來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)

廣東順德長品版本：第三版

來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)文件編號(hào)：

電子有限公司受控狀態(tài)：

碳膜電阻修改頁：

第1頁共53頁

抽樣檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：

依據(jù)MIL-STD-105D-II；MI：AQL=1.5；MA：AQL=1.0；CR：AQL=0.65

MI：次要缺陷MA：主要缺陷CR：致命缺陷

檢

序

依

項(xiàng)

號(hào)H檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)及要求AQL檢驗(yàn)方法

色環(huán)標(biāo)識(shí)與電阻標(biāo)稱值精度等級(jí)是否一一致.

色環(huán)標(biāo)識(shí)MI目測(cè)

1外觀用毛刷沾洗板水輕擦色環(huán),不能出現(xiàn)脫色現(xiàn)象。

元件體電阻有無破損，引腳是否氧化。MI目測(cè)

2尺寸符合產(chǎn)品工程圖；符合實(shí)際裝配。MA鋼尺或游標(biāo)卡尺

1.用LCR電橋測(cè)量電阻值是否在偏差允許范圍內(nèi)，電阻值

小于10K的用串聯(lián)方式，頻率選用100Hz.電阻值大于

等于10K的用并聯(lián)方式，頻率選用lOOHzo

3

電性2.分別在高溫85℃、低溫-20℃、溫度93%±3%、100CM高M(jìn)ALCR電橋

度自山跌落3次，其對(duì)應(yīng)R值均符合標(biāo)稱值及偏差允許

范圍。

3.碳膜電阻誤差值：±5%

用40W烙鐵快速一次上錫,要求焊點(diǎn)飽滿,引腳放在230+5℃烙鐵

4可焊性MA

錫爐中一次上錫面積大于85%。表面色環(huán)顏色不發(fā)生變化。小錫爐

1.所用材料與樣品相符。

目測(cè)、對(duì)比樣品

5材料2.與配料表中型號(hào)規(guī)格相符、與工程圖相吻合。MA

刀片

3.外殼用刀片刮取，殼體堅(jiān)韌度需符合。

1、包裝材料用料正確。2、小包裝方式、數(shù)量無誤。

包裝

63、裝箱方式、數(shù)量無誤。4、（內(nèi)包裝、外箱）標(biāo)識(shí)MA目測(cè)

標(biāo)識(shí)

單內(nèi)容正確。

擬制:審核:批準(zhǔn):

日期日期日期

廣東順德長品版本：第三版

來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)文件編號(hào)：WI/HV-12-002

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修改頁：

金屬膜電阻類第2頁共53頁

抽樣檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：依據(jù)MIL-STD-105D-H；MI：AQL=1.5；MA：AQL=1.0；CR：AQL=0.65

MI：次要缺陷MA：主要缺陷CR：致命缺陷

序

檢驗(yàn)

號(hào)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)及要求AQL檢驗(yàn)方法

項(xiàng)目

色環(huán)標(biāo)識(shí)與電阻標(biāo)稱值精度等級(jí)是否一

色環(huán)標(biāo)識(shí)MI目測(cè)

1外觀致。

元件體電阻有無破損，引腳是否氧化。MI目測(cè)

2尺寸符合產(chǎn)品工程圖。MA鋼尺或游標(biāo)卡尺

1.室溫下用LCR電橋測(cè)量電阻值是否在偏差允許范圍內(nèi)，

電阻值小于10K的用串聯(lián)方式，頻率選用100Hz；電阻

3值大于等于10K的用并聯(lián)方式，頻率選用lOOHzoMA

電性2.分別在75℃、-5℃以下、濕度93%±3%、100CM高度LCR電橋

自由跌落3次，對(duì)應(yīng)R值均符合標(biāo)稱值及偏差允許范圍。

3.金屬膜、精密電阻阻值偏差不得超出標(biāo)稱值的上下限。

4CR

4.金屬膜電阻誤差值±1%

用40W烙鐵快速一次上錫，要求焊點(diǎn)飽滿，引腳放在230烙鐵

5可焊性MA

±5℃錫爐中，一次上錫面積大于85虬小錫爐

1、所用材料與樣品相符。

6材料MA目測(cè)、對(duì)比樣品

2、與配料表中型號(hào)規(guī)格相符、與工程圖相吻合。

1、包裝材料用料正確。

包裝2、小包裝方式、數(shù)量無誤。

7MI目測(cè)

