北郵 微波測量實驗報告

1、微波測量實驗報告班級：2012211xxx姓名：xxxx學(xué)號：201221xxxx微波測量課程實驗實驗一 熟悉微波同軸測量系統(tǒng)一、實驗?zāi)康?1、了解常用微波同軸測量系統(tǒng)的組成，熟悉其操作和特性。 2、熟悉矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的操作以及測量方法。二、實驗內(nèi)容1、常用微波同軸測量系統(tǒng)的認(rèn)識，簡要了解其工作原理。微波同軸測量系統(tǒng)包括三個主要部分：矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀、同軸線和校準(zhǔn)元件或測量元件。各部分功能如下： 1）矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀：對RF領(lǐng)域的放大器、衰減器、天線、同軸電纜、濾波器、分支分配器、功分器、耦合器、隔離器、環(huán)形器等RF器件進(jìn)行幅頻特性、反射特性和相頻特性測量。 2）同軸線：連接矢

2、量網(wǎng)絡(luò)分析儀和校準(zhǔn)元件或測量元件。 3）校準(zhǔn)元件：對微波同軸側(cè)量系統(tǒng)進(jìn)行使用前校準(zhǔn)，以盡量減小系統(tǒng)誤差。 測量元件：待測量的原件（如天線、濾波器等），可方便地通過同軸線和矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀連起來。2、掌握矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的操作以及測量方法。 注意在實驗報告中給出儀器使用報告包括下列內(nèi)容：a) 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的面板組成以及各部分功能（1）CRT顯示器顯示儀器當(dāng)前工作狀態(tài)和測試結(jié)果。（2）BEGIN（開始）在測量放大器、濾波器、寬帶無源器件、電纜等被測時能快速、簡便的配置儀器，可引導(dǎo)用戶完成初始步驟，根據(jù)用戶的選擇自動配置儀器。（3）ENTRY（數(shù)據(jù)輸入）數(shù)字鍵、旋輪和上下鍵，用于數(shù)

3、據(jù)輸入。（4）SYSTEM（系統(tǒng)功能）SAVERECALL：存儲或調(diào)用數(shù)據(jù)。HARD COPY：打印或者存儲測量曲線、數(shù)據(jù)。SYSTEM OPTIONS：系統(tǒng)選項。（5）PRESET（復(fù)位）復(fù)位儀器。（6）CONFIGURE（配置）SCALE：設(shè)置垂直方向的分辨率和參考位置等。DISPLAY：顯示設(shè)置。CAL：校準(zhǔn)菜單。MARKER：頻標(biāo)功能鍵。FORMAT：數(shù)據(jù)顯示格式。AVG：平均功能設(shè)置和中頻帶寬設(shè)置。（7）SOURSE（源）FREQ：頻率設(shè)置。SWEEP：設(shè)置掃描方式、掃描時間。POWER：RF信號輸出開關(guān)或者設(shè)置RF信號輸出功率。MENU：設(shè)置掃描點數(shù)及單次掃描、連續(xù)掃描或保持等。（

4、8）MEAS（測量通道）MEAS1：設(shè)置通道1的測量方式。MEAS2：設(shè)置通道2的測量方式。（9）軟鍵對應(yīng)的功能顯示在左邊顯示屏上。（10）亮度調(diào)節(jié)旋鈕調(diào)節(jié)顯示器亮度。（11）電源開關(guān)打開或關(guān)閉整機(jī)電源。（12）U盤接口Usb盤接口（13）RF OUT（射頻輸出）射頻信號輸出口，N型K頭。（14）RF IN（射頻輸入）射頻信號輸入口，N型K頭。b) S參數(shù)測量步驟1、將一個待測的二端口網(wǎng)絡(luò)通過同軸線接入矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，組成一個微波同軸測量系統(tǒng)，如下圖所示：被測 2、在矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀上【measure】鍵選擇測量參數(shù)，按下后顯示屏的軟鍵菜單會顯示S11、S12、S21、S22四個待選測

