超聲波探傷相關(guān)知識問答

1、1、什么是無損探傷/無損檢測？ 答：無損探傷是在不損壞工件或原材料工作狀態(tài)的前提下，對被檢驗部件的表面和內(nèi)部質(zhì)量進行檢查的一種測試手段。無損檢測：Nondestructive Testing（縮寫 NDT） 2、常用的探傷方法有哪些？ 答：無損檢測方法很多據(jù)美國國家宇航局調(diào)研分析，認為可分為六大類約70余種。但在實際應用中比較常見的有以下幾種：常規(guī)無損檢測方法有：超聲檢測 Ultrasonic Testing（縮寫 UT）； 射線檢測 Radiographic Testing（縮寫 RT）； 磁粉檢測 Magnetic particle Testing（縮寫 MT）； 滲透檢驗 Penetra

2、nt Testing （縮寫 PT）； 渦流檢測Eddy current Testing（縮寫 ET）； 非常規(guī)無損檢測技術(shù)有： 聲發(fā)射Acoustic Emission(縮寫 AE)； 泄漏檢測Leak Testing（縮寫 UT）； 光全息照相Optical Holography； 紅外熱成象Infrared Thermography； 微波檢測 Microwave Testing 3、超聲波探傷的基本原理是什么？ 答：超聲波探傷是利用超聲能透入金屬材料的深處，并由一截面進入另一截面時，在界面邊緣發(fā)生反射的特點來檢查零件缺陷的一種方法，當超聲波束自零件表面由探頭通至金屬內(nèi)部，遇到缺陷與零件

3、底面時就分別發(fā)生反射波來，在螢光屏上形成脈沖波形，根據(jù)這些脈沖波形來判斷缺陷位置和大小。 4、超聲波探傷與X射線探傷相比較有何優(yōu)的缺點？ 答：超聲波探傷比X射線探傷具有較高的探傷靈敏度、周期短、成本低、靈活方便、效率高，對人體無害等優(yōu)點；缺點是對工作表面要求平滑、要求富有經(jīng)驗的檢驗人員才能辨別缺陷種類、對缺陷沒有直觀性；超聲波探 傷適合于厚度較大的零件檢驗。 5、超聲波探傷的主要特性有哪些？ 答：（1）超聲波在介質(zhì)中傳播時，在不同質(zhì)界面上具有反射的特性，如遇到缺陷，缺陷的尺寸等于或大于超聲波波長時，則超聲波在缺陷上反射回來，探傷儀可將反射波顯示出來；如缺陷的尺寸甚至小于波長時，聲波將繞過射線而

4、不能反射； （2）波聲的方向性好，頻率越高，方向性越好，以很窄的波束向介質(zhì)中輻射，易于確定缺陷的位置。（3）超聲波的傳播能量大，如頻率為1MHZ（100赫茲）的超生波所傳播的能量，相當于振幅相同而頻率為1000HZ（赫茲）的聲波的100萬倍。 6、超生波探傷板厚14毫米時，距離波幅曲線上三條主要曲線的關(guān)系怎樣？ 答：測長線 1 6 12dB 定量線 1 6 6dB 判度線 1 6 2dB 7、用超生波探傷時，底波消失可能是什么原因造成的？ 答：（1）近表表大缺陷；（2）吸收性缺陷；（3）傾斜大缺陷；（4）氧化皮與鋼板結(jié)合不好。 8、簡述超生波探傷中，超生波在介質(zhì)中傳播時引起衰減的原因是什么？

5、答：（1）超聲波的擴散傳播距離增加，波束截面愈來愈大，單位面積上的能量減少。 （2）材質(zhì)衰減一是介質(zhì)粘滯性引起的吸收；二是介質(zhì)界面雜亂反射引起的散射。 9、CSKA試塊的主要作用是什么？ 答：（1）校驗靈敏度；（2）校準掃描線性。 10、用超生波對餅形大鍛件探傷，如果用底波調(diào)節(jié)探傷起始靈敏度對工作底面有何要求？ 答：（1）底面必須平行于探傷面； （2）底面必須平整并且有一定的光潔度。 11超聲波探傷選擇探頭K值有哪三條原則？ 答：（1）聲束掃查到整個焊縫截面； （2）聲束盡量垂直于主要缺陷； （3）有足夠的靈敏度。 12、超聲波探傷儀主要有哪幾部分組成？ 答：主要有電路同步電路、發(fā)電路、接收電

