JJF(浙) 1134-2017 微米千分尺校準規(guī)范

浙江省地方計量技術(shù)規(guī)范JJF(浙)1134—2017浙江省質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布微米千分尺校準規(guī)范微米千分尺校準規(guī)范I (Ⅲ) (1) (1) (3)4.7微分筒錐面的端面棱邊至固定套 (3)4.9微分筒錐面的端面與固定套筒毫米 4.11測量面的表面粗糙度 (3)4.13兩測量面的平行度 （4)4.15校對用量桿尺寸和尺寸變動量 （4) 5.1環(huán)境條件 6校準方法 6.1測微螺桿的軸向竄動和徑向擺動 (5)6.2測砧測量面與測微螺桿測量面的相對偏移量 (7) (8) 6.7微分筒錐面的端面至固定套筒標尺標記面的距離 (8) (8)6.9微分筒錐面的端面與固定套筒毫米標尺標記的相對位置 (8)6.10零值誤差 (9)6.11測量面的表面粗糙度 6.12測量面的平面度 6.13兩測量面的平行度 6.14示值誤差 (10)附錄A微米千分尺示值誤差測量結(jié)果不確定度評定 (15)米千分尺》共同構(gòu)成支撐本校準規(guī)范制定工微米千分尺校準規(guī)范1范圍用文件，其最新版本(包括所有的修改單)3概述圖1I型微米千分尺2圖3Ⅲ型微米千分尺4計量特性4.1測微螺桿的軸向竄動和徑向擺動測微螺桿的軸向竄動和徑向擺動應(yīng)不大于0.01mm。4.2測砧測量面與測微螺桿測量面的相對偏移量測砧與測微螺桿測量面的偏移量應(yīng)不超過表1的規(guī)定。4.3微米游標筒與微分筒刻線面連接處的軸向間隙Ⅱ型和Ⅲ型微米千分尺的微米游標筒與微分筒標尺標記面連接處的軸向間隙4.4微米游標筒與固定套筒圓周方向的相對位移量Ⅱ型和Ⅲ型微米千分尺的微米游標筒與固定套筒圓周方向的相對位移在測微頭上的位移量應(yīng)不大于0.001mm。4.5標尺標記寬度及寬度差3微米千分尺的平測微頭與量具測力儀球面接觸時的測量力Ⅱ型和Ⅲ型微米千分尺的微米游標筒與微分筒兩標尺標記面之差應(yīng)不大于微米千分尺鎖緊裝置緊固和松開時，微米千分尺兩測量面的平行度不超過表4121251測力計MPE：±2.0%2測砧測量面與測微螺桿測量面的相對測力計MPE：±2.0%3微米游標筒與微分筒標尺標記面連接4微米游標筒與固定套筒圓周方向的相56量具測力儀MPE：±2.0%7微分筒錐面的端面棱邊至固定套筒標8微米游標筒與微分筒兩標尺標記面之差9微分筒錐面的端面與固定套筒毫米標表面粗糙度比較樣塊MPE1217）%6力(2～3)N,然后在相反方向加同樣大小的力，此時杠桿千分表示值的變化值程如圖5所示。圖4軸向加力示意圖e圖5徑向加力示意圖76.2測砧測量面與測微螺桿測量面的相對偏移量(0～25)mm的微米千分尺可目力觀察微米千分尺測砧測量面與測微螺桿測量面的相對偏移量，測量上限大于25mm的微米千分尺可借助校對用量桿進行測量。如有異議時，可按下列方法進行測量。測量上限大于25mm的微米千分尺可用專用檢具測量相對偏移量。在檢驗平板上用杠桿百分表或百分表測量，測量時借助夾具放置在檢驗平板上，如圖6所示，調(diào)整夾具使微米千分尺的測微螺桿與檢驗平板工作面平行，然后用杠桿百分表或百分表測量測砧測量面與測微螺桿測量面在這一方位上的相對偏移量△x,然后將尺架側(cè)轉(zhuǎn)90°,按上述方法測量測砧測量面與測微螺桿測量面在另一方位上相對偏移量△y,測砧測量面與測微螺桿測量面的相對偏移量△按式(1)計算：此項測量也可用其他專用檢具測量。