鋼結(jié)構(gòu)焊縫超聲檢測(cè)工藝規(guī)程

1適用范圍本規(guī)程按GB/T11345編制，規(guī)定了厚度大于或等于8mm的低超聲衰減（特別是散射衰減小）金屬材料熔化焊焊接接頭的手動(dòng)超聲波檢測(cè)技術(shù)。檢測(cè)時(shí)焊縫及其母材溫度從0~60℃之間。本規(guī)程主要應(yīng)用于焊縫和母體材料均為鐵素體類(lèi)鋼的全熔透焊接接頭。本規(guī)程規(guī)定了依賴(lài)材料的超聲波數(shù)值，是基于縱波速度為（5900±50）m/s，橫波聲速為(3255±30)m/s的鋼材。2規(guī)范性引用文件GB/T11345《焊縫無(wú)損檢測(cè)超聲檢測(cè)技術(shù)、檢測(cè)等級(jí)評(píng)定》3檢測(cè)前需要的信息3.1必要的項(xiàng)目a) 參考等級(jí)設(shè)定方法；b) 顯示評(píng)定方法；c) 驗(yàn)收等級(jí)；D)檢測(cè)等級(jí)；e) 檢測(cè)時(shí)被檢對(duì)象所處的制造和加工狀態(tài)；f) 人員資格；g) 橫向顯示的檢測(cè)范圍；h) 焊前和（或）焊后的母材檢測(cè)；i) 是否需要書(shū)面檢測(cè)工藝規(guī)程；j) 書(shū)面檢測(cè)工藝規(guī)程的要求。3.2 測(cè)試之前所需要的具體信息焊接接頭超聲檢測(cè)前，檢測(cè)人員應(yīng)獲得下列必要信息：a) 母材類(lèi)型和產(chǎn)品門(mén)類(lèi)（例如：鑄件、鍛件、軋制件）；b) 檢測(cè)時(shí)被檢對(duì)象所處的制造或加工狀態(tài)，包括熱處理狀態(tài)和其他；c) 任何焊后熱處理的時(shí)機(jī)和程度；d) 坡口形式和尺寸；e) 表面狀態(tài)要求；f) 焊接工藝規(guī)程或相關(guān)焊接工藝參數(shù)；g) 報(bào)告要求；h) 驗(yàn)收等級(jí)；i) 檢測(cè)范圍（包括橫向顯示的檢測(cè)要求，如相關(guān)）；j) 檢測(cè)等級(jí)；k) 人員資格等級(jí)；l)發(fā)現(xiàn)不可驗(yàn)收顯示后的糾正規(guī)程。4人員和設(shè)備4.1人員資格實(shí)施檢測(cè)的人員，應(yīng)按GB/T9445或合同各方同意的體系進(jìn)行資格鑒定與認(rèn)證，取得超聲檢測(cè)相關(guān)工業(yè)門(mén)類(lèi)的資格等級(jí)證書(shū)，并由雇主或其他代理對(duì)起進(jìn)行職位專(zhuān)業(yè)培訓(xùn)和操作授權(quán)。從事焊縫檢測(cè)人員應(yīng)掌握焊縫超聲檢測(cè)通用知識(shí)，具有足夠的焊縫超聲檢測(cè)經(jīng)驗(yàn)，并掌握一定的材料和焊接基礎(chǔ)知識(shí)。4.2設(shè)備4.2.1宜選用按GB/T5616或合同各方同意的體系取得認(rèn)證或合格評(píng)定的超聲檢測(cè)儀，探頭和試塊。超聲檢測(cè)儀應(yīng)符合JB/T10061或等效標(biāo)準(zhǔn)的要求。探頭應(yīng)符合相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)的要求。試塊應(yīng)符合GB/T23905的要求。注：等效標(biāo)準(zhǔn)可以是經(jīng)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)認(rèn)可的企業(yè)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)。