GB 772-2005 高壓絕緣子瓷件 技術(shù)條件.pdf

I C S 2 9 K4 8 0 8 0 . 1 0 場黔 中 華 人 民 共 和 國 國 家 標 準 GB / T 7 7 2 -2 0 0 5 代替 GB 7 7 2 -1 9 8 7 高壓絕緣子瓷件技術(shù)條件 T e c h n i c a l s p e c i f i c a t i o n s o f p o r c e l a i n e l e me n t f o r h i g h v o l t a g e i n s u l a t o r s 2 0 0 5 - 0 8 - 2 6 發(fā)布2 0 0 6 - 0 4 - 0 1 實施 中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局 中 國 國 家 標 準 化 管 理 委 員 會 發(fā) 布 GB / T 7 7 2 -2 0 0 5 目次 前言 1 范圍 2 規(guī)范性引用文件 二 3 術(shù)語和定義 4技術(shù)要求 5 試驗 ” “ “ “ “ 6 包裝與標志 標準分享網(wǎng) w w w .b z f x w .c o m 免費下載 GB / T 7 7 2 -2 0 0 5 月U舀 本標準代替 G B / T 7 7 2 -1 9 8 7 高壓絕緣子瓷件技術(shù)條件 。 本標準與 G B / T 7 7 2 -1 9 8 7相比主要變化如下: 結(jié)構(gòu)和編寫規(guī)則按 G B / T 1 . 1 -2 0 0 0 標準化工作導則第 1 部分: 標準的結(jié)構(gòu)和編寫規(guī)則 ; 修改了壁厚偏差的規(guī)定( 1 9 8 7年版的2 . 1 . 1 . 3 ， 本版的 4 . 1 . 3 ) ; 修改了圓度公差的規(guī)定( 1 9 8 7年版的2 . 2 . 1 ， 本版的4 . 2 . 1 . 3 ) ; 刪去了“ 超聲波探測檢查” 的規(guī)定( 1 9 8 7年版的 2 . 9 ) 0 本標準 由中國電器工業(yè)協(xié)會提出 。 本標準由全國絕緣子標準化技術(shù)委員會歸口。 本標準起草單位: 西安電瓷研究所、 大連電瓷廠、 南京電氣集團有限責任公司、 唐山市高壓電瓷廠、 西安西電高壓電瓷有限責任公司、 NG K唐山電瓷有限公司 本標準主要起草人: 李大楠、 劉樹橫、 林榮偉、 房子章、 楊明、 賀建蒼、 董剛 本標準所代替標準的歷次版本發(fā)布情況為: GB 7 7 2 -1 9 6 5 , GB 7 7 2 - 1 9 7 7 , GB/ T 7 7 2 - 1 9 8 7 GB / T 7 7 2 -2 0 0 5 高壓絕緣子瓷件技術(shù)條件 1 范 圍 本標準規(guī)定了高壓絕緣子瓷件的技術(shù)要求、 試驗、 包裝和標志的一般要求 本標準適用于標準電壓高于 1 0 0 0 v、 頻率不超過 1 0 0 H z的交流系統(tǒng)的架空電力線路、 電氣裝置 和設(shè)備上使用的絕緣子瓷件。 本標準不適用于在有破壞瓷及釉的介質(zhì)( 氣體或液體) 中工作的瓷件。 2規(guī)范性引用文件 下列文件中的條款通過本標準的引用而成為本標準的條款。凡是注日期的引用文件， 其隨后所有 的修改單( 不包括勘誤的內(nèi)容) 或修訂版均不適用于本標準， 然而， 鼓勵根據(jù)本標準達成協(xié)議的各方研究 是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件， 其最新版本適用于本標準。 