圖6在檢驗平板上用杠桿百分表測量示意圖6.3微米游標筒與微分筒刻線面連接處的軸向間隙可用厚度為0.1mm塞尺測量Ⅱ型、Ⅲ型的微米游標筒與微分筒刻線面連接處的軸向間隙，如0.1mm塞尺塞不進去，則連接處的軸向間隙符合此規(guī)范的要求。6.4微米游標筒與固定套筒圓周方向的相對位移量86.5標尺標記寬度及寬度差標尺標記寬度至少任意抽檢3條標尺標記。此項測量也可采用滿足不確定度要求6.6測力用分度值/分辨力不大于0.1N的量具測力儀進行測量。測量時，確保量具測6.7微分筒錐面的端面棱邊至固定套筒標尺標記面的距離I型微米千分尺可用厚度為0.4mm塞尺置于固定套筒標尺標記表面上進行比較意一周內(nèi)不少于3個位置上進行。也可用工具顯微鏡或讀數(shù)顯微鏡測量。6.8微米游標筒與微分筒兩標尺標記面之差是否有高低現(xiàn)象。如有疑問，可用厚度為0.03mm塞尺置于微米游標筒的表面上面之差。測量應(yīng)在微分筒任意一周內(nèi)不少于3個位置上進行。6.9微分筒錐面的端面與固定套筒毫米標尺標記的相對位置固定套筒縱向標尺標記的偏移量，該偏移量即為離線或壓線的數(shù)值，見圖7。9平晶接觸，轉(zhuǎn)動棘輪機構(gòu)，并輕輕轉(zhuǎn)動平行平晶，使兩測量面出現(xiàn)的干涉環(huán)或干涉帶數(shù)目調(diào)至最少。分別讀取兩測量面上的干涉條紋數(shù)，取兩測量面上的干涉條紋數(shù)目之和與所用光的波長值的計算結(jié)果作為兩測量面的平行度。利用平行平晶組中每一塊平行平晶按上述程序分別進行測量，取其中最大值作為兩測微米千分尺示值誤差e可由式(2)計算：e=Li-Ls（2）A+5.12A+10.24A+15.36A+21.50A注：表中A為微米千分尺的測量下限。6.15校對用量桿尺寸和尺寸變動量校對用量桿的尺寸偏差及變動量在立式光學(xué)計或測長機上采用3等量塊以比較法進行測量。對于平測量面的校對用量桿應(yīng)采用球面測帽在圖8所示的5點上8復(fù)校時間間隔A.1概述A.1.3測量對象：微米千分尺，測量范圍為(0～100eLcLbLcctcLbbtb（A.1）ctbeLc-LbLcctcLbbtb(A.2)Lc-LbLcbtcLbbtbLc-LbLctcLcbtcLbbtb得eLc-LbLtLt（A.3）2uc2u2(e)c12u12c22u22c32u32c42u42u12(u2)2(Lt)2u32(L)2u42A.4.1、測量重復(fù)性引入的不確定度u1；A.4.2、量塊引入的不確定度u2；A.4.3、微米千分尺與量塊的線脹系數(shù)差引入的不確定度u3；A.4.4、微米千分尺和量塊的溫度差引入不確定度u4。u(xi)ciciu(xi)u11u2u3Ltu4Lu(xi)ciciu(xi)u11u2u3Ltu4LA.6.1測量重復(fù)性引入的不確定度分量u1A.6.2由對零位量塊引入的不確定度分量u21和校準點量塊引入的不確定度分量u22組成不確定度u2的評定。A.6.2.1由對零位量塊引入的不確定度為分量u21測量上限L=25mm時:測量上限L=100mm時:A.6.2.2校準點量塊引入的不確定度為分量u22測量上限25mm時:A.6.3微米千分尺和量塊間線脹系數(shù)差