4.2.2儀器性能測(cè)試（性能驗(yàn)證）超聲檢測(cè)儀應(yīng)定期進(jìn)行性能測(cè)試。儀器性能測(cè)試應(yīng)按JB/T9712推薦的方法進(jìn)行。除另有約定外，超聲檢測(cè)儀宜符合下列要求：溫度的穩(wěn)定性；環(huán)境溫度變化5℃，信號(hào)的復(fù)讀變化不大于全屏高度的±2％，位置變化不大于全屏寬度的±1％；顯示的穩(wěn)定性：頻率增加約1Hz，信號(hào)幅度變化不大于全屏高度的±2％，信號(hào)位置變化不大于全屏寬度的±1％；水平線(xiàn)性的偏差不大于全屏寬度的±2％；垂直線(xiàn)性的測(cè)試值與理論值的偏差不大于±3％。出具儀器性能測(cè)試報(bào)告的機(jī)構(gòu)應(yīng)是具有資質(zhì)的，報(bào)告的有效期不宜大于12個(gè)月。4.2.3系統(tǒng)性能測(cè)試在每次檢測(cè)前，應(yīng)按JB/T9214推薦的方法，對(duì)超聲檢測(cè)系統(tǒng)工作性能進(jìn)行測(cè)試。除另有預(yù)定外，系統(tǒng)性能宜符合下列要求：用于缺欠定位的斜探頭入射點(diǎn)的測(cè)試值與標(biāo)稱(chēng)值得偏差不大于±1mm；用于缺欠定位的斜探頭折射角的測(cè)試值與標(biāo)稱(chēng)值的偏差不大于±2°；靈敏度余量、分辨力和盲區(qū)，視實(shí)際應(yīng)用需要而定。4.3探頭參數(shù)4.3.1檢測(cè)頻率檢測(cè)頻率應(yīng)在2MHz~5MHz范圍內(nèi)，同時(shí)應(yīng)遵照驗(yàn)收等級(jí)要求選擇合適的頻率。當(dāng)被檢對(duì)象的衰減系數(shù)高于材料的平均衰減系數(shù)時(shí)，可選擇1MHz左右的檢測(cè)頻率。4.3.2折射角當(dāng)檢測(cè)采用橫波且所有的技術(shù)需要超聲從地面反射時(shí)，應(yīng)注意保證聲束與地面反射面法線(xiàn)的夾角在35°至70°之間。當(dāng)使用多個(gè)斜探頭進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，其中一個(gè)探頭應(yīng)符合上述要求，且應(yīng)保證一個(gè)探頭的聲束盡可能與焊縫熔合面垂直。多個(gè)探頭間的折射角度差應(yīng)不小于10°。當(dāng)探測(cè)面為曲面時(shí)，工件中橫波實(shí)際折射角和底面反射角可由焊縫截面圖確定，見(jiàn)附錄D。當(dāng)折射角的選擇不遵循本規(guī)程規(guī)定時(shí)，檢測(cè)報(bào)告應(yīng)給出聲束掃查范圍、聲束未覆蓋的檢測(cè)區(qū)域及其原因等內(nèi)容。4.3.3晶片尺寸晶片尺寸選擇應(yīng)與頻率和聲程有關(guān)。在給定頻率下，探頭晶片尺寸越小，近場(chǎng)長(zhǎng)度和寬度就越小，遠(yuǎn)場(chǎng)中聲束擴(kuò)散角就越大。晶片直徑為6mm~12mm（或等效面積的矩形晶片）的小探頭，最適合短聲程檢測(cè)。對(duì)于長(zhǎng)聲程檢測(cè)，比如單晶直探頭檢測(cè)大于100mm或斜探頭檢測(cè)大于200mm的聲程，選擇直徑為12mm~24mm（或等效面積的矩形晶片）的晶片更為合適。4.3.4曲面掃查時(shí)的探頭匹配檢測(cè)面與探頭靴底面之間的間隙g，不應(yīng)大于0.5mm。