5、試參數(shù)，通過按下相應(yīng)軟鍵來選擇要測量的S參數(shù)。 利用光標(biāo)讀取測量結(jié)果：按下【marker】鍵就會在顯示屏上的測試曲線上顯示光標(biāo)，對應(yīng)顯示屏的軟鍵菜單處會顯示光標(biāo)編號1、2、3、4、5，按下相應(yīng)軟鍵會顯示對應(yīng)編號的光標(biāo)，默認(rèn)會顯示1號光標(biāo)。通過旋轉(zhuǎn)旋鈕鍵就會移動光標(biāo)的位置，而在顯示屏右上角會顯示光標(biāo)對應(yīng)位置的頻率和測量值。而通過數(shù)字鍵輸入頻率值也可以確定光標(biāo)的位置。 3、然后經(jīng)過SOLT校準(zhǔn),消除系統(tǒng)誤差； 4、在矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀上調(diào)處S參數(shù)測量曲線，讀出相應(yīng)的二端口網(wǎng)絡(luò)的S參量，保存為s2p數(shù)據(jù)格式和cst數(shù)據(jù)格式的文件。 c) 如何看開路校準(zhǔn)件的電容值設(shè)

6、定(校準(zhǔn)系數(shù))當(dāng)傳輸線中端開路或者短路時，所有輸入信號功率被反射到入射端。造成全反射。傳輸線中斷開路時，開路端電流為0，端點反射信號電流與輸入信號電流幅度相等，相位相反，而反射信號電壓與輸入電壓同相。信號關(guān)系滿足歐姆定理。d) 如何看短路校準(zhǔn)件的電感值設(shè)定(校準(zhǔn)系數(shù))當(dāng)傳輸線中端短路時，開路端電壓為0，端點反射信號電壓與輸入信號電壓幅度相等，相位相反，而反射信號電流與輸入電流同相。信號關(guān)系滿足歐姆定理。e) 如何用Smith圓圖顯示所測結(jié)果以及如何與直角坐標(biāo)轉(zhuǎn)換TOOLS工具欄下，下拉選項中可得到simth圓圖的顯示以及轉(zhuǎn)換直角坐標(biāo)。f) 如何保存所測數(shù)據(jù)，以及可存的數(shù)據(jù)格式文件菜單下另存為功

7、能，將數(shù)據(jù)保存為jpeg圖片格式或s2p,s1p文件格式方便后續(xù)分析。g) 了解儀器提供的校準(zhǔn)方法（SOLT）上述用短路、開路、負(fù)載三個標(biāo)準(zhǔn)件和直通校準(zhǔn)的方法稱為SOLT校準(zhǔn)法，這是普遍使用的校準(zhǔn)方法。 儀器提供SOLT校準(zhǔn)方法，TRL校準(zhǔn)方法等集中校準(zhǔn)方法，實驗中使用SOLT校準(zhǔn)方法。短接校準(zhǔn)，開路校準(zhǔn)。三、思考題1、是否可以直接進(jìn)行電路參數(shù)的測量，為什么？如何從測量的S參數(shù)導(dǎo)出電路參數(shù)。（給出S參數(shù)到Z參數(shù)的轉(zhuǎn)換公式，以及如何在ADS中應(yīng)用。）不可以，因為矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀是用來處理來自網(wǎng)絡(luò)的透射波和反射波的幅值和相位，可以直接測量得出S參數(shù)，通過S參數(shù)導(dǎo)出電路參數(shù)。實驗二 微波同軸

8、測量系統(tǒng)校準(zhǔn)方法一、實驗?zāi)康?1、了解常用微波同軸測量系統(tǒng)的校準(zhǔn)方法。2、熟悉矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的SOLT校準(zhǔn)步驟以及校準(zhǔn)精度驗證方法。3、掌握并驗證TRL校準(zhǔn)方法。二、實驗內(nèi)容1、總結(jié)常用微波同軸測量系統(tǒng)的校準(zhǔn)方法，比如TRL和SOLT，了解其校準(zhǔn)原理和優(yōu)缺點。用短路、開路、負(fù)載三個標(biāo)準(zhǔn)件和直通校準(zhǔn)的方法稱為SOLT校準(zhǔn)法，這是普遍使用的校準(zhǔn)方法。大多數(shù)網(wǎng)絡(luò)分析儀用戶最先熟悉的校準(zhǔn)方法是SOLT。SOLT校準(zhǔn)能夠提供優(yōu)異的精度和可重復(fù)性。這種校準(zhǔn)方法要求使用短路、開路和負(fù)載標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)件。如果被測件上有雌雄連接器，還需要分別為雌雄連接提供對應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)件，連接兩個測量平面，形成直通連接。 &#

