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CCSF12Plasmaenhancedchemicalvapordeposition(PECVD)equIT/CPIA0065—2024前言 III 2規(guī)范性引用文件 3術(shù)語(yǔ)和定義 4工作環(huán)境及工作條件 25設(shè)備要求 25.1外觀 25.2安全 35.3主要功能 35.4性能 36試驗(yàn)方法 46.1基本性能 46.2薄膜基本參數(shù) 57檢驗(yàn)規(guī)則 77.1檢驗(yàn)類(lèi)型 77.2交付檢驗(yàn) 78標(biāo)志、包裝、搬運(yùn)和運(yùn)輸、貯存 88.1標(biāo)志 88.2包裝 88.3搬運(yùn)和運(yùn)輸 88.4貯存 9T/CPIA0065—2024本文件按照GB/T1.1—2020《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第1部分:標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則》的規(guī)定起草。請(qǐng)注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專(zhuān)利。本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別專(zhuān)利的責(zé)任。本文件由中國(guó)光伏行業(yè)協(xié)會(huì)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出。本文件由中國(guó)光伏行業(yè)協(xié)會(huì)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口。本文件起草單位:中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院、理想萬(wàn)里暉半導(dǎo)體設(shè)備(上海)股份有限公司、隆基綠能科技股份有限公司、湖南紅太陽(yáng)光電科技有限公司、北京北方華創(chuàng)微電子裝備有限公司、常州捷佳創(chuàng)精密機(jī)械有限公司、無(wú)錫帝科電子材料股份有限公司、杭州福斯特應(yīng)用材料股份有限公司、江蘇乾景??菩履茉从邢薰?、浙江潤(rùn)海新能源有限公司、江蘇愛(ài)康能源研究院有限公司。本文件主要起草人:王趕強(qiáng)、王慧慧、莊天奇、馬哲?chē)?guó)、盧俊雄、吳易龍、江偉、朱海劍、張洪旺、周光大、朱晨、劉松民、周春華、談劍豪。1T/CPIA0065—2024異質(zhì)結(jié)電池用等離子體增強(qiáng)化學(xué)氣相沉積(PECVD)設(shè)備本文件規(guī)定了本征薄膜異質(zhì)結(jié)電池用等離子體增強(qiáng)化學(xué)氣相沉積(PECVD)設(shè)備(以下簡(jiǎn)稱(chēng)“PECVD設(shè)備”)的術(shù)語(yǔ)和定義、工作環(huán)境、設(shè)備要求、試驗(yàn)方法、檢驗(yàn)規(guī)則以及包裝、標(biāo)志、搬運(yùn)和運(yùn)輸、貯存等。本文件適用于本征薄膜異質(zhì)結(jié)電池用PECVD設(shè)備。產(chǎn)品主要用于沉積多種薄膜材料,例如非晶硅、微晶硅、二氧化硅、氮化硅薄膜等本征薄膜材料等。2規(guī)范性引用文件下列文件中的內(nèi)容通過(guò)文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中,注日期的引用文件,僅該日期對(duì)應(yīng)的版本適用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改單)適用于本文件。