直角，測量粉塵層厚度。多出的粉塵應(yīng)層。金屬環(huán)的標(biāo)稱內(nèi)徑應(yīng)為100mm,試驗(yàn)期間金屬環(huán)應(yīng)留在原處。對規(guī)定粉塵進(jìn)行試驗(yàn)時(shí)，粉塵層厚GB/T3836.12—2019/ISO/IEC80079-20-2:2016測量溫度。試驗(yàn)過程中溫度測量時(shí)間間隔應(yīng)為1min。應(yīng)為15℃~35℃。設(shè)備應(yīng)安裝在能夠抽出煙霧和煙塵的防護(hù)罩下。受熱表面的溫度應(yīng)調(diào)整到要求值，并且應(yīng)使其穩(wěn)定在8.2.2規(guī)定的限值內(nèi)。金屬環(huán)內(nèi)應(yīng)充入受試粉塵至規(guī)定高度。然后應(yīng)開始記錄粉塵層溫度。試驗(yàn)應(yīng)繼續(xù)進(jìn)行，直至確定粉塵層已被點(diǎn)燃，或者粉塵層被加熱至高于金屬板溫度而沒有被點(diǎn)燃(自加熱),隨后溫度下降。如果出現(xiàn)下列現(xiàn)象應(yīng)認(rèn)為發(fā)生點(diǎn)燃：b)測得粉塵層的溫度為450℃;或者c)在粉塵層中測得溫升高于受熱板的溫度250K。如果30min之后，溫度沒有進(jìn)一步升高，宜結(jié)束試驗(yàn)，并以較高的溫度再進(jìn)行試驗(yàn)。如果發(fā)生點(diǎn)燃，應(yīng)以較低溫度重復(fù)進(jìn)行試驗(yàn)。如果需要，延長試驗(yàn)時(shí)間使之超過30min。繼續(xù)進(jìn)行試驗(yàn)直至達(dá)到足以點(diǎn)燃粉塵層的溫度，但是此溫度高于不會引起點(diǎn)燃的溫度不超過10K。約整至在規(guī)定厚度的粉塵層中發(fā)生點(diǎn)燃時(shí)的最低溫度，接近10℃的整倍數(shù)。如果發(fā)生點(diǎn)燃時(shí)的溫度已經(jīng)是10K的整倍數(shù)，不約整去掉10K。沒有發(fā)生點(diǎn)燃或認(rèn)為不發(fā)生點(diǎn)燃時(shí)的最高溫度值也應(yīng)予以記錄。該溫度應(yīng)比發(fā)生點(diǎn)燃或認(rèn)為發(fā)生點(diǎn)燃時(shí)的最低溫度低，但不超過10K,該溫度應(yīng)至少經(jīng)3次試驗(yàn)驗(yàn)證確認(rèn)。在本部分中，如果受熱表面溫度低于400℃時(shí)，粉塵層沒有發(fā)生點(diǎn)燃，則應(yīng)停止試驗(yàn)。這種情況也應(yīng)作為試驗(yàn)結(jié)果記錄下來。到發(fā)生點(diǎn)燃的時(shí)間，或者沒有發(fā)生點(diǎn)燃時(shí)達(dá)到最高溫度的時(shí)間，應(yīng)從受熱表面上放置粉塵層大約試驗(yàn)報(bào)告應(yīng)說明已經(jīng)按照本部分的規(guī)定進(jìn)行了粉塵層最低點(diǎn)燃溫度測定。點(diǎn)燃試驗(yàn)的記錄方式如表1所示(用表面溫度降低的順序顯示結(jié)果，不用試驗(yàn)順序記錄結(jié)果)。GB/T3836.12—2019/ISO/IEC80079-20-2:2016粉塵層厚度表面溫度℃試驗(yàn)結(jié)果發(fā)生點(diǎn)燃的時(shí)間或未發(fā)生點(diǎn)燃達(dá)到高溫度值的時(shí)間粉塵層最高溫度℃5點(diǎn)燃點(diǎn)燃未點(diǎn)燃未點(diǎn)燃未點(diǎn)燃未點(diǎn)燃應(yīng)按照8.2.6的規(guī)定記錄每一粉塵層厚度的點(diǎn)燃溫度。在表1給出的示例中，5mm厚粉塵層的最低點(diǎn)燃溫度宜記錄為170℃。受熱表面溫度與記錄的最低點(diǎn)燃溫度相差超過±20K的試驗(yàn)不必記錄。本部分介紹的試驗(yàn)裝置通過電子產(chǎn)生的高壓直流火花測量粉塵/空氣混合物的最小點(diǎn)燃能量。