9、160;   SOLT校準(zhǔn)方法使用12項誤差修正模型，其中被測件的正向有6項，反向有6項。操作正確的話，SOLT可以測量百分之一分貝數(shù)量級的功率和毫度級相位。常用的校準(zhǔn)套件中都包含SOLT標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)件。這些校準(zhǔn)件包括各種連接器類型，并且價格相對便宜，小心使用的話可以用很多年。有的SOLT校準(zhǔn)套件包含滑動負(fù)載，因此可改變路徑的線路長度，同時保持恒定的負(fù)載阻抗（通常為50或75）?；瑒迂?fù)載在高頻時尤為重要，因為在這種情況下很難實施良好的固定負(fù)載。線路長度的變化會直接成比例地改變電長度，導(dǎo)致測量路徑中發(fā)生相移。通過在校準(zhǔn)過程中使用幾種不同長度 的線路和相應(yīng)的相移

10、，可以更精確地測量網(wǎng)絡(luò)分析儀的方向性。雙向直通SOL通常稱為“未知直通”。這種方法允許在遵守一些基本原則的條件下，在校準(zhǔn)過程中使用電纜、電路板線軌或Ecal模塊作為直通路徑。當(dāng)處理非插入式設(shè)備（具有同性或不兼容的連接器，在校準(zhǔn)期間需要使用適配器才能建立直通連接）時，未知直通尤為有用。該適配器會給校準(zhǔn)帶來一個誤差。未知直通因為無需使用精密的或經(jīng)過校準(zhǔn)的適配器，并且可以最大限度地減少校準(zhǔn)期間的電纜移動，所以非常有用。它通常比其他需要去除適配器的方法更 方便、更精確。  另一個二端口校準(zhǔn)形式稱為TRL校準(zhǔn)(直通、反射和空氣線)。TRL校準(zhǔn)主要用在非同軸環(huán)境，如對波導(dǎo)進(jìn)行

11、測試、利用測試夾具或用探針進(jìn)行晶片上測量。TRL校準(zhǔn)極為精確，在大多數(shù)情況下，精確度甚至超過SOLT校準(zhǔn)。然而絕大多數(shù)校準(zhǔn)套件中都不包含TRL標(biāo)準(zhǔn)件。在要求高精度并且可用的標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)件與被測件的連接類型不同的情況下，一般采用TRL校準(zhǔn)。使用測試夾具進(jìn)行測量或使用探頭進(jìn)行晶圓上的測量，通常都屬于這種情況。因此，某些情況下需要構(gòu)建和表征與被測件配置介質(zhì)類型相同的標(biāo)準(zhǔn)件。制造和表征三個TRL標(biāo)準(zhǔn)件比制造和表征四個SOLT標(biāo)準(zhǔn)件更容易。   TRL校準(zhǔn)還有另一個重要優(yōu)勢：標(biāo)準(zhǔn)件不需要像SOLT標(biāo)準(zhǔn)件那樣進(jìn)行完整或精確的定義。雖然SOLT標(biāo)準(zhǔn)件是完全按照標(biāo)準(zhǔn)的定義進(jìn)行表征和儲

12、存，而TRL標(biāo)準(zhǔn)件只建立模型而不進(jìn)行完整表征，但是TRL校準(zhǔn)的精度與TRL標(biāo)準(zhǔn)件的質(zhì)量和可重復(fù)性成正比。物理中斷（例如傳輸線路彎曲和同軸結(jié)構(gòu)中的焊縫）將會降低TRL校 準(zhǔn)的精度。接口必須保持清潔并允許可重復(fù)的連接。 在同軸應(yīng)用中，SOLT通常是優(yōu)先使用的校準(zhǔn)技術(shù)。盡管不常用的同軸TRL比SOLT能提供更高的精度，但只有在使用質(zhì)量很高的同軸傳輸線(如空氣線)時才能實現(xiàn)。對于SOLT法，相位測試精度主要取決于開路器和短路器的精度，幅度的測試精度取決于所使用的匹配負(fù)載。用滑動負(fù)載的SOLT法，通過多次測量找圓心，測量精度高于用固定負(fù)載的SOLT法。2、掌握矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的SOLT

