摻鉺光纖放大器課件

光纖的測(cè)量

后向散射法測(cè)試原理

由于光纖中散射光的強(qiáng)弱反映了光纖長(zhǎng)度上各點(diǎn)衰減大小，菲涅爾反射光能反映斷點(diǎn)位置，因此可通過(guò)檢測(cè)反向傳輸?shù)捷斎攵说谋诚蛏⑸涔夂头颇鶢柗瓷涔夤β首兓瘉?lái)確定光纖損耗系數(shù)，并判斷光纖斷點(diǎn)位置和光纖長(zhǎng)度。

后向散射法測(cè)試系統(tǒng)框圖

OTDR測(cè)試曲線(xiàn)圖中,A是輸入端菲涅爾反射點(diǎn)，即光纖的始端。

B是光纖接頭點(diǎn)。

C是介質(zhì)缺陷引起的反射，表示光纖的斷裂處。

D是輸出端菲涅爾反射點(diǎn)，表示光纖末端。

AB、BC、CD是恒定斜率區(qū)，用以確定損耗系數(shù)。即光纖長(zhǎng)度是光纖的損耗系數(shù)

光纖帶寬是色散在頻域的反映，多模光纖的帶寬主要由模式色散引起。帶寬的測(cè)試方法主要有時(shí)域法和頻域法。

二、帶寬測(cè)量時(shí)域法——又稱(chēng)脈沖展寬法。利用測(cè)量通過(guò)光纖的光脈沖產(chǎn)生的脈沖寬度確定光纖的帶寬。頻域法——又稱(chēng)掃頻法，測(cè)量通過(guò)光纖的頻率響應(yīng)來(lái)測(cè)量帶寬，此法多用于多模光纖的測(cè)量。

時(shí)域法測(cè)試系統(tǒng)框圖

頻域法測(cè)試系統(tǒng)框圖

頻域法測(cè)試曲線(xiàn)

三、色散測(cè)量

[測(cè)試方法]：相移法是測(cè)量單模光纖的色散的方法。

[相移法測(cè)量原理]

用角頻率為ω的正弦信號(hào)調(diào)制的光波，經(jīng)長(zhǎng)度為L(zhǎng)的單模光纖傳輸后，其時(shí)延取決于光波長(zhǎng)λo。不同時(shí)延產(chǎn)生不同的相位φ，用波長(zhǎng)為λ1和λ2的受調(diào)制光波，分別通過(guò)被測(cè)光纖，有產(chǎn)生的時(shí)延差為Δτ，相移為Δφ，則長(zhǎng)度為L(zhǎng)的光纖總色散為光纖色散系數(shù)為

相移法測(cè)量系統(tǒng)框圖

四、截止波長(zhǎng)測(cè)量[測(cè)試原理]：對(duì)常規(guī)光纖，通過(guò)對(duì)折射率分布的測(cè)量，確定纖芯半徑a和纖芯與包層的折射率n1和n2，由下式就可計(jì)算出截止波長(zhǎng)λc。

[測(cè)試方法]：傳輸功率法——測(cè)量單模光纖截止波長(zhǎng)的基準(zhǔn)方法。在彎曲狀態(tài)下測(cè)量損耗-波長(zhǎng)函數(shù)。時(shí)延法——改變波長(zhǎng)，觀察LP01模和L