第六章脈沖反射法超聲檢測通用技術(shù)

1、第第6章章 脈沖反射法超聲檢測通用技術(shù)脈沖反射法超聲檢測通用技術(shù) ut-取證考試培訓(xùn)取證考試培訓(xùn) 中國中國 蘇州蘇州 2012 張張 志志 超超福建省特種設(shè)備檢驗(yàn)研究院福建省特種設(shè)備檢驗(yàn)研究院ut/rt/mt/pt-ut/rt/mt/pt-、gggg脈沖反射法超聲檢測的基本步驟脈沖反射法超聲檢測的基本步驟1、工件情況2、檢測前的準(zhǔn)備工作3、儀器、探頭、試塊的選擇4、儀器調(diào)節(jié)及靈敏度的確定5、耦合補(bǔ)償6、掃查方式7、缺陷的測定、記錄和評(píng)定8、出具報(bào)告9、儀器、探頭系統(tǒng)的復(fù)核目錄n 檢測面的選擇和準(zhǔn)備 n 儀器與探頭的選擇 n 耦合劑的選用 n 縱波直探頭檢測技術(shù) n 橫波斜探頭檢測技術(shù) n 影響

2、缺陷定位、定量的主要因素 n 檢測記錄和報(bào)告 6.1 檢測面的選擇和準(zhǔn)備 根本原則：根據(jù)被檢測缺陷的位置、取向，使入射聲束盡可能垂直于缺陷反射面； 缺陷的最大可能取向應(yīng)根據(jù) 被檢工件材質(zhì)、坡口形式、焊接工藝等判斷； 粗糙度應(yīng)6.3m，表面應(yīng)清除雜物、松動(dòng)氧化 皮、毛刺、油污等；6.2 儀器與探頭的選擇 v儀器的選擇儀器的選擇 v儀器和各項(xiàng)指標(biāo)要符合檢測對(duì)象標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的要求。v主要考慮：靈敏度、分辨力、定量要求，定位要求和便攜、穩(wěn)定等方面。1、對(duì)定位要求高時(shí)，應(yīng)選擇水平線性誤差小的儀器2、對(duì)定量要求高時(shí)，應(yīng)選擇垂直線性誤差小，衰減器精度高的儀器，3、對(duì)大型工件或粗晶材料工件探傷，可選擇功率大，靈敏

3、度余量高，信噪比高，低頻性能好的儀器。4、對(duì)近表面缺陷檢測要求高時(shí)，可選擇盲區(qū)小，近區(qū)分辨好的儀器。5、室外現(xiàn)場檢測，重量輕、熒光屏亮度高、抗干擾能力好的儀器。6.2 儀器與探頭的選擇v探頭的選擇探頭的選擇型式選擇：原則為根據(jù)檢測對(duì)象和檢測目的決定焊縫橫波斜探頭、縱波斜探頭鋼板、鑄件縱波直探頭鋼管、水浸板材聚焦探頭（線、點(diǎn)聚焦） 近表面缺陷雙晶探頭表面缺陷表面波探頭螺栓端面檢測及檢測面較小小角度縱波斜探頭6.2 儀器與探頭的選擇探頭頻率選擇 標(biāo)準(zhǔn)： 0.510mhz，常用2.55mhz。1、超聲波檢測靈敏度/2，對(duì)鋼用2.55mhz，為：縱波2.361.18，橫波1.290.65，則縱波檢測缺

4、陷最小值為：0.61.2mm，橫波檢測缺陷最小值為：0.30.6mm。2、頻率高，脈沖寬度小，分辨率高。3、頻率高，半擴(kuò)散角小，指向性好，發(fā)現(xiàn)小缺陷能力強(qiáng)。4、頻率高，近場區(qū)大，對(duì)檢測不利。5、頻率高，衰減大，厚工件、粗晶材料選用低頻。dfcd22. 1arcsin22. 1arcsin0cfddn44224323ffdca 6.2 儀器與探頭的選擇帶寬的選擇： 帶寬：超聲脈沖頻率具有無數(shù)個(gè)頻率，在主頻率附近可利用的頻率有一個(gè)范圍，稱帶寬。 寬帶探頭：脈沖短，即脈沖寬度小，深度分辨率好，盲區(qū)小，靈敏度較低，信噪比好，適合粗晶材料探傷。 窄帶探頭：脈沖長，即脈沖寬度大，深度分辨率差，盲區(qū)大，靈敏

