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文檔簡介
1、電 子 科 技 大 學(xué)實 驗 報 告學(xué)生姓名: 學(xué) 號: 指導(dǎo)教師:實驗地點(diǎn):工程訓(xùn)練中心三樓 實驗時間:一、實驗室名稱:機(jī)械系測控實驗室 二、實驗項目名稱:二階系統(tǒng)時頻域分析實驗三、實驗學(xué)時:2學(xué)時四、實驗原理: 圖1是典型型二階單位反饋閉環(huán)系統(tǒng)。圖1 典型型二階單位反饋閉環(huán)系統(tǒng)型二階系統(tǒng)的開環(huán)傳遞函數(shù):型二階系統(tǒng)的閉環(huán)傳遞函數(shù)標(biāo)準(zhǔn)式: 自然頻率(無阻尼振蕩頻率): 阻尼比: 有二階閉環(huán)系統(tǒng)模擬電路如圖2所示。它由積分環(huán)節(jié)(A2單元)和慣性環(huán)節(jié)(A3單元)的構(gòu)成,其積分時間常數(shù)Ti=R1*C1=1秒,慣性時間常數(shù) T=R2*C2=0.1秒。圖2 型二階閉環(huán)系統(tǒng)模擬電路模擬電路的各環(huán)節(jié)參數(shù)代入
2、,得到該電路的開環(huán)傳遞函數(shù)為:模擬電路的開環(huán)傳遞函數(shù)代入式,得到該電路的閉環(huán)傳遞函數(shù)為:阻尼比和開環(huán)增益K的關(guān)系式為:臨界阻尼響應(yīng):=1,K=2.5,R=40k 欠阻尼響應(yīng):01,設(shè)R=70k,K=1.43=1.321 計算欠阻尼二階閉環(huán)系統(tǒng)在階躍信號輸入時的動態(tài)指標(biāo)Mp、tp、ts:(K=25、=0.316、=15.8)超調(diào)量 : 峰值時間: 調(diào)節(jié)時間:。由于型系統(tǒng)含有一個積分環(huán)節(jié),它在開環(huán)時響應(yīng)曲線是發(fā)散的,因此欲獲得其開環(huán)頻率特性時,還是需構(gòu)建成閉環(huán)系統(tǒng),測試其閉環(huán)頻率特性,然后通過公式換算,獲得其開環(huán)頻率特性。 計算欠阻尼二階閉環(huán)系統(tǒng)中的幅值穿越頻率c、相位裕度:幅值穿越頻率: 相位裕
3、度: 值越小,Mp%越大,振蕩越厲害;值越大,Mp%小,調(diào)節(jié)時間ts越長,因此為使二階閉環(huán)系統(tǒng)不致于振蕩太厲害及調(diào)節(jié)時間太長,一般希望:3070本實驗以第3.2.2節(jié)二階閉環(huán)系統(tǒng)頻率特性曲線為例,得:c =14.186 =34.93五、實驗?zāi)康模?通過二階系統(tǒng)的時頻域分析驗證課程講授內(nèi)容,加深學(xué)生對理論知識的理解程度,擴(kuò)大學(xué)生視野,掌握基本的頻域圖解方法和時域系統(tǒng)校正方法。2了解和掌握典型二階系統(tǒng)模擬電路的構(gòu)成方法及型二階閉環(huán)系統(tǒng)的傳遞函數(shù)標(biāo)準(zhǔn)式。3研究型二階閉環(huán)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)參數(shù)-無阻尼振蕩頻率n、阻尼比對過渡過程的影響。4掌握欠阻尼型二階閉環(huán)系統(tǒng)在階躍信號輸入時的動態(tài)性能指標(biāo)Mp、tp、ts的