標(biāo)識(shí)3、裝箱方式、數(shù)量無誤。

4、（內(nèi)包裝、外箱）標(biāo)識(shí)單內(nèi)容正確。

擬制：審核：批準(zhǔn)：

日期日期日期

廣東順德長品版本：第三版

來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)文件編號(hào)：WI/HV-12-003

電子有限公司受控狀態(tài)：

修改頁：

氧化膜電阻第3頁共53頁

抽樣來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：

依據(jù)MIL-STDT05DTI；MI：AQL=1.0；MA：AQL=0.65；CR：AQL=0

MI：次要缺陷MA：主要缺陷CR：致命缺陷

序

檢驗(yàn)

號(hào)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)及要求AQL檢驗(yàn)方法

項(xiàng)目

色環(huán)標(biāo)識(shí)與電阻標(biāo)稱值精度等級(jí)是否一

絲印MI目測(cè)

致。

1外觀

元件

電阻有無破損，引腳是否氧化。MI目測(cè)

體

2尺寸外形尺寸是否符合產(chǎn)品工程圖。MA鋼尺或游標(biāo)卡尺

1.用LCR電橋測(cè)量電阻值是否在偏差允許范圍內(nèi)，

電阻值小于10K的用串聯(lián)方式，頻率選用100Hz；

3電性2.分別在75℃、-5℃、濕度93%±3%、100CM高CRLCR電橋

度自由跌落3次，對(duì)應(yīng)R值均符合標(biāo)稱值及偏

差允許范圍

4材料所用材料與樣品相符MA目測(cè)、對(duì)比樣品

1.包裝材料用料正確。

2.小包裝方式、數(shù)量無誤。

5包裝標(biāo)識(shí)MI目測(cè)

3.裝箱方式、數(shù)量無誤。

4.（內(nèi)包裝、外箱）標(biāo)識(shí)單內(nèi)容正確。

擬制：審核：批準(zhǔn)：

日期日期日期

廣東順德長品版本：第三版

來料檢驗(yàn)通用標(biāo)準(zhǔn)文件編號(hào):WI/IW-12-004

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修改頁：

AI機(jī)用的電阻、二極管引腳標(biāo)準(zhǔn)要求第4頁共53頁

抽樣檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):依據(jù)MIL-STDT05D-H；MI：AQL=1.5；MA：AQL=1.0；CR：AQL=0.65

MI：次要缺陷MA：主要缺陷CR：致命缺陷

碳膜電阻、金膜電阻、二極管1N4148、二極管1N4007引腳直徑

序

檢驗(yàn)

號(hào)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)及要求AQL檢驗(yàn)方法

項(xiàng)目

L1/4W碳膜、金膜電阻引腳直徑要求必需達(dá)0.43-0.5mm

電阻2.1/4W電阻要求帶編帶（26mm）,編帶中間電阻引腳的兩端尺數(shù)字卡尺

1CR

引腳寸為26mm，也有52mm0目測(cè)

3.電阻引腳與編帶不允許有歪斜、彎曲、變形等現(xiàn)象。

1、二極管1N4148引腳直徑為0.45-0.5mm0

二極管2.二極管1N4148要求帶編帶（26mm）,編帶中間二極管1N4148

數(shù)字卡尺

21N4148引腳的兩端尺寸為26mm。CR

目測(cè)

引腳3.二極管1N4148引腳與編帶不允許有歪斜、彎曲、變形等

現(xiàn)象

1.二極管1N4007引腳直徑為0.68-0.73mm。

二極管2.二極管1N4007要求帶編帶（58mm）,編帶中間二極管1N4007

數(shù)字卡尺

31N4007引腳的兩端尺寸為58mm。CR

目測(cè)