5、度高，穿透力強(qiáng)。6.2 儀器與探頭的選擇晶片尺寸選擇 晶片尺寸要滿足標(biāo)準(zhǔn)要求，如滿足jb/t4730-2005要求，即晶片面積500mm2，任一邊長25mm。1、晶片大，半擴(kuò)散角小，指向性好，聲束軸線附近缺陷檢出能力強(qiáng)。2、晶片大，近場區(qū)大，對(duì)檢測不利；輻射的超聲波能量大，發(fā)現(xiàn)遠(yuǎn)距離缺陷能力強(qiáng)。3、考慮檢測面的結(jié)構(gòu)情況 如對(duì)小型工件，曲率大的工件復(fù)雜形狀工件為便于耦合要用小晶片，對(duì)平面工件，晶片可大一些。dfcd22. 1arcsin22. 1arcsin0cfddn44226.2 儀器與探頭的選擇v探頭k值的選擇1、保證聲束掃到整個(gè)檢測斷面，對(duì)不同工件形狀要具體分析選擇。2、盡可能使檢測聲束

6、與缺陷垂直，在條件許可時(shí)，盡量用k大些的探頭。薄工件k大些，聲程大，避免近場檢測；厚工件k可小些。3、根據(jù)檢測對(duì)象選k： 如單面焊根部未焊透，選k=0.7-1.43，檢測靈敏度最高。6.3 耦合劑的選用 v 耦合耦合實(shí)現(xiàn)聲能從探頭向工件的傳遞，它可用探測面上聲強(qiáng)透過率來表示耦合的好 壞，聲強(qiáng)透過率高，表示聲耦合好。 v 耦合劑耦合劑在工件與探頭之間表面，涂敷液體、排除空氣，實(shí)現(xiàn)聲能傳遞，該液體即耦合劑。常用：水，機(jī)油、甘油、水玻璃、化學(xué)漿糊，纖維素、洗潔精等v 對(duì)耦合劑的要求對(duì)耦合劑的要求 對(duì)工件表面和探頭表面有足夠浸潤性，并有流動(dòng)性，附著力強(qiáng)，易清洗 聲阻抗大，應(yīng)盡量和被檢工件接近 對(duì)人體無

7、害，對(duì)工件無腐蝕作用 來源廣，價(jià)格低廉 性能穩(wěn)定 6.3.3影響聲耦合的主要因素影響聲耦合的主要因素 耦合層厚度d 工件表面粗糙度 耦合劑聲阻抗 工件表面形狀6.3.3影響聲耦合的主要因素影響聲耦合的主要因素v 耦合層厚度dv 即半波長整數(shù)倍時(shí)聲壓透射率為1，幾乎無反射，聲能全部透射。好象耦合層不存在。v 即四分之一波長奇數(shù)倍時(shí)，聲壓透射率最低，反射率最高。vd0,最好。2nd 412）（nd6.3.3影響聲耦合的主要因素影響聲耦合的主要因素v工件表面粗糙度1、同一耦合劑，隨粗糙度增大，耦合效果差，反射回波低。2、聲阻抗低的耦合劑，隨粗糙度增大，耦合效果降低的更快。3、表面太光滑，耦合效果降不