4、計算。5觀察和分析型二階閉環(huán)系統(tǒng)在欠阻尼,臨界阻尼,過阻尼的瞬態(tài)響應(yīng)曲線,及在階躍信號輸入時的動態(tài)性能指標(biāo)Mp、tp值,并與理論計算值作比對。6了解和掌握型二階開環(huán)系統(tǒng)中的對數(shù)幅頻特性和相頻特性,實頻特性 和虛頻特性的計算。7了解和掌握欠阻尼型二階閉環(huán)系統(tǒng)中的自然頻率、阻尼比對開環(huán)參數(shù)幅值穿越頻率和相位裕度的影響,及幅值穿越頻率和相位裕度的計算。8研究表征系統(tǒng)穩(wěn)定程度的相位裕度和幅值穿越頻率對系統(tǒng)的影響。9了解和掌握型二階開環(huán)系統(tǒng)對數(shù)幅頻曲線、相頻曲線、和幅相曲線的構(gòu)造及繪制方法六、實驗內(nèi)容:搭建二階系統(tǒng),觀察系統(tǒng)時域響應(yīng)曲線,通過調(diào)整電路中可調(diào)電阻的方式改變系統(tǒng)開環(huán)增益和系統(tǒng)阻尼比,觀察開環(huán)
5、增益和阻尼比變化時對系統(tǒng)穩(wěn)定性和動態(tài)響應(yīng)過程的影響。二階系統(tǒng)的頻域分析,搭建二階系統(tǒng),通過設(shè)置不同的輸入信號頻率,獲取輸出信號,通過輸入輸出幅值相位變化繪制對數(shù)幅相特性圖和幅相頻率特性圖,并確定,等關(guān)鍵參數(shù)。型二階閉環(huán)系統(tǒng)模擬電路見圖2,觀察阻尼比對該系統(tǒng)的過渡過程的影響。改變A3單中輸入電阻R來調(diào)整系統(tǒng)的開環(huán)增益K,從而改變系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)參數(shù)。觀測二階閉環(huán)系統(tǒng)的頻率特性曲線,測試其諧振頻率、諧振峰值。改變被測系統(tǒng)的各項電路參數(shù),畫出其系統(tǒng)模擬電路圖,及閉環(huán)頻率特性曲線,並計算和測量系統(tǒng)的諧振頻率及諧振峰值,填入實驗報告。七、實驗器材(設(shè)備、元器件):LabACTn自控/計控實驗機(jī)八、實驗步驟:(
6、1)構(gòu)造模擬電路:按圖2安置短路套及插孔連線,表如下。(a)安置短路套 (b)插孔連線模塊號跨接座號1A1S4,S82A2S5,S11,S123A3S8,S111信號輸入B1(OUT1)A1(H1)2運(yùn)放級聯(lián)A1(OUT)A2(H1)3負(fù)反饋A3(OUT)A1(H2)4運(yùn)放級聯(lián)A3(OUT)A10(H1)56跨接4K、40K、70K元件庫A11中直讀式可變電阻跨接到A2(OUT)和A3(IN)之間7示波器聯(lián)接A10(OUT)B2(CH2)(2)運(yùn)行、觀察、記錄: 分別將(A11)中的直讀式可變電阻分別調(diào)整為4K、40K、70K,選擇線性系統(tǒng)時域分析二階系統(tǒng)瞬態(tài)響應(yīng)和穩(wěn)定性實驗,確認(rèn)信號參數(shù)默認(rèn)
7、值后,點(diǎn)擊-下載-開始鍵后,實驗運(yùn)行,階躍響應(yīng)曲線見圖3。用示波器觀察在三種增益K下,A10輸出端C(t)的系統(tǒng)階躍響應(yīng)。(a)01過阻尼階躍響應(yīng)曲線圖3 型二階系統(tǒng)在三種情況下的階躍響應(yīng)曲線(3)構(gòu)造模擬電路。(a)安置短路套 (b)插孔連線模塊號跨接座號1A1S4,S82A2S5,S11,S123A3S8,S111信號輸入B1(OUT1) A1(H1)2運(yùn)放級聯(lián)A1(OUT)A2(H1)3運(yùn)放級聯(lián)A3(OUT)A10(H1)45跨接元件(4K)元件庫A11中可變電阻跨接到A2(OUT)和A3(IN)之間6負(fù)反饋A3(OUT)A1(H2)7測量A10(OUT) B3(ADIN)8示波器聯(lián)接A
8、1(H1)B2(CH1)9A10(OUT)B2(CH2)(4)運(yùn)行、觀察、記錄: 選擇系統(tǒng)的頻域分析二階閉環(huán)系統(tǒng)頻率特性曲線,將彈出頻率特性掃描點(diǎn)設(shè)置表,用戶可在設(shè)置表中根據(jù)需要填入各個掃描點(diǎn)角頻率,設(shè)置完后,點(diǎn)擊確認(rèn)后,將彈出頻率特性曲線實驗界面,點(diǎn)擊開始,即可按表中規(guī)定的角頻率值,按序自動產(chǎn)生多種頻率信號,畫出頻率特性曲線。 測試結(jié)束后(約五分鐘),將顯示被測系統(tǒng)的對數(shù)幅頻、相頻特性曲線(伯德圖)和幅相曲線(奈奎斯特圖。諧振頻率r和諧振峰值L(r)的測試: 在閉環(huán)對數(shù)幅頻曲線中,移動L標(biāo)尺和標(biāo)尺到曲線峰值處可讀出諧振頻率、諧振峰值。在閉環(huán)對數(shù)相頻曲線中,移動移動標(biāo)尺到標(biāo)尺線與曲線相交處,可
9、讀出該角頻率的值。 諧振頻率r和諧振峰值L(r)自動搜索點(diǎn)擊搜索諧振頻率鍵,將自動搜索并補(bǔ)充搜索過的點(diǎn),直到搜索到諧振頻率,自動停止搜索,該點(diǎn)測試成功后,在特性曲線上將出現(xiàn)黃色的點(diǎn),即諧振頻率r,同時在閉環(huán)幅頻特性曲線圖的右下方顯示出該系統(tǒng)的諧振頻率,在特性曲線圖的右側(cè)顯示該角頻率點(diǎn)的L、Im、Re。圖4界面“顯示選擇”選擇了“閉環(huán)-伯德圖”。注:搜索諧振頻率時,請確保諧振峰值的兩側(cè)各有已測的測試點(diǎn)!諧振頻率值標(biāo)尺值L標(biāo)尺值標(biāo)尺值諧振頻率諧振峰值圖4 被測二階閉環(huán)系統(tǒng)的對數(shù)幅頻曲線、相頻曲線和幅相曲線九、實驗數(shù)據(jù)及結(jié)果分析:時域分析部分: 計算和觀察被測對象的臨界阻尼的增益K,填入實驗報告。積
10、分常數(shù)Ti慣性常數(shù)T增益K計算值10.10.20.30.50.10.2 畫出階躍響應(yīng)曲線,測量超調(diào)量Mp,峰值時間tp填入實驗報告。(計算值實驗前必須計算出)增益K(A3)慣性常數(shù)T(A3)積分常數(shù)Ti(A2)自然頻率n計算值阻尼比計算值超調(diào)量Mp(%)峰值時間tP計算值測量值計算值測量值250.110.20.3200.10.50.240頻域分析部分:改變開環(huán)增益K(A3)、慣性時間常數(shù)T(A3)、積分常數(shù)Ti(A2),畫出其系統(tǒng)模擬電路圖,及閉環(huán)頻率特性曲線,並計算和測量系統(tǒng)的諧振頻率及諧振峰值,填入實驗報告。開環(huán)增益K(A3)慣性常數(shù)T(A3)積分常數(shù)Ti(A2)諧振頻率(rad/s)諧振
11、峰值L(dB)計算值測量值計算值測量值250.110.20.3200.10.50.2十、實驗結(jié)論:十一、總結(jié)及心得體會:十二、對本實驗過程及方法、手段的改進(jìn)建議: 報告評分:指導(dǎo)教師簽字: 電 子 科 技 大 學(xué)實 驗 報 告學(xué)生姓名: 學(xué) 號: 指導(dǎo)教師:實驗地點(diǎn):工程訓(xùn)練中心三樓 實驗時間:一、實驗室名稱:機(jī)械系測控實驗室 二、實驗項目名稱:頻域法串聯(lián)超前校正三、實驗學(xué)時:2學(xué)時四、實驗原理: 超前校正的原理是利用超前校正網(wǎng)絡(luò)的相角超前特性,使中頻段斜率由-40dB/dec變?yōu)?20 dB /dec并占據(jù)較大的頻率范圍,從而使系統(tǒng)相角裕度增大,動態(tài)過程超調(diào)量下降;并使系統(tǒng)開環(huán)截止頻率增大,
12、從而使閉環(huán)系統(tǒng)帶寬也增大,響應(yīng)速度也加快。超前校正網(wǎng)絡(luò)的電路圖及伯德圖見圖1。 圖1 超前校正網(wǎng)絡(luò)的電路圖及伯德圖超前校正網(wǎng)絡(luò)傳遞函數(shù)為: 網(wǎng)絡(luò)的參數(shù)為: , 在設(shè)計超前校正網(wǎng)絡(luò)時,應(yīng)使網(wǎng)絡(luò)的最大超前相位角盡可能出現(xiàn)在校正后的系統(tǒng)的幅值穿越頻率c處,即m=c。 網(wǎng)絡(luò)的最大超前相位角為: 或為: 處的對數(shù)幅頻值為: 網(wǎng)絡(luò)的最大超前角頻率為: 從式可知,接入超前校正網(wǎng)絡(luò)后被校正系統(tǒng)的開環(huán)增益要下降a倍,因此為了保持與系統(tǒng)未校正前的開環(huán)增益相一致,接入超前校正網(wǎng)絡(luò)后,必須另行提高系統(tǒng)的開環(huán)增益a倍來補(bǔ)償。五、實驗?zāi)康模?了解和掌握超前校正的原理。2了解和掌握利用閉環(huán)和開環(huán)的對數(shù)幅頻特性和相頻特性完成
13、超前校正網(wǎng)絡(luò)的參數(shù)的計算。3掌握在被控系統(tǒng)中如何串入超前校正網(wǎng)絡(luò),構(gòu)建一個性能滿足指標(biāo)要求的新系統(tǒng)的方法。六、實驗內(nèi)容:1觀測被控系統(tǒng)的開環(huán)對數(shù)幅頻特性和相頻特性,幅值穿越頻率c,相位裕度,按“校正后系統(tǒng)的相位裕度”要求,設(shè)計校正參數(shù),構(gòu)建校正后系統(tǒng)。2觀測校正前、后的時域特性曲線,並測量校正后系統(tǒng)的相位裕度、超調(diào)量Mp、峰值時間tP。3改變 “校正后系統(tǒng)的相位裕度”要求,設(shè)計校正參數(shù),構(gòu)建校正后系統(tǒng),畫出其系統(tǒng)模擬電路圖和階躍響應(yīng)曲線,觀測校正后相位裕度、超調(diào)量Mp、峰值時間tP填入實驗報告。注:在進(jìn)行本實驗前應(yīng)熟練掌握使用本實驗機(jī)的二階系統(tǒng)開環(huán)對數(shù)幅頻特性和相頻特性的測試方法。七、實驗器材
14、(設(shè)備、元器件):LabACTn自控/計控實驗機(jī)八、實驗步驟:1未校正系統(tǒng)的時域特性的測試 未校正系統(tǒng)模擬電路圖見圖3-3-2。圖2 未校正系統(tǒng)模擬電路圖圖2未校正系統(tǒng)的開環(huán)傳遞函數(shù)為:實驗步驟: (1) 構(gòu)造模擬電路:按圖2安置短路套及插孔連線,表如下。(a)安置短路套 (b)插孔連線模塊號跨接座號1A1S4,S82A2S4,S113A6S3,S8,S101信號輸入B1(OUT1)A1(H1)2運(yùn)放級聯(lián)A1(OUT)A2(H1)3運(yùn)放級聯(lián)A2(OUT)A6(H1)4負(fù)反饋A6(OUT)A1(H2)5運(yùn)放級聯(lián)A6(OUT)A10(H1)6示波器聯(lián)接A10(OUT)B2(CH2)7頻域特性測試A
