【大學(xué)論文】基于51單片機(jī)電子器件測(cè)試儀的設(shè)計(jì)(答辯PPT)_第1頁(yè)
【大學(xué)論文】基于51單片機(jī)電子器件測(cè)試儀的設(shè)計(jì)(答辯PPT)_第2頁(yè)
【大學(xué)論文】基于51單片機(jī)電子器件測(cè)試儀的設(shè)計(jì)(答辯PPT)_第3頁(yè)
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【大學(xué)論文】基于51單片機(jī)電子器件測(cè)試儀的設(shè)計(jì)(答辯PPT)_第5頁(yè)
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基于51單片機(jī)電子器件測(cè)試儀 的設(shè)計(jì) 辯論人：* 課題研究的背景 v 伴隨著電子行業(yè)的迅猛開展，人們對(duì)電 子元器件的質(zhì)量要求越來(lái)越高，為了確保電 子系統(tǒng)的正常工作，在應(yīng)用中我們通常要測(cè) 定電子元器件的一系列參數(shù)。因此，設(shè)計(jì)精 確、平安，便捷的電子器件測(cè)試儀具有巨大 的現(xiàn)實(shí)意義。 設(shè)計(jì)總體框圖 鍵盤控制模塊 LCD1602顯示模塊 主控制器 AT89C51單片機(jī) 二、三極管測(cè)試模塊 555測(cè)試模塊 運(yùn)放741模塊 電容測(cè)試模塊 主程序流程圖 開始 上電延時(shí) 1602初始化 按鍵按下？ 開始檢測(cè)器件 數(shù)據(jù)處理 LCD1602顯示 N Y 結(jié)束 請(qǐng)老師提問(wèn)！

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