13、校準(zhǔn)步驟以及校準(zhǔn)精度驗證方法。校準(zhǔn)步驟：響應(yīng)校準(zhǔn)校準(zhǔn)向?qū)?zhǔn)類型選擇雙端口SOLT測量機(jī)械標(biāo)準(zhǔn)依次選擇1端口短路、開路、負(fù)載，直通，2端口短路、開路、負(fù)載進(jìn)行校準(zhǔn)。 1、用開路器校準(zhǔn)件校準(zhǔn)  網(wǎng)絡(luò)儀端口一般都是N型50歐姆或75歐姆端口，如果被測件端口也是50歐姆或75歐姆，并且陰陽極性匹配，這時只需校準(zhǔn)網(wǎng)絡(luò)儀內(nèi)部的系統(tǒng)誤差。以下分析都假設(shè)被測件是二端口器件，系統(tǒng)誤差模型采用全二端口模型。將已知標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)件開路器的兩端接入實際參考面PA1和PA2，即把開路校準(zhǔn)件接入矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀。 2、用短路器校準(zhǔn)件校準(zhǔn)  與1原理相同，將已知標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)件短路器的兩端接入實

14、際參考面PA1和PA2，即把短路校準(zhǔn)件接入矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀。 3、用匹配器校準(zhǔn)件校準(zhǔn)  與1原理相同，將已知標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)件匹配器的兩端接入實際參考面PA1和PA2，即把匹配器校準(zhǔn)件接入矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀。 4、用匹配器校準(zhǔn)件校準(zhǔn) 與1原理相同，將矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的兩個參考面PA1和PA2直接相連即可。  注意在實驗報告中包括下列內(nèi)容：a) 校準(zhǔn)前測量各校準(zhǔn)件（開路、短路、匹配和直通）S參數(shù)，并保存數(shù)據(jù)開路：短路：匹配：b) 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀SOLT的校準(zhǔn)步驟見實驗內(nèi)容2.c) 校準(zhǔn)后測量各校準(zhǔn)件（開路、短路、匹配和直通）S參數(shù)，并保存數(shù)據(jù)開路：s參數(shù)初始在1

15、位置，隨著頻率變話順時針沿邊緣移動，校準(zhǔn)后曲線嚴(yán)格沿邊緣移動，并且曲線較平滑。短路：s參數(shù)初始在-1位置，隨著頻率變話順時針沿邊緣移動，校準(zhǔn)后曲線嚴(yán)格沿邊緣移動，并且曲線較平滑。匹配：s參數(shù)始終位于Smith原圖中心。校準(zhǔn)后參數(shù)不在發(fā)散，位于單位圓中心。d) 比較校準(zhǔn)前后校準(zhǔn)件（開路、短路、匹配和直通）的S參數(shù)，解釋說明各條曲線，并指出所做校準(zhǔn)的精度情況分析比較校準(zhǔn)前后的數(shù)據(jù)可以發(fā)現(xiàn)，經(jīng)過校準(zhǔn)后有效的減少了原來的誤差，帶寬的微弱變化雖然很小，但是對于誤差來說還是足夠證明每次連接測量器件之前校準(zhǔn)步驟都是必要的，而且在校準(zhǔn)過程中，有校準(zhǔn)之后的圖形可分析：在Smith圓圖上，開路和短路不再是一圈圈纏

16、繞的線，已經(jīng)減少到靠近開路和短路點的一段線，匹配點經(jīng)過校準(zhǔn)后已經(jīng)非常接近理論上的一個點而不是一個區(qū)域。所以，校準(zhǔn)之后的測量才是符合實際的近乎標(biāo)準(zhǔn)值，在未校準(zhǔn)時進(jìn)行的測量只能大概估計下元件的類型及帶寬，對于精確的參數(shù)測量未校準(zhǔn)時是完全不符合標(biāo)準(zhǔn)的。3、利用已加工的TRL校準(zhǔn)件，進(jìn)行TRL校準(zhǔn)。保存各測量數(shù)據(jù)，計算出其誤差模型（附編程程序）。實驗三 利用微波同軸測量系統(tǒng)進(jìn)行實際器件測量一、實驗?zāi)康?1、利用SOLT校準(zhǔn)方法進(jìn)行微波同軸測量系統(tǒng)的校準(zhǔn)。2、測量各加工器件（天線、濾波器、功分器和耦合器等）的實際性能。3、驗證TRL校準(zhǔn)方法，并和利用SOLT校準(zhǔn)方法測量的結(jié)果進(jìn)行對比。二、實驗內(nèi)容1、做

