SPC及CPK教程(實(shí)戰(zhàn)篇)PPT課件

.,1,SPC及CPK實(shí)戰(zhàn)篇,.,2,1六西格碼在控制中的應(yīng)用,廣義的六西格碼是一個完善的管理工具是品質(zhì)管理系統(tǒng)的一種說法單純的六西格碼控制應(yīng)用是一種質(zhì)量控制的目標(biāo)請看以下說法正確與否我公司已經(jīng)實(shí)施了六西格碼管理我公司達(dá)到了六西格碼的要求通過六西格碼管理公司品質(zhì)上了一個臺階,一六西格碼,.,3,2六西格碼與不良率:,42,.,4,43,.,5,3控制方式與6控制方式的比較：,.,6,?,兩個影響量1的變化2的變化,.,7,二SPC與CPK,1區(qū)別與聯(lián)系,CPK判定短期的制程能力可以用來解析目前的制程能力或用來檢驗(yàn)制程能力是否在管制狀況下SPK長期的制程能力主要用在制程管制上。兩者配合使用應(yīng)該做到短期=長期,.,8,2影響量-標(biāo)準(zhǔn)差Sigma,.,實(shí)例(Sigma較大離散性問題),.,10,3影響量-中心偏移量,.,11,CPK實(shí)例分析(離散性較小中心偏移量影響),.,12,4CPK改善的方向及目標(biāo),.,13,5管制圖的判斷,在計(jì)量值服從常態(tài)分布的生產(chǎn)特性下最常用的管制圖是Xbar-R管制圖。,常用的控制圖a、XbarR控制圖（計(jì)量值、正態(tài)分布）b、不合格品百分率p控制圖（計(jì)件值、二項(xiàng)分布）c、不合格品數(shù)np控制圖(計(jì)件值、二項(xiàng)分布)d、缺陷率u控制圖(計(jì)點(diǎn)值、泊松分布）e、缺陷數(shù)c控制圖(計(jì)點(diǎn)值、泊松分布）f、DPMO控制圖(計(jì)點(diǎn)值、泊松分布）,.,14,!,5.1穩(wěn)定原則-異常處理,原則一:不可超出管制界限,.,15,14.2,5.1穩(wěn)定原則-預(yù)防處理,原則二:不可呈現(xiàn)規(guī)律變動連續(xù)7點(diǎn)上升或下降呈現(xiàn)規(guī)律性波動,具有顯著的波動周期,.,16,5.1穩(wěn)定原則-預(yù)防處理,原則二:不可呈現(xiàn)規(guī)律變動連續(xù)7點(diǎn)在管制界限一側(cè)連續(xù)11點(diǎn)中,有10點(diǎn)在管制界限一側(cè)(間斷),.,17,5.1穩(wěn)定原則-預(yù)防處理,原則三:不可過于集中分布顯著多于2/3的點(diǎn)集中在CL附近:即90%的數(shù)據(jù)在1線以內(nèi)顯著少于40%的數(shù)據(jù)落在1線以內(nèi)數(shù)據(jù)集中分布在2到管制線之間(超過2/3)3點(diǎn)中,有兩點(diǎn)接近一側(cè)之管制界限7點(diǎn)中,有3點(diǎn)以上接近控制界限原則四:符合過程能力要求,.,18,5.2長期控制,符合以下條件,可將管制圖用于長期控制:過程穩(wěn)定符合過程能力的要求再收集15組數(shù)據(jù),無異常情形利用已經(jīng)算出之管制界限進(jìn)行管制按要求收集數(shù)據(jù),并進(jìn)行管制分析/控制在下列情況下,重新計(jì)算管制界限:初次過程能力研究,異常消除時對4M1E進(jìn)行重大改進(jìn)時產(chǎn)品修正時經(jīng)過長期運(yùn)行后,.,19,5.3異常處理,可以采取的措施有效后,標(biāo)準(zhǔn)化處理,.,20,三制程管制實(shí)例,1CPK解析,目的通過集中量測解析目前的制程能力得出制程管控要求對制程管控要求進(jìn)行分析解析出合理的制程管控上下限。實(shí)例分析以解析錫膏厚度的管控上下限為例集中量測25組錫膏厚度數(shù)據(jù)每組由5個量測點(diǎn)的數(shù)據(jù)計(jì)算CPK值判定是否合理計(jì)算上下管制線。