G B / T 1 9 1 -2 0 0 0 包裝儲運圖示標志( e q v I S O 7 8 0 : 1 9 9 7 ) G B / T 7 7 5 . 1 絕緣子試驗方法第 1 部分: 一般試驗方法 G B / T 7 7 5 . 2 絕緣子試驗方法 第2 部分: 電 氣試 驗方法 G B / T 7 7 5 . 3 絕緣子試驗方法 第3 部分: 機械 試驗方法 ( ; B / T 1 1 8 2 -1 9 9 6 形狀和位置公差通則、 定義、 符號和圖樣表示法( e q v I S O 1 1 0 1 : 1 9 9 6 ) GB / T 2 9 0 0 . 8 - 1 9 9 5 電工名詞術(shù)語絕緣子( e q v I E C 6 0 4 7 1 ) J B / 丁3 3 8 4 -1 9 9 9 高壓絕緣子抽樣方案 J B / T 5 8 9 6 -1 9 9 1 常用絕緣子術(shù)語 3術(shù)語和定義 G B / T 2 9 0 0 . 8 , J B / T 5 8 9 6和G B / T 1 1 8 2確立的以及下列術(shù)語和定義適用于本標準。 斑 點f r e c k l e s 熔化在瓷件表面上的雜物( 如鐵質(zhì)、 石膏等) 所形成的異色斑點 3 . 2 雜質(zhì)i n c l u s i o n s 粘附在瓷件表面上的缽屑、 砂粒、 石英粉等顆粒。 3 . 3 燒缺i m p e r f e c t i o n 坯體內(nèi)雜物燒去后所形成深人瓷件 七 的凹陷。 3 . 4 氣泡b u b b l e s 因雜物分解在瓷體表面所形成的泡 3 . 5 粘釉 g l a z e s t i c k 在熔燒時， 由于瓷件相互之間或與外物粘連而損壞釉面或瓷體的缺陷 標準分享網(wǎng) w w w .b z f x w .c o m 免費下載 GB/ T 7 7 2 -2 0 0 5 碰損c h i p p i n g s 坯件或瓷件相互之間或與外物相碰擊而傷及釉面或瓷體的缺陷。 缺釉 s p o t s w i t h o u t g l a z e 瓷件規(guī)定應上釉的表面上露出的瓷件無釉部分。 釉面針孔 p i n h o l e s i n t h e g l a z e 瓷件釉面上呈現(xiàn)的不深人瓷體的、 直徑在 mm 以下的小孔。 堆釉s t a c k e d g l a z e 高 出正常釉 面的積釉部分 。 3 . 1 0 折痕f o l d s 壞泥折迭在坯 件表面上面而未開裂的痕跡 。 3 . 1 1 刀痕s c r a t c h e s 由于坯件加工不當， 在表面上造成的細條痕跡。 波紋 w a v i n e s s 由于坯件加工不當， 在表面上造成的不平痕跡。 有限結(jié)構(gòu)l i mi t e d d e s i g n 影響瓷件裝配 附件 的部位 3 . 1 4 無限結(jié)構(gòu)u n l imi t e d d e s ig n 瓷件不裝配附件的部位 技術(shù) 要求 4 . 1 尺寸偏 差 4 . 1 . 1 瓷件一般尺寸偏差 瓷件一般尺寸偏差應符合表 1 的規(guī)定。 表 1 瓷件一般尺寸偏差 瓷件公稱尺寸 d 允許 偏 差 有 限 結(jié) 構(gòu)無 限 結(jié) 構(gòu) d 夏 4 5 4 5 1 0 0 0 士 1 2 . 0 十 1 3 . 0 土 1 5 . 