超聲檢測(cè)知到智慧樹(shù)章節(jié)測(cè)試課后答案2024年秋蘭州石化職業(yè)技術(shù)大學(xué)

超聲檢測(cè)知到智慧樹(shù)章節(jié)測(cè)試課后答案2024年秋蘭州石化職業(yè)技術(shù)大學(xué)第一章單元測(cè)試

超聲波檢測(cè)法不能用于混凝土結(jié)構(gòu)材料()

A:錯(cuò)B:對(duì)

答案:錯(cuò)在特種設(shè)備行業(yè)中，超聲檢測(cè)通常指（）。

A:幾何特性測(cè)量

B:力學(xué)性能檢測(cè)

C:材料厚度測(cè)量

D:宏觀缺陷測(cè)量

答案:材料厚度測(cè)量

；宏觀缺陷測(cè)量

利用超聲波來(lái)對(duì)固體內(nèi)部進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)，始于（）。

A:20世紀(jì)20年代末

B:20世紀(jì)20年代初

C:20世紀(jì)20年代中

D:19世紀(jì)20年代末

答案:20世紀(jì)20年代末

頻率低于20Hz的機(jī)械波稱為次聲波。（）

A:錯(cuò)B:對(duì)

答案:對(duì)對(duì)于鋼等金屬材料的檢測(cè)。常用頻率為15~20MHz的超聲波（）

A:錯(cuò)B:對(duì)

答案:錯(cuò)

第二章單元測(cè)試

當(dāng)材料確定時(shí)，波長(zhǎng)與波速成正比，與頻率成反比。（）

A:錯(cuò)B:對(duì)

答案:對(duì)固體介質(zhì)中既可以傳播縱波，又可以傳播橫波。（）

A:錯(cuò)B:對(duì)

答案:對(duì)頻譜特征量主要有（）。

A:峰值頻率

B:頻帶寬度

C:幅度峰值

D:中心頻率

答案:峰值頻率

；頻帶寬度

；中心頻率

兩束頻率相同但行進(jìn)方向相反的聲波的疊加可形成駐波。（）

A:錯(cuò)B:對(duì)

答案:對(duì)根據(jù)惠更斯-菲涅耳原理，任一點(diǎn)波的振動(dòng)，可視為（）。

A:到達(dá)該點(diǎn)的所有原波干涉的結(jié)果

B:到達(dá)該點(diǎn)的所有次波干涉的結(jié)果

C:到達(dá)該點(diǎn)的原波

D:到達(dá)該點(diǎn)的次波

答案:到達(dá)該點(diǎn)的所有次波干涉的結(jié)果

在同一種固體材料中，橫波的聲速比縱波的聲速（）。

A:慢

B:快

C:相同

答案:慢

液體和氣體介質(zhì)中只能傳播（）。

A:表面波

B:縱波

C:橫波

答案:縱波

下列材料中聲速最低的是（）。

A:空氣

B:不銹鋼

C:水

D:鋁

答案:空氣

在水中不僅能傳播縱波，也能傳播橫波（）

A:錯(cuò)B:對(duì)

答案:錯(cuò)

第三章單元測(cè)試

波長(zhǎng)越短,近場(chǎng)長(zhǎng)度越短,晶片直徑越大,近場(chǎng)長(zhǎng)度也越長(zhǎng)。（）

A:錯(cuò)B:對(duì)

答案:錯(cuò)A型顯示探傷儀，利用D.G.S曲線板是不能直觀顯示缺陷的當(dāng)量大小和缺陷深度的（）

A:對(duì)B:錯(cuò)

答案:對(duì)聲源面積不變時(shí),超聲波頻率越高,超聲場(chǎng)的近場(chǎng)長(zhǎng)度越短（）

A:錯(cuò)B:對(duì)

答案:錯(cuò)在第二介質(zhì)中橫波折射角達(dá)到90°時(shí),在第一介質(zhì)中的縱波入射角度稱為第二臨界角（）

A:對(duì)B:錯(cuò)

答案:對(duì)超聲波探頭的半擴(kuò)散角近似與晶片直徑成反比,與波長(zhǎng)成正比（）

A:對(duì)B:錯(cuò)

答案:對(duì)超聲波聲場(chǎng)的近場(chǎng)長(zhǎng)度愈短，聲束指向性愈好（）

A:錯(cuò)B:對(duì)

答案:錯(cuò)如果超聲波頻率增加，則一定直徑晶片的聲束擴(kuò)散角將（）

A:保持不變

B:減少

C:增大

D:隨波長(zhǎng)均勻變化

答案:減少

在水/鋼界面上，水中入射角為7°，在鋼中主要存在的振動(dòng)波型是（）

A:縱波、橫波同時(shí)存在

B:縱波、橫波都不存在

C:縱波

D:橫波

答案:縱波、橫波同時(shí)存在

第四章單元測(cè)試

超聲檢測(cè)儀按照其指示的參量可以分為（）。

A:共振測(cè)厚儀

B:數(shù)字式超聲檢測(cè)儀

C:脈沖波檢測(cè)儀

D:穿透式檢測(cè)儀

答案:共振測(cè)厚儀

；脈沖波檢測(cè)儀

；穿透式檢測(cè)儀

當(dāng)晶體材料在交變電場(chǎng)作用下，產(chǎn)生伸縮變形的效應(yīng)稱為壓電效應(yīng)。（）

A:對(duì)B:錯(cuò)

答案:錯(cuò)模擬試塊材料應(yīng)盡可能與被檢工件相同或相近。（）

A:對(duì)B:錯(cuò)

答案:對(duì)壓電晶片的壓電應(yīng)變常數(shù)大，則說(shuō)明該晶片接收性能好。（）

A:錯(cuò)B:對(duì)

答案:錯(cuò)檢驗(yàn)近表面缺陷，最有效的方法是（）。

A:收發(fā)聯(lián)合雙晶探頭

B:斜探頭

C:可變角探頭

D:直探頭

答案:收發(fā)聯(lián)合雙晶探頭

探頭型號(hào)組成項(xiàng)目包括（）。

A:晶片材料

B:基本頻率

C:探頭種類

D:晶片尺寸

E:探頭特征

答案:晶片材料

；基本頻率

；探頭種類

；晶片尺寸

；探頭特征

探傷面上涂敷耦合劑的主要目的是（）。

A:消除探頭與探測(cè)面之間的空氣

B:防止工件生銹

C:防止探頭磨損

D:有利于探頭滑動(dòng)

答案:消除探頭與探測(cè)面之間的空氣

超聲檢測(cè)用試塊通常分為（）。

A:對(duì)比試塊

B:模擬試塊

C:測(cè)試試塊

D:標(biāo)準(zhǔn)試塊

答案:對(duì)比試塊

；模擬試塊

；標(biāo)準(zhǔn)試塊

我國(guó)的CSK-1A試塊是在IIW試塊的基礎(chǔ)上改進(jìn)后得到的，其中將直孔φ50改成階梯孔（）。

A:φ30

B:φ40

C: