GB 4214.1-2000-T 聲學(xué) 家用電器及類似用途器具噪聲 測試方法 第1部分 要求

1)國際電工委員會(IEC)是由所有國家電工委員會(IEC國家委員會)組成的世界范圍聯(lián)合組織。權(quán)參加該項目的起草準(zhǔn)備工作。與IEC有聯(lián)系的政府和國際標(biāo)準(zhǔn)最終草案(FDIS)表決報告中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)聲學(xué)家用電器及類似用途器具噪聲第1部分：通用要求本標(biāo)準(zhǔn)的通用要求(第1部分)適用于由電網(wǎng)供電或電池供電的家用及類似用途電器，包括它們的 ISO12001中對不同噪聲作了分類，GB/T3767中所列方法適用于家用電器各種噪聲的測量。1.2測定量將用到以下量—A計權(quán)聲功率級Lwa;國家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局2000-03-16批準(zhǔn)2000-12-01實施用于測定聲功率級的精密法(依ISO12001為一級),例如在GB/T6881和GB/T6882中所述的方若對于同一器具不同的測量其測量結(jié)果不一致，但仍在預(yù)定的標(biāo)準(zhǔn)偏差之內(nèi)，則有必要采用GB/T3767—1996聲學(xué)聲壓法測定噪聲源聲功率級反射面上方近似自由場的工程法GB/T4129-1995聲學(xué)噪聲源聲功率級的測定標(biāo)準(zhǔn)聲源的性能要求與校準(zhǔn)GB/T6881—1986聲學(xué)噪聲源聲功率級的測定混響室精密法和工程法GB/T6882-1986聲學(xué)噪聲源聲功率級的測定消聲室和半消聲室精密法ISO3743-1;1994聲學(xué)--噪聲源聲功率級的測定一混響室小型、可移動聲源的工程法一第一部ISO12001:1996聲學(xué)-機器與設(shè)備發(fā)射的噪聲—噪聲測試規(guī)程的起草與提交規(guī)則3.2測量時段measurementtimeinterval3.3運行階段operationalperiod3.4運行周期operationalcycleGB/T4214.1-23.6標(biāo)準(zhǔn)試驗操作員standardte3.7聲源定位中心或位置centeroflo墻面的投影)的中心重合3.8背景噪聲修正值K?backgroundnoisecorrection3.9環(huán)境修正值K,environmentalindicator4.2直接法—對于反射面上方的近似自由場條件下，測量表面上的時間平均聲壓級和測量表面面積；這一方法所得結(jié)果直接從所測聲壓級中計算而得到，用A計權(quán)聲功率級(如必要以倍頻帶聲功率專用混響室的設(shè)計導(dǎo)則見ISO3743-2附錄A。背景噪聲的要求見ISO3743-1、ISO3743-2和GB/T3767—1996的第4章。與按各傳聲器位置處對儀器系統(tǒng)及其校準(zhǔn)的要求見ISO3743-1,ISO3743-2與GB/T3767—1996的第5章。測試儀器應(yīng)符合GB/T3785或GB/T17181中對1型儀器的要求。對于倍頻程的測量，儀器應(yīng)符5.2.2相對濕度用絕對準(zhǔn)確度為±2%的儀器測量。5.3.3發(fā)動機、附件等設(shè)備的轉(zhuǎn)速用準(zhǔn)確度為=1%的轉(zhuǎn)速表測量。如制造商無明確規(guī)定，供水壓力應(yīng)為240kPa±50kPa,冷水溫度應(yīng)為15℃±2C,熱水溫度應(yīng)為6.3氣候條件大氣壓總體要求見ISO3743-1,ISO3743-2與GB/T3767-1996的6.5規(guī)定。除本標(biāo)準(zhǔn)特殊要求部分另應(yīng)遵循ISO3743-1,ISO3743-2和GB/T3767—1996的6.1至6.3的要求。除在特殊要求部分另對于帶剛性壁面的測試室或?qū)Ｓ没祉懯?，將被測器具及固定架安放在測試室的地面上，器具的任何表面(包括突出的部分)與最近的墻的距離最小為1m。對于反射面上方的近似自由場環(huán)境，將被測器具及固定架安放在反射面上，同時考慮其測量表面的形狀和大小。6.5.3對于靠墻放置的落地式器具，包括嵌入式器具用的柜子及臺面，應(yīng)放在地面上，器具的背面與垂直壁面或反射面之間的距離為15cm±5cm,注意避免器具突出部分與壁面的接觸。除器具本身要求之對于帶剛性壁面的測試室或?qū)Ｓ没祉懯?，將被測器具放在測試室的地面上，器具的背面與垂直壁面或反射面之間的距離為15cm±5cm,其他面與測試室鄰近墻的距離不小于1.5m。對于反射面上方的近似自由場環(huán)境，將被測器具安放在反射面上，器具的背面與第二垂直反射面之間的距離為15cm±5cm,同時考慮其測量表面的形狀和大小。對于帶剛性壁面的測試室或?qū)Ｓ没祉懯遥瑢⒈粶y器具安裝在測試室的壁面上。對于反射面上方的近似自由場環(huán)境，將被測器具安放在測試室的第二反射面上。器具的最低邊離地面的高度應(yīng)符合制造商的要求。對于此類器具，如果初步測試表明聲功率級的測試值在安放位置不同時沒有顯著區(qū)別，則可采用6.5.1所述的落地式器具的測試位置。6.5.5器具應(yīng)根據(jù)制造商說明書的規(guī)定，內(nèi)置于滿足要求的櫥子內(nèi)或臺面上。7.1反射面上方近似自由場中的傳聲器的布置以及標(biāo)準(zhǔn)聲源(RSS)的位置應(yīng)遵循GB/T3767—1996的7.1到7.4的規(guī)定。除在特殊要求部分另有說明之外，測量表面和測點位置規(guī)定如下：(對被測器具有兩種測量表面，但只能選擇其中一種：傳聲器也只能選擇幾種測點布置7.1.1對于自由放置的落地式器具，包括嵌入式器具，測量表面是帶有九個測點的矩形六面體，見GB/T3767-1996的7.3.1和本標(biāo)準(zhǔn)圖1?？梢勒誈B/T3767--1996的7.3.2增加測點，也可根據(jù)GB/T3767--1996的7.4.2減少測點。N2圖1自由擱置落地式器具的矩形六面體測量表面上的測點位置GB/T4214.1-2000圖2,測量表面為矩形六面體，帶有六個測點。可依據(jù)GB/T3767—1996的7.3.2增加測點，也可依據(jù)GB/T3767—1996的7.4.2減少測點。Noxy2NaNa6ap十、1二20.25cp十、1二20.25c0.50cy0bb一b0b-bbccZ8gdX2L?=c7.1.4對于基準(zhǔn)體的每一邊長不超過0.7m,對于放置于水平反射面上的柜式或臺式等落地式器具和手持式器具(固定于測試架),測量表面為半球面，帶有十個測點。見GB/T3767—1996的7.2.1和本標(biāo)準(zhǔn)圖4?？梢勒誈B/T3767--1996的7.2.2增加測點，也可依據(jù)GB/T3767—1996的7.2.1改變測點數(shù)和測點位置。如基準(zhǔn)體的邊長超過0.7m,應(yīng)采用7.1.1中所述的測點位置和測量表面。半球面測量表面的半徑r優(yōu)先采用2m,但在任何情況下不得小于1.5m。N?z/Ry/Rz/R00123456000123456000789圖4手持式、臺式和落地式器具的半球面測量表面上的測點位置7.1.5基準(zhǔn)體的邊長l?和l?不超過0.4m,并且l?不超過0.8m,靠墻放置的小型落地式器具(例如擦皮鞋機),測量表面為四分之一球面，帶五個測點。見GB/T3767-1996的7.2.1和本標(biāo)準(zhǔn)圖5。Nx/Ry/Rz/R0.756YX采用上述五個測點時，通常所測得的最大聲壓級與最小聲壓級之差應(yīng)小于5dB。當(dāng)該條件不能滿S=4(ab+bc十ca)…7一aS==4(ab+bc+ca)b0bbbCc圖6立式器具的矩形六面體測量表面上的測點位置7.1.7如果被測器具輻射的噪聲穩(wěn)定，允許采用不固定的測點，而采用可沿一路徑移動的傳聲器法進(jìn)7.1.8標(biāo)準(zhǔn)聲源(RSS)的位置見GB/T3767-1996附錄A。7.2帶剛性壁面的測試室的傳聲器布置和標(biāo)準(zhǔn)聲源(RSS)的位置注7.3專用混響室中傳聲器的布置和標(biāo)準(zhǔn)聲源(RSS)的位置見ISO3743-1的7.1～7.7。注一般來講，采用比較法時，標(biāo)準(zhǔn)聲源(RSS)的測點和位置數(shù)與被測器具測試時的測點和位置數(shù)相同。標(biāo)準(zhǔn)聲源放置在地面上，并使其基準(zhǔn)體的中心投影與被測器具基準(zhǔn)體的中心投影重合。反射面上方的自由場的測量，見GB/T3767-1996的7.5;帶剛性壁面的測試室中的測量，見ISO3743-1的7.7;專用混響室的測量，應(yīng)遵循ISO3743-2第7章。GB/T4214.1-2000---在被測器具運行期間每一測點(或每一個傳聲器采樣路徑)的時---在標(biāo)準(zhǔn)聲源發(fā)聲期間每一測點(或每一個傳聲器采樣路徑)的時間平均倍頻帶聲壓—在被測器具運行期間的A計權(quán)或倍頻帶時間平均聲壓級。在帶剛性壁面的測試室中測量時，應(yīng)滿足ISO3743-1的7.8和第8章的要求；在專用混響室中測1996的第8章的要求。8.1背景噪聲級的修正聲壓級之差小于6dB).只要被測聲壓級L'wA比背景噪聲聲壓級I”A大6dB,A計權(quán)的測量值仍然有當(dāng)在反射面上方自由場環(huán)境中測量時，可用環(huán)境修正K?(查看GB/T3767—1996的附錄A和8.4及8.5)對測量表面的平均聲壓級進(jìn)行修正，并按GB/T3767—1996中8.3給出的公式進(jìn)行計算。GB/T4214.1-2000當(dāng)在帶剛性壁面的測試室或?qū)Ｓ没祉懯抑袦y量時，被Lw;=Lwiess)-LpR5+LpAI)dB(基準(zhǔn)量1pW)那么被測聲源A計權(quán)聲功率級Lwa可由式(5)得到：被測器具的聲功率級Iw是根據(jù)8.3測定，再由K?和K?(查看8.1和8.2)修正，和測量表面的面式中：Lp—依照8.3計算的測量表面A計權(quán)或頻帶聲壓級，并由背景噪聲修正值K?和環(huán)境修正值8.6專用混響室中用直接法時A計權(quán)聲功率級的計算被測器具的A計權(quán)聲功率級是從依照8.3測定的測點的平均聲壓級和混響室的參數(shù)計算