8、會(huì)顯著增加，但探頭移動(dòng)困難。v 耦合劑聲阻抗 同一檢測面，耦合劑聲阻抗越大耦合效果越好。 實(shí)際耦合劑聲阻抗在1.52.5106公斤/米2，而鋼聲阻抗為45106公斤/米2。6.3.3影響聲耦合的主要因素影響聲耦合的主要因素v工件表面形狀 平面工件耦合最好。 凸曲面次之，點(diǎn)或線接觸、 凹曲面均耦合不好，中心不接觸。 曲率半徑越大，耦合效果越好。6.4 縱波直探頭檢測技術(shù) v6.4.1 儀器調(diào)整儀器調(diào)整 l時(shí)基線的調(diào)整，又叫掃描線比例調(diào)節(jié)，俗稱定標(biāo)。l實(shí)際是掃描速度和零偏調(diào)整兩步，儀器自動(dòng)校準(zhǔn)，是兩步并作一步走，手動(dòng)校準(zhǔn)可分步校準(zhǔn)。l掃描速度調(diào)整的實(shí)質(zhì)是聲速校準(zhǔn)。l聲速校準(zhǔn)正確的標(biāo)志是：熒光屏上兩

9、次底波之間的距離等于板厚（掃描線比例1 1）或等于n分之一板厚（掃描線比例1 n） 。如：板厚為50mm，一二次底波在熒光屏4格和9格（掃描線比例1 1）；板厚為100mm，一二次底波在熒光屏3格和5.5格（掃描線比例1 4）。l聲速校準(zhǔn)完成后，把一次底波在熒光屏板厚位置，或把二次底波在熒光屏2倍板厚位置，零偏調(diào)整完畢。熒光屏0刻度即為工件表面0點(diǎn)，時(shí)基線的讀數(shù)直接表示反射回波深度。l先校聲速，后調(diào)零偏。ctt 6.4.1 儀器調(diào)整儀器調(diào)整nx1nx 6.4.1 儀器調(diào)整儀器調(diào)整 檢測靈敏度調(diào)整 1）試塊法 將探頭對(duì)準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)試塊上人工缺陷探測使波高達(dá)到某基準(zhǔn)波高，再根據(jù)工件厚度、要求、調(diào)節(jié)衰減器

10、達(dá)到要求的靈敏度。試塊和工件材質(zhì)不同，衰減不同的補(bǔ)償。 試塊和工件表面粗糙度不同的補(bǔ)償。 試塊反射體聲程和工件檢測靈敏度要求聲程不同引起補(bǔ)償（擴(kuò)散、材質(zhì)）。 試塊反射體和工件檢測靈敏度要求的反射體種類不同引起補(bǔ)償。 6.4.1 儀器調(diào)整儀器調(diào)整2）工件底波法調(diào)整靈敏度 只要求出底波高與要求的檢測靈敏度反射體之間回波高度差。方便、不用試塊 不考慮表面補(bǔ)償 不考慮材質(zhì)衰減（底面缺陷和底波聲程相同）l 大平底與平底孔的分貝差：l 2.5p20z探頭，400mm鋼制大平底與同聲程 2平底孔的分貝差：44db。l 調(diào)整)3(2lg20lg202nxdxppffb6.4.1 儀器調(diào)整儀器調(diào)整 傳輸修正值的

11、測定 1、試塊與工件厚度相同時(shí) 試塊上第一次回波b1調(diào)到基準(zhǔn)波高時(shí)衰減器讀數(shù)db值v1 ，工件上第一次回波b1 讀數(shù)db值v2 ，則傳輸修正值dbv1v2(db) db為正，提高增益；db為負(fù)，降低增益； 傳輸修正值是表面耦合損失和材質(zhì)衰減的總和。2、 試塊與工件厚度不相同時(shí)按上述試塊與工件同厚度測得的db值，再按下式修正： 式中：x工工件聲程（mm） x試試塊聲程（mm） 試工xxvlg2036.4.1 儀器調(diào)整儀器調(diào)整v工件材質(zhì)衰減系數(shù)測定：1、衰減系數(shù)（t3n，且滿足n3n/t，m=2n）式中： 衰減系數(shù)，db/m（單程）； （bn-bm）-兩次衰減器的讀數(shù)之差，db； t工件檢測厚度，