引腳3.二極管1N4007引腳與編帶不允許有歪斜、彎曲、變形等

現(xiàn)象

用40W烙鐵快速一次上錫，要求焊點(diǎn)飽滿，引腳放在230±5℃烙鐵

4可焊性MI

錫爐中，一次上錫面積大于85%。小錫爐

1.所用材料與樣品相符。目測(cè)、對(duì)比樣

5材料MA

2.與配料表中型號(hào)規(guī)格相符、與工程圖相吻合。品

包裝1.包裝材料用料正確。3.裝箱方式、數(shù)量無誤。

6MI目測(cè)

標(biāo)識(shí)2.小包裝方式、數(shù)量無誤。4.內(nèi)包裝、外箱標(biāo)識(shí)單內(nèi)容正確。

擬制：審核：批準(zhǔn)：

日期日期日期

廣東順德長品版本：第三版

來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)文件編號(hào)：WI/HV-12-005

電子有限公司受控狀態(tài)：

修改頁：

瓷片電容第5頁共53頁

抽樣檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):依據(jù)MIL-STDT05DTI；MI：AQL=1.5；MA：AQL=1.0；CR：AQL=0.65

MI：次要缺陷MA：主要缺陷CR：致命缺陷

電容：104P/50V+80%-20%102P/50V+80%-20%(直徑4)5腳距5mm)

序檢驗(yàn)

檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)及要求AQL檢驗(yàn)方法

號(hào)項(xiàng)目

絲印絲印是否清晰可辯，標(biāo)識(shí)是否與來料相符。MI目測(cè)

1外觀

元件體引腳是否氧化，元件體是否有毛刺和破損、劃傷、裂痕等。MI目測(cè)

2尺寸符合產(chǎn)品工程圖。腳距5mm,66mm,符合實(shí)際裝配。MA鋼尺或游標(biāo)卡尺

1.用數(shù)字電容測(cè)試儀檢測(cè)其容量是否在允許范圍內(nèi)，漏電流檢

測(cè)儀檢測(cè)其額定耐壓與漏電流的大小。

2.常溫下用數(shù)字電容測(cè)試儀檢測(cè)電容值為0.lUF+80%-20%

(0.OOlmF+80%-20%),損耗角WO.05。

數(shù)字電容測(cè)試儀

3.常溫下，用絕緣電阻測(cè)試儀測(cè)其絕緣阻210000MQ

漏電流測(cè)試儀

4.常溫下，用耐壓測(cè)試儀測(cè)端子間耐壓值75V；端子與外殼間

3電性CR耐壓測(cè)試儀

耐壓值為100V,應(yīng)元擊穿或飛弧現(xiàn)象(高溫區(qū)95℃-105℃檢

絕緣電阻測(cè)試儀

測(cè)方法相同)。

5.將其放于95℃?105℃及低溫-18℃以下，用數(shù)字電容測(cè)試儀

檢測(cè)測(cè)其電容值為0.lUF+80%-20%(0.001mF+80%-20%).

6.手工浸水濕度93%±3%用數(shù)字電容測(cè)試儀測(cè)其電容

0.lUF+80%-20%(0.001mF+80%-20%).

用烙鐵快速一-次上錫，要求焊點(diǎn)飽滿，引腳放在230±5℃錫爐烙鐵

4可焊性MI

中，一次上錫面積大于85%。小錫爐

3.所用材料與樣品相符。

5材料MA目測(cè)、對(duì)比樣品

4.與配料表中型號(hào)規(guī)格相符、與工程圖相吻合。

包裝標(biāo)3.包裝材料用料正確。2.小包裝方式、數(shù)量無誤。

6MI目測(cè)

識(shí)3.裝箱方式、數(shù)量無誤。4.內(nèi)包裝、外箱標(biāo)識(shí)單內(nèi)容正確。

擬制:審核:批準(zhǔn):

日期日期日期

廣東順德長品版本：第三版

來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)文件編號(hào)：WI/HV-12-006

電子有限公司受控狀態(tài)：

修改頁：

身壓瓷片電容第6頁共53頁

抽樣檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：依據(jù)MIL-STD-105D-H；MI：AQL=1.5；MA：AQL=1.0；CR：AQL=0.65

MI：次要缺陷MA：主要缺陷CR：致命缺陷

電容：101P/1KV（直徑4>5腳距5111111）102P/1KV（直徑4>6.5腳距5mm）103P/1KV（直徑4>8.5腳距5nm）

序檢驗(yàn)

檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)及要求AQL檢驗(yàn)方法

項(xiàng)目

絲印絲印是否清晰可辯，標(biāo)識(shí)是否與來料相符。MI目測(cè)

1外觀

元件體引腳是否氧化，元件體是否有毛刺和破損、劃傷、裂痕等。MI目測(cè)

2尺寸符合產(chǎn)品工程圖。MA鋼尺或游標(biāo)卡尺

1.用數(shù)字電容測(cè)試儀檢測(cè)其容量是否在允許范圍內(nèi)，漏電流檢測(cè)

儀檢測(cè)其額定耐壓與漏電流的大小。

2.常溫下用數(shù)字電容測(cè)試儀檢測(cè)電容值為0.lUF+80%-20%

(0.001mF+80%-20%),損耗角WO.05。

數(shù)字電容測(cè)試儀

3.常溫下，用絕緣電阻測(cè)試儀測(cè)其絕緣阻210000MQ

漏電流測(cè)試儀

4.常溫下，用耐壓測(cè)試儀測(cè)端子間耐壓值1.6Ur(5s)；端子與外

3電性CR耐壓測(cè)試儀

殼間耐壓值為1250V,應(yīng)元擊穿或飛弧現(xiàn)象(高溫區(qū)95℃-105℃

絕緣電阻測(cè)試儀

檢測(cè)方法相同)。

5.將其放于95c?105℃及低溫-18"C以下，用數(shù)字電容測(cè)試儀檢

測(cè)測(cè)其電容值為0.lUF+80%-20%(0.001mF+80%-20%).

6.手工浸水濕度93%±3%用數(shù)字電容測(cè)試儀測(cè)其電容

0.lUF+80%-20%(0.001mF+80%-20%).

用烙鐵快速一次上錫，要求焊點(diǎn)飽滿，引腳放在230±5℃錫爐中，烙鐵

4可焊性MI

一次上錫面積大于85%。小錫爐

5.所用材料與樣品相符。

5材料MA目測(cè)、對(duì)比樣品

6.與配料表中型號(hào)規(guī)格相符、與工程圖相吻合。

包裝4.包裝材料用料正確。2.小包裝方式、數(shù)量無誤。

6MI目測(cè)

標(biāo)識(shí)3.裝箱方式、數(shù)量無誤。4.內(nèi)包裝、外箱標(biāo)識(shí)單內(nèi)容正確。

擬制：審核：批準(zhǔn)：

11期日期日期

廣東順德長品版本：第三版

來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)文件編號(hào)：WI/HVT2-007

電子有限公司受控狀態(tài)：

修改頁：

高壓金屬膜電容第7頁共53頁

抽樣來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：依據(jù)MIL-STDT05DTI；MI：AQL=1.5；MA：AQL=1.0；CR：AQL=0.4

MI：次要缺陷MA：主要缺陷CR：致命缺陷

高壓電容(CBB金屬膜電容)CBB21-473J400V(腳距10mm)

序檢驗(yàn)

檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)及要求AQL檢驗(yàn)方法

號(hào)項(xiàng)目

絲印是否清晰可辯，有明確認(rèn)證標(biāo)志，是否標(biāo)明

絲印MI目測(cè)

3C、UL、TtiV或VDE等認(rèn)證標(biāo)志。

1外觀

引腳是否氧化，元件體是否有毛刺和破損、劃傷，

元件體MI目測(cè)

封膠是否有氣孔等。

2尺寸符合產(chǎn)品工程圖MA游標(biāo)卡尺

1.根據(jù)所測(cè)安規(guī)電容的容量在電容測(cè)試儀設(shè)置標(biāo)準(zhǔn)容量，根據(jù)電容正耐壓測(cè)試

負(fù)偏差設(shè)置上下偏差，然后依據(jù)電容的標(biāo)稱電壓值，設(shè)定損耗角正切儀

值，最后夾上待測(cè)電容，“PASS”燈亮表示合格。電容測(cè)試

2.用電容測(cè)試儀測(cè)其電容0.047口F±5%,損耗角WL容(2(TC1KHZ).儀

3電性CR

3.用絕緣電阻測(cè)試儀測(cè)其RH30000MQ(20℃Imin)漏電流測(cè)

