DB50T 727-2016 移動(dòng)通信用無(wú)源器件技術(shù)條件　

備案號(hào)：51842-2017DB50Technicalconditionsofmobilecommunicationmicrowavepassivecomponents重慶市質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布I II 12規(guī)范性引用文件 1 1 3 34.2外觀與結(jié)構(gòu) 34.3鏈接端口規(guī)格 44.4機(jī)械物理性能 44.5電氣性能 44.6環(huán)境性能 7 75.1試驗(yàn)環(huán)境要求 75.2儀器要求 75.3外觀檢查 8 8 95.6環(huán)境試驗(yàn) 6檢驗(yàn)規(guī)則 6.2出廠檢驗(yàn) 6.3型式試驗(yàn) 7.3運(yùn)輸 本標(biāo)準(zhǔn)按照GB/T1.1-2009給出的規(guī)則起草。本標(biāo)準(zhǔn)由重慶市計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院提出。本標(biāo)準(zhǔn)由重慶市經(jīng)濟(jì)和信息化委員會(huì)歸口。本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：重慶市計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)研究院、重慶普天通信設(shè)備有限公司。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：趙軼、劉勇、胡國(guó)輝、李培培、楊翠、曹曉鋒、李海東。請(qǐng)注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利，本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別這些專利的貴任。本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了移動(dòng)通信用無(wú)源器件(以下簡(jiǎn)稱無(wú)源器件)的相關(guān)術(shù)語(yǔ)、定義、要求、試驗(yàn)方法、檢本標(biāo)準(zhǔn)適用于功分器、耦合器、3dB電橋2規(guī)范性引用文件凡是不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改單)適用于本文件。GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)A:低溫GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)B:高溫GB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)Cab:恒定濕熱GB/T2829-2002周期檢驗(yàn)計(jì)數(shù)抽樣程序及表(適用于對(duì)過(guò)程穩(wěn)定性的檢驗(yàn))GB/T3873-1983通信設(shè)備產(chǎn)品包裝通用技術(shù)條件YD/T1967移動(dòng)通信用50Ω射頻同軸連接器不依常外加電源(直流或交流)的存在就能獨(dú)立表現(xiàn)出其外特性的器件。無(wú)源器件或有源器件中，除信源的輸入端(或輸出端)以外的其他端口與標(biāo)稱阻抗負(fù)載相連接，信源的輸入端(或輸出端)電壓的波峰和波谷的比值。2有效工作帶寬bandwidth無(wú)源器件的工作發(fā)射支路(或接收支路)允許工作頻率范圍內(nèi)的中心稱為發(fā)射支路(或接收支路)34.1環(huán)境條件a)溫度：-25℃~+60℃4.2.1無(wú)源器件表面應(yīng)進(jìn)行防銹處理，涂覆層應(yīng)表面光潔、色澤均勻、無(wú)流掛、無(wú)露底，不得有銹蝕、4.2.2當(dāng)器件通過(guò)極限環(huán)境條件測(cè)試時(shí)，器件應(yīng)不出現(xiàn)變色或脫漆脆化、開(kāi)裂、粘度增大和固化、機(jī)44.4機(jī)械物理性能4.4.1互換性4.4.2拔出力4.4.3機(jī)械耐久性4.4.4固定接觸件抗拉力N4.5電氣性能1N為功分器分支數(shù)(2≤N≤4)2345山制造商規(guī)定注：限值保留2位小數(shù)，數(shù)值修約按照GB/T817054.5.2帶內(nèi)波動(dòng)d)合路器：由制造商規(guī)定。4.5.5隔離度a)微帶功分器：≥20注：腔體功分器不做要求。