計(jì)算機(jī)四級(jí)的金考點(diǎn)及試題及答案

計(jì)算機(jī)四級(jí)的金考點(diǎn)及試題及答案姓名：____________________

一、單項(xiàng)選擇題（每題2分，共10題）

1.軟件測(cè)試的目的是什么？

A.發(fā)現(xiàn)和報(bào)告軟件缺陷

B.確保軟件滿足需求

C.提高軟件性能

D.以上都是

2.下列哪項(xiàng)不屬于軟件測(cè)試的類型？

A.單元測(cè)試

B.集成測(cè)試

C.系統(tǒng)測(cè)試

D.軟件配置管理

3.下列哪個(gè)不是軟件測(cè)試的生命周期階段？

A.需求分析

B.設(shè)計(jì)

C.編碼

D.維護(hù)

4.在軟件測(cè)試中，什么是“缺陷”？

A.軟件中存在的問(wèn)題

B.軟件中的錯(cuò)誤

C.軟件不符合需求

D.以上都是

5.下列哪個(gè)測(cè)試方法不適用于確認(rèn)軟件是否符合需求？

A.黑盒測(cè)試

B.白盒測(cè)試

C.需求測(cè)試

D.確認(rèn)測(cè)試

6.下列哪個(gè)不是軟件測(cè)試的關(guān)鍵步驟？

A.缺陷報(bào)告

B.缺陷跟蹤

C.缺陷分析

D.缺陷修復(fù)

7.下列哪個(gè)測(cè)試方法不適用于測(cè)試軟件的界面？

A.功能測(cè)試

B.性能測(cè)試

C.界面測(cè)試

D.安全測(cè)試

8.在軟件測(cè)試中，什么是“測(cè)試用例”？

A.測(cè)試計(jì)劃

B.測(cè)試數(shù)據(jù)

C.測(cè)試用例

D.測(cè)試報(bào)告

9.下列哪個(gè)不是軟件測(cè)試中的缺陷分類？

A.功能性缺陷

B.性能缺陷

C.安全缺陷

D.維護(hù)缺陷

10.在軟件測(cè)試中，什么是“回歸測(cè)試”？

A.針對(duì)已修復(fù)缺陷的測(cè)試

B.針對(duì)新添加功能的測(cè)試

C.針對(duì)整個(gè)軟件的測(cè)試

D.針對(duì)特定模塊的測(cè)試

二、多項(xiàng)選擇題（每題3分，共10題）

1.軟件測(cè)試的目的是什么？

A.發(fā)現(xiàn)軟件缺陷

B.驗(yàn)證軟件質(zhì)量

C.提高軟件性能

D.確保軟件滿足用戶需求

E.降低軟件維護(hù)成本

2.下列哪些是軟件測(cè)試的常用方法？

A.黑盒測(cè)試

B.白盒測(cè)試

C.靜態(tài)測(cè)試

D.動(dòng)態(tài)測(cè)試

E.灰盒測(cè)試

3.軟件測(cè)試的步驟包括哪些？

A.測(cè)試計(jì)劃

B.測(cè)試用例設(shè)計(jì)

