纖維光學(xué)互連器件和無源器件 性能標(biāo)準(zhǔn) 第022-13部分：端接成尾纖和跳線的多模光纖連接器 環(huán)境類型OP+HD（有額外散熱的強(qiáng)化防護(hù)的室外環(huán)境） 征求意見稿

GB/TXXXXX—XXXX/IEC61753-021成尾纖和跳線的多模光纖光纜連接器環(huán)境類別OPIEC60793-2-10光纖第2-10部分：產(chǎn)品規(guī)范A1類多模光纖分規(guī)范(Opticalfibre2-10:Productspecifications—Sectionalspecificationforcatego注：GB/T12357.1—20XX通IEC60794-2-50光纜第2-50部分：室內(nèi)光纜終端光纜組件用單芯和雙芯光纜門類規(guī)范IEC60874-14-1纖維光學(xué)互連器件和無源器件光纖光纜連接器第14-1部分多模光纖端接的SC-PC型標(biāo)準(zhǔn)光纖連接器詳細(xì)規(guī)范(Fibreopticinterconnectingdevicesandpacomponents—ConnectorsforIEC60874-19-1纖維光學(xué)互連器件和無源器件光纖光纜連接器第19-1部分A1b—DetailspecificatioIEC61300-1纖維光學(xué)互連器件和無源器件基本試驗和測量程序第1部分總則和導(dǎo)則(Fibreopticinterconnectingdevicesandpassivecompon注：GB/T18309.1—2001纖維光學(xué)互連器件和無源器件基本試驗和測量程序第1部分:總則和導(dǎo)則（IECGB/TXXXXX—XXXX/IEC61753-022注：GB/T18310.1—20XX纖維光學(xué)互連器件和無源器件基本試驗和測量程序第2-1部分:試驗振動(正弦)procedures-Part2-2:Tests—Matingdurab注：GB/T18310.2—20XX纖維光學(xué)互連器件和無源器件基本試驗和測量程序measurementprocedures-Part2-4:Tests—Fibreorcableretenti注：GB/T18310.4—20XX纖維光學(xué)互連器件和無源器件基本試驗和測量程序(Fibreopticinterconnectingdevprocedures-Part2-5:Tests—T注：GB/T18310.5—20XX纖維光學(xué)互連器件和無源器件基本試驗和測量程序第2-5部分：試驗扭轉(zhuǎn)（IEC機(jī)構(gòu)抗拉強(qiáng)度(Fibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponents—Basictestandmeasurementprocedures—Part2-6:Tests—Tensilestrengthofcouplingmechan注：GB/T18310.6—20XX纖維光學(xué)互連器件和無源器件基本試驗和測量程序第2-6部分：試驗鎖緊機(jī)構(gòu)抗(Fibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponprocedures—Part2-7:Tests—Bending注：GB/T18310.7—20XX纖維光學(xué)互連器件和無源器件基本試驗和測量程序第2-7部分：試驗彎矩（IECIEC61300-2-12纖維光擊(Fibreopticinterconnectingdevicesandpassiveprocedures—Part2-12:Tests—注：GB/T18310.12—20XX纖維光學(xué)互連器件和無源器件基本試驗和測量程序IEC61300-2-17纖維光溫(Fibreopticinterconnectingdevicesandpassiveprocedures—Part2-17:Test注：GB/T18310.17—20XX纖維光學(xué)互連器件和無源器件基本試驗和測量程序IEC61300-2-18纖維光熱(Fibreopticinterconnectingdevicesandpassiveprocedures—Part2-18:Tests—Dry注：GB/T18310.18—20XX纖維光學(xué)互連器件和無源器件基本試驗和測量程序GB/TXXXXX—XXXX/IEC61753-023IEC61300-2-21纖維光andmeasurementprocedures—Part2-21:Tests—Compositetemperature/humiditycycl注：GB/T18310.21—20XX纖維