0 十 1 6 . 0 士 1 8 . 0 豐 2 6 . 0 十 1 9 . 0+ 2 8 . 0 十 2 0 . 0+ 3 0 . 0 士 ( 0 _ 01 5 d+ 5 )+ ( 0 . 0 2 5 d+ 5 ) 注: 表中“ 瓷件公稱尺寸” 為被測量部位的長( 高) 度或直徑。 2 爬電距離偏差 爬電距離的測量值與圖樣上規(guī)定的設(shè)計尺寸有關(guān)， 即使這個尺寸可能大于買方原先規(guī)定的值 爬電距離的偏差值規(guī)定如下: 以公稱值( 包括最小公稱值) 規(guī)定時， 最大偏差為: 士( 0 . 0 4 L+1 . 5 ) m m( L為公稱爬電距離， m m) ; 以最小值規(guī)定時， 爬電距離的測量值不得小于此值。 3 壁厚偏差( 未研磨瓷套) 瓷套壁厚偏差應符合表2的規(guī)定。 表 2壁厚偏差m m 公 稱 壁 厚t壁 厚 允 許 偏 差 t 6 時 瓷件軸線的直線度由供需雙方協(xié)議 由于軸線的彎曲可能引起瓷件傘裙的傾斜而影響瓷件兩端與金屬附件的裝配時， 瓷件兩端傘裙傾 斜不應使H 、一H,; ( 0 . 0 3 2 D +3 ) m m ( H m , 、 為傘裙至端面的 最大距離， H m o。 為傘裙至端面的最小距 離， n為瓷件端 部傘裙 直徑 ， 單位均 為 mm) . 4 . 2 . 1 . 3 瓷件的圓度應符合下列公差: 當 。 蕊3 0 0 時， ( 0 . 0 4 D +1 . 5 ) mm; 當 D3 0 0時 ， ( 0 . 0 2 5 D+6 ) mm; 這里， D為瓷件直徑， mm o 當D為瓷套內(nèi)徑時， 應為( 0 . 0 2 5 D十1 . 5 ) mmo 當未測量瓷件的圓度而測量瓷件圓截面的直徑差時， 其最大直徑與最小直徑差值的一半不應超過 如下值 : 當D 蕊2 5 0時， ( 0 . 0 1 D+2 . 5 ) m m; 當. 2 5 0時， 0 . 0 2 Dmm, 4 . 2 . 1 . 4 盤形懸式絕緣子和針式絕緣子瓷件的傘緣變形度， 不應超過 。 . 0 2 Dm m( D為瓷件傘裙直徑， mm) 傘的變形不應導致正常使用情況下在傘的上表面產(chǎn)生積水現(xiàn)象。 G B/ T 7 7 2 -2 0 0 5 4 . 2 . 2 瓷件經(jīng)磨削后的形位公差及表面粗糙度 4 . 2 . 2 . 1 瓷件兩端面平行度不應超過: 等級I 0 , 1 8 o o D mm 等級u 0 . 3 5 %D mm 等級lu 0 , 5 2 %D mm 式中:D -瓷件直徑， mm 4 . 2 . 2 . 2 瓷件的上下端同軸度不應超過: 等級 I 0 . 1 5 0 O H mm 等級 II 0 . 2 5 %H mm 等級fu 0 . 3 0 %H mm 式中:H- 一 瓷件長( 高) 度 ， mm 4 . 2 . 2 . 3 瓷件端面的粗糙度不應大于表 4的規(guī)定。 表 4磨削端面粗糙 度 表面粗糙度R a 拼m 2 5 1 2 . 56 . 33 . 21 . 6 適 用 范 圍 無密封要求， 只是 由于制造上的原因需 要 磨 削 時 油 密 封 面氣體密封面特殊要求的光滑面 注:檢查時， 一般可采用試品與標樣( 瓷) 憑目力觀測的方法進行比較， 必要時采用儀器進行測量。 4 . 3 瓷件的外觀質(zhì)t 4 . 3 . 1 瓷件應按圖樣在規(guī)定的部位均勻地上一層光滑、 發(fā)亮并堅硬的釉， 釉面應無裂紋和影響其 良好 運行性能的其他缺陷。