12、mm； n單直探頭近場區(qū)長度，mm； m、n底波反射次數(shù)。 2、衰減系數(shù)（t3n） v材質(zhì)衰減系數(shù)超過4db/m，應(yīng)考慮修正 。tnmbbmn)-(26-tbb26-216.4 縱波直探頭檢測技術(shù) v6.4.2 掃查掃查掃查到整個(gè)探傷面；聲束掃查到整個(gè)工件檢測范圍內(nèi)全體積； 探頭移動(dòng)間距相鄰有一定范圍覆蓋重疊區(qū)；掃查速度滿足jb/t4730標(biāo)準(zhǔn)要求有效聲束范圍。 6.4 縱波直探頭檢測技術(shù) v 6.4.3 缺陷的評(píng)定缺陷的評(píng)定缺陷位置確定 缺陷平面位置：找到缺陷最大反射波，缺陷位于探頭主聲束上，即在探頭正下方工件內(nèi)。 埋藏深度：根據(jù)缺陷波聲程及掃描線比例計(jì)算得出。ffnx6.4 縱波直探頭檢測

13、技術(shù) 缺陷尺寸的評(píng)定 （1）回波高度法 a）缺陷回波高度法：根據(jù)缺陷回波高度比檢測靈敏度下基準(zhǔn)波高比較，確定缺陷大小。 b）底波高度法bf為缺陷處底波高度，f缺陷波高，bg無缺陷處底波高度。6.4 縱波直探頭檢測技術(shù) （2）缺陷當(dāng)量評(píng)定法（適用于小于聲場的缺陷的當(dāng)量測定） a）試塊對(duì)比法：將工件中自然缺陷與人工缺陷（試塊上標(biāo)準(zhǔn)反射體）回波進(jìn)行比較，定出的缺陷當(dāng)量。當(dāng)量尺寸。優(yōu)點(diǎn)：明確直觀，結(jié)果可靠，不受近場區(qū)的限制，對(duì)儀器的水平線性和垂直線性要求也不高，尤其是x3n的情況 。缺點(diǎn)：需要大量的試塊，攜帶不方便。6.4 縱波直探頭檢測技術(shù)2）缺陷當(dāng)量評(píng)定法（適用于小于聲場的缺陷的當(dāng)量測定） b）當(dāng)

14、量計(jì)算方法：利用規(guī)則形狀反射體回波聲壓與缺陷回波聲壓（缺陷波高db值）進(jìn)行比較得到缺陷當(dāng)量。v 測出缺陷回波高度與基準(zhǔn)平底孔回波高度的分貝差 db，則缺陷的當(dāng)量尺寸d： dj、xj基準(zhǔn)平底孔的直徑與埋深， d、x缺陷的當(dāng)量直徑與埋深，v 測出缺陷回波高度與大平底的回波高度的分貝差 db，則缺陷的當(dāng)量尺寸d： xd大平底距探頭的距離。40)-(2-10 xxdbjjjxxdd20)-(2-2102xxdbddxxd6.4 縱波直探頭檢測技術(shù)2）缺陷當(dāng)量評(píng)定法 c）通用avg曲線法：d=gd例3:2.5p14z直探頭檢測420mm鋼工件，在210mm處發(fā)現(xiàn)一缺陷比工件底波低26db，求當(dāng)量尺寸。查

15、圖：g=0.2d=0.214=2.8mmmmdn21422021420nxjaj0121021nxa6.4 縱波直探頭檢測技術(shù) （3）缺陷延伸長度的測定（適用于缺陷尺寸大于聲束截面時(shí)的缺陷） a）相對(duì)靈敏度法 相對(duì)靈敏度法是以缺陷最高回波為基準(zhǔn)，使探頭沿缺陷長度方向兩端移動(dòng)，使缺陷波下降一定的db值，常用6db法（半波）、 端點(diǎn)6db法（半波）、 12db法（1/4波高）、20db法（全波消失）。 6.4 縱波直探頭檢測技術(shù)b）絕對(duì)靈敏度法 探傷儀在規(guī)定靈敏度條件下沿缺陷方向移動(dòng)，使缺陷波下降至規(guī)定的位置如評(píng)定線，如gb11345和jb/t4730中區(qū)缺陷規(guī)定降到測長線即為絕對(duì)靈敏度法。 c）

