《電子產(chǎn)品工藝與制作技術(shù)》課件-1.5.3集成電路

集成電路及其分類(lèi)集成電路是將半導(dǎo)體分立器件、電阻、小電容以及電路的連接導(dǎo)線(xiàn)都集成在一塊半導(dǎo)體硅片上，形成一個(gè)具有一定功能的電子電路，并封裝成一個(gè)整體的電子器件。集成電路具有體積小、重量輕、性能好、可靠性高、損耗小、成本低、使用壽命長(zhǎng)等優(yōu)點(diǎn)。

集成電路的分類(lèi)方式：（1）按傳送信號(hào)的特點(diǎn)分類(lèi)（2）按有源器件類(lèi)型分類(lèi)（3）按集成度分類(lèi)（4）按封裝形式分類(lèi)（5）按集成電路的功能分類(lèi)

集成電路及其分類(lèi)

集成電路及其分類(lèi)

常見(jiàn)集成電路的外形結(jié)構(gòu)集成電路引腳的分布規(guī)律及識(shí)別方法1.圓形金屬封裝集成電路的引腳排列及識(shí)別圓形金屬封裝集成電路的外殼上有一個(gè)突出的標(biāo)記。識(shí)別引腳時(shí)，將該集成電路的引腳朝上，從標(biāo)記開(kāi)始，順時(shí)針?lè)较蛞来巫x出引腳讀數(shù)（1、2、3…等）。

集成電路引腳的分布規(guī)律及識(shí)別方法2.雙列扁平或雙列直插式集成電路的引腳識(shí)別

3.單列直插式集成電路的引腳識(shí)別

集成電路引腳的分布規(guī)律及識(shí)別方法

4.四邊帶引腳的集成電路的引腳識(shí)別集成電路引腳的分布規(guī)律及識(shí)別方法

集成電路的檢測(cè)常用集成電路芯片檢測(cè)方法：電阻檢測(cè)法電壓檢測(cè)法波形檢測(cè)法替代法

集成電路的檢測(cè)1.電阻檢測(cè)法用萬(wàn)用表的歐姆檔測(cè)量集成電路各引腳對(duì)地的正、反向電阻，并與參考資料或與另一塊同類(lèi)型的、好的集成電路比較，從而判斷該集成電路的好壞。

集成電路的檢測(cè)2.電壓檢測(cè)法對(duì)測(cè)試的集成電路通電，使用萬(wàn)用表的直流電壓擋，測(cè)量集成電路各引腳對(duì)地的電壓，將測(cè)出的結(jié)果與該集成電路芯片參考資料所提供的標(biāo)準(zhǔn)電壓值進(jìn)行比較，從而判斷是該集成電路有問(wèn)題，還是集成電路的外圍電路元器件有問(wèn)題。3.波形檢測(cè)法用示波器測(cè)量集成電路各引腳的波形，并與標(biāo)準(zhǔn)波形進(jìn)行比較。具體操作為：集成電路芯片通電后，從集成電路的輸入端輸入一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)，再用示波器檢測(cè)集成電路輸出端的輸出信號(hào)是否正常，若有輸入而無(wú)輸出，一般可判斷為該集成電路損壞。4.替代法替代法是指用一塊好的、同類(lèi)型的集成電路芯片替