JJF(浙) 1134-2017 微米千分尺校準(zhǔn)規(guī)范

浙江省地方計(jì)量技術(shù)規(guī)范JJF(浙)1134—2017浙江省質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布微米千分尺校準(zhǔn)規(guī)范微米千分尺校準(zhǔn)規(guī)范I (Ⅲ) (1) (1) (3)4.7微分筒錐面的端面棱邊至固定套 (3)4.9微分筒錐面的端面與固定套筒毫米 4.11測(cè)量面的表面粗糙度 (3)4.13兩測(cè)量面的平行度 （4)4.15校對(duì)用量桿尺寸和尺寸變動(dòng)量 （4) 5.1環(huán)境條件 6校準(zhǔn)方法 6.1測(cè)微螺桿的軸向竄動(dòng)和徑向擺動(dòng) (5)6.2測(cè)砧測(cè)量面與測(cè)微螺桿測(cè)量面的相對(duì)偏移量 (7) (8) 6.7微分筒錐面的端面至固定套筒標(biāo)尺標(biāo)記面的距離 (8) (8)6.9微分筒錐面的端面與固定套筒毫米標(biāo)尺標(biāo)記的相對(duì)位置 (8)6.10零值誤差 (9)6.11測(cè)量面的表面粗糙度 6.12測(cè)量面的平面度 6.13兩測(cè)量面的平行度 6.14示值誤差 (10)附錄A微米千分尺示值誤差測(cè)量結(jié)果不確定度評(píng)定 (15)米千分尺》共同構(gòu)成支撐本校準(zhǔn)規(guī)范制定工微米千分尺校準(zhǔn)規(guī)范1范圍用文件，其最新版本(包括所有的修改單)3概述圖1I型微米千分尺2圖3Ⅲ型微米千分尺4計(jì)量特性4.1測(cè)微螺桿的軸向竄動(dòng)和徑向擺動(dòng)測(cè)微螺桿的軸向竄動(dòng)和徑向擺動(dòng)應(yīng)不大于0.01mm。4.2測(cè)砧測(cè)量面與測(cè)微螺桿測(cè)量面的相對(duì)偏移量測(cè)砧與測(cè)微螺桿測(cè)量面的偏移量應(yīng)不超過(guò)表1的規(guī)定。4.3微米游標(biāo)筒與微分筒刻線面連接處的軸向間隙Ⅱ型和Ⅲ型微米千分尺的微米游標(biāo)筒與微分筒標(biāo)尺標(biāo)記面連接處的軸向間隙4.4微米游標(biāo)筒與固定套筒圓周方向的相對(duì)位移量Ⅱ型和Ⅲ型微米千分尺的微米游標(biāo)筒與固定套筒圓周方向的相對(duì)位移在測(cè)微頭上的位移量應(yīng)不大于0.001mm。4.5標(biāo)尺標(biāo)記寬度及寬度差3微米千分尺的平測(cè)微頭與量具測(cè)力儀球面接觸時(shí)的測(cè)量力Ⅱ型和Ⅲ型微米千分尺的微米游標(biāo)筒與微分筒兩標(biāo)尺標(biāo)記面之差應(yīng)不大于微米千分尺鎖緊裝置緊固和松開(kāi)時(shí)，微米千分尺兩測(cè)量面的平行度不超過(guò)表4121251測(cè)力計(jì)MPE：±2.0%2測(cè)砧測(cè)量面與測(cè)微螺桿測(cè)量面的相對(duì)測(cè)力計(jì)MPE：±2.0%3微米游標(biāo)筒與微分筒標(biāo)尺標(biāo)記面連接4微米游標(biāo)筒與固定套筒圓周方向的相56量具測(cè)力儀MPE：±2.0%7微分筒錐面的端面棱邊至固定套筒標(biāo)8微米游標(biāo)筒與微分筒兩標(biāo)尺標(biāo)記面之差9微分筒錐面的端面與固定套筒毫米標(biāo)表面粗糙度比較樣塊MPE1217）%6力(2～3)N,然后在相反方向加同樣大小的力，此時(shí)杠桿千分表示值的變化值程如圖5所示。圖4軸向加力示意圖e圖5徑向加力示意圖76.2測(cè)砧測(cè)量面與測(cè)微螺桿測(cè)量面的相對(duì)偏移量(0～25)mm的微米千分尺可目力觀察微米千分尺測(cè)砧測(cè)量面與測(cè)微螺桿測(cè)量面的相對(duì)偏移量，測(cè)量上限大于25mm的微米千分尺可借助校對(duì)用量桿進(jìn)行測(cè)量。如有異議時(shí)，可按下列方法進(jìn)行測(cè)量。測(cè)量上限大于25mm的微米千分尺可用專(zhuān)用檢具測(cè)量相對(duì)偏移量。在檢驗(yàn)平板上用杠桿百分表或百分表測(cè)量，測(cè)量時(shí)借助夾具放置在檢驗(yàn)平板上，如圖6所示，調(diào)整夾具使微米千分尺的測(cè)微螺桿與檢驗(yàn)平板工作面平行，然后用杠桿百分表或百分表測(cè)量測(cè)砧測(cè)量面與測(cè)微螺桿測(cè)量面在這一方位上的相對(duì)偏移量△x,然后將尺架側(cè)轉(zhuǎn)90°,按上述方法測(cè)量測(cè)砧測(cè)量面與測(cè)微螺桿測(cè)量面在另一方位上相對(duì)偏移量△y,測(cè)砧測(cè)量面與測(cè)微螺桿測(cè)量面的相對(duì)偏移量△按式(1)計(jì)算：此項(xiàng)測(cè)量也可用其他專(zhuān)用檢具測(cè)量。