光學(xué)互連器件和無源器件基本試驗和測量程序組合循環(huán)試驗（IEC61300-2-2IEC61300-2-22纖維光procedures—Part2-22:Tests—Changeoftempe注：GB/T18310.22—20XX纖維光學(xué)互連器件和無源器件基本試驗和測量程序第2-22部分：試驗溫度變化IEC61300-2-26纖維光霧(Fibreopticinterconnectingdevicesandpassiveprocedures—Part2-26:Tests—Sal注：GB/T18310.26—20XX纖維光學(xué)互連器件和無源器件基本試驗和測量程序IEC61300-2-27纖維光塵（層流）(Fibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponents—Basictestandmeasurementprocedures—Part2-27:Tests—Dust—Laminarflo注：GB/T18310.27—20XX纖維光學(xué)互連器件和無源器件基本試驗和測量程序第2-27部分：試驗灰塵（層流IEC61300-2-27:1995，IDT）IEC61300-2-44纖維光維光學(xué)元器件應(yīng)力釋放裝置的曲撓(Fibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponents注：GB/T18310.44—20XX纖維光學(xué)互連器件和無源器件基本試驗和測量程序第2-44部分：試驗纖維光學(xué)元器件應(yīng)力釋放裝置的曲撓（IEC61300-2-44纜連接器靜態(tài)負(fù)荷下的篩選試驗(Fibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponents—staticload—Singlemodeandmultim注：GB/T18310.50—20XX纖維光學(xué)互連器件和無源器件基本試驗和測量程序第2-50部分：試驗光纖光纜連接器靜態(tài)負(fù)荷下的篩選試驗（IEC61300-2-50:IEC61300-3-1纖維光學(xué)互連器件和無源器件基本試驗和測量程序第3-1部分:檢查和測量外觀檢查（Fibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponents—Basictestandmeasurementprocedures—Part3-1:Examinationsandmeasurements—Visualexaminat注：GB/T18311.1—202X纖維光學(xué)互連器件和無源器件基本試驗和測量程序第3-1部分:檢查和測量外觀檢查衰減和回波損耗變化的動態(tài)監(jiān)測(Fibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponents—Basictestandmeasurementprocedures—Part3-3:Examinationsandmeasurements—Active注：GB/T183011.3—20XX纖維光學(xué)互連器件和無源器件基本試驗和測量程和回波損耗變化的動態(tài)監(jiān)測（IEC61300-3-3:GB/TXXXXX—XXXX/IEC61753-024procedures—Part3-4:Examinationsandmeasurements—Atten注：GB/T183011.4—20XX纖維光學(xué)互連器件和無源器件基本試驗和測量程回波損耗(Fibreopticinterconnectingdevicesameasurementprocedures—Part3-6:Examinationsandmeasurements—Returnl注：GB/T183011.6—20XX纖維光學(xué)互連器件和無源器件基本試驗和測量程量瞬間損耗(Fibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponents—Basictestandmeasurementprocedures—Part3-28:Examinationsandmeasurements—Transientl注：GB/T183011.28—20XX纖維光學(xué)互連器件和無源器件基本試驗和測量程testandmeasurementprocedures—Part3-34:Examinationsandmeasurements—Attenuationof注：GB/T183011.34—20XX纖維光學(xué)互連器件和無源器件基本試驗和測量程機(jī)配接