16、端點(diǎn)峰值法 在探頭移動(dòng)過程中發(fā)現(xiàn)缺陷有多個(gè)高點(diǎn)，則將缺陷兩端點(diǎn)最大波高處探頭位置的距離作為端點(diǎn)峰值法指示長度。 6.4 縱波直探頭檢測技術(shù) v6.4.4 非缺陷回波的判別非缺陷回波的判別 遲到波61反射三角反射回波 探頭雜波工件輪廓波 耦合劑反射幻象波 草狀回波側(cè)壁干涉波 其它變型波 波型轉(zhuǎn)換與反射折射定律22111sinsinsinsinsinssllssllllccccc超聲波傾斜入射到平界面上的反射、折射超聲波傾斜入射到平界面上的反射、折射(a) 縱波入射；縱波入射； (b) 橫波入射橫波入射 slsl1、遲到波v 條件：探頭在細(xì)長工件（板或棒）一端縱波探測，擴(kuò)散聲束縱波斜射到側(cè)壁產(chǎn)生變

17、型反射橫波，再經(jīng)反射變成縱波到達(dá)底面返回探頭形成遲到波。遲到的縱波聲程特定x0.76d（d為板厚或棒直徑）。l=70，s=33變形橫波很強(qiáng)。0.76d2)33tan3230590033cos(2)tancos(2ddccdwxssls變型波的聲程之間的關(guān)系v注意：v以縱波來校準(zhǔn)儀器（定標(biāo)），或者說縱波斜探頭檢測時(shí)，出現(xiàn)變形橫波，則示波屏上顯示的聲程sl與實(shí)際的橫波聲程ss之間的關(guān)系為：v以橫波來校準(zhǔn)儀器（定標(biāo)），或者說橫波斜探頭檢測時(shí)，出現(xiàn)變形縱波，則示波屏上顯示的聲程 ss與實(shí)際的縱波聲程sl之間的關(guān)系為：slslccss lslsccss2、61 反射v縱波入射角與橫波反射角滿足： +=9

18、0 在特定位置出現(xiàn)特定反射。 =90- sin=cos 對(duì)于鋼 =61=29 61反射的聲程：82. 132305900tancossinsinsinslccbcecbebaccbaxsltan612、61 反射v a處61反射的聲程： (w試塊上)v b處反射的聲程：vc處反射的聲程：mmrddccrdxsla7 .832-82. 1)sin61-(d61cos-2121mmrddrdxb69.6sin452-)rsin45-d45cos-2121mmrdxc4525-70-13、三角反射v底波，d。v不發(fā)生變形轉(zhuǎn)換，形成等邊三角形。v發(fā)生變形轉(zhuǎn)換，形成等腰三角形，l-s-l。ddx3 .

19、130cos231ddccdxssll76 . 1cos21cos26.4.4 非缺陷回波的判別非缺陷回波的判別4、探頭雜波5、工件輪廓回波6、幻象波：重復(fù)頻率過高時(shí)產(chǎn)生，現(xiàn)重復(fù)頻率于深度范圍同步調(diào)節(jié)，一般不會(huì)產(chǎn)生。6.4.4 非缺陷回波的判別非缺陷回波的判別7、側(cè)壁干涉：縱波探頭靠近側(cè)壁，經(jīng)側(cè)壁反射的縱波和變型橫波與直接傳播的縱波互相干涉，造成探頭靠近側(cè)壁正對(duì)缺陷檢測缺陷回波低，探頭遠(yuǎn)離缺陷檢測反而缺陷回波高，缺陷位置給定時(shí)，有一個(gè)最佳位置，缺陷回波最高，但總是偏離缺陷。6.4.4 非缺陷回波的判別非缺陷回波的判別v避免側(cè)壁干擾條件： 側(cè)壁反射波聲程與直接傳播聲程差大于4。1、軸線小缺陷無側(cè)