4.常溫下100CM高度自由跌落3次，再測(cè)其電容值應(yīng)為0.047yF+5%.試儀

5.用耐壓測(cè)試儀測(cè)其極與極的抗電強(qiáng)度2Ur(2S).絕緣電阻

6.高溫80℃及低溫-20℃時(shí)，測(cè)其電容值為0.047uF±5%。測(cè)試儀

用烙鐵快速一次上錫，要求焊點(diǎn)飽滿，引腳放在230±5℃錫爐中，一烙鐵

4可焊性MI

次上錫面積大于85%。小錫爐

1.所用材料與樣品相符。目測(cè)、對(duì)比

5材料MA

2.與配料表中型號(hào)規(guī)格相符、與工程圖相吻合。樣品

1.材料用料正確

包裝標(biāo)

62.裝箱方式、數(shù)量無誤MI目測(cè)

識(shí)

3.（內(nèi)包裝、外箱）標(biāo)識(shí)單內(nèi)容正確

擬制：審核：批準(zhǔn)：

日期日期日期

廣東順德長品版本：第三版

來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)文件編號(hào):WI/HV-12-008

電子有限公司受控狀態(tài)：

修改頁：

聚酯膜(絳綸)電容第8頁共53頁

抽樣來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):依據(jù)MIL-STDT05DTI；MI：AQL=1.5；MA：AQL=0.65；CR：AQL=0.4

MI：次要缺陷MA：主要缺陷CR：致命缺陷

聚脂膜電容(絳綸)：2J103J(630V)(腳距4mm)2JI52J(630V)(腳距4mm)

序檢驗(yàn)檢驗(yàn)方

號(hào)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)及要求AQL

項(xiàng)II法

絲印絲印是否清晰可辯，負(fù)極標(biāo)志、絲印標(biāo)識(shí)是否與來料相符。MI目測(cè)

1外觀

元件體引腳是否氧化，元件體是否有毛刺和破損、劃傷。MI目測(cè)

鋼尺或游

2尺寸符合產(chǎn)品工程圖MA

標(biāo)卡尺

1.根據(jù)所測(cè)電容器容量在電容測(cè)試儀設(shè)置標(biāo)準(zhǔn)容量，根據(jù)電容正負(fù)

電容測(cè)試

偏差設(shè)置上下偏差，然后根據(jù)電容的標(biāo)稱耐壓來設(shè)定損耗角，最后

儀

夾上待測(cè)電容，“PASS”燈亮表示為合格。

萬用表

2.用電容測(cè)試儀或LCR電橋測(cè)其電容0.0001uF±5%(0.00152nF

穩(wěn)壓電源

3電性±5%),損耗角正切值WO.01(20℃lKHZ)oCR

漏電流測(cè)

3.用耐壓測(cè)試儀測(cè)其極與極間的抗電強(qiáng)度2Ur(Ur=630VDC)時(shí)間

試儀

5S

絕緣電阻

4.用絕緣電阻測(cè)試儀測(cè)其R230000MC(20℃Imin)。

測(cè)試儀

5.工作溫度范圍40℃?+85℃

用烙鐵快速一次上錫，要求焊點(diǎn)飽滿，引腳放在230±5℃錫爐中，烙鐵

4可焊性MI

一次上錫面積大于85%。小錫爐

1、所用材料與樣品相符。目測(cè)、對(duì)

5材料MA

2、與配料表中型號(hào)規(guī)格相符、與工程圖相吻合。比樣品

1、材料用料正確。

包裝2、小包裝方式、數(shù)量無誤。

63、裝箱方式、數(shù)量無誤。MI目測(cè)

標(biāo)識(shí)

4、(內(nèi)包裝、外箱)小標(biāo)簽內(nèi)容正確。

擬制：審核：批準(zhǔn)：

日期日期日期

廣東順德長品版本：第三版

來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)文件編號(hào):WI/HV-12-009

電子有限公司受控狀態(tài)：

修改頁：

二極管IN4007第9頁共53頁

抽樣來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：

依據(jù)MIL-STDT05DTI；MI：AQL=1.5；MA：AQL=0.65；CR：AQL=0.4

MI：次要缺陷MA：主要缺陷CR：致命缺陷

二極管：D1-D5IN4007

松

驗(yàn)