4.5.6帶外抑制表3互調(diào)抑制≤-145dBc(43dBm×2)三階、≤-160dBc(43dBm×2)五階≤-140dBc(43dBn×2)三階、≤-155dBc(43dBm×2)五階≤-120dBe(43dB×2)三階、≤-145dBe(43dBm×2)五階≤-110dBe(43dBm×2)三階、≤-140dBc(43dBm×2)五階4.5.8功率容量耐功半等級(jí)峰值功率容量(窄帶信源)峰值功半容量(寬帶信源)6表4功率容量(續(xù))峰值功率容量(窄帶信源)峰值功率容量(寬帶信源)10W×4路調(diào)制載波10W×3路調(diào)制載波注：在上述測(cè)試過(guò)程中不產(chǎn)生飛弧、擊穿且雜散噪聲≤-108dBm/30kHz。4.5.9接觸電阻N內(nèi)導(dǎo)體間外導(dǎo)體間4.5.10絕緣電阻N向低溫4.5.11抗電強(qiáng)度連接端口的導(dǎo)體之間應(yīng)能承受頻率為50Hz,有效值為表7所示的交流試驗(yàn)電壓，作用時(shí)間1min無(wú)擊表7耐電壓?jiǎn)挝唬海常態(tài)高低溫后濕熱后注：常態(tài)足指正常試驗(yàn)條件，溫度為15~35℃,相對(duì)濕度為45~75%,氣壓為70~106kPa.74.6環(huán)境性能4.6.1低溫試驗(yàn)要求試驗(yàn)溫度為-25℃±3℃,試驗(yàn)時(shí)間為2h;試驗(yàn)后無(wú)源器件仍能符合第4.2條、第4.4條和第4.5條4.6.2高溫試驗(yàn)要求試驗(yàn)溫度為+60℃±2℃,試驗(yàn)時(shí)間為2h:試驗(yàn)后無(wú)源器件仍能符合第4.2條、第4.4條和第4.5條的4.6.3濕熱試驗(yàn)要求試驗(yàn)溫度為+40℃±2℃,相對(duì)濕度為85%～95%,試驗(yàn)時(shí)間為24h,試驗(yàn)類(lèi)型為恒定濕熱：試驗(yàn)后無(wú)5試驗(yàn)方法5.1試驗(yàn)環(huán)境要求b)相對(duì)濕度：≤75%c)大氣壓力：90kPa~106kPa表8儀器要求12電阻誤差：±20%3456中使用的所有連接器)經(jīng)校準(zhǔn)后的殘余駐波比應(yīng)不人于1.06。測(cè)量系統(tǒng)比不大于1.03)的饋線。7標(biāo)稱阻抗應(yīng)等于509,在所有測(cè)試頻段內(nèi)的駐波比均應(yīng)損耗小于等于-26dB.8表8儀器要求(續(xù))8頻本范同：10~6000MHz9同軸哀減器標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試件頻率范圍：DC~3000MHz功*:50W電纜標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試件頻率：0~6000MHz回波損耗：≤-26dB頻率范圍：800~2500MHz功率：20W(2ch)5.3外觀檢查5.4機(jī)械物理性能試驗(yàn)5.4.1互換性5.4.2拔出力5.4.4固定接觸件抗拉力為0.1m/s,施加表4拉力強(qiáng)度1min時(shí)間。觀察固定在插拔壽命機(jī)上的器件連接器，軸向位移應(yīng)不超過(guò)95.5.1S參數(shù)測(cè)量S參數(shù)包含插入損耗、帶內(nèi)波動(dòng)、駐波比和隔離度，測(cè)試步驟如下：a)按圖1所示連接測(cè)試系統(tǒng)：b)設(shè)置矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀為50歐姆傳輸測(cè)量狀態(tài)，起、止頻率為被測(cè)器件測(cè)試頻帶的上下限頻率，中頻帶寬為1kHz,POWER電平調(diào)到0dBm;c)分別對(duì)矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀測(cè)試路徑進(jìn)行S11、S22(反射路徑)和S21、S12(傳輸路徑)的工作狀態(tài)設(shè)置，當(dāng)被測(cè)器件插損\額定值插損為3dB或小于3dB時(shí)(如2功分器),若無(wú)電子校準(zhǔn)件，應(yīng)采用附加衰減器測(cè)試法進(jìn)行：d)對(duì)儀表P01、PO2端口進(jìn)行開(kāi)路、短路、終接適配及直通的校準(zhǔn)，當(dāng)測(cè)試中采用附加衰減器測(cè)試法時(shí)，校準(zhǔn)也應(yīng)涵蓋附加衰減器；e)連接被測(cè)設(shè)備，當(dāng)被測(cè)器件為多端口時(shí)，應(yīng)將其他空閑端口用標(biāo)準(zhǔn)負(fù)載終接：f)設(shè)置矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀進(jìn)入S11、S22、S12和S21反射和傳輸參數(shù)測(cè)試狀態(tài)，S11、S22啟動(dòng)其電壓駐波比測(cè)量功能，S12、S21傳輸參數(shù)測(cè)試狀態(tài)，啟動(dòng)其幅頻(dBmarg)測(cè)試功能：g)讀取S11、S22曲線上被測(cè)器件有效工作頻帶內(nèi)的最大的電壓駐波比；h)讀取S12或S21曲線上被測(cè)器件有效工作頻帶內(nèi)最小電平值，該值即為被測(cè)器件該通道最差插i)讀取S12或S21曲線上被測(cè)器件有效工作頻帶內(nèi)最小電平Amin(F)數(shù)值和最大電平Amax(F)數(shù)值之差即為被測(cè)器件的帶內(nèi)波動(dòng)數(shù)值；j)讀取被測(cè)器件工作頻段中心頻率與偏離工作頻帶之外的輸出幅度之差即為帶外抑制；k)當(dāng)測(cè)試電橋、同頻段或異頻段合路器件輸入端口之間或輸出端口之間隔離度時(shí)，將矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的端口與被測(cè)部件待測(cè)輸入或輸出端口連接，啟動(dòng)其幅頻(dPmarg)測(cè)試功能，讀取其工作頻段內(nèi)的數(shù)值即為隔離度；1)當(dāng)測(cè)試具有方向性傳輸通道的無(wú)源器件如耦合器時(shí)，設(shè)置矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀為S12或S21與被測(cè)通道為反方向傳輸狀態(tài)，啟動(dòng)其幅頻(dBmarg)測(cè)試功能，讀取其工作頻段內(nèi)的數(shù)值即為隔離四)根據(jù)被測(cè)器件的通道數(shù)，依次更換其它道道端口，重復(fù)步驟e~1:n)比較所有端口測(cè)試值，其最差數(shù)值應(yīng)不得超出指標(biāo)所規(guī)定的要求。矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀衰減器標(biāo)準(zhǔn)件圖1無(wú)源器件校準(zhǔn)連接圖5.5.2互調(diào)測(cè)試5.5.2.1反射互調(diào)測(cè)試步驟b)調(diào)整互調(diào)測(cè)試儀內(nèi)的兩信號(hào)源載波頻率f1和f2工作電平，使送入被測(cè)設(shè)備端口輸入電平為額定輸出功率電平：c)分別設(shè)置f1為工作頻段內(nèi)起始信道中心載波頻點(diǎn)和工作頻段內(nèi)最后信道中心載波頻點(diǎn)：d)以△F=1MHz為每步進(jìn)間隔調(diào)整f2從工作頻段低端起始信道掃描至高頻段終止信道頻點(diǎn)：調(diào)和7階互調(diào)產(chǎn)物的幅度最高點(diǎn)，此點(diǎn)即為反射互調(diào)的最差值：f)在測(cè)試端口2、3用頻譜儀搜索測(cè)試掃描過(guò)程中f1和f2引起的落在其他系統(tǒng)帶內(nèi)的多階互調(diào)產(chǎn)物幅度的最高點(diǎn)，此點(diǎn)即為系統(tǒng)間互調(diào)的最差值。低互調(diào)負(fù)載Z標(biāo)準(zhǔn)負(fù)載信號(hào)分析儀測(cè)試頻段濾波器標(biāo)準(zhǔn)負(fù)載系統(tǒng)間的互調(diào)頻譜分析儀標(biāo)準(zhǔn)負(fù)載圖2反射互調(diào)測(cè)試配置圖5.5.2.2傳輸互調(diào)測(cè)試步驟a)按圖3所示連接測(cè)試系統(tǒng)；b)調(diào)整互調(diào)測(cè)試儀內(nèi)的兩信號(hào)源載波頻率f1和f2工作電平，使送入被測(cè)設(shè)備端口輸入電平為額定輸出功率電平；c)分別設(shè)置f1為工作頻段內(nèi)起始信道中心載波頻點(diǎn)和工作頻段內(nèi)最后信道中心載波頻點(diǎn)；d)以△F=1MHz為每步進(jìn)間隔調(diào)整f2從工作頻段低端起始信道掃描至高頻段終止信道頻點(diǎn)：e)搜索測(cè)試掃描過(guò)程中f1和f2引起的3階互調(diào)、5階互調(diào)和7階互調(diào)產(chǎn)物的幅度最高點(diǎn)，此點(diǎn)即為傳輸互調(diào)的最差值。