連接器的衰減（IEC61300-3-34:2IEC61300-3-35纖維光學(xué)互連器件和無源器件基本試驗和測量程序第3-35部分:檢查和測量隨機(jī)配接多芯光連接器的衰減(FibreopticinterconnectingdevicesandpaAttenuationofrandommatedmulti-fibreconnecto注：GB/T183011.45—20XX纖維光學(xué)互連器件和無源器件基本試驗和測量程機(jī)配接多芯光連接器的衰減（IEC61300-3-45:2IEC61754(所有部分)纖維光學(xué)互連器件和無源器件纖維光學(xué)連接器接口(Fibreopticinterconnectingdevicesandpassive注：GB/T21022(所有部分)纖維光學(xué)互連器件和無源器件纖維光學(xué)連接器接口[IEC61754opticalinterfaces—Part幾何（Fibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponents—FibreopticconneGB/TXXXXX—XXXX/IEC61753-025——IEC電工學(xué)：https://www.electroped——ISO在線瀏覽平臺：https://www.iso.δ監(jiān)測條件試驗過程中和試驗過程后的光功率，跳線測試樣品patchcordtestGB/TXXXXX—XXXX/IEC61753-026且可為緊包光纖或加強(qiáng)光纜形式，符合IEC60793-2-10。用于尾纖或跳線的加強(qiáng)光纜，除了溫度循環(huán)為-40℃~85℃℃外，其余應(yīng)符合IEC60794-2-50中的規(guī)定。在使用時，應(yīng)注意符合光纜最小彎曲半所有光學(xué)性能試驗均應(yīng)僅在一個中心波長下見IEC60874-14-1和IEC60874-19-1，或矩形插針連接器參見IECPAS63267-3-30和IECPASGB/TXXXXX—XXXX/IEC61753-027在每次機(jī)械和環(huán)境試驗（見表2）的試驗前和試驗后，應(yīng)對判據(jù)序號試驗和檢測初始值試驗中或試驗后，或者試驗中和試驗后1平均值≤0.3dB最大值≤0.6dB（至少97%的測量值）平均值≤0.5dB最大值≤1.0dB（至少97%的測量值）—2回波損耗（隨機(jī)配接）IEC61300-3-61m級：≥45dB(配接，帶角度端面)應(yīng)符合初始要求3衰減和回波損耗動態(tài)監(jiān)測IEC61300-3-3—試驗中的衰減變化a：尾纖型試樣（1個接點δ≤0.2dB（850nm）跳線型試樣（2個接點）δ≤0.5dB（850nm）試驗后的衰減變化a：尾纖型試樣（1個接點δ≤0.2dB（850nm）跳線型試樣（2個接點）δ≤0.4dB（850nm）應(yīng)符合初始回波損耗要求4瞬間損耗IEC61300-3-28—試驗中的衰減變化a：試驗后的衰減變化a：5外觀檢查IEC61300-3-1其他可能影響使用的損壞。試驗后，應(yīng)對測試樣品進(jìn)行檢查，確保其沒有任何會影響產(chǎn)品功能的缺陷。肉眼檢查移動、變形、瑕疵、裂紋或雜質(zhì)等可能影響功能的因素。a對于矩形插針，應(yīng)在試驗前后對所有光纖進(jìn)行監(jiān)測。試驗中（如適用）每排至少應(yīng)對兩個外側(cè)光纖和一個最靠近中心的光纖進(jìn)行光學(xué)監(jiān)測。GB/TXXXXX—XXXX/IEC61753-028序號試驗項目要求試驗方法1衰減(隨機(jī)配接)試驗方法：IEC61300-3-34方法1（圓形插針）IEC61300-3-45方法1（矩形插針）850nm±30nm850nm特性：S3型，LED穩(wěn)定性：測量期間或至少1h內(nèi)穩(wěn)定在D1，測量期間在±0.05dB以內(nèi)隨機(jī)抽取測試樣品預(yù)處理程序：根據(jù)制造廠的說明，清潔測試樣品的機(jī)械和光學(xué)對準(zhǔn)部件2回波損耗（隨機(jī)配接）試驗方法：IEC61300-3-6方法1以及標(biāo)準(zhǔn)中指定的其他方法850nm±30nm穩(wěn)定性：測量期間或至少1h內(nèi)在光譜寬度：≥50nm線性：≤5%待測功率分支設(shè)備：方向性：設(shè)備的方向性應(yīng)至少比要測量的最大回波損耗高出10dB隨機(jī)抽取測試樣品預(yù)處理程序：根據(jù)制造廠的說明，清潔測試樣品的機(jī)械和光學(xué)對準(zhǔn)部件3光纖/光纜保持力試驗中和試驗后：試驗方法：IEC61300-2-4帶芳綸加強(qiáng)件的增強(qiáng)型光纜：70N±2N(速率為5N/s)不帶芳綸加強(qiáng)件的套管或光纜：10N±0.5N（速率為0.5N/s）緊包光纖：5.0N±0.5N（速率為0.5N/s）一次被覆光纖：2.0N±0.2N（速率為0.5N/s）持續(xù)時間：距連接器尾部200～300mm光學(xué)監(jiān)測點:試驗前、負(fù)載達(dá)到最大值后、保持最大負(fù)載最少30s后、試驗后4鎖緊機(jī)構(gòu)抗拉強(qiáng)度試驗中和試驗后：試驗方法：IEC61300-2-640N±2N（速率為2N/s）持續(xù)時間：最少60s光學(xué)監(jiān)測點：試驗前、負(fù)載達(dá)到最大值后、保持最大負(fù)載最少30s后、試驗后5動態(tài)彎曲試驗中和試驗后：判據(jù)4（表1）試驗方法：IEC61300-2-44緩慢施加5N±0.5N（帶加強(qiáng)光纜的連接器）彎曲角度：±90°/循環(huán)（0°~+90°~0°~-90°~0°)循環(huán)次數(shù)：光學(xué)監(jiān)測點：試驗前、試驗中和試驗后GB/TXXXXX—XXXX/IEC61753-029序號試驗項目要求試驗細(xì)節(jié)6試驗方法：IEC61300-2-50帶加強(qiáng)纜的連接器：15N±2N（速率帶緊套光纖的連接器：5.0N±0.5N（速率為0.5N/s）被測試樣光纜固定點距芯棒切點距離持續(xù)時間：光學(xué)監(jiān)測點：試驗前和試驗結(jié)束后至少10s（無負(fù)載）7扭轉(zhuǎn)僅測試衰減（表1）試驗方法：IEC61300-2-5一次被覆光纖和緊包光纖：緩慢施加負(fù)載，避免線纜受到任何突然的猛拉或過度拉伸被測試樣光纜固定點距芯棒切點距離扭轉(zhuǎn)角度：循環(huán)次數(shù)：光學(xué)監(jiān)測點：試驗前、試驗中和試驗結(jié)束后至少10s（無負(fù)載）8配接耐久性試驗中和試驗后：注：若衰減增加超過允許限值，可在必要時對連接器進(jìn)行清潔（清潔前的測試結(jié)果不做記試驗方法：IEC61300-2-2（測量條件A）配接類型：插頭-適配器循環(huán)次數(shù)：圓形插針：200矩形插針：50循環(huán)速率：≥3s（每一接合和分離之間的時間）預(yù)處理程序：據(jù)制造廠的說明清潔插頭和適配器恢復(fù)程序：在最后一次配接循環(huán)后，根據(jù)制造廠的說明清潔樣品的機(jī)械和光學(xué)對準(zhǔn)部件，最多清潔2次9彎矩僅測試衰減（表1）試驗方法：IEC61300-2-710N±2N（速率為2N/s）持續(xù)時間：光學(xué)監(jiān)測點：試驗前、負(fù)載達(dá)到最大值后、保持最大負(fù)載至少10s后、試驗后振動（正弦）試驗中和試驗后：判據(jù)4（表1）試驗方法：IEC61300-2-1頻率范圍：10Hz～55HZ掃頻次數(shù)：15/軸向掃頻速率：1oct/min振動方向：三個相互垂直的軸線振動幅值：0.75mm光學(xué)監(jiān)測點：每軸試驗前、試驗中和試驗后撞擊注：在跌落循環(huán)過程中，樣品應(yīng)未配接試驗方法：IEC61300-2-12（方法A）跌落次數(shù)：跌落高度：光學(xué)監(jiān)測點：試驗前和最后一次跌落試驗后預(yù)處理程序：根據(jù)制造廠的說明清潔插頭和適配器樣品,插針上裝防塵蓋保護(hù)光纖端面高溫試驗中和試驗后：試驗方法：IEC61300-2-17GB/TXXXXX—XXXX/IEC61753-02序號試驗項目要求試驗細(xì)節(jié)試驗溫度：持續(xù)時間：96h試驗箱內(nèi)測試見IEC61300-1光學(xué)監(jiān)測點：試驗前、試驗后和試驗中，其中試驗中最大測試間隔1h高溫試驗中和試驗后：試驗方法：IEC61300-2-18試驗溫度：持續(xù)時間：96h試驗箱內(nèi)測試見IEC61300-1光學(xué)監(jiān)測點：試驗前、試驗后和試驗中，其中試驗中最大測試間隔1h溫度-濕度組合循環(huán)試驗試驗中和試驗后：試驗方法：IEC61300-2-21，試驗Z/AD溫度范圍：-10℃±2℃~65℃±2℃23℃~65℃~23℃~65℃~23℃~-10℃~23℃非高溫周期輪23℃~65℃~23℃~65℃~30min），以最大化冷凝效果相對濕度：93％RH±3％RH88％RH±8％RH從23℃~-10℃變化期持續(xù)期間不控制但未除濕極限溫度下持持續(xù)時間和循每次循環(huán)24h,10次循環(huán)其他要求：1.前九次循環(huán)中的五次應(yīng)暴露于高溫，剩下的四次不應(yīng)暴露