GB/T191包裝儲(chǔ)運(yùn)圖示標(biāo)志GB2894—2008安全標(biāo)志及其使用導(dǎo)則GB/T5080.7設(shè)備可靠性試驗(yàn)恒定失效率假設(shè)下的失效率與平均無(wú)故障時(shí)間的驗(yàn)證試驗(yàn)方案GB/T5226.1—2019機(jī)械電氣安全機(jī)械電氣設(shè)備第1部分:通用技術(shù)條件GB/T6388運(yùn)輸包裝收發(fā)貨標(biāo)志GB/T8196—2018機(jī)械安全防護(hù)裝置固定式和活動(dòng)式防護(hù)裝置設(shè)計(jì)與制造一般要求GB/T11164—2011真空鍍膜設(shè)備通用技術(shù)條件GB12348—2008工業(yè)企業(yè)廠界環(huán)境噪聲排放標(biāo)準(zhǔn)GB/T13306標(biāo)牌GB/T13384機(jī)電產(chǎn)品包裝通用技術(shù)條件GB/T25915.1—2021潔凈室及相關(guān)受控環(huán)境第1部分:空氣潔凈度等級(jí)GB/T30116半導(dǎo)體生產(chǎn)設(shè)施電磁兼容性要求GB50052—2009供配電系統(tǒng)設(shè)計(jì)規(guī)范GB50231—2009機(jī)械設(shè)備安裝工程施工及驗(yàn)收通用規(guī)范GB50646—2020特種氣體系統(tǒng)工程技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)SJ/T1552電子工業(yè)專(zhuān)用設(shè)備機(jī)械裝配技術(shù)要求SJ/T1635電子工業(yè)管路的基本識(shí)別色和識(shí)別符號(hào)SJ/T10674—1995涂料涂覆通用技術(shù)條件SJ20984—2008化學(xué)氣相沉積設(shè)備通用規(guī)范3術(shù)語(yǔ)和定義下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件。3.1等離子體增強(qiáng)化學(xué)氣相沉積plasmaenhancedchemicalvapordeposition;PECVD利用微波、射頻、高頻等電源系統(tǒng),在特定條件下激發(fā)氣體生成等離子體(該氣體也稱(chēng)氣態(tài)前驅(qū)物,它在電磁場(chǎng)的作用下發(fā)生離子化)形成激發(fā)態(tài)的活性基團(tuán),活性基團(tuán)擴(kuò)散到基片表面并在一定溫度下發(fā)生化學(xué)反應(yīng),生成物在基片表面沉積形成所需薄膜的一種工藝技術(shù)。3.2板式等離子體增強(qiáng)化學(xué)氣相沉積設(shè)備platetypeplasmaenhancedchemicalvapordepositionequipment2T/CPIA0065—2024利用板式等離子體增強(qiáng)化學(xué)氣相沉積法(PECVD)制備薄膜的設(shè)備。注:一般采用微波、射頻、高頻等電源系統(tǒng),將射頻功率輸送到反應(yīng)腔內(nèi)的兩個(gè)間,通入反應(yīng)氣體,在一定的壓強(qiáng)范圍內(nèi),兩個(gè)電極之間電感或者電容耦合形成穩(wěn)定的等離子體區(qū)域內(nèi)實(shí)現(xiàn)化學(xué)反應(yīng),在基片上沉3.3本征薄膜異質(zhì)結(jié)電池heterojunctioncrystallinesiliconphotovoltaiccell由摻雜非晶硅或微晶硅薄膜發(fā)射區(qū)、極薄硅薄膜本征層和晶體硅基區(qū)構(gòu)成的異質(zhì)結(jié)電池。3.4非晶硅薄膜amorphoussiliconthinfilm結(jié)構(gòu)特征為短程有序而長(zhǎng)程無(wú)序的α-硅。3.5微晶硅薄膜microcrystallinesiliconthinfilm介于非晶硅和單晶硅之間的一種混合相無(wú)序半導(dǎo)體材料。