圖6在檢驗(yàn)平板上用杠桿百分表測(cè)量示意圖6.3微米游標(biāo)筒與微分筒刻線面連接處的軸向間隙可用厚度為0.1mm塞尺測(cè)量Ⅱ型、Ⅲ型的微米游標(biāo)筒與微分筒刻線面連接處的軸向間隙，如0.1mm塞尺塞不進(jìn)去，則連接處的軸向間隙符合此規(guī)范的要求。6.4微米游標(biāo)筒與固定套筒圓周方向的相對(duì)位移量86.5標(biāo)尺標(biāo)記寬度及寬度差標(biāo)尺標(biāo)記寬度至少任意抽檢3條標(biāo)尺標(biāo)記。此項(xiàng)測(cè)量也可采用滿足不確定度要求6.6測(cè)力用分度值/分辨力不大于0.1N的量具測(cè)力儀進(jìn)行測(cè)量。測(cè)量時(shí)，確保量具測(cè)6.7微分筒錐面的端面棱邊至固定套筒標(biāo)尺標(biāo)記面的距離I型微米千分尺可用厚度為0.4mm塞尺置于固定套筒標(biāo)尺標(biāo)記表面上進(jìn)行比較意一周內(nèi)不少于3個(gè)位置上進(jìn)行。也可用工具顯微鏡或讀數(shù)顯微鏡測(cè)量。6.8微米游標(biāo)筒與微分筒兩標(biāo)尺標(biāo)記面之差是否有高低現(xiàn)象。如有疑問(wèn)，可用厚度為0.03mm塞尺置于微米游標(biāo)筒的表面上面之差。測(cè)量應(yīng)在微分筒任意一周內(nèi)不少于3個(gè)位置上進(jìn)行。6.9微分筒錐面的端面與固定套筒毫米標(biāo)尺標(biāo)記的相對(duì)位置固定套筒縱向標(biāo)尺標(biāo)記的偏移量，該偏移量即為離線或壓線的數(shù)值，見(jiàn)圖7。9平晶接觸，轉(zhuǎn)動(dòng)棘輪機(jī)構(gòu)，并輕輕轉(zhuǎn)動(dòng)平行平晶，使兩測(cè)量面出現(xiàn)的干涉環(huán)或干涉帶數(shù)目調(diào)至最少。分別讀取兩測(cè)量面上的干涉條紋數(shù)，取兩測(cè)量面上的干涉條紋數(shù)目之和與所用光的波長(zhǎng)值的計(jì)算結(jié)果作為兩測(cè)量面的平行度。利用平行平晶組中每一塊平行平晶按上述程序分別進(jìn)行測(cè)量，取其中最大值作為兩測(cè)微米千分尺示值誤差e可由式(2)計(jì)算：e=Li-Ls（2）A+5.12A+10.24A+15.36A+21.50A注：表中A為微米千分尺的測(cè)量下限。6.15校對(duì)用量桿尺寸和尺寸變動(dòng)量校對(duì)用量桿的尺寸偏差及變動(dòng)量在立式光學(xué)計(jì)或測(cè)長(zhǎng)機(jī)上采用3等量塊以比較法進(jìn)行測(cè)量。對(duì)于平測(cè)量面的校對(duì)用量桿應(yīng)采用球面測(cè)帽在圖8所示的5點(diǎn)上8復(fù)校時(shí)間間隔A.1概述A.1.3測(cè)量對(duì)象：微米千分尺，測(cè)量范圍為(0～100eLcLbLcctcLbbtb（A.1）ctbeLc-LbLcctcLbbtb(A.2)Lc-LbLcbtcLbbtbLc-LbLctcLcbtcLbbtb得eLc-LbLtLt（A.3）2uc2u2(e)c12u12c22u22c32u32c42u42u12(u2)2(Lt)2u32(L)2u42A.4.1、測(cè)量重復(fù)性引入的不確定度u1；A.4.2、量塊引入的不確定度u2；A.4.3、微米千分尺與量塊的線脹系數(shù)差引入的不確定度u3；A.4.4、微米千分尺和量塊的溫度差引入不確定度u4。u(xi)ciciu(xi)u11u2u3Ltu4Lu(xi)ciciu(xi)u11u2u3Ltu4LA.6.1測(cè)量重復(fù)性引入的不確定度分量u1A.6.2由對(duì)零位量塊引入的不確定度分量u21和校準(zhǔn)點(diǎn)量塊引入的不確定度分量u22組成不確定度u2的評(píng)定。A.6.2.1由對(duì)零位量塊引入的不確定度為分量u21測(cè)量上限L=25mm時(shí):測(cè)量上限L=100mm時(shí):A.6.2.2校準(zhǔn)點(diǎn)量塊引入的不確定度為分量u22測(cè)量上限25mm時(shí):A.6.3微米千分尺和量塊間線脹系數(shù)差