附錄C介紹了一些合適的電路形式，所有這些電路應(yīng)建議的試驗(yàn)容器為改進(jìn)的哈特曼管(見圖4)。其他類型的容器，如果符合8.3.3的校準(zhǔn)要求，也可使用。改進(jìn)的哈特曼管采用透明材料制成，容積1.2L,作為爆炸容器使用。管子基部的粉塵擴(kuò)散系統(tǒng)為GB/T3836.12—2019/ISO/IEC80079-20-2:2016“蘑菇形狀”,周圍松散的分布著樣品。用壓縮空氣以700kPa的過壓把粉塵擴(kuò)散到玻璃圓筒內(nèi)，用兩個(gè)電極之間的火花點(diǎn)燃。單位為毫米圖4改進(jìn)的哈特曼管8.3.3試驗(yàn)程序在大氣壓力和環(huán)境溫度下，將被試可燃性粉塵均勻地?cái)U(kuò)散到空氣中，使粉塵/空氣混合物承受充電電容產(chǎn)生的火花放電。放電能量由下式計(jì)算：W=0.5C×U2式中：W——儲存的能量，單位為焦耳(J);C——總放電電容量，單位為法拉(F);U——充電電容電壓，單位為伏特(V)。注1:當(dāng)火花能量超過100mJ時(shí)，火花電阻會變得很小，與火花電阻相比，電路電阻則不可忽視，尤其當(dāng)電路中含有1mH量級的電感線圈時(shí)。在此情況下，火花的靜能量可由下式得出：式中：I(t)——U(t)——火花電流；火花電壓，二者均由測量得出。可能對試驗(yàn)產(chǎn)生影響的下列因素也應(yīng)考慮：——點(diǎn)燃延遲時(shí)間(即湍流);——粉塵濃度；——電容充電電壓；——電容的電容量；GB/T3836.12—2019/ISO/IEC80079-20-2:2016——放電電路電感；路電阻應(yīng)盡可能保持最小。用一定濃度的受試粉塵/空氣混合物，以一定能引起點(diǎn)燃的點(diǎn)燃能量值開始試驗(yàn)。對粉塵濃度，逐步降低火花能量(例如降低50%),直至每個(gè)火花能量的10次試驗(yàn)中，粉塵云不改變粉塵濃度(750mg、1200mg、2000mg、3000mg),以第1步中找到的最小能量繼續(xù)試驗(yàn)程序。如果任一粉塵濃度的試驗(yàn)中發(fā)生一次點(diǎn)燃，則以該濃度重復(fù)第1步的試驗(yàn)。發(fā)生點(diǎn)燃的最高能量。最小點(diǎn)燃能量Wmin(MIE)介于不發(fā)生點(diǎn)燃的最高能量W?和發(fā)生點(diǎn)燃的最低能量W?之間。W?<Wmin<W?8.3.4對通過電產(chǎn)生的高壓直流火花測定的最小點(diǎn)燃能量(MIE)進(jìn)行校準(zhǔn)應(yīng)對有效的基準(zhǔn)粉塵進(jìn)行校準(zhǔn)試驗(yàn)。 不發(fā)生點(diǎn)燃的最高能量W——發(fā)生點(diǎn)燃的最低能量W?。應(yīng)按下列程序測量粉末電阻率。把固定體積的粉末裝進(jìn)有兩個(gè)電極的特定測量單元內(nèi)。測量兩個(gè)電極之間的電阻。距離10mm,與絕緣棒的兩個(gè)相對應(yīng)壁安裝在一起。絕緣棒高度10mm,放置在絕緣基座上(見圖5)。電極厚度在5mm～10mm之間。電極之間的電阻R應(yīng)大于100TΩ。測量單元的準(zhǔn)確尺寸值對于GB/T3836.12—2019/ISO/IEC80079-20-2:2016單位為毫米2——聚四氟乙烯(PTFE);把電極連接到兆歐表上。應(yīng)采用已知的高電阻值定期校核兆歐表。可把有保護(hù)罩的電極放置在測測量程序如下：a)把一定量未經(jīng)處理的原始粉塵倒進(jìn)試驗(yàn)電極之間。c)施加下列直流電壓值10s,測量充滿粉塵的試驗(yàn)單元電極之間的電阻R:(105±10)V、(500±25)V、(1000±50)V。施加每一個(gè)電壓值時(shí)，可使用試驗(yàn)單元內(nèi)同樣的粉塵樣品進(jìn)行全部試注：在多數(shù)情況下，(105±10)V的試驗(yàn)電壓就足夠了，較高電壓可能會導(dǎo)致有害的物理或化學(xué)影響，但是一些粉塵在較高電壓下會顯示導(dǎo)電性。