序

項(xiàng)

M目檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)及要求

VAQL檢驗(yàn)方法

絲印負(fù)極標(biāo)志及字符絲印是否清晰可辯。MI目測(cè)

1外觀

元件體元件體引腳是否氧化，是否有毛刺和破損。MIII測(cè)

2尺寸符合產(chǎn)品工程圖；符合實(shí)際裝配。MA鋼尺或游標(biāo)卡尺

1.用晶體管測(cè)試儀先后測(cè)試二極管正向壓降：0.6?1.IV

和反向耐壓：IN4007>1000V>晶體管測(cè)試儀

3電性2.IN4007在最大反向電壓下其最大反向電流值為5.0口CR穩(wěn)壓電源

A(+25℃),平均輸出電流值為1A(+75℃)

萬用表

3.工作溫度范圍為-65℃to+125℃

用40W烙鐵快速一次上錫，要求焊點(diǎn)飽滿，引腳放在230烙鐵

4可焊性MA

±5℃錫爐中，一次上錫面積大于85機(jī)小錫爐

1.所用材料與樣品相符。

5材料MA目測(cè)、對(duì)比樣品

2.與配料表中型號(hào)規(guī)格相符、與工程圖相吻合。

1、包裝材料用料正確。2、小包裝方式、數(shù)量無誤。

包裝

63.裝箱方式、數(shù)量無誤。MI目測(cè)

標(biāo)識(shí)

4.(內(nèi)包裝、外箱)標(biāo)識(shí)單內(nèi)容正確。

擬制:審核:批準(zhǔn):

口期口期日期

廣東順德長品版本：第三版

來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)文件編號(hào)：WI/HV-12-009A

電子有限公司受控狀態(tài)：

修改頁：

二極管IN4007第9A頁共53頁

抽樣來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：

依據(jù)MIL-STD-105D-II；MI：AQL=1.5；MA：AQL=0.65；CR：AQL=0.4

MI：次要缺陷MA：主要缺陷CR：致命缺陷

穩(wěn)壓二極管參數(shù):

型號(hào)穩(wěn)壓值及精度測(cè)試電流正向電壓(VF)

IN47233.3V±5%76mA當(dāng)IF=200mA時(shí)，VFW1.2V

IN47324.3V±5%53mA當(dāng)IF=200mA時(shí),VFW1.2V

IN47335.1V±5%49mA當(dāng)IF=200mA時(shí),VFW1.2V

IN47345.6V±5%45mA當(dāng)IF=200mA時(shí),VFW1.2V

IN472312V±5%21mA當(dāng)IF=200mA時(shí),VFWL2V

IN472327V±5%9.5mA當(dāng)IF=200mA時(shí),VFW1.2V

二極管參數(shù):

型號(hào)最大反向電壓(VR)正向電壓(VF)正向電流(IF)最大正向輸出電流IAF

IN4001250V<0.7V5.0nA1A

IN40022100VWO.7V5.0uA1A

IN400721000VWO.7V5.0uA1A

IN4148^100VWO.7V5.0uA150mA

BAV99275V<0.7Vl.OnA215mA

擬制：審核：批準(zhǔn)：

日期日期日期

廣東順德長品版本：第三版

來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)文件編號(hào):WI/HV-12-010

電子有限公司受控狀態(tài)：

修改頁：

二極管IN4148第10頁共53頁

抽樣來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：

依據(jù)MIL-STD-105D-II；MI：AQL=1.5；MA：AQL=0.65；CR：AQL=0.4

MI：次要缺陷MA：主要缺陷CR：致命缺陷

二極管：D6-D7IN4148

序檢驗(yàn)

檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)及要求AQL檢驗(yàn)方法

號(hào)項(xiàng)目

絲印負(fù)極標(biāo)志及字符絲印是否清晰可辯。MI目測(cè)

1外觀

元件體引腳是否氧化，是否有毛刺和破

元件體MI目解

損。

鋼尺或游標(biāo)卡

2尺寸符合產(chǎn)品工程圖；符合實(shí)際裝配。MA