6、路、水平掃描電路、顯示器和電源等部份組成。 13、發(fā)射電路的主要作用是什么？ 答：由同步電路輸入的同步脈沖信號，觸發(fā)發(fā)射電路工作，產(chǎn)生高頻電脈沖信號激勵晶片，產(chǎn)生高頻振動，并在介質(zhì)內(nèi)產(chǎn)生超聲波。 14、超聲波探傷中，晶片表面和被探工件表面之間使用耦合劑的原因是什么？ 答：晶片表面和被檢工件表面之間的空氣間隙，會使超聲波完全反射，造成探傷結(jié)果不準確和無法探傷。 15JB115073標準中規(guī)定的判別缺陷的三種情況是什么？ 答：（1）無底波只有缺陷的多次反射波。 （2）無底波只有多個紊亂的缺陷波。 （3）缺陷波和底波同時存在。 16JB115073標準中規(guī)定的距離波幅曲線的用途是什么？ 答：距離波幅

7、曲線主要用于判定缺陷大小，給驗收標準提供依據(jù)它是由判廢線、定量線、測長線三條曲線組成； 判廢線判定缺陷的最大允許當量； 定量線判定缺陷的大小、長度的控制線；測長線探傷起始靈敏度控制線。 17什么是超聲場？ 答：充滿超聲場能量的空間叫超聲場。 18反映超聲場特征的主要參數(shù)是什么？ 答：反映超聲場特征的重要物理量有聲強、聲壓聲阻抗、聲束擴散角、近場和遠場區(qū)。 19探傷儀最重要的性能指標是什么？ 答：分辨力、動態(tài)范圍、水平線性、垂直線性、靈敏度、信噪比。 20超聲波探傷儀近顯示方式可分幾種？ 答：（1）A型顯示示波屏橫座標代表超聲波傳遞播時間（或距離）縱座標代表反射回波的高度；（2）B型顯示示波屏橫

8、座標代表超聲波傳遞播時間（或距離），這類顯示得到的是探頭掃查深度方向的斷面圖；（3）C型顯示儀器示波屏代表被檢工件的投影面，這種顯示能繪出缺陷的水平投影位置，但不能給出缺陷的埋藏深度。 21超聲波探頭的主要作用是什么？ 答：1、探頭是一個電聲換能器，并能將返回來的聲波轉(zhuǎn)換成電脈沖；2、控制超聲波的傳播方向和能量集中的程度，當改變探 頭入射 角或改變超聲波的擴散角時，可使聲波的主要能量按不同的角度射入介質(zhì)內(nèi)部或改變聲波的指向性，提高分辨率；3、實現(xiàn)波型轉(zhuǎn)換；4、控制工作頻率；適用于不同的工作條件。 22為什么要加強超波探傷合錄和報告工作？ 答：任何工件經(jīng)過超聲波探傷后，都必須出據(jù)檢驗報告以作為該

9、工作質(zhì)量好壞的憑證，一份正確的探傷報告，除建立可靠的探測方法和結(jié)果外，很大程度上取決于原始記錄和最后出據(jù)的探傷報告是非常重要的，如果我們檢查了工件不作記錄也不出報告，那么探傷檢查就毫無意義。 23無損檢測有哪些應用應用時機：設計階段；制造過程；成品檢驗；在役檢查。應用對象：各類材料（金屬、非金屬等）；各種工件（焊接件、鍛件、鑄件等）；各種工程（道路建設、水壩建設、橋梁建設、機場建設等）。24超聲波焊縫探傷時為缺陷定位儀器時間掃描線的調(diào)整有哪幾種方法？ 答：有水平定位儀、垂直定位、聲程定位三種方法25在超聲波探傷中把焊縫中的缺陷分幾類？怎樣進行分類？ 答：在焊縫超聲波探傷中一般把焊縫中的缺陷 分

