T/CIE 116-2021電子元器件故障樹分析方法與程序

ICS31080

CCSL.04

團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)

T/CIE116—2021

電子元器件故障樹分析方法與程序

Faulttreeanalysismethodandprocedureofelectroniccomponents

2021-11-22發(fā)布2022-02-01實施

中國電子學(xué)會發(fā)布

中國標(biāo)準(zhǔn)出版社出版

T/CIE116—2021

目次

前言

…………………………Ⅰ

引言

…………………………Ⅱ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

術(shù)語和定義

3………………1

一般要求

4…………………3

總則

4.1…………………3

故障樹構(gòu)建基本要求

4.2………………4

一般分析程序

4.3………………………4

分析人員

4.4……………5

信息收集

4.5……………5

詳細(xì)要求

5…………………5

分析目的

5.1……………5

故障樹頂事件

5.2………………………5

故障樹分析范圍

5.3……………………6

分辨率

5.4FTA…………………………6

故障樹分析模式規(guī)則

5.5………………6

故障樹建造

5.6…………………………8

故障樹分析與應(yīng)用

5.7…………………12

故障樹分析結(jié)果展示

5.8………………14

附錄資料性元器件故障樹符號事件標(biāo)號和子樹代號說明

A()、……15

電子元器件故障樹符號

A.1…………15

電子元器件故障樹事件標(biāo)號子樹代號

A.2、…………16

附錄資料性電子元器件故障樹分析案例針對質(zhì)量問題歸零的混合集成電路故障樹分析

B()———…

…………………………17

背景

B.1…………………17

準(zhǔn)備工作

B.2……………17

建立混合集成電路故障樹

B.3…………18

失效路徑分析

B.4………………………19

影響因素分析

B.5………………………20

參考文獻(xiàn)

……………………22

T/CIE116—2021

前言

本文件按照標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第部分標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則的規(guī)定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

。

請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機構(gòu)不承擔(dān)識別專利的責(zé)任

。。

本文件由中國電子學(xué)會可靠性分會提出并歸口

。

本文件起草單位工業(yè)和信息化部電子第五研究所

:。

本文件主要起草人何小琦陳媛恩云飛來萍宋芳芳王蘊輝支越路國光任艷

:、、、、、、、、。

Ⅰ

T/CIE116—2021

引言

電子元器件故障樹分析方法與程序是在電子元器件質(zhì)量問題歸零電子產(chǎn)品可靠性設(shè)計

(FTA),、

等工程實踐中總結(jié)形成的基于失效物理的故障樹構(gòu)建方法及故障樹分析程序目的是在質(zhì)量問題歸零

,

分析中有效識別故障產(chǎn)品相關(guān)元器件的失效模式失效機理和失效路徑在可靠性設(shè)計分析中發(fā)現(xiàn)元器

、,

件的潛在失效機理并制定相應(yīng)的失效控制對策

。

與相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)對比現(xiàn)有標(biāo)準(zhǔn)故障樹分析程序故障

FTA,GB/T7829—1987《》、GJB/Z768A—1998《

樹分析指南規(guī)定了故障事件演繹所遵循的因果邏輯關(guān)系的一般原則本文件則針對電子元器件的失

》。

效特點提出和規(guī)定了基于失效物理因果邏輯關(guān)系演繹故障事件的基本要求并將分辨率定位至

,,FTA

元器件內(nèi)部微區(qū)結(jié)構(gòu)和材料的失效物理事件層次

。

本文件給出的基于失效物理的故障樹構(gòu)建方法及規(guī)范要求解決了電子元器件故障樹建樹過程中

,

故障事件演繹不充分上下事件因果邏輯關(guān)系易混亂的問題可以建立以故障樹為載體且失效信息因果

、,

邏輯關(guān)系清晰的電子元器件故障信息庫本文件方法適用于產(chǎn)品尺寸小內(nèi)部結(jié)構(gòu)性能難以直接測量

。、

的電子元器件產(chǎn)品

。

Ⅱ

T/CIE116—2021

電子元器件故障樹分析方法與程序

1范圍

本文件確立了基于失效物理的電子元器件故障樹建樹方法及故障樹分析程序描述了以故障樹為

。

載體的電子元器件故障信息庫構(gòu)建方法

。

本文件適用于電子元器件在設(shè)計研制生產(chǎn)和使用階段進(jìn)行故障樹建造和失效路徑分析以及電

、、,

子元器件在設(shè)計和應(yīng)用階段的潛在失效問題識別其結(jié)果可用于電子元器件的質(zhì)量歸零問題分析可靠

,、

性設(shè)計分析和應(yīng)用風(fēng)險分析

。

本文件方法適用于半導(dǎo)體分立器件半導(dǎo)體集成電路混合集成電路機電元件印制電路板等電子

、、、、

元器件

。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款其中注日期的引用文

。,

件僅該日期對應(yīng)的版本適用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于

,;,()

本文件

。

電工術(shù)語可信性

GB/T2900.99

故障樹名詞術(shù)語和符號

GB/T4888

故障樹分析程序

GB/T7829

裝備可靠性工作通用要求

GJB450A

可靠性維修性保障性術(shù)語

GJB451A

故障樹分析指南

GJB/Z768A

軍用電子元器件分類與代碼

GJB8118

故障樹分析

IEC61025[Faulttreeanalysis(FTA)]

3術(shù)語和定義