對(duì)于圓柱面或球面，上述要求可由下式檢查：g=式中：a—探頭接觸面寬度，單位為毫米（mm）。環(huán)縫檢測(cè)時(shí)為探頭寬度，縱縫檢測(cè)為探頭長(zhǎng)度，見(jiàn)圖1；D—工件直徑，單位為毫米（mm）。如果間隙g大于0.5mm，則探頭的靴底面應(yīng)修磨至與曲面吻合，靈敏度和時(shí)基范圍也應(yīng)作相應(yīng)調(diào)整。4.3.5耦合劑耦合劑應(yīng)選用適當(dāng)?shù)囊后w或者糊狀物，應(yīng)具有良好透聲性和適宜流動(dòng)性，不應(yīng)對(duì)檢測(cè)對(duì)象和檢測(cè)人員有損傷作用，同事應(yīng)便于檢驗(yàn)后清理。典型的耦合劑為水、機(jī)油、甘油和漿糊，耦合劑中可加入適當(dāng)?shù)摹皾?rùn)濕劑”或活性劑以改善耦合性能。時(shí)基范圍調(diào)節(jié)、靈敏度設(shè)定和工件檢測(cè)時(shí)應(yīng)采用相同耦合劑。5檢測(cè)區(qū)域檢測(cè)區(qū)域（見(jiàn)圖2）是指焊縫和焊縫兩側(cè)區(qū)域至少10mm寬母材或熱影響區(qū)寬度（取二者較大值）的內(nèi)部區(qū)域。任何情況下，聲束掃查應(yīng)覆蓋整個(gè)檢測(cè)區(qū)域。如果聲束不能覆蓋整個(gè)檢測(cè)區(qū)域，或者折射角不能滿(mǎn)足4.3.2的要求時(shí)，檢測(cè)雙方應(yīng)協(xié)商確定更換超聲檢測(cè)技術(shù)或者增加其他無(wú)損檢測(cè)方法。如有可能，宜磨平焊縫余高。可更換的超聲檢測(cè)技術(shù)，宜為雙晶斜射波束檢測(cè)，爬波檢測(cè)或其他超聲檢測(cè)技術(shù)?？稍黾拥臒o(wú)損檢測(cè)方法，宜為滲透檢測(cè)、磁粉檢測(cè)盒射線(xiàn)檢測(cè)等方法。在選擇附加的檢測(cè)技術(shù)時(shí)，宜充分考慮焊縫類(lèi)型和各種缺陷易出現(xiàn)的部位和走向。6探頭移動(dòng)區(qū)探頭移動(dòng)區(qū)應(yīng)足夠?qū)挘员ＷC聲束能覆蓋整個(gè)檢測(cè)區(qū)域（見(jiàn)圖2）。增加探測(cè)面，比如在焊接接頭雙面進(jìn)行掃查，可縮短探頭移動(dòng)區(qū)寬度。探頭移動(dòng)區(qū)表面應(yīng)平滑，無(wú)焊接飛濺、鐵屑、油垢及其他外部雜質(zhì)。探頭移動(dòng)區(qū)表面的不平整度，不應(yīng)引起探頭和工件的接觸間隙超過(guò)0.5mm。如果間隙超標(biāo)，應(yīng)修整探頭移動(dòng)區(qū)表面。當(dāng)焊縫表面局部變形導(dǎo)致探頭與焊縫的間隙大于1mm，可在受影響位置用其他角度探頭進(jìn)行補(bǔ)充掃查。如果該掃查能彌補(bǔ)未掃查到的檢測(cè)區(qū)域，此局部變形是允許的。探頭移動(dòng)區(qū)和聲束反射面應(yīng)允許無(wú)干擾的耦合劑和反射物。7母材檢測(cè)除非能證實(shí)（比如制造過(guò)程的預(yù)檢）母材金屬高衰減或缺欠的存在不影響橫波檢測(cè)，否則探頭移動(dòng)區(qū)（見(jiàn)圖2）的母材金屬應(yīng)在焊前或焊后進(jìn)行縱波檢測(cè)。存在缺欠的母材部位，應(yīng)對(duì)其是否影響橫波檢測(cè)效果進(jìn)行評(píng)定。如有影響，調(diào)整焊縫超聲檢測(cè)技術(shù)，嚴(yán)重影響聲束覆蓋整個(gè)檢測(cè)區(qū)域時(shí)則應(yīng)考慮更換其他檢測(cè)方法（比如射線(xiàn)檢測(cè)）。