10、成三類：點狀缺陷、線狀缺陷、面狀缺陷。 在分類中把長度小于10mm的缺陷叫做點狀缺陷；一般不測長，小于10mm的缺陷按5mm計。把長度大于10mm的缺陷叫線狀缺陷。把長度大于10mm高度大于3mm的缺陷叫面狀缺陷。 26超聲波試塊的作用是什么？ 答：超聲波試塊的作用是校驗儀器和探頭的性能，確定探傷起始靈敏度，校準掃描線性。 27什么是斜探頭折射角的正確值？ 答：斜探頭折射角的正確值稱為K值，它等于斜探頭射點至反射點的水平距離和相應深度的比值。 28當局部無損探傷檢查的焊縫中發(fā)現(xiàn)有不允許的缺陷時如何辦？ 答：應在缺陷的延長方向或可疑部位作補充射線探傷。補充檢查后對焊縫質(zhì)量仍然有懷疑對該焊縫應全部

11、探傷。 29超聲波探傷儀中同步信號發(fā)生器的主要作用是什么？它主要控制哪二部分電路工作？ 答：同步電路產(chǎn)生同步脈沖信號，用以觸發(fā)儀器各部分電路同時協(xié)調(diào)工作，它主要控制同步發(fā)射和同步掃描二部分電路。 30無損檢測的目的？ 答：1、改進制造工藝；2、降低制造成本；3、提高產(chǎn)品的可能性；4、保證設備的安全運行。編號應用行業(yè)1電力2鍋爐與壓力容器3機械4鋼鐵工業(yè)5鋼結(jié)構(gòu)6石油7化工8鐵路9航天航空10船舶11管道12高校13永磁14科研院所15軍工16陶瓷32.有關(guān)超聲波探傷的國家標準和行業(yè)標準超聲波探傷國家標準和行業(yè)標準有：1、QB/T 12604.190 無損檢測術(shù)語 超聲檢測2、JB/T 1006

12、1-1999 A型脈沖反射式超聲探傷儀通用技術(shù)條件3、JJG 746-91 超聲探傷儀 中華人民共和國國家計量檢定規(guī)程 33.斜探頭K值與角度的對應關(guān)系NO.K值對應角度1K1對應45度2K1.5對應56.3度3K2對應63.4度4K2.5對應68.2度5K3對應71.6度34.焊縫探傷超聲波探頭的選擇方案參考 編號被測工件厚度選擇探頭和斜率選擇探頭和斜率145mm6×6 K3 不銹鋼：1.25MHz鑄鐵：0.52.5 MHz普通鋼：5MHz268mm8×8 K33910mm9×9 K341112mm9×9 K2.551316 mm9

13、×9 K261725 mm13×13 K272630 mm13×13 K2.583146 mm13×13 K1.5947120 mm13×13( K2K1)10121400 mm18×18 ( K2K1)20×20 ( K2K1)注:以上方案僅作參考,各企業(yè)可視具體情況稍作改動.  35.探頭型號表注：下表所列探頭型號僅供探傷時參考產(chǎn)品名稱頻率（MHZ）晶片面積（mm2）說明直探頭（硬保護膜）0.5108 10 14 20 2430 直探頭（軟保護膜）0.5510 14 20 24 雙

14、晶片直探頭2.5510×12×214×220×2F5 F10 F15 F20 F30斜探頭159×9 8×8 10×12 1412×15 14×16 13×132030o40o50oK1 K1.5 K2 K2.5 K3斜探頭1518×18雙晶片斜探頭2.5 58×8×2 10×12×2K1 K2 K3F10 F20 F30表面波探頭2.5 59×9 10×12 13×13HB-50回波探頭   小角管探頭2.5 514 20 小角管探頭56×6 5×7K1 K2 K2.5 K3小角管探頭5雙晶曲面片 板波探頭1520×20? 30×30入射角由用戶定爬波探頭15  薄波探頭5 可檢測5MM以下薄板可變角探頭2.5 510×10角度可變