4工作環(huán)境及工作條件PECVD設(shè)備的工作環(huán)境及工作條件應(yīng)滿(mǎn)足以下要求:a)環(huán)境溫度20~30)℃;b)相對(duì)濕度40~60)%;c)環(huán)境凈化等級(jí):PECVD主設(shè)備運(yùn)行環(huán)境應(yīng)符合GB/T25915.1—2010規(guī)定中的ISO7級(jí),與硅片運(yùn)輸傳送相關(guān)的自動(dòng)化區(qū)域應(yīng)符合ISO6級(jí);一些特殊的工藝應(yīng)在其規(guī)定的環(huán)境條件下進(jìn)d)大氣壓強(qiáng):8.6×105Pa~1.06×105Pa;e)地面平整度:一套機(jī)臺(tái)范圍內(nèi),地面平整度≤3mm/m;1)三相五線交流380(±10%)V;2)頻率50(±1%)Hz;3)一般接地電阻≤4Ω。g)有毒排氣:宜燃燒水洗式尾氣處理裝置,裝置應(yīng)能同時(shí)處理:可燃性氣體、腐蝕性氣體、工藝外腔大氣;應(yīng)具有抗粉塵堆積、抗腐蝕能力;h)尾氣處理裝置的吸氣壓力≤-700Pa;i)無(wú)毒排氣:管壓≤-200Pa;j)廠務(wù)系統(tǒng)應(yīng)具備特殊氣體泄漏偵測(cè)、監(jiān)控和報(bào)警系統(tǒng),應(yīng)符合GB50646—2020的規(guī)定;k)冷卻水廠務(wù)應(yīng)滿(mǎn)足:1)電導(dǎo)率(25℃):10us/cm~20us/cm;2)pH值:6.5~7.5;3)入口溫度:21℃±3℃;4)入口壓力:3.5×105Pa~4.9×105Pa;5)壓差:2.5×105Pa~3.9×105Pa。l)工藝氣體配置:宜包含硅烷、氫氣、硼烷、磷烷、三氟化氮、氬氣、氮?dú)?、甲烷、二氧化碳m)其他環(huán)境要求應(yīng)按照GB/T11164—2011的相關(guān)規(guī)定執(zhí)行。5設(shè)備要求5.1外觀PECVD設(shè)備外觀及結(jié)構(gòu)要求如下:a)設(shè)備表面不應(yīng)有明顯的凹凸不平、劃傷、銹蝕等缺陷,零部件應(yīng)完整無(wú)缺;b)表面涂覆的零部件,應(yīng)符合SJ/T10674—1995的規(guī)定;c)應(yīng)無(wú)表面剝落、劃傷等痕跡;3T/CPIA0065—2024d)所有氣體管道應(yīng)排布整齊合理,各種管路的涂色符合SJ/T1635的規(guī)定;e)設(shè)備標(biāo)識(shí)和標(biāo)志應(yīng)清晰、準(zhǔn)確;f)設(shè)備設(shè)計(jì)應(yīng)合理,便于操作、裝拆、維修;g)設(shè)備應(yīng)根據(jù)排廢要求設(shè)置有毒氣體和一般氣體的排氣接口;h)設(shè)備各運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)應(yīng)運(yùn)轉(zhuǎn)靈活,無(wú)卡滯現(xiàn)象,無(wú)異響;i)設(shè)備緊急停止和關(guān)閉按鈕應(yīng)分布合理。5.2安全為保證設(shè)備安全使用,需要達(dá)到以下要求:a)設(shè)備設(shè)計(jì)安全、防護(hù)裝備等設(shè)計(jì)應(yīng)符合GB/T8196—2018的規(guī)定;b)設(shè)備安裝施工規(guī)范應(yīng)符合GB50231—2009的規(guī)定;c)電氣連接及安全應(yīng)符合GB/T5226.1—2019的規(guī)定。5.3主要功能5.3.1沉積薄膜功能異質(zhì)結(jié)板式PECVD設(shè)備的沉積工藝所需薄膜應(yīng)滿(mǎn)足以下要求:a)金屬沉積腔室中采用平板型或者類(lèi)平板型的電極,腔室中的工藝氣體在兩個(gè)極板之間的交流電場(chǎng)的作用下在沉積腔內(nèi)形成等離子體。