d)用下式計(jì)算所有試驗(yàn)電壓下粉塵的電阻率p:p=0.001×R×H×W/LGB/T3836.12—2019/ISO/IEC80079-20-2:2016電阻率小于或等于1×103Ω·m應(yīng)為ⅢC類導(dǎo)電性粉塵。電阻率大于1×103Ω·m應(yīng)為ⅢB類非9試驗(yàn)報(bào)告在記錄試驗(yàn)樣品物質(zhì)特性的試驗(yàn)報(bào)告中通常應(yīng)包括下列詳細(xì)內(nèi)容：a)樣品描述[名稱和化學(xué)性質(zhì)(如果名稱中沒有說明)]。b)樣品來源或起源。c)樣品預(yù)處理。e)物質(zhì)形式(可燃性飛絮或可燃性粉塵)。g)根據(jù)本部分測定的試驗(yàn)結(jié)果：1)可燃性粉塵或飛絮/非可燃性粉塵或飛絮；i)使用的試驗(yàn)設(shè)備描述。j)設(shè)備計(jì)量(按照國家標(biāo)準(zhǔn))。k)負(fù)責(zé)試驗(yàn)人員簽名。GB/T3836.12—2019/ISO/IEC80079-20-2:2016(規(guī)范性附錄)熱金屬板表面溫度分布測量圖A.1所示是對熱金屬板表面溫度分布進(jìn)行測量，整個(gè)金屬板的最大溫差應(yīng)為5K。設(shè)定點(diǎn)溫度的最大偏差應(yīng)為8K。℃344346342346346圖A.1典型表面溫度分布(方法A)GB/T3836.12—2019/ISO/IEC80079-20-2:2016(資料性附錄)GG爐中硼硅酸鹽玻璃管的長度為210mm±10mm(見圖B.1)。 粉塵擴(kuò)散腔：5——電磁閥； 圖B.1通過GG爐的垂直橫截面20GB/T3836.12—2019/ISO/IEC80079-20-2:2016(資料性附錄)C.1概述C.2、C.3、C.4和C.5列舉了四種用于該試驗(yàn)的火花發(fā)生電路設(shè)計(jì)圖。不同的爆炸容器均可使用這象而出現(xiàn)的邊界效應(yīng)。這些現(xiàn)象包括電容器輔助充電/放電。圖C.1是試驗(yàn)裝置的總體布置。圖C.1電路——用兩個(gè)電極系統(tǒng)——通過高壓繼電器放電Up=U?×C,/(C。+Cp)利用下式計(jì)算火花能量E:E=0.5×(C。+Cp)×Up2從儲能電容C。得出電荷Qo=U?×C?。接通HVR繼電器之后，電荷保留，但是電壓U。降低至Up。該觸發(fā)電路僅適用于能量非常低的火花。對于大于10mJ的能量，高壓繼電器不能處理高放電電流。GB/T3836.12—2019/ISO/IEC80079-20-2:2016C.2通過使用三極系統(tǒng)的輔助火花放電試驗(yàn)裝置的總體布置見圖C.2。ACAC2MMVRHvcuMVCF—--—控制裝置；CAR——壓縮空氣罐；圖C.2測定粉塵最小點(diǎn)燃能量裝置(示意圖)——通過使用三極系統(tǒng)的輔助火花放電基本元件是一個(gè)三極火花間隙，其中二極形成直徑為3.2mm的主火花放電間隙(1),越過20mm向混合物攪拌裝置內(nèi)加入預(yù)定量的粉塵之后，把管子安放就位。用高壓充電器(HVCU),通過充電電阻R向儲存點(diǎn)燃能量的試驗(yàn)電容C(20pF～10000pF)充電，充電電流限制為1mA。用控制裝置CF嘗試點(diǎn)燃粉塵/空氣混合物。每次嘗試點(diǎn)燃時(shí)，首先觸發(fā)粉塵擴(kuò)散裝置將粉塵擴(kuò)散成懸浮狀，在預(yù)定的時(shí)間間隔之后，通過輔助火花觸發(fā)試驗(yàn)電容主火花放電。輔助電路的能量限制在不超過主放電電路能量的十分之一。GB/T3836.12—2019/ISO/IEC80079-20-2:2016C.3通過電極移動放電試驗(yàn)裝置的總體布置見圖C.3。2——PTFE限動塊；5——PTFE絕緣件；圖C.3測定粉塵最小點(diǎn)燃能量裝置(示意圖)——通過電極運(yùn)動放電將聚四氟乙烯(PTFE)限動塊(2)安裝在開啟式哈特曼管(1)的二極安裝孔上。