釉不應有顯著的色調(diào)不均現(xiàn)象， 但因釉較薄而顏色較淺是允許的， 例如在半徑較 小 的邊緣部位的釉 面。 4 . 3 . 2 瓷件表面缺陷不應超過表 5的規(guī)定， 且不應影響瓷件的安裝和連接 表 5 瓷件表面缺陷最大允許值 瓷件分類單個缺陷 外表面缺陷 總 面 積 m m 類 別 H X Dm m , 斑點、 雜質(zhì)、 燒缺、 氣泡等直徑 ni m 粘釉或碰損面積 m mZ 缺釉深 度 或 高 度 mmM 1 Iffm m 9he m m 1 H X D( 5 0 0 0 32 0 . 0 8 0 . 04 0 . 011 0 0 . 0 2 5 0 0 0 1 5 0 0 0 0 0 I 2 1 00 . 04 0 0 . 02 0 0. 02 10 0 + 黑 注1 : 表中， H為瓷件高度或長度, -.; D為瓷件最大外徑， mm 注2 內(nèi)表面( 內(nèi)孔及膠裝部位， 但不包括懸式頭部膠裝部位) 缺陷總面積不作規(guī)定。 注 3 : 括號內(nèi)數(shù)值適用于線路針式和懸式絕緣子的瓷件。 標準分享網(wǎng) w w w .b z f x w .c o m 免費下載 GB / T 7 7 2 - 2 0 0 5 4 . 3 . 3 當耐污型產(chǎn)品的L / H 2 . 2 時( L為爬電距離， H為瓷件高度) ， 其允許的缺陷總面積， 不應大 于 表 5 中 規(guī) 定 的 外 表 缺 陷 總 面 積 乘 2 H 4 . 3 . 4 瓷件主體部位外表面單個缺釉面積不應超過 2 5 m m . 4 . 3 . 5 釉面缺陷不能過分集中。釉面針孔在任一 5 0 0 m m- 面積范圍內(nèi)應不超過 1 5個。總針孔量不 應超過5 0 +D X L / 1 5 0 0 個( D為瓷件直徑， I為瓷件的爬電距離， 單位均為 mm ) 。積聚的雜質(zhì)( 例如砂 粒) 應算作單個缺陷 4 . 3 . 6 堆釉、 折痕的高度或深度應不超過表5的規(guī)定， 刀痕和波紋的深度不超過 。 . 5 mm， 這些缺陷不 計算 面積 4 . 3 . 7 瓷件焙燒支承面不上釉部位不算缺陷， 但其不上釉高度不應超過表 6 的規(guī)定， 超過部分按缺釉 計算其面積。磨削部位表面不算作缺釉 表 6 瓷件焙燒支承面不上釉高度 瓷 件 類 別12 - 45 - 7 I 不 上 釉 高 度 3 5( 1 0 4 . 3 . 8線路絕緣子瓷件不允許有 裂紋。 電器和配電裝置用瓷件一般不允許有裂紋。作為主絕緣用的及承受較大沖擊機械負荷的瓷件， 允 許在距離主體( 包括電極) 部位 1 0 m m以外的傘棱表面上有裂紋， 其他瓷件允許在距離電極部位 1 0 m m 以外的表面上有裂紋 以上裂 紋 的寬 度 不應 超 過 。 . 5 m m， 單 個 長度 不 應超 過 1 0 m m， 裂紋 總長 不 應超 過 外表面缺陷 c面積( m m ) 。 4 . 3 . 9 瓷件表面缺陷超過本標準規(guī)定時， 缺陷的修補應由供需雙方協(xié)議 4 . 4 孔隙性試驗要求 瓷件剖面應均質(zhì)致密， 經(jīng)孔隙性試驗后不應有任何滲透現(xiàn)象?？紫缎栽囼灥膲毫Σ坏陀?2 0 X 1 0 6 P a ， 壓力( P a ) 與時間( h ) 的乘積不應低于 1 8 0 X 1 0 6 4 . 5 溫度循環(huán)試驗要求 瓷件應能耐受三次溫度循環(huán)試驗而不損壞， 其試驗溫度差按表7的規(guī)定 表 7溫度循環(huán)試驗溫 度差 GB / T 7 7 2 -2 0 0 5 4 . 