多片硅片被放置在平板式的載板上,后隨載板進(jìn)入沉積腔室,在沉積腔體內(nèi)等離子體作用下沉積相應(yīng)薄膜至硅片上;b)加熱溫度要求:150℃~300℃連續(xù)可調(diào),具備溫度自調(diào)節(jié)功能;c)壓力控制要求:具有壓力自動(dòng)控制功能。5.3.2自動(dòng)化功能自動(dòng)化功能應(yīng)滿(mǎn)足:a)滿(mǎn)足PECVD工藝設(shè)備的自動(dòng)化需求,可實(shí)現(xiàn)PECVD工藝載板自動(dòng)循環(huán)、硅片承載花籃內(nèi)部循環(huán)、工藝前及工藝后硅片自動(dòng)上下料、硅片自動(dòng)翻片功能;b)硅片完成所有工藝后需有后端檢測(cè)設(shè)備,對(duì)不符合要求的半成品自動(dòng)完成剔除動(dòng)作;c)自動(dòng)線要求能自動(dòng)識(shí)別各制程階段不同的硅片承載花籃,不可混用;d)自動(dòng)線具有可選的手動(dòng)送片功能,工藝過(guò)程中可選半自動(dòng)、手動(dòng)控制功能;e)具有故障診斷、報(bào)警和保護(hù)功能。5.3.3軟件控制功能軟件控制功能應(yīng)滿(mǎn)足:a)軟件具有分級(jí)登錄及管理權(quán)限;b)設(shè)備運(yùn)行具有自動(dòng)、半自動(dòng)及手動(dòng)模式;c)設(shè)備可同時(shí)存儲(chǔ)多個(gè)工藝流程可供選擇,并默認(rèn)使用上一次的流程;d)錯(cuò)誤/故障信息即時(shí)反饋,同時(shí)報(bào)警燈以不同顏色的報(bào)警相關(guān)信息;e)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)及查詢(xún)功能。5.4性能5.4.1基本性能參數(shù)設(shè)備基本性能參數(shù)及檢測(cè)方式應(yīng)滿(mǎn)足表1要求。表1設(shè)備基本性能參數(shù)14T/CPIA0065—2024表1設(shè)備基本性能參數(shù)(續(xù))234567150℃~300℃895.4.2制備薄膜基本參數(shù)PECVD設(shè)備的工藝性能應(yīng)滿(mǎn)足表2要求。表2PECVD設(shè)備工藝性能要求12非晶、微晶<5%3非晶、微晶<5%456試驗(yàn)方法6.1基本性能6.1.1運(yùn)行噪音設(shè)備正常運(yùn)行時(shí)在距離設(shè)備正前方1m處,使用聲級(jí)計(jì)(精確度不低于1dB)測(cè)量的等效連續(xù)A聲級(jí)噪聲。6.1.2路管道漏氣率使用質(zhì)譜型氦檢測(cè)(檢測(cè)精確度不低于1×10-8Pa·L/s),采用內(nèi)向測(cè)漏法測(cè)定。6.1.3真空腔體氦檢漏率使用質(zhì)譜型氦檢測(cè)(檢測(cè)精確度不低于1×10-8Pa·L/s),采用內(nèi)向測(cè)漏法測(cè)定。5T/CPIA0065—20246.1.4真空室極限壓力對(duì)反應(yīng)腔室連續(xù)抽真空,觀察真空壓力計(jì)(精確度不低于0.1Pa)讀數(shù)變化,當(dāng)真空度數(shù)值不再明顯變化時(shí),記錄此數(shù)值。6.1.5壓升率對(duì)反應(yīng)腔室連續(xù)抽真空,觀察真空壓力計(jì)讀數(shù)變化,當(dāng)真空度數(shù)值不再明顯變化時(shí),關(guān)閉與真空室連接的真空閥,待5分鐘真空室壓力上升至P1時(shí),開(kāi)始計(jì)時(shí)t1,經(jīng)過(guò)一段時(shí)間到達(dá)t2后記錄P2數(shù)據(jù),然后按下面公式(1)計(jì)算壓升率:式中:M——壓升率,單位為帕每小時(shí)(Pa/h);P1——腔體初始真空壓力,單位為帕(Pa);P2——腔體最終真空壓力,單位為帕(Pa);t1——壓力記錄開(kāi)始時(shí)間,單位為小時(shí)(ht2——壓力記錄結(jié)束時(shí)間,單位為小時(shí)(h)。