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1、組件幾項常規(guī)可靠性實驗介紹,許理東,2014.1.8,目錄,TC200,DH1000,TC50+HF10,PID,測試,LID,TC200,TC200,冷熱循環(huán)實驗,目,的,要,求,組件在,40,85,之間循環(huán),200,次，在溫度超過,25,對組件通入,Ipm,并,對組件的電流連續(xù)性和溫度進行監(jiān)控,標,準,組件測試后外觀完好、最大功率衰減,5,濕漏電及絕緣性,40M,溶液要求表面張力,0.03N/m,電阻率,3500,cm,溫度為,22,3,DH1000,DH1000,組件雙,85,實驗，組件在,85,85,RH,條件下進行測試,目,的,要,求,組件在溫度,85,2,濕度,85,5,的條件下，

2、測試,1000h,標,溶液要求表面張力,0.03N/m,電阻率,3500,cm,溫度為,22,3,準,組件測試后外觀完好、最大功率衰減,5,濕漏電及絕緣性,40M,TH50+HF10,TH50+HF10,目,要,的,求,組件在,40,85,之間循環(huán),50,圈，最高和最低之間的溫度變化速率不超過,100,h,每個極端條件下應保持穩(wěn)定至少,10min,一次循環(huán)不超過,6h,然,直接卻換,40,85,之間循環(huán),10,圈,85,下應保持穩(wěn)定至少,20h,低溫,4,最少保持,0.5h,一次循環(huán)不超過,24h,在高溫階段加,85,RH,并對組件的電流,續(xù)性和溫度進行監(jiān)控,標,準,組件測試后外觀完好、最大功率衰減,5,濕漏電及絕緣性,40M,溶液要求表面張力,0.03N/m,電阻率,3500,cm,溫度為,22,3,PID,測試,PID,測試,潛在的電勢誘導衰減,目,的,要,求,組件在,85,85,RH,通入反向,1000V,電壓，持續(xù),標,準,功率衰減值,5,EL,無異常,96H,L

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