15、10(OUT)B3(ADIN)(2) 運(yùn)行、觀察、記錄:選擇頻域法串聯(lián)超前校正超前校正前時域測試,確認(rèn)信號參數(shù)默認(rèn)值后,點(diǎn)擊下載、開始鍵后,實驗運(yùn)行,階躍響應(yīng)曲線見圖3。移動游標(biāo)測量其超調(diào)量、峰值時間及調(diào)節(jié)時間。圖3 未校正系統(tǒng)的時域特性曲線在未校正系統(tǒng)的時域特性特性曲線上可測得時域特性:超調(diào)量Mp=59% 峰值時間tp= 0.336S 調(diào)節(jié)時間ts=1.8S(=5時)2未校正系統(tǒng)的頻域特性的測試未校正系統(tǒng)頻域特性測試的模擬電路圖見圖4,與圖2比較,該圖只是增加了A10(OUT)B3(ADIN)插孔連線,其余均相同。圖4 未校正系統(tǒng)頻域特性測試的模擬電路圖 實驗步驟: (1) 構(gòu)造模擬電路:(
16、略) (2) 運(yùn)行、觀察、記錄: 選擇頻域法串聯(lián)超前校正超前校正前頻域測試,將彈出頻率特性掃描點(diǎn)設(shè)置表,用戶可在設(shè)置表中根據(jù)需要填入各個掃描點(diǎn)角頻率,設(shè)置完后,點(diǎn)擊確認(rèn)后,將彈出頻率特性曲線實驗界面,點(diǎn)擊開始,即可按表中規(guī)定的角頻率值,按序自動產(chǎn)生多種頻率信號,畫出頻率特性曲線。 測試結(jié)束后(約五分鐘),將顯示被測系統(tǒng)的對數(shù)幅頻、相頻特性曲線(伯德圖)和幅相曲線(奈奎斯特圖),見圖5所示(該圖界面“顯示選擇”選擇了“開環(huán)-伯德圖”)。 在開環(huán)對數(shù)幅頻曲線中,移動L標(biāo)尺線到曲線處,再移動標(biāo)尺到曲線與相交處,從曲線圖左下角讀出,從開環(huán)對數(shù)相頻曲線中,移動標(biāo)尺線到標(biāo)尺線與曲線相交處,從曲線圖左下角可
17、讀出該角頻率的,計算出相位裕度,見圖5。測得未校正系統(tǒng)頻域特性:穿越頻率c= 9.49rad/s, 相位裕度=19相位裕度穿越頻率c圖5 未校正系統(tǒng)開環(huán)伯德圖3超前校正網(wǎng)絡(luò)的設(shè)計 在未校正系統(tǒng)模擬電路的開環(huán)伯德圖(圖5)上測得未校正系統(tǒng)的相位裕度=19。 如果設(shè)計要求校正后系統(tǒng)的相位裕度=52則網(wǎng)絡(luò)的最大超前相位角必須為:,。其中為考慮所減的角度,一般取510。 據(jù)式 3-3-3 可計算出網(wǎng)絡(luò)的參數(shù): 據(jù)式 3-3-4 可計算出網(wǎng)絡(luò)的最大超前相位角處的對數(shù)幅頻值為: 在系統(tǒng)開環(huán)幅頻特性曲線(圖5)上,移動L標(biāo)尺到處,再移動標(biāo)尺到曲線與相交處,從曲線圖左下角可讀出角頻率=14.4 rad/s ,
18、見圖6,該角頻率應(yīng)是網(wǎng)絡(luò)的最大超前角頻率,這亦是串聯(lián)超前校正后系統(tǒng)的零分貝頻率。期望校正后穿越頻率c-Lc(m)圖6 未校正系統(tǒng)開環(huán)幅頻特性曲線可計算出計算串聯(lián)超前校正網(wǎng)絡(luò)參數(shù):, 令 C=1u, 計算出:R4=155K, R5=38.7K超前校正網(wǎng)絡(luò)傳遞函數(shù)為: 為了補(bǔ)償接入超前校正網(wǎng)絡(luò)后,被校正系統(tǒng)的開環(huán)增益要下降a倍,必須另行提高系統(tǒng)的開環(huán)增益增益a倍。因為a=5,所以校正后系統(tǒng)另行串入開環(huán)增益應(yīng)等于5的運(yùn)放A4。 4、串聯(lián)超前校正后系統(tǒng)的頻域特性的測試串聯(lián)超前校正后系統(tǒng)頻域特性測試的模擬電路圖見圖7。圖7 串聯(lián)超前校正后系統(tǒng)頻域特性測試的模擬電路圖圖7串聯(lián)超前校正后系統(tǒng)的傳遞函數(shù)為:圖