17、完實驗二的實驗內(nèi)容3后，測量各器件的S參數(shù)，并保存測量結(jié)果，通過去嵌誤差模型，得到真實的器件S參數(shù)。報告中要給出具體編程計算過程（附編程程序）。2、利用機(jī)器自帶SOLT校準(zhǔn)后，存儲測量結(jié)果，并通過測量結(jié)果了解所測器件的工作原理以及性能，報告中包括以下內(nèi)容a) 器件的S參數(shù)測量曲線；b) 通過分析其S參數(shù)，了解各器件所組成的網(wǎng)絡(luò)的特性。2、給出分別經(jīng)過TRL和SOLT校準(zhǔn)和沒有校準(zhǔn)的情況下各器件的測量性能，比較兩類測量結(jié)果，給出實驗報告，包括以下內(nèi)容：a) 未校準(zhǔn)和TRL校準(zhǔn)后各器件測量曲線比較；b) 未校準(zhǔn)和SOLT校準(zhǔn)后各器件測量曲線比較；c) 比較分析TRL和SOLT校準(zhǔn)方法的測量精度。M

18、ATLAB代碼：main.mclc;clear all;S11,S22,S12,Freq = TRL();A,B,C,D = SPara_TransferToABCD(S11,S22,S12,S12);invA,invB,invC,invD = invABCD(A,B,C,D);while 1disp(1、濾波器');disp(2、功分器');disp(3、耦合器隔離端');disp(4、耦合器耦合端');disp(5、耦合器直通端');disp(6、天線');DeviceNumber = input('請輸入要處理的微波器件,輸入0退出

19、:');if DeviceNumber = 0 return;end S11Device,S21Device,S12Device,S22Device = getSPara(DeviceNumber); Am,Bm,Cm,Dm = SPara_TransferToABCD( S11Device,S22Device,S12Device,S21Device );%計算DUT的ABCD參量AF = zeros(201,1);BF = zeros(201,1);CF = zeros(201,1);DF = zeros(201,1);for N = 1:201 ABCD = A(N),B(N);C

20、(N),D(N); %誤差盒ABCD矩陣 ABCDinv = invA(N),invB(N);invC(N),invD(N); %誤差盒ABCD逆矩陣 ABCDm = Am(N),Bm(N);Cm(N),Dm(N); %DUT的ABCD矩陣 ABCDf = ABCDinv*ABCDm*ABCD; AF(N) = ABCDf(1,1); BF(N) = ABCDf(1,2); CF(N) = ABCDf(2,1); DF(N) = ABCDf(2,2);endS11F,S21F = ABCD_TransferToSPara( AF,BF,CF,DF );subplot(1,2,1);plot(F

21、req,-20*log10(abs(S11F);axis(3*105 3*109 -50 50);subplot(1,2,2);plot(Freq,-20*log10(abs(S21F);axis(3*105 3*109 -50 50);endTRL.mfunction S11,S22,S12,Freq = TRL()%導(dǎo)入T部分?jǐn)?shù)據(jù)Data_T_S11 = read(rfdata.data,'TRL-T-S11.s2p');Data_T_S21 = read(rfdata.data,'TRL-T-S21.s2p');Freq = Data_T_S11.Freq

22、;S11_2 = Data_T_S11.S_Parameters(1,1,:);T11 = reshape(S11_2,201,1);S21 = Data_T_S21.S_Parameters(2,1,:);T12 = reshape(S21,201,1);%導(dǎo)入R部分?jǐn)?shù)據(jù)Data_R_S11 = read(rfdata.data,'TRL-R-S11.s1p');S11_2 = Data_R_S11.S_Parameters(1,1,:);R11 = reshape(S11_2,201,1);%導(dǎo)入L部分?jǐn)?shù)據(jù)Data_L_S11 = read(rfdata.data,'

23、;TRL-L-S11.s2p');Data_L_S21 = read(rfdata.data,'TRL-L-S21.s2p');S11_2 = Data_L_S11.S_Parameters(1,1,:);L11 = reshape(S11_2,201,1);S21 = Data_L_S21.S_Parameters(2,1,:);L12 = reshape(S21,201,1);clear S11;clear S21;%計算傳播因子e(-l)l = 66.1*10(-3); %傳輸線長度66.1mmOne = ones(201,1); %Propagation1為取正