8時(shí)基線(xiàn)和靈敏度設(shè)定8.1概述依據(jù)本規(guī)程和附錄E要求，每次檢測(cè)前應(yīng)設(shè)定時(shí)基線(xiàn)和靈敏度，并考慮溫度的影響。時(shí)基線(xiàn)和靈敏度設(shè)定時(shí)的溫度與焊縫檢測(cè)時(shí)的溫度之差不應(yīng)超過(guò)15℃。檢測(cè)過(guò)程中至少每4個(gè)小時(shí)或檢測(cè)結(jié)束時(shí)，應(yīng)對(duì)時(shí)基線(xiàn)和靈敏度設(shè)定進(jìn)行校驗(yàn)。當(dāng)系統(tǒng)參數(shù)發(fā)生變化或等同設(shè)定變化受到質(zhì)疑時(shí)，也應(yīng)重新校驗(yàn)。如果在檢測(cè)過(guò)程中發(fā)現(xiàn)偏離，應(yīng)按表2要求進(jìn)行修正。8.2設(shè)定參數(shù)靈敏度應(yīng)選用下列任一技術(shù)設(shè)定參考靈敏度：技術(shù)1：以直徑為3mm橫孔作為基準(zhǔn)反射體，制作距離-波幅曲線(xiàn)（DAC）。技術(shù)2：以規(guī)定尺寸的平底孔（見(jiàn)表3和表4）作為基準(zhǔn)反射體，制作縱波/橫波距離-增益-尺寸曲線(xiàn)（DGS）。技術(shù)3：應(yīng)以寬度和深度均為1mm的矩形槽作為基準(zhǔn)反射體。該技術(shù)僅應(yīng)用于斜探頭（折射角≥70°）檢測(cè)厚度8mm≤t＜15mm的焊縫。技術(shù)4：串列技術(shù)。以直徑為6mm平底孔（所有厚度）作為基準(zhǔn)反射體，垂直于探頭移動(dòng)區(qū)。該技術(shù)僅應(yīng)用于斜探頭（折射角為45°）檢測(cè)厚度≥15mm的焊縫。橫孔和矩形槽的長(zhǎng)度應(yīng)大于用—20dB法測(cè)得的聲束寬度。8.3評(píng)定等級(jí)應(yīng)評(píng)定所有等于或超過(guò)評(píng)定等級(jí)的顯示。GB/T29712中表A.1給出了技術(shù)1?4的評(píng)定等級(jí)。9檢測(cè)等級(jí)焊接接頭的質(zhì)量要求，主要與材料、焊接工藝和服役狀況有關(guān)。依據(jù)質(zhì)量要求，本規(guī)程規(guī)定了3個(gè)檢測(cè)等級(jí)（A、B和C級(jí)）。從檢測(cè)等級(jí)A到檢測(cè)等級(jí)C，增加檢測(cè)覆蓋范圍（如增加掃查次數(shù)和探頭移動(dòng)區(qū)等），提高缺陷檢出率。針對(duì)各種探頭類(lèi)型，附錄A給除了檢測(cè)等級(jí)A到C的規(guī)定要求。附錄A給出的各種接頭類(lèi)型僅是理想狀態(tài)，實(shí)際的焊縫條件或可檢性與附錄A不完全一致時(shí)，應(yīng)修改檢測(cè)技術(shù)以滿(mǎn)足本標(biāo)準(zhǔn)通用要求和檢測(cè)等級(jí)規(guī)定要求。針對(duì)上述情況，應(yīng)制定一份書(shū)面檢測(cè)工藝規(guī)程。10檢測(cè)技術(shù)10.1概述應(yīng)根據(jù)10.2~10.5要求進(jìn)行超聲檢測(cè)。10.2手工掃查路徑在保持聲束垂直焊縫作前后移動(dòng)（見(jiàn)圖2）的同時(shí)，探頭還應(yīng)作10°左右的轉(zhuǎn)動(dòng)。10.3與檢測(cè)面垂直的缺欠檢測(cè)單一斜角檢測(cè)技術(shù)很難檢測(cè)與檢測(cè)面垂直的近表面平面缺陷。