19、8校正網(wǎng)絡(luò)(部分)連線示意圖實驗步驟: (1) 構(gòu)造模擬電路:按圖7、圖8安置短路套與插孔連線表如下。(a)安置短路套 (b)插孔連線1信號輸入B1(OUT1)A1(H1)23跨接元件(155K)元件庫A11中可變電阻跨接到A1(OUT)和A12(H+)之間校正網(wǎng)絡(luò):參見圖3-3-845跨接元件(1u)元件庫A11中1u電容跨接到可變電阻兩端67跨接元件(38.7K)元件庫A11中可變電阻跨接到 A12(H+)和GND之間8運(yùn)放級聯(lián)A12(OUT)A4(H1)9運(yùn)放級聯(lián)A4(OUT)A8(H1)10運(yùn)放級聯(lián)A8(OUT)A2(H1)11運(yùn)放級聯(lián)A2(OUT)A6(H1)12運(yùn)放級聯(lián)A6(OUT
20、)A10(H1)13負(fù)反饋A6(OUT)A1(H2)14頻域特性測試A10(OUT) B3(ADIN)15示波器聯(lián)接A10(OUT)B2(CH2)模塊號跨接座號1A1S4,S82A2S4,S113A6S3,S8,S104A4S3,S105A12S1(2) 運(yùn)行、觀察、記錄:選擇頻域法串聯(lián)超前校正超前校正后頻域測試,運(yùn)行同2未校正系統(tǒng)的頻域特性的測試。圖7的串聯(lián)超前校正后系統(tǒng)的開環(huán)對數(shù)幅頻、相頻曲線(伯德圖)見圖9所示。在串聯(lián)超前校正后的對數(shù)幅頻曲線中,移動L標(biāo)尺線到曲線處,再移動標(biāo)尺到曲線與相交處,從曲線圖左下角讀出,從開環(huán)對數(shù)相頻曲線中,移動標(biāo)尺線到標(biāo)尺線與曲線相交處,從曲線圖左下角讀出該角
21、頻率的,計算出相位裕度,見圖9。測得串聯(lián)超前校正后系統(tǒng)的頻域特性:穿越頻率c= 14.42 rad/s,相位裕度。校正后穿越頻率c校正后相位裕度 圖9 串聯(lián)超前校正后系統(tǒng)的伯德圖 測試結(jié)果表明基本符合設(shè)計要求。5、串聯(lián)超前校正系統(tǒng)后的時域特性的測試串聯(lián)超前校正后系統(tǒng)時域特性測試的模擬電路圖見圖10,與圖7比較,該圖只是減少了A10(OUT)B3(ADIN)插孔連線,其余均相同。圖10 串聯(lián)超前校正后系統(tǒng)時域特性測試的模擬電路圖實驗步驟:(1) 構(gòu)造模擬電路:(略) (2) 運(yùn)行、觀察、記錄:選擇頻域法串聯(lián)超前校正超前校正后時域測試,運(yùn)行同1、未校正系統(tǒng)時域特性的測試,校正后系統(tǒng)的時域特性見圖1