限動塊上設(shè)有孔，以便電極(3)能移動穿過。其中一只地電位電極與測微螺旋(4)的測桿相連。千分尺的軛縮短，固定到工作壓力為600kPa)的壓桿相連，活塞的工作量程為高壓電極與電容(7)電氣連接，電容容量在26pF～311μF之間。電容充電的電壓由靜電電壓表(8)顯示。從電容電路上斷開高壓發(fā)生器(9)之后，從壓力容器(10)中以電一氣動的方式釋放空氣，壓力容器內(nèi)的壓力使粉塵擴(kuò)散懸浮形成粉塵/空氣混合物。經(jīng)過定時(shí)器(11)設(shè)定的延時(shí)之后，將高壓電極射入規(guī)C.4通過升壓放電(微電流起電電路)試驗(yàn)裝置的總體布置見圖C.4。GB/T3836.12—2019/ISO/IEC80079-20-2:20161——直流電壓源；圖C.4測定粉塵最小點(diǎn)燃能量裝置(示意圖)——通過升壓放電有相同的能量。電路中加入一阻值在10?Ω~10°Ω之間的限流電阻。用靜電電壓計(jì)串聯(lián)一個(gè)阻值在10?Ω~10?Ω之間的去耦合電阻，測量通過電容的電勢。利用該電路，通過改變電容值，如果需要也改在粉塵裝入點(diǎn)燃容器之前確定所需能量火花的整定值。選擇合適參數(shù)的電容，電壓范圍在10kV～30kV之間選擇。試著調(diào)節(jié)電壓及電極間隙，直至電極上產(chǎn)生所需能量的火花，該能量由C.5利用常規(guī)兩極系統(tǒng)通過輔助火花放電——放電電路中的觸發(fā)變壓器試驗(yàn)裝置總體布置見圖C.5。24GB/T3836.12—2019/ISO/IEC80079-20-2:2016C—-主電容；CTr——觸發(fā)電路電容；圖C.5測定粉塵最小點(diǎn)燃能量裝置(示意圖)——放電電路中觸發(fā)變壓器沒有電感的試驗(yàn)不能使用該電路。C是帶初始電壓U的放電電容。電容范圍從40pF向下逐步減小，每次減少10pF?？勺冸妷簭?000V向下變化(400V～500V是實(shí)際上的最小級別),可得到0.5CU2的較大選擇范圍。在預(yù)定時(shí)刻開始火花放電，如果這一時(shí)刻對火花放電與瞬時(shí)粉塵云同步形成很重要，那么通過由電容Crr、開關(guān)S和觸發(fā)變壓器T原邊線圈構(gòu)成的觸發(fā)電路來完成。關(guān)閉開關(guān)，在變壓器副邊線圈中產(chǎn)生大約15kV峰值的高壓脈沖，擊穿火花放電間隙G,從而使主電容C放電。試驗(yàn)顯示，通過低于2mJ～5mJ的觸發(fā)火花使輸入火花間隙的能量降低非常困難。因此，該觸發(fā)原理僅適用于火花能量大于5mJ的情況。用常規(guī)的方法，通過測量火花間隙的電流和電壓確定不同的C和U組合產(chǎn)生的火花凈能量，作為時(shí)間-功率時(shí)間曲線積分的函數(shù)。二極管D的作用是產(chǎn)生單向放電。觸發(fā)變壓器副邊線圈中的自感宜為1mH～2mH。25GB/T3836.12—2019/ISO/IEC80079-20-2:2016(規(guī)范性附錄)垂直管(改進(jìn)的哈特曼管)設(shè)備圖D.1是改進(jìn)的哈特曼管設(shè)備的布局截面圖。10—電磁閥；12——空氣。圖D.1垂直管設(shè)備(改進(jìn)的哈特曼管)26GB/T3836.12—2019/ISO/IEC80079-20-2:2016(資料性附錄)爆炸容器是由不銹鋼制成的耐爆炸球體，內(nèi)部容積20L。用水套擴(kuò)散爆炸時(shí)產(chǎn)生的熱量。試驗(yàn)輔助活塞使快動閥氣動打開和閉合。壓縮空氣閥門用電氣方法打開。點(diǎn)燃源位于球中心。壓力測量系統(tǒng)至少包括兩個(gè)壓力傳感器、記錄設(shè)備和控制設(shè)備(見圖E.1)。壓力容器的設(shè)計(jì)宜能承受至少2000kPa的過壓。壓力容器有形成真空的裝置。7-—回彈噴嘴；圖E.1試驗(yàn)設(shè)備20L球(示意圖)27GB/T38