宜考慮采用特定的檢測(cè)技術(shù)檢測(cè)此類(lèi)缺陷（尤其厚焊縫檢測(cè)）。上述檢測(cè)技術(shù)的使用應(yīng)寫(xiě)入技術(shù)協(xié)議中。10.4顯示位置所有顯示的位置，應(yīng)參與一個(gè)坐標(biāo)系定義，如圖3表示。應(yīng)選擇檢測(cè)面的某一點(diǎn)作為測(cè)量原點(diǎn)。當(dāng)從多個(gè)面進(jìn)行的檢測(cè)時(shí)，每個(gè)檢測(cè)面都應(yīng)確定參考點(diǎn)。在這種情況下，應(yīng)當(dāng)建立所有參考點(diǎn)之間的位置關(guān)系，以便所有顯示的絕對(duì)位置可以從指定的參考點(diǎn)確定。環(huán)形焊縫可在裝配前確定內(nèi)外圈的參考點(diǎn)。10.5顯示評(píng)定10.5.1概述所有超過(guò)評(píng)定等級(jí)的相關(guān)顯示應(yīng)按10.5.2~10.5.4評(píng)定。10.5.2最大回波幅度應(yīng)移動(dòng)探頭找到最大回波幅度，并記錄相對(duì)于參考等級(jí)的幅度差值。10.5.3顯示長(zhǎng)度除非另有規(guī)定，縱向顯示長(zhǎng)度（lx）或橫向顯示長(zhǎng)度（lx），應(yīng)盡可能使用驗(yàn)收等級(jí)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的技術(shù)測(cè)定。10.5.4顯示自身高度僅在技術(shù)協(xié)議要求時(shí)，應(yīng)測(cè)定顯示自身高度。10.5.5顯示特征如有規(guī)定，顯示特征應(yīng)符合GB/T29711要求。11檢測(cè)報(bào)告檢測(cè)報(bào)告應(yīng)至少包含下列信息：a)被檢對(duì)象特征：1)材質(zhì)和產(chǎn)品門(mén)類(lèi)；2)尺寸；3)被檢焊縫/焊接接頭所處位置；4)幾何結(jié)構(gòu)草圖（如需）；5)焊接工藝，技術(shù)協(xié)議和熱處理狀態(tài)；6)制造狀態(tài)；7)表面狀態(tài)；8)被檢對(duì)象溫度。b)合同要求，例如工藝、導(dǎo)則、和特殊協(xié)議等；c)檢測(cè)地點(diǎn)和檢測(cè)日期；d)檢測(cè)機(jī)構(gòu)標(biāo)識(shí)和檢測(cè)人員資格認(rèn)證信息；e)超聲檢測(cè)儀制造商、機(jī)型和編號(hào)，如要求；f)探頭制造商、類(lèi)型、標(biāo)稱(chēng)頻率、晶片尺寸、實(shí)際折射角和編號(hào)，如要求；g)參考試塊編號(hào)，附帶草圖，如需；h)耦合劑；i)檢測(cè)等級(jí)和引用的書(shū)面檢測(cè)工藝規(guī)程；j)檢測(cè)范圍；k)探頭移動(dòng)區(qū)位置；l)參考點(diǎn)和所用坐標(biāo)系詳情，參考10.4；m)探頭放置部位，參考附錄A或草圖示意；n)時(shí)基線(xiàn)范圍；o)靈敏度設(shè)定方法和所用值（參考等級(jí)的增益設(shè)定和傳輸修正值）；p)參考等級(jí)；q)母材檢測(cè)結(jié)果；r)驗(yàn)收等級(jí)標(biāo)準(zhǔn)；s)與本標(biāo)準(zhǔn)或合同要求的偏離；t)顯示坐標(biāo)（參見(jiàn)10.4），給出相關(guān)檢測(cè)探頭及其位置；u)最大回波幅度（參見(jiàn)10.5.2），如要求，給出顯示的類(lèi)型和尺寸；v)顯示長(zhǎng)度（10.5.3）；w)按規(guī)定的驗(yàn)收等級(jí)給出評(píng)價(jià)結(jié)果；x)引用標(biāo)準(zhǔn)。