Z被測(cè)無(wú)源圖3傳輸互調(diào)試配置圖a)按圖4所示連接設(shè)備；b)如果被測(cè)件為多端口器件，測(cè)試時(shí)將空閑端口接大功率匹配負(fù)載；圍內(nèi)，載波頻率選擇應(yīng)避開(kāi)3階交調(diào)和5階交調(diào)落到接收頻段內(nèi)；d)調(diào)整信號(hào)發(fā)生器工作電平，使其被測(cè)器件端口的最大總載波平均有效功率為規(guī)定的功率容限e)當(dāng)采用常溫狀態(tài)下進(jìn)行測(cè)試時(shí)，加測(cè)試信號(hào)連續(xù)試驗(yàn)1h,當(dāng)采用高溫狀態(tài)下進(jìn)行測(cè)試時(shí)，將器件放置+55℃高溫箱內(nèi)，不加測(cè)試信號(hào)保持2小時(shí)后，加測(cè)試信號(hào)連續(xù)試驗(yàn)10min;f)設(shè)置1#頻譜儀為接收頻段，采用maxhold工作模式觀察其接收頻段內(nèi)噪聲頻譜顯現(xiàn)情況：g)且寬帶噪聲抬升不得超出-107dBm/100kHz,隨機(jī)突發(fā)脈沖噪盧不得超出5個(gè)即無(wú)飛弧現(xiàn)象：h)設(shè)置2#頻譜儀設(shè)置為發(fā)射頻段，觀察載波信號(hào)的幅度變化不得大丁±3dB,其至消失等異常現(xiàn)i)測(cè)試過(guò)程中駐波數(shù)值顯示不得超出1.5:駐波測(cè)大功率低互功放驅(qū)大功互調(diào)被測(cè)器件圖4功率容限測(cè)試連接方框圖a)測(cè)試回路的開(kāi)路屯壓設(shè)置為不大于20mV,試驗(yàn)電流不大丁100mA:c)移開(kāi)連接器，扒開(kāi)接觸器件，調(diào)換測(cè)試表筆的正負(fù)端，再插合連接器，重復(fù)步驟b)的測(cè)試方法3次，進(jìn)行平均。5.5.5絕緣電阻將絕緣屯阻測(cè)試儀的測(cè)試屯壓設(shè)置為(500±50)V或(100±10)V,用測(cè)試表筆在連接器的內(nèi)外導(dǎo)5.6環(huán)境試驗(yàn)5.6.1低溫試驗(yàn)將樣品置于試驗(yàn)箱內(nèi)，試驗(yàn)條件按4.6.1的要求，試驗(yàn)程序按GB/T2423.1-2008中“試驗(yàn)Ab”方法5.6.2高溫試驗(yàn)將樣品置于試驗(yàn)箱內(nèi)，試驗(yàn)條件按4.6.2的要求，試驗(yàn)程序按GB/T2423.2-2008中“試驗(yàn)Bb”方法5.6.3濕熱試驗(yàn)將樣品置丁試驗(yàn)箱內(nèi)，試驗(yàn)條件按4.6.3的要求，試驗(yàn)程序按GB/T2423.3-2006中"試驗(yàn)Cab"方6.2出廠檢驗(yàn)出廠檢驗(yàn)項(xiàng)日按衣8進(jìn)行。有不合格項(xiàng)時(shí)即判該產(chǎn)品為不合格，將不合6.3型式試驗(yàn)6.3.1試驗(yàn)頻次a)新產(chǎn)品或老產(chǎn)品轉(zhuǎn)廠生產(chǎn)時(shí)；b)正式生產(chǎn)后，產(chǎn)品結(jié)構(gòu)、工藝、材料有較大改變時(shí)；c)產(chǎn)品長(zhǎng)期停產(chǎn)后恢復(fù)生產(chǎn)時(shí)：d)質(zhì)最監(jiān)督部門(mén)提出要求時(shí)。6.3.2抽樣方法6.3.2.1型式檢驗(yàn)的抽樣方案按GB/T2829-2002標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定，取判斷水平II的一次抽樣方案進(jìn)行。6.3.2.2產(chǎn)品以不合格數(shù)表示，產(chǎn)品的不合格判定分B和C類(lèi)，產(chǎn)品不合格質(zhì)量水平RQL為8.0(20;0;1);C類(lèi)不合格為20(20;2:3)。6.3.3檢驗(yàn)項(xiàng)目檢驗(yàn)項(xiàng)日及判定按表9進(jìn)行。表9檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)類(lèi)別、要求及試驗(yàn)方法不合格判定出廠檢驗(yàn)型式檢驗(yàn)BC1外觀與結(jié)構(gòu)O√√2O√3能O√4拔出力O√5O6固定接觸件抗拉力O7電氣性能O√8帶內(nèi)波動(dòng)0√√9O√√O(píng)√√隔離度O√√帶外抑制O√互調(diào)抑制O√O(píng)√√O(píng)√O(píng)√O(píng)√外觀與結(jié)構(gòu)O√O(píng)√帶內(nèi)波動(dòng)O√O(píng)√O(píng)√隔離度O√帶外抑制O√互調(diào)抑制O√表9檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)類(lèi)別、要求及試驗(yàn)方法(續(xù))不合格判定出廠檢驗(yàn)型式檢驗(yàn)BCO√O(píng)√O(píng)√O(píng)√外