6 瓷件( 瓷套、 瓷管) 壁厚工頻擊穿電壓 瓷件( 瓷套、 瓷管) 壁厚工頻擊穿電壓不應低于表 8的規(guī)定。 表 8壁厚工頻擊穿電壓 m m 1 01 52 02 53 04 05 06 0 工頻擊穿電壓 k V( 有效值) 6 58 09 01 0 01 0 51 1 51 2 5 1 3 5 注:當瓷件壁厚介于表中的中間數(shù)值時， 其擊穿電壓按線性播入法確定。 4 . 7 逐個電氣試驗要求( 僅對B型瓷件或空心瓷件) 作主絕緣用的B型及空心瓷件， 應能耐受連續(xù) 5 mi n的工頻火花電壓試驗而不擊穿、 損壞或異常 發(fā)熱。 作非主絕緣用的瓷件， 其瓷壁應能耐受連續(xù)5 mi n的工頻電壓試驗而不擊穿， 其試驗電壓值為表 8 規(guī)定值的 1 / 2 對于小型瓷件或由于結(jié)構(gòu)上的原因試驗時可能要發(fā)生閃絡(luò)的瓷件， 試驗電壓值應為該 瓷件發(fā)生閃絡(luò)時的電壓值的9 0 %. 4 . 8 機械強度 瓷件應符合產(chǎn)品標準或圖樣規(guī)定的機械強度要求， 并按產(chǎn)品標準進行機械破壞或耐受試驗。 5試驗” 5 . 1 試驗分類 瓷件的試驗項目分為逐個試驗、 抽樣試驗和型式試驗。 5 . 2逐個試驗 出廠的每一只瓷件應按表 9 規(guī)定的順序進行逐個試驗， 如有瓷件不符合表 9中規(guī)定的任何一項要 求， 則此瓷件不符合本標準要求 表 9 逐個試驗項 目 序 號 試驗項目名稱試 驗 根 據(jù)試 臉 方 法 1 外 觀 檢 查 本標準第 4 . 3條及 6 . 2條 G B 7 7 5 . 1 2 尺 寸 檢 查 本標準第 4 . 1條 G B 7 7 5 . 1 3 形位公差檢查本標準第 4 . 2 條 G B 7 7 5 . 1 4 工頻火花電壓試驗本標準第 4 . 7 條 G B 7 7 5 . 2 5 瓷壁耐壓試驗本標準第 4 . 7 條 GB 7 7 5 . 2 6 逐個機械負荷試驗本標準第 4 . 8 條 G B 7 7 5 . 3 注 1 : 尺寸及形位公差檢查的項目應由產(chǎn)品標準規(guī)定 注2 :用整體成型方法制造的瓷套， 瓷壁耐壓試驗允許按驗收批量進行抽樣試驗， 如不合格則應進行逐個試驗。 5 . 3 抽樣試驗 5 . 3 .1 抽樣規(guī)則 瓷件應按批進行驗收， 以同一工藝方法制成的同一型號( 或代號) 的瓷件算作一批， 大型及特大型瓷 件( 指表 5 中 5 類及以上瓷件) 批量不應超過5 0 0只， 小型瓷件不應超過3 2 0 0只。 瓷件應按批進行抽樣試驗， 抽樣試驗在逐個試驗合格后的批中隨機抽取試品進行， 抽樣規(guī)則按 B / T 3 3 8 4 的規(guī)定。 t )第 5 , 6 章的條款僅適用于以“ 瓷件” 為產(chǎn)品出廠的情況。 標準分享網(wǎng) w w w .b z f x w .c o m 免費下載 G B/ T 7 7 2 -2 0 0 5 批量與樣本容量 ( 每項試驗的試品數(shù) ) 字碼關(guān)系按表 1 0的規(guī) 定。 表 1 0批A與樣本容f字碼 批 量 N 檢 查 水 平 S- 1S- 2 S- 3 ( 1 5 AAA 1 6 一 2 5AAB 2 6 一 5 0ABB 5 1 一 9 0 BB C 9 1 - 1 5 0BBC 1 5 1 - 5 00 BCD 5 01 - 1 2 0 0 CCE 1 2 0 1 一 3 2 00CDE 注 1 : 表中字母A， 對于特大型產(chǎn)品， 允許樣本容量為“ 1“ 注2 : 如無特殊規(guī)定， 檢查水平按下列規(guī)定: a ) S - 1 特大型瓷件( 指表 5中7 類) : b ) S- 2 - 一 大型瓷件( 指表5中5 -6 類) ; c)s 一 3 一般瓷件或有重要要求的瓷件. 