,.,21,1.1集中量測25組錫膏厚度數(shù)據(jù),.,22,1.2計(jì)算CPK值,Sigma=(Xi-Xbar)2/(n-1)其中i=1ton=0.00312CP=T/(6*Simga)=(0.16-0.12)/(6*0.00312)=2.13675K=|Xbar-SL|/T/2=|0.139832-0.140|/0.02=0.0084CPK=CP(1-K)=2.13675(1-0.0084)=2.1188判定CPK為2.11881.67屬于制程能力充分的狀態(tài)下,.,23,1.3計(jì)算管制上下限,上管制界限:UCL=Xbar+3*Sigma=0.139832+3*0.00312=0.149192,下管制界限:LCL=Xbar-3*Sigma=0.139832-3*0.00312=0.130472,.,24,1.4管制圖,.,25,1.5解析管制上下限,上管制界限:UCL=0.149192實(shí)際管制上限=0.150在實(shí)際解析中如果測量的點(diǎn)比較分散可以適當(dāng)放寬解析上限再定期檢討縮緊管制上限到理論值。,下管制界限:LCL=0.130472實(shí)際管制下限=0.130在實(shí)際解析中如果測量的點(diǎn)比較分散可以適當(dāng)放寬解析下限再定期檢討縮緊管制下限到理論值。,.,26,2SPC管制,將CPK解析的管制上下限作為SPC的管制上下線定時對生產(chǎn)制程進(jìn)行量測這個時間可以是每天或每班檢查每次的量測結(jié)果是否在管控范圍內(nèi)量測點(diǎn)超出管控線需要立即檢討制程尋找出原因定期(每月或每周)對近期的控制圖進(jìn)行分析檢查是否有不收控制的趨勢(如周期變動連續(xù)7點(diǎn)連續(xù)11點(diǎn)等)。,.,27,2.1SPC管制圖,.,28,2.2管制圖的難點(diǎn),CPK解析時存在中心偏移量較大的情況CPK解析時數(shù)據(jù)離散性較大Sigma較大SPC管制時管制上下限太嚴(yán)導(dǎo)致經(jīng)常跑出管制線量測點(diǎn)都在管制界限內(nèi)是否代表制程良好,.,29,3SPC&CPK管制的步驟,四個步驟3.1CPK改進(jìn)3.2CPK解析3.3SPC管制及改進(jìn)3.4PDCA,.,30,3.1CPK改進(jìn)-中心偏移量,CP=2.13675K=0.5084CPK=1.05,.,31,3.1CPK解析-消除中心偏移量,CLSL,CP=2.13675K=0.0084CPK=2.1188,.,32,3.1CPK解析-消除中心偏移量（圖）,SL,.,33,3.2CPK解析-穩(wěn)定性離散性原則,CPK解析時Sigma較大CP1.67具體解析過程可以用Xbar-R管制分析法,難,.,34,3.2CPK解析-Xbar-R分析,步驟1計(jì)算XbarRXbar.barRbar2計(jì)算R的管控線并判斷3剔除異常的點(diǎn)(超出規(guī)格的)查找異常的原因4重復(fù)123步驟直到全部在管控范圍內(nèi)5計(jì)算Xbar的管控線并判斷6剔除異常的點(diǎn)(超出規(guī)格的)查找異常的原因7重復(fù)1到6步驟直到全部在管控范圍內(nèi)8落實(shí)查找出來的改善措施9再次復(fù)驗(yàn)。,.,35,1計(jì)算XbarRXbar.barRbar,R.UCL=D4*R.bar=2.12*0.0127=0.02694R.LCL=D3*R.bar=0*0.013=0,.,36,2計(jì)算R的管控線,此時的X.bar圖,異常點(diǎn),.,37,3重新計(jì)算-剔除R圖中的不合格點(diǎn)(第2點(diǎn)),剔除后X.bar.bar及R.bar值均發(fā)生變化。R圖符合要求。,.,38,4計(jì)算Xbar的管控線,UCL=Xbar.bar+A2*Rbar=0.14043+0.577*0.012=0.147354LCL=Xbar.bar-A2*Rbar=0.14043-0.577*0.012=0.133506,.,39,5剔除異常的點(diǎn)(超出規(guī)格的)查找異常的原因,異常點(diǎn),異常點(diǎn),.,40,6重新計(jì)算-剔除第512點(diǎn),Xbar.barRbar都需要重新計(jì)算檢查R圖符合要求,.,41,6重新計(jì)算-檢查X.bar是否符合管制要求,.,42,7落實(shí)改善措施及延長管制線,將第2點(diǎn)和第512點(diǎn)出現(xiàn)異常的原因進(jìn)行分析一定要追蹤落實(shí)改善用以下公式得到管制用管制線UCL=Xbar+3*SigmaLCL=Xbar-3*Sigma,.,43,3.3SPC管制及改進(jìn),3.1和3.2得到了管制上下