Teststand應(yīng)用實(shí)例2.docx

練習(xí)二：熟悉TestStand開(kāi)發(fā)環(huán)境，實(shí)現(xiàn)電阻值測(cè)試目標(biāo)：熟悉Teststand開(kāi)發(fā)環(huán)境，結(jié)合NI硬件，利用矩陣開(kāi)關(guān)模塊和數(shù)字萬(wàn)用表，并最終實(shí)現(xiàn)電阻阻值測(cè)試。圖1顯示完整練習(xí)。圖1 完整練習(xí)硬件平臺(tái)：矩陣開(kāi)關(guān)模塊PXI-2532，接線盒TB-2641，接線盒SCB-264X，數(shù)字萬(wàn)用表PXI-4071，1KOhm電阻兩個(gè)（電阻A，電阻B）。硬件連接：1. 連接TB-2641接線盒與SCB-264X接線盒：一端連接在TB-2641接線盒的J3排線端，一端連接在SCB-264X接線盒Lower J3排線端。2. 在SCB-264X上安裝電阻：將電阻A兩端分別連接在SCB-264X接線盒的B.1和B.2；將電阻B兩端分別連接在SCB-264X接線盒的B.5和B.6。3. 在SCB-264X上連接PXI-4071:將PXI-4071的正極（紅色）連接在SCB-264X接線盒的B.3；將PXI-4071的負(fù)極（黑色）連接在SCB-264X接線盒的B.4。圖2 系統(tǒng)架構(gòu)操作步驟：1. 啟動(dòng)Teststand，選擇Start All Programs National Instruments TestStand version number Sequence Editor。彈出Login對(duì)話框，Password留空，點(diǎn)擊OK，啟動(dòng)后的界面如下圖所示。圖3 Sequence Editor界面2. 按照下面步驟確認(rèn)Teststand中的執(zhí)行模式為順序執(zhí)行。a. 在菜單欄中選擇Configure Station Options。圖4 配置執(zhí)行模式b. 選擇Model標(biāo)簽，在Station Model中選擇 SequentialModel.seq。c. 保存設(shè)置，如下圖所示。圖5 選擇順序執(zhí)行3. 在TestStand中插入電阻測(cè)試序列。a. 在Adapter列表中選擇LabVIEW。圖6 Adapter選擇LabVIEWb. 將Numeric Limit test 從 Insertion Palette 拖入到 the MainSequence，并將Numeric Limit test命名為resistor test。注：這個(gè)測(cè)試將返回待測(cè)電阻值，所以選擇numeric limit test測(cè)試步驟。圖7 在TestStand中插入測(cè)試序列4. 指定Numeric Limit test這一步調(diào)用的LabVIEW VI，這里選擇NI-DMM Express VI為測(cè)試序列，并配置對(duì)話框。a. 在Step Settings選項(xiàng)卡（下圖中方框所示位置）中選擇Module，點(diǎn)擊 按鍵，選擇調(diào)用Express VI路徑：Measurement I/O (測(cè)量I/O) NI-DMM NI-DMM/Switch Express。 圖8 選擇NI-DMM/Switch Express模塊b. 配置NI-DMM/Switch Express VI對(duì)話框。如下圖所示。注：這里采用二線制測(cè)電阻的方法，由于待測(cè)電阻是1K，因此范圍選為2K，這個(gè)設(shè)置可根據(jù)實(shí)際待測(cè)電阻阻值進(jìn)行調(diào)整。圖9 配置NI-DMM/Switch Express對(duì)話框5. 指定TestStand如何存儲(chǔ)VI輸出數(shù)據(jù)。a. 在如圖所示位置輸入Step.Result.Numeric圖10 輸入Step.Result.Numericb. Step. Result.Numeric是TestStand中Numeric Limit test的屬性，DMM測(cè)得電阻值將會(huì)與下一步定義值進(jìn)行比較。6. 定義電阻值范圍（可根據(jù)實(shí)際待測(cè)電阻阻值進(jìn)行調(diào)整）。在Step settings中（位置參考圖8），點(diǎn)擊Limits選項(xiàng)卡，設(shè)定電阻值范圍和單位，依次輸入900,1300,ohm如果測(cè)量返回值超出900歐姆與1300歐姆之間，測(cè)試就會(huì)報(bào)錯(cuò)。圖11 設(shè)定被測(cè)阻值上下限7. 利用NI Switch Executive配置矩陣開(kāi)關(guān)模塊。a. 打開(kāi)MAX(Measurement & Automation Explorer)。b. 展開(kāi)My System(我的系統(tǒng))Devices and Interfaces(設(shè)備和接口)NI Switch Executive Virtual Devices。c. 點(diǎn)擊ATE，中間Route Groups中會(huì)出現(xiàn)兩組路由，分別命名為RouteGroup0和RouteGroup1，請(qǐng)觀察兩組連接的Schematic如下面兩張圖片：圖12 觀察兩組Schematic8. 在Teststand中為電阻測(cè)試序列配置Switch選項(xiàng)。a. 在Step settings中，點(diǎn)擊Properties選項(xiàng)卡，選擇Switching項(xiàng)。b. 選中Enable Switching。c. 在Switch Executive Virtual Device下拉菜單中選擇上一步中觀察到的“ATE”； Option選擇Connect；Route(s) to Connect下拉菜單中選擇“RouteGroup0”對(duì)應(yīng)測(cè)試電阻值1K，其余設(shè)置請(qǐng)參考下圖。圖13 電阻的Switch設(shè)置9. 運(yùn)行測(cè)試序列，并查看測(cè)試報(bào)告。a. 在菜單欄中選擇ExecuteSingle Pass，如下圖所示，運(yùn)行測(cè)試序列。運(yùn)行時(shí)提示保存文件，命名為resistor test.seq。圖14 單次執(zhí)行測(cè)試序列b. 查看測(cè)