22、1,移動游標(biāo)測量其超調(diào)量、峰值時間及調(diào)節(jié)時間,測得時域特性:超調(diào)量Mp= 18.1% 調(diào)節(jié)時間ts= 0.38S(=5時) 峰值時間tp=0.2S 測試結(jié)果表明基本符合設(shè)計要求。圖11 串聯(lián)超前校正后系統(tǒng)的時域特性曲線九、實驗數(shù)據(jù)及結(jié)果分析:按下表“校正后系統(tǒng)的相位裕度”設(shè)計校正參數(shù),構(gòu)建校正后系統(tǒng),畫出串聯(lián)超前校正后系統(tǒng)模擬電路圖,及校正前、后的時域特性曲線,並觀測校正后系統(tǒng)的相位裕度、超調(diào)量Mp,峰值時間tP填入實驗報告。相位裕度(設(shè)計目標(biāo))測 量 值相位裕度超調(diào)量Mp(%)峰值時間tp50406070十、實驗結(jié)論:十一、總結(jié)及心得體會:十二、對本實驗過程及方法、手段的改進(jìn)建議: 報告評分
23、:指導(dǎo)教師簽字: 電 子 科 技 大 學(xué)實 驗 報 告學(xué)生姓名: 學(xué) 號: 指導(dǎo)教師:實驗地點(diǎn):工程訓(xùn)練中心三樓 實驗時間:一、實驗室名稱:機(jī)械系測控實驗室 二、實驗項目名稱:直流電機(jī)PID控制三、實驗學(xué)時:2學(xué)時四、實驗原理: 直流電機(jī)系統(tǒng)的由電機(jī)驅(qū)動功率放大器、調(diào)節(jié)器、電機(jī)轉(zhuǎn)速檢測傳感器、F/V轉(zhuǎn)換器等組成,組成框圖如圖1所示。圖1 直流電機(jī)速度閉環(huán)控制系統(tǒng)的組成框圖直流電機(jī)是典型的型系統(tǒng),其開環(huán)傳函為: 其頻率特性主要由電磁時間常數(shù)Tl和機(jī)電時間Tm來決定,在一定條件下可分解成兩個一階慣性環(huán)節(jié)。根據(jù)控制系統(tǒng)的穩(wěn)定性設(shè)計準(zhǔn)則,可以采用PD控制器(不是唯一的校正方法)來對系統(tǒng)進(jìn)行校正,即利用
24、PD中的比例微分部分來對消直流伺服系統(tǒng)中時間常數(shù)大的一個極點(diǎn),并使系統(tǒng)的伯德圖以-20dB/DEC的斜率穿越0分貝線,滿足穩(wěn)定性的要求。 直流電機(jī)系統(tǒng)的電器原理圖如圖2所示。圖2 直流電機(jī)電器原理圖五、實驗?zāi)康模和ㄟ^直流電機(jī)PID控制實驗,加深學(xué)生對控制理論中穩(wěn)定性、頻率特性等知識的理解,掌握基本的頻域設(shè)計方法。六、實驗內(nèi)容:(1)構(gòu)造直流電機(jī)本體:按圖安置短路套及插孔連線;(2)運(yùn)行、觀察、記錄直流電機(jī)本體頻率特性;(3)構(gòu)造模擬PD控制器;(4)構(gòu)造負(fù)反饋電路;(5)根據(jù)觀查得到的電機(jī)本體特性,配置PD控制器的時間常數(shù);調(diào)整PD控制器的增益;用階躍信號激勵如圖2所示的直流電機(jī)實驗系統(tǒng),觀察系統(tǒng)的時域響應(yīng);設(shè)置合適的PD控制器增益使超調(diào)不超過30%。七、實驗器材(設(shè)備、元器件):LabACTn自控/計控實驗機(jī)八、實驗步驟:(1)構(gòu)造直流電機(jī)本體:按圖安置短路套及插孔連線,表如下。(a)插孔連線 1控制器輸出(AOUT1) A8(H1)2運(yùn)放級聯(lián)A8(OUT)C2(電機(jī)輸入)3數(shù)據(jù)采集C2(測速輸出) B2(CH2)4控制輸出顯示B4(AOUT1)B2(CH1)(2)運(yùn)行、觀察、記錄直流電機(jī)本體頻率特性: 直流電機(jī)可看作是由二個慣性環(huán)節(jié)串聯(lián)組成的被控對象,因此可采用二點(diǎn)法確定被控對象參數(shù)。對象開環(huán)辨識時,須把B1(OUT1)C2(
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