計件抽樣方案的判定準則見表 I L 表 1 1 判定準則 樣 本 字 碼樣 本 容 量 判 定 數(shù) A R Ad A+R e , R 2 A n1 101 A 或 B 刀l 202 n之 4工2 C n】 302 刀2 612 D 刀 1 S02 月2 1 012 E 刀l 802 刀2 1 623 注: A 接收判定數(shù)。第一次抽樣的接收判定數(shù)為AL . 第二次抽樣的接收判定數(shù)為人: R拒收判定數(shù)。第一次抽樣的拒收判定數(shù)為R ， 第二次抽樣的判定數(shù)為凡: 。一次抽樣的樣本容量或二次抽樣的第一次抽取的樣本容量。 ” : 一 一 二次抽樣的第二次抽樣的樣本容量。 5 . 3 . 2抽樣試驗項 目及試驗 順序 抽樣試驗項 目及試驗順序規(guī)定見表 1 2 GB / T 7 7 2 -2 0 0 5 表 1 2抽樣試驗項 目 序 號項 目名 稱試 驗 根 據(jù)試 驗 方 法試 品 數(shù) 量 1 尺寸及形位公差檢查 本標準第 4 . 1及4 . 2條GB / T 7 7 5 . 1 按抽樣方案規(guī)定抽出總數(shù)的 全 部 2 溫度循環(huán)試驗 本標準第 4 . 5條 GB / T 7 7 5 . 1 經(jīng)項 1 試驗后的全部 3 機 械 破 壞 負 荷 試 驗本標準第 4 . 8 條G B / T 7 7 5 . 3 按抽樣 方案規(guī) 定并 經(jīng)項 2 試 驗 4 孔 隙 性 試 驗! 本標準第 4 . 4 條G B / T 7 7 5 . 1 與抽樣方案規(guī)定的試品數(shù) 目 相同的瓷塊， 但不得少于3塊 注 1 : 尺寸及形位公差檢查的項目( 包括爬電距離) 應由產(chǎn)品標準規(guī)定 注2 : 大型及特大型瓷件經(jīng)溫度循環(huán)試驗合格的試品， 可以提交用戶使用 注 3 : 進行機械破壞負荷的種類由產(chǎn)品標準規(guī)定， 但機械破壞負荷試驗有兩種或若干種時， 其試品數(shù)量應為檢查 水平規(guī)定數(shù)量的兩倍或若干倍。 注 4 : 孔隙性試驗用的試塊， 可以選取機械破壞負荷試驗后的瓷塊或用相同工藝制造的同等厚度的試塊進行 試驗采用計件二次抽樣方案( 當樣本容量為“ 1 ” 時， 采用計件一次方案) ， 其判定程序如下: 如果第一次樣本 n l 中， 不合格品數(shù) d , 簇A , , ， 則接收該批。如果 d , )R , , ， 則拒收該批。如果A, d , 尺 ， 則應在該批中重新再抽取第二次樣本 n : 進行重復試驗。在第二次樣本中的不合格品種d : 加 上 d， 即兩次聯(lián)合樣本中的不合格品樣之和， 如果 d : 十d , 鎮(zhèn)A , z ， 則接收該批。如果d : 十d , )R , ， 則拒 收該批但若在第二次試驗時僅尺寸、 形位公差或外觀質(zhì)量不合格， 允許逐個進行檢查， 合格品則可以 出廠 。 5 . 4 型式試驗 新產(chǎn)品試制定型或正常產(chǎn)品修改結(jié)構(gòu)、 改變原材料配方及工藝方法時， 必須進行型式試驗。每項試 驗的試品數(shù)量大型及特