附錄A（規(guī)范性附錄）各種類(lèi)型焊接接頭的檢測(cè)等級(jí)，見(jiàn)圖A.1~圖A.7和表A.1~表A.7。附錄D(規(guī)范性附錄)曲面工件實(shí)際折射角計(jì)算D．1縱向曲面磨弧探頭探頭的入射角度（αd）可從已測(cè)量的聲束折射角（α）與一條直線(xiàn)間來(lái)計(jì)算，一條線(xiàn)可以從探頭入射角與平行于入射聲束來(lái)得到，并將線(xiàn)在探頭一側(cè)做記號(hào)，如圖D.1所示。入射角可以從下式來(lái)得出：式中：Cd—探頭斜楔縱波聲速（通常有機(jī)玻璃縱波聲速為2730m/s）；Ct—被檢工件橫波聲速（一般鋼橫波聲速為3255m/s±15m/s）。修整后的探頭入射點(diǎn)將會(huì)沿著標(biāo)記線(xiàn)移動(dòng)，并且它的新位置可以用手工方法直接在探頭外殼上測(cè)定，如圖D.1所示。探頭折射角可通過(guò)滿(mǎn)足要求的橫孔最大回波來(lái)測(cè)定，也可在工件、參考試塊或者是在比比例圖紙上直接測(cè)定，如圖D.2所示。或者折射角可以用手工方法在參考試塊上測(cè)量的聲程長(zhǎng)度來(lái)計(jì)算出來(lái)，使用下式來(lái)計(jì)算：圖D.2中示意了方程式中各符號(hào)的含義。校準(zhǔn)所用表面的曲率半徑與被檢工件相比，誤差應(yīng)控制在±10%之內(nèi)。D.2橫向曲面磨弧探頭橫向曲面磨弧探頭修整后，探頭入射點(diǎn)位置的變化量（△x）如圖D.3所示。有機(jī)玻璃斜楔（сd=2730m/s），非合金鋼被檢件（сt=3255m/s），探頭入射點(diǎn)的位置變化（△x），三個(gè)最常用的聲束角度和修正深度（g）可從圖D.4中讀出。修整時(shí)不能改變聲束角度。如果聲束角度變化是未知的，或者修正深度沿著探頭長(zhǎng)度有任何變化時(shí)，應(yīng)在一個(gè)合適的修整后的參考試塊上利用橫孔來(lái)測(cè)定。聲束角度由以下決定：在比例圖上，在橫孔與探頭入射點(diǎn)之間畫(huà)一條直線(xiàn)：按圖D.5所建立的方程式來(lái)進(jìn)行計(jì)算。D.3折射角度規(guī)律見(jiàn)圖D.6D.4當(dāng)從外圓面掃查的聲程D.4.1全跨距D4.2半跨距D.5當(dāng)從內(nèi)圓面掃查時(shí)的聲束路徑D.5.1全跨距D.5.2半跨距附錄E(規(guī)范性附錄)時(shí)基線(xiàn)和靈敏度設(shè)定E.1概述使用脈沖波技術(shù)，應(yīng)在示波屏上設(shè)置超聲時(shí)基線(xiàn)，一束透射聲束的聲程距離、深度、水平距離、或者扣除前沿的水平距離的坐標(biāo)，見(jiàn)圖E.1。除非另有說(shuō)明，下述所提及設(shè)定時(shí)基線(xiàn)工藝是指聲束傳播的聲程距離（一個(gè)回波等于兩次的傳播路徑）。時(shí)基線(xiàn)的設(shè)定應(yīng)使用兩個(gè)已知時(shí)間或距離的參考回波進(jìn)行。根據(jù)預(yù)定的校準(zhǔn)值，能得知各自的聲程，深度，水平距離，或者扣除前沿的水平距離。該技術(shù)能夠確保通過(guò)延時(shí)塊(如探頭楔塊)的聲束傳播自動(dòng)校準(zhǔn)。假設(shè)參考試塊聲速可知，在該情況下設(shè)備的電子時(shí)基線(xiàn)通過(guò)一個(gè)回波就可以校準(zhǔn)。