20、壁干擾條件： 對(duì)鋼：2、底面無側(cè)壁干擾條件： 對(duì)鋼：ad2minfad5 . 3minad2minfad5min6.5 橫波斜探頭檢測技術(shù) v6.5.1 儀器調(diào)整儀器調(diào)整 入射點(diǎn)、折射角測定 掃描線比例調(diào)節(jié) 聲程比例、水平比例、深度比例調(diào)節(jié)。cst 6.5 橫波斜探頭檢測技術(shù)v數(shù)字機(jī)在csk-a試塊上是聲程1 1調(diào)節(jié)掃描比例。l 儀器自動(dòng)校準(zhǔn)，把r50和r100同時(shí)調(diào)整到熒光 屏刻度5和10，實(shí)際是聲程和零偏都校準(zhǔn)完畢。l 聲程校準(zhǔn)的實(shí)質(zhì)是聲速校準(zhǔn)。l 聲速校準(zhǔn)正確的標(biāo)志是：熒光屏上r50和r100回波之間的距離等于50mm。如： r50和r100回波在熒光屏4格和9格。l 聲速校準(zhǔn)完成后，把

21、r100回波放在熒光屏刻度10的位置，或把r50回波放在熒光屏刻度5的位置，零偏調(diào)整完畢。熒光屏0刻度即為工件表面0點(diǎn)，時(shí)基線的讀數(shù)直接表示反射回波聲程。l 零偏就是聲束在探頭內(nèi)的聲程或傳播時(shí)間，從晶片到入射點(diǎn)。ctt 6.5 橫波斜探頭檢測技術(shù)6.5 橫波斜探頭檢測技術(shù)v先校聲速，后調(diào)零偏。v聲程校準(zhǔn)，k值校準(zhǔn)，則s、l、h正確；若聲程校準(zhǔn)，k值不準(zhǔn)，則s正確，l、h不正確； l、h是根據(jù)輸入的k值正交分解得來。v快速校準(zhǔn)儀器1：輸入橫波聲速3230或3240m/s，把r100回波放在熒光屏刻度100的位置，測k值、前沿，做曲線。v最快校準(zhǔn)儀器2：直接輸入：cs、零偏、k值、前沿，做曲線。5

22、分鐘內(nèi)搞定。6.5 橫波斜探頭檢測技術(shù)v利用w2試塊（牛角試塊）調(diào)整聲程1 1。 使b1、b2分別對(duì)準(zhǔn)水平刻度25、100即可。v利用半圓試塊調(diào)整聲程1 1。 使b1、b2分別對(duì)準(zhǔn)水平刻度0、100，然后調(diào)脈沖移位（水平旋鈕）使b1對(duì)準(zhǔn)水平刻度50即可。6.5 橫波斜探頭檢測技術(shù)v水平調(diào)節(jié)、深度調(diào)節(jié):v適用于模擬機(jī)，要先知道k值。v聲束走走的路徑聲程，衰減計(jì)算按聲程，水平、深度只是便于模擬機(jī)定位。v其它略。6.5 橫波斜探頭檢測技術(shù)v距離波幅曲線制作和靈敏度調(diào)整：略。v傳輸修正值測定和補(bǔ)償：1）單探頭法測定 工件與試塊厚度相同。 dbv1v2(db) db為正，提高增益；db為負(fù)，降低增益；