6.1.6表面溫度使用表面溫度傳感器,監(jiān)控設(shè)備表面溫度,使之保持在60℃以下。6.1.7腔內(nèi)工藝溫度范圍腔內(nèi)工藝溫度應(yīng)滿(mǎn)足以下要求:a)使用溫度傳感器,監(jiān)控腔內(nèi)工藝溫度,使之保持在工藝所需溫度;b)工藝腔溫度調(diào)節(jié)范圍為150℃~300℃。6.1.8腔內(nèi)單點(diǎn)溫度穩(wěn)定性將溫度設(shè)置為設(shè)備控溫范圍內(nèi)的某一適當(dāng)值,當(dāng)溫度達(dá)到設(shè)定值后穩(wěn)定30min,根據(jù)SJ/T20984—2008中c)的計(jì)算方法,計(jì)算溫度單點(diǎn)穩(wěn)定性。6.1.9最大升溫速率將溫度設(shè)置為設(shè)備控溫范圍內(nèi)的某一適當(dāng)值,記錄開(kāi)始升溫至溫度達(dá)到設(shè)定值的時(shí)間,計(jì)算升溫速6.1.10最大降溫速率將溫度設(shè)置為設(shè)備控溫范圍內(nèi)的某一適當(dāng)值,記錄開(kāi)始降溫至溫度達(dá)到設(shè)定值的時(shí)間,計(jì)算降溫速6.2薄膜基本參數(shù)6.2.1片內(nèi)膜厚均勻性采用玻璃基底,在產(chǎn)線工藝下制備100nm厚度的薄膜,單載板內(nèi)取9片玻璃(取片位置見(jiàn)圖2每片玻璃用橢偏儀測(cè)9點(diǎn)薄膜厚度取平均值(取點(diǎn)位置見(jiàn)圖3,周邊四點(diǎn)中心軸線對(duì)稱(chēng),距離邊緣10mm按照公式(2)計(jì)算片內(nèi)膜厚均勻性:6T/CPIA0065—2024圖2取9片位置示意圖圖3單片膜厚測(cè)量位置示意圖式中:U(p-t-p)——片內(nèi)膜厚均勻性,單位為百分率(%);tmax——片內(nèi)最大膜厚,單位為納米(nm);tmin——片內(nèi)最小膜厚,單位為納米(nm)。6.2.2片間膜厚均勻性在采用完全相同的工藝條件和參數(shù)完成沉積工藝的同一批基片中,取9片作為測(cè)量樣品。一般在同一載板內(nèi)選取中心、中間和四角位置鍍膜后的9片硅片作為測(cè)量片(見(jiàn)圖2),每片樣品采用橢偏儀測(cè)量膜厚。按照公式(3)計(jì)算片間膜厚均勻性:式中:U(w-t-w)——片間膜厚均勻性,單位為百分率(%);Tmax——單片平均最大膜厚,單位為納米(nm);Tmin——單片平均最小膜厚,單位為納米(nm)。6.2.3批次膜厚均勻性在采用完全相同的工藝條件和參數(shù)完成沉積工藝的若干批基片中,12個(gè)小時(shí)內(nèi)每4小時(shí)抽測(cè)一片載板,每片載板取9片硅片,每片采用橢偏儀測(cè)量9點(diǎn)的膜厚,取批次平均值,按照公式(4)計(jì)算批次膜厚均勻性:式中:U(b-t-b)——批次膜厚均勻性,單位為百分率(%);Tkmax——單載板平均最大膜厚,單位為納米(nmTkmin——單載板平均最小膜厚,單位為納米(nm)。7T/CPIA0065—20246.2.4片間隱含開(kāi)路電壓均勻性同一載板內(nèi)取9片覆膜硅片,每片測(cè)隱含開(kāi)路電壓iVoc(impliedopencircuitvoltage),再按公式(5)計(jì)算其片間均勻性:式中:iVoc(w-t-w)——片間iVoc均勻性,單位為百分率(%);iVocmax——片內(nèi)iVoc的最大值,單位為毫伏(mV);iVocmin——片間iVoc的最小值,單位為毫伏(mV)。6.2.5批次隱含開(kāi)路電壓均勻性12個(gè)小時(shí)內(nèi),每4小時(shí)抽測(cè)1載板,每載板按圖2位置取9片覆膜硅片,每片按圖3位置測(cè)9點(diǎn)隱含開(kāi)路電壓iVoc,取批次平均值后,按公式(6)計(jì)算其均勻性:式中:iVoc(b-t-b)——批次間iVoc均勻性,單位為百分率(%);Tave-max——批次間iVoc平均值的最大值,單位為毫伏(mV);Tave-min——批次間iVoc平均值的最小值,單位為毫伏(mV)。