在時(shí)基線(xiàn)范圍內(nèi)的兩參考回波之間距離可等同于實(shí)際距離。運(yùn)用時(shí)基線(xiàn)掃描控制旋鈕將最高回波的波的前沿對(duì)應(yīng)于屏幕上預(yù)定的水平刻度值。準(zhǔn)確的校準(zhǔn)可用一個(gè)檢查信號(hào)來(lái)驗(yàn)證，檢查信號(hào)不一定與之前校準(zhǔn)設(shè)置的信號(hào)顯示在示波屏的同一位置,但能顯示在示波屏適當(dāng)?shù)奈恢?。E.2參考試塊和參考反射體對(duì)于鐵素體鋼的檢測(cè)建議使用GB/T19799.1中規(guī)定的1號(hào)校準(zhǔn)試塊或GB/T19799.2中規(guī)定的2號(hào)校準(zhǔn)試塊。只要已知參考試塊或被檢工件本身的探測(cè)面至反射體的聲程距離就可以用其來(lái)校準(zhǔn)時(shí)基線(xiàn)。參考試塊與被檢工件的聲速誤差應(yīng)在±5%之內(nèi)，否則應(yīng)進(jìn)行修正。E.3直探頭調(diào)節(jié)技術(shù)E.3.1單反射體調(diào)節(jié)參考試塊的厚度不得超過(guò)時(shí)基線(xiàn)設(shè)定范圍?？蓮?號(hào)校準(zhǔn)試塊厚度為25mm或100mm處得到合適的底面回波，或從2號(hào)校準(zhǔn)試塊的12.5mm處得到。也可選擇已知厚度的被檢工件，試塊與工件應(yīng)有相同的平表面或曲面,且石塊與工件的聲速應(yīng)相同.E.3.2多反射體調(diào)節(jié)要求參考試塊(或組合試塊)應(yīng)有不同聲程的兩個(gè)反射體（如橫孔）。重復(fù)地不斷移動(dòng)探頭位置找到每個(gè)反射體各自的最高回波，再通過(guò)調(diào)節(jié)時(shí)基線(xiàn)掃描控制旋鈕將相鄰兩個(gè)反射體的回波位置到準(zhǔn)確的位置來(lái)進(jìn)行時(shí)基線(xiàn)校準(zhǔn)。E.4斜探頭調(diào)節(jié)技術(shù)E．4.1試塊圓弧面調(diào)節(jié)用1號(hào)校準(zhǔn)試塊或2號(hào)校準(zhǔn)試塊的圓弧面來(lái)設(shè)定時(shí)基線(xiàn)。E．4.2縱波探頭調(diào)節(jié)轉(zhuǎn)換橫波探頭時(shí)基線(xiàn)可通過(guò)縱波探頭在1號(hào)校準(zhǔn)試塊的91mm厚度處設(shè)置，想對(duì)于在剛中50mm的橫波聲程。完成時(shí)基線(xiàn)設(shè)定之后，通過(guò)檢測(cè)時(shí)所用的探頭和已知聲程距離的反射體，僅用零點(diǎn)校準(zhǔn)旋鈕就可以來(lái)進(jìn)行時(shí)基線(xiàn)設(shè)置。E．4.3參考試塊調(diào)節(jié)這與E.3.2中針對(duì)直探頭調(diào)節(jié)原理相似。然而達(dá)到足夠精確，就必須找到最高回波，在試塊表面標(biāo)出聲速入射點(diǎn)，然后用手工方法測(cè)量反射體與相應(yīng)的標(biāo)記之間的距離。對(duì)所有后面的時(shí)基線(xiàn)校準(zhǔn)，探頭應(yīng)在這些標(biāo)記重新定位。E.5斜探頭時(shí)基線(xiàn)設(shè)置E.5.1平面平面工件檢測(cè)時(shí)，深度和水平距離主要取決于給定的聲速角度，可參照比例圖或以下公式：深度（t）：t=s?cosαt水平距離（α）α=s?sinαt扣除前沿的水平距離（αˊ）：αˊ=（s?sinα