C.測(cè)試執(zhí)行

D.缺陷管理

E.測(cè)試報(bào)告

4.下列哪些是軟件測(cè)試的常用工具？

A.Selenium

B.JMeter

C.LoadRunner

D.QTP

E.Fiddler

5.軟件測(cè)試的類型有哪些？

A.單元測(cè)試

B.集成測(cè)試

C.系統(tǒng)測(cè)試

D.驗(yàn)收測(cè)試

E.回歸測(cè)試

6.下列哪些是軟件測(cè)試的關(guān)鍵因素？

A.缺陷密度

B.缺陷嚴(yán)重性

C.缺陷修復(fù)時(shí)間

D.測(cè)試覆蓋率

E.測(cè)試效率

7.下列哪些是軟件測(cè)試的局限性？

A.無(wú)法保證軟件完全無(wú)缺陷

B.測(cè)試成本較高

C.測(cè)試資源有限

D.測(cè)試結(jié)果受測(cè)試人員經(jīng)驗(yàn)影響

E.測(cè)試不能完全代替用戶驗(yàn)收

8.軟件測(cè)試中的缺陷分類包括哪些？

A.功能性缺陷

B.性能缺陷

C.界面缺陷

D.安全缺陷

E.代碼缺陷

9.軟件測(cè)試的目的是什么？

A.發(fā)現(xiàn)軟件缺陷

B.提高軟件質(zhì)量

C.驗(yàn)證軟件滿足需求

D.降低軟件維護(hù)成本

E.提高軟件開(kāi)發(fā)效率

10.下列哪些是軟件測(cè)試中的測(cè)試用例設(shè)計(jì)原則？

A.完整性

B.可靠性

C.可重復(fù)性

D.可維護(hù)性

E.可擴(kuò)展性

三、判斷題（每題2分，共10題）

1.軟件測(cè)試是軟件開(kāi)發(fā)過(guò)程中的最后一步。（）

2.單元測(cè)試是在軟件編碼階段進(jìn)行的測(cè)試。（）

3.黑盒測(cè)試關(guān)注軟件的內(nèi)部結(jié)構(gòu)，而白盒測(cè)試關(guān)注軟件的功能。（）

4.性能測(cè)試是在軟件部署到生產(chǎn)環(huán)境后進(jìn)行的測(cè)試。（）

5.缺陷管理是軟件測(cè)試過(guò)程中的一個(gè)重要環(huán)節(jié)。（）

6.測(cè)試覆蓋率越高，軟件質(zhì)量越高。（）

7.軟件測(cè)試可以完全避免軟件缺陷的產(chǎn)生。（）

8.自動(dòng)化測(cè)試可以完全替代手工測(cè)試。（）

9.回歸測(cè)試是為了驗(yàn)證軟件修復(fù)了之前發(fā)現(xiàn)的缺陷。（）

10.軟件測(cè)試應(yīng)該只關(guān)注軟件的功能，而忽略性能和安全問(wèn)題。（）

四、簡(jiǎn)答題（每題5分，共6題）

1.簡(jiǎn)述軟件測(cè)試的四個(gè)基本原則。

2.解釋什么是“缺陷生命周期”，并簡(jiǎn)要描述其各個(gè)階段。

3.闡述靜態(tài)測(cè)試和動(dòng)態(tài)測(cè)試的區(qū)別。

4.說(shuō)明軟件測(cè)試中如何進(jìn)行缺陷優(yōu)先級(jí)和嚴(yán)重性的評(píng)估。

5.簡(jiǎn)要介紹軟件測(cè)試的自動(dòng)化和手工測(cè)試的優(yōu)缺點(diǎn)。

6.談?wù)勅绾翁岣哕浖y(cè)試的效率和效果。

試卷答案如下

一、單項(xiàng)選擇題

1.D

解析思路：軟件測(cè)試的目的包括發(fā)現(xiàn)缺陷、驗(yàn)證質(zhì)量、確保滿足需求以及降低維護(hù)成本。

2.D

解析思路：軟件配置管理是軟件開(kāi)發(fā)生命周期的一部分，不屬于測(cè)試類型。

3.D

解析思路：維護(hù)是軟件生命周期的最后一個(gè)階段，而不是測(cè)試階段。

4.D

解析思路：缺陷是指軟件不符合預(yù)期行為或需求，包括錯(cuò)誤、不符合需求和性能問(wèn)題。

5.D

解析思路：確認(rèn)測(cè)試是驗(yàn)證軟件是否符合需求的過(guò)程，不是一種測(cè)試方法。

6.D

解析思路：缺陷修復(fù)是維護(hù)階段的工作，不屬于測(cè)試的關(guān)鍵步驟。

7.D

解析思路：界面測(cè)試是針對(duì)軟件用戶界面的測(cè)試，不屬于性能測(cè)試的范疇。

8.C

解析思路：測(cè)試用例是測(cè)試過(guò)程中設(shè)計(jì)的具體測(cè)試實(shí)例。

9.D

解析思路：維護(hù)缺陷是指軟件在維護(hù)過(guò)程中出現(xiàn)的新問(wèn)題，不是缺陷分類。

10.A

解析思路：回歸測(cè)試是為了確保修復(fù)缺陷后沒(méi)有引入新的問(wèn)題。

二、多項(xiàng)選擇題

1.A,B,C,D,E

解析思路：軟件測(cè)試的目的包括發(fā)現(xiàn)缺陷、驗(yàn)證質(zhì)量、提高性能和滿足需求，同時(shí)也有助于降低維護(hù)成本。

2.A,B,C,D,E

解析思路：軟件測(cè)試的常用方法包括黑盒測(cè)試、白盒測(cè)試、靜態(tài)測(cè)試、動(dòng)態(tài)測(cè)試和灰盒測(cè)試。

3.A,B,C,D,E

解析思路：軟件測(cè)試的步驟包括測(cè)試計(jì)劃、測(cè)試用例設(shè)計(jì)、測(cè)試執(zhí)行、缺陷管理和測(cè)試報(bào)告。

4.A,B,C,D,E

解析思路：軟件測(cè)試的常用工具有Selenium、JMeter、LoadRunner、QTP和Fiddler等。

5.A,B,C,D,E

解析思路：軟件測(cè)試的類型包括單元測(cè)試、集成測(cè)試、系統(tǒng)測(cè)試、驗(yàn)收測(cè)試和回歸測(cè)試。

6.A,B,C,D,E

解析思路：軟件測(cè)試的關(guān)鍵因素包括缺陷密度、缺陷嚴(yán)重性、缺陷修復(fù)時(shí)間、測(cè)試覆蓋率和測(cè)試效率。

7.A,B,C,D,E

解析思路：軟件測(cè)試的局限性包括無(wú)法完全保證無(wú)缺陷、測(cè)試成本高、資源有限、測(cè)試結(jié)果受人員經(jīng)驗(yàn)影響以及不能完全代替用戶驗(yàn)收。

8.A,B,C,D,E

解析思路：軟件測(cè)試中的缺陷分類包括功能性缺陷、性能缺陷、界面缺陷、安全缺陷和代碼缺陷。

9.A,B,C,D,E

解析思路：軟件測(cè)試的目的包括發(fā)現(xiàn)缺陷、提高質(zhì)量、滿足需求、降低維護(hù)成本和提高開(kāi)發(fā)效率。

10.A,B,C,D,E

解析思路：軟件測(cè)試中的測(cè)試用例設(shè)計(jì)原則包括完整性、可靠性、可重復(fù)性、可維護(hù)性和可擴(kuò)展性。

三、判斷題

1.×

解析思路：軟件測(cè)試不是開(kāi)發(fā)過(guò)程的最后一步，而是貫穿整個(gè)開(kāi)發(fā)周期。

2.×

解析思路：?jiǎn)卧獪y(cè)試可以在編碼階段進(jìn)行，但不是唯一的測(cè)試階段。

3.×

解析思路：黑盒測(cè)試關(guān)注軟件的功能，而白盒測(cè)試關(guān)注軟件的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和代碼。

4.×

解析思路：性能測(cè)試可以在軟件部署前進(jìn)行，以評(píng)估其性能。

5.√

解析思路：缺陷管理是測(cè)試過(guò)程中跟蹤和報(bào)告缺陷的重要環(huán)節(jié)。

6.×

解析思路：測(cè)試覆蓋率只是衡