7檢驗(yàn)規(guī)則7.1檢驗(yàn)類(lèi)型PECVD設(shè)備的檢驗(yàn)為交付檢驗(yàn)。7.2交付檢驗(yàn)7.2.1交付檢驗(yàn)應(yīng)在設(shè)備運(yùn)至客戶(hù)指定地點(diǎn)后,在用戶(hù)現(xiàn)場(chǎng)安裝、調(diào)試后進(jìn)行。7.2.2交付檢驗(yàn)項(xiàng)目應(yīng)符合表3的規(guī)定。當(dāng)所有檢驗(yàn)項(xiàng)目均滿(mǎn)足表3的要求時(shí),則判定合格;否則判定不合格。表3檢驗(yàn)項(xiàng)目1234567897.2.3交付檢驗(yàn)項(xiàng)目中任一項(xiàng)出現(xiàn)故障時(shí),應(yīng)停止檢驗(yàn),查出故障原因,排除故障后,重新進(jìn)行檢驗(yàn)。7.2.4交付檢驗(yàn)項(xiàng)目若無(wú)法排除故障以達(dá)到檢測(cè)要求,則該設(shè)備判為不合格。8T/CPIA0065—20248標(biāo)志、包裝、搬運(yùn)和運(yùn)輸、貯存8.1標(biāo)志8.1.1設(shè)備標(biāo)牌應(yīng)在明顯部位設(shè)置字跡清晰、牢固耐久的標(biāo)牌,并符合GB/T13306的規(guī)定。標(biāo)牌中至少應(yīng)包含以下內(nèi)容:a)設(shè)備名稱(chēng)和型號(hào);b)設(shè)備額定電壓、額定電流、額定功率;c)設(shè)備外形尺寸和重量;d)出廠編號(hào)、制造日期;e)制造單位名稱(chēng)或商標(biāo)。8.1.2安全標(biāo)志安全標(biāo)志應(yīng)符合以下要求:a)安全標(biāo)志圖形的含義、顏色組合與使用方法應(yīng)符合GB2894—2008的規(guī)定;b)設(shè)備的特殊安全要求及應(yīng)遵守的操作規(guī)程應(yīng)根據(jù)需要制成標(biāo)牌,固定在醒目位置。8.1.3包裝標(biāo)志包裝標(biāo)志應(yīng)符合:a)包裝箱上應(yīng)“易碎物品”“禁止翻滾”“向上”“怕濕”等儲(chǔ)運(yùn)圖示標(biāo)志,需要吊裝的包裝箱應(yīng)有“由此吊起”標(biāo)志,且儲(chǔ)運(yùn)圖示標(biāo)志應(yīng)符合GB/T191的規(guī)定。b)需要時(shí),包裝箱應(yīng)按GB/T6388的規(guī)定標(biāo)明收發(fā)貨標(biāo)志,至少應(yīng)包含設(shè)備名稱(chēng)、型號(hào)和規(guī)格、包裝箱體積和重量、收貨地點(diǎn)和單位、發(fā)貨單位、包裝日期等信息。8.2包裝包裝應(yīng)符合:a)包裝的通用原則是足夠滿(mǎn)足運(yùn)輸條件及貯存條件,能確保設(shè)備及零部件不會(huì)產(chǎn)生損壞、破損、生銹等情況。b)應(yīng)采用木箱包裝,同時(shí)采用防潮包裝、防震包裝等防護(hù)包裝,具體應(yīng)滿(mǎn)足GB/T13384的相應(yīng)規(guī)定。包裝應(yīng)牢固可靠,包裝箱邊角用扎帶加固,防止開(kāi)裂。c)重要機(jī)械部分及零部件須使用真空鋁箔和塑料膜的包裝方式,其他設(shè)備和零部件采用防水、防潮包裝,使設(shè)備在長(zhǎng)時(shí)間的運(yùn)輸過(guò)程中得到更好的防潮、防銹、防腐效果d)包裝材料應(yīng)清潔干燥,且具有防霉、防蛀等特性,不應(yīng)使用導(dǎo)致設(shè)備銹蝕及產(chǎn)生有害氣體的材料(如石棉)。緩沖和包裹材料應(yīng)阻燃、無(wú)腐蝕性
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