23、傳輸修正值是 表面耦合損失和 材質(zhì)衰減的總和。6.5 橫波斜探頭檢測技術(shù)v傳輸修正值測定和補(bǔ)償：1）雙探頭法測定 工件與試塊厚度相同。6.5 橫波斜探頭檢測技術(shù)v傳輸修正值測定和補(bǔ)償：2）雙探頭法測定 工件厚度小于試塊厚度。6.5 橫波斜探頭檢測技術(shù)v傳輸修正值測定和補(bǔ)償：2）雙探頭法測定 工件厚度大于試塊厚度。6.5 橫波斜探頭檢測技術(shù)v6.5.2 掃查掃查 按jb/t4730標(biāo)準(zhǔn)要求作前后、左右、環(huán)繞和轉(zhuǎn)動(dòng)掃查。 6.5 橫波斜探頭檢測技術(shù) v6.5.3 缺陷的評(píng)定缺陷的評(píng)定 v橫波平面工件的缺陷定位 1）按聲程調(diào)節(jié)掃描速度 二次波深度： sinsinfffnxlcoscosfffnxdc

24、os2cos2fffntxtd6.5 橫波斜探頭檢測技術(shù)2）按水平調(diào)節(jié)掃描速度 二次波深度：3）按深度調(diào)節(jié)掃描速度 二次波深度 :ffnlknkldfffkntkltdfff22ffknlffndffntd 26.5 橫波斜探頭檢測技術(shù) 6.5.3 缺陷的評(píng)定缺陷的評(píng)定 2. 橫波周向探測 1）外園周向探測 比 大，h比d小。 2）內(nèi)壁周向探測 比 小，h比d大。 llll6.5 橫波斜探頭檢測技術(shù)3）最大探測壁厚 k越小，tm就越大； k越大，tm就越小。理論上對(duì)鋼：=33.2tm/d=0.226k=1， tm/d=0.146r/r=0.707 要求80%)1-1 (21)sin1212kk

25、dtm（k00.650.70.81.01.52.02.53.03.533.23538.74556.363.468.271.574r/r0.54760.57360.62520.70710.83200.89420.92850.94870.9613tm/d0.22620.21230.18740.14650.08400.05290.03580.02560.01946.5 橫波斜探頭檢測技術(shù) v6.5.3 缺陷的評(píng)定缺陷的評(píng)定 3. 缺陷定量 1）測長法 2）缺陷自身高度的測定 端部最大回波法 6db法橫波端角反射法 橫波串列式雙探頭法 端點(diǎn)衍射法 2）缺陷自身高度的測定v 端部最大回波法v 一般用k1

26、探頭，誤差小，聚焦探頭精度高，聲束直徑1。v 數(shù)字機(jī)直接讀出：圖6-30：h； 圖6-31：h=h2-h1；2）缺陷自身高度的測定v 6db法2）缺陷自身高度的測定v 橫波端角反射法v 回波高度與h/有關(guān)，2mm以內(nèi)不是單調(diào)的。2）缺陷自身高度的測定v 橫波串列式雙探頭法：v 回波位置固定不動(dòng)。v 底面盲區(qū)khhkababh2tan21kbbh2tan2）缺陷自身高度的測定 端點(diǎn)衍射法 ：用匝門套住上下端點(diǎn)衍射波，讀數(shù)相減即可。h= w下- w上6.5 橫波斜探頭檢測技術(shù) v6.5.3 缺陷的評(píng)定缺陷的評(píng)定 4. 非缺陷回波測定 1）工件輪廓回波 2）端角反射波 3）探頭雜波 4）表面波 5）草狀回波 6）焊縫中變型波 7）“山”形波6.5 橫波斜探頭檢測技術(shù)v焊縫中變型波：v前提：s6.5 橫波斜探頭檢測技術(shù)v“山”形波:6.6 影響缺陷定位、定量的主要因素 v 影影響響缺缺陷陷定定位位的的因因素素儀器的影響：水平線性、水平刻度精度探頭：主聲束偏向，探頭波束雙峰，斜探頭斜楔磨損使k值變化，探頭晶片發(fā)射、接收聲波指向性工件影響 ：表面粗糙、材質(zhì)、表面形狀、工件邊界