24、好的傳播因子e(-l)，2為取負(fù)號的傳播因子e(-l)Propagation1 = (L12.2+T12.2-(T11-L11).2+(L12.2+T12.2-(T11-L11).2).2-4.*(L12.2).*(T12.2).0.5)./(2.*L12.*T12);Propagation2 = (L12.2+T12.2-(T11-L11).2-(L12.2+T12.2-(T11-L11).2).2-4.*(L12.2).*(T12.2).0.5)./(2.*L12.*T12); %分別計算兩種情況的S22，S11，S12，值S22_1 = (T11-L11)./(T12-L12.*Prop

25、agation1);S11_1 = (T11-S22_1.*T12);S12_1 = (T12.*(One-S22_1.2).0.5;GammaL1 = (R11-S11_1)./(S12_1.2+S22_1.*(R11-S11_1);S22_2 = (T11-L11)./(T12-L12.*Propagation2);S11_2 = (T11-S22_2.*T12);S12_2 = (T12.*(One-S22_2.2).0.5;GammaL2 = (R11-S11_2)./(S12_2.2+S22_2.*(R11-S11_2); %求兩種情況的的相位以取舍AngleGammaL1 = an

26、gle(GammaL1);AngleGammaL2 = angle(GammaL2);Angle = zeros(201,1);S22 = zeros(201,1);S11 = zeros(201,1);S12 = zeros(201,1); %遍歷兩種情況下的相位矩陣，挑選相位0,內(nèi)的情況，取出其S22，S11，S12值for N = 1:201 if AngleGammaL1(N)>0 Angle(N) = AngleGammaL1(N); S22(N) = S22_1(N); S11(N) = S11_1(N); S12(N) = S12_1(N); end if AngleGam

27、maL2(N)>0 Angle(N) = AngleGammaL2(N); S22(N) = S22_2(N); S11(N) = S11_2(N); S12(N) = S12_2(N); endendendgetSPara.mfunction S11Device,S21Device,S12Device,S22Device = getSPara( DeviceNumber )%UNTITLED4 Summary of this function goes here% Detailed explanation goes hereswitch DeviceNumber case 1 Data

28、_S = read(rfdata.data,'Filter.s2p'); case 2 Data_S = read(rfdata.data,'GongFenqi.s2p'); case 3 Data_S = read(rfdata.data,'GeliDuan.s2p'); case 4 Data_S = read(rfdata.data,'OuheDuan.s2p'); case 5 Data_S = read(rfdata.data,'ZhitongDuan.s2p'); case 6 Data_S = rea

29、d(rfdata.data,'TianXian.s1p'); otherwise disp(輸入不正確，請重新輸入');end S11 = Data_S.S_Parameters(1,1,:);S21 = Data_S.S_Parameters(2,1,:);S22 = Data_S.S_Parameters(2,2,:);S12 = Data_S.S_Parameters(1,2,:); S11Device = reshape(S11,201,1);S21Device = reshape(S21,201,1);S22Device = reshape(S22,201,1

30、);S12Device = reshape(S12,201,1); endSPara_TransferToABCD.m function A,B,C,D = SPara_TransferToABCD( S11,S22,S12,S21 )%UNTITLED2 Summary of this function goes here% Detailed explanation goes hereA = zeros(201,1);B = zeros(201,1);C = zeros(201,1);D = zeros(201,1);for N = 1:201 S = S11(N)*S22(N)-S12(N

31、)*S21(N); A(N) = (1+S11(N)-S22(N)-S)/(2*S21(N); B(N) = (1+S11(N)+S22(N)+S)/(2*S21(N); C(N) = (1-S11(N)-S22(N)+S)/(2*S21(N); D(N) = (1-S11(N)+S22(N)-S)/(2*S21(N);endendABCD_TransferToSPara.mfunction S11,S21 = ABCD_TransferToSPara( A,B,C,D )%UNTITLED5 Summary of this function goes here% Detailed expla

32、nation goes hereS11 = zeros(201,1);S21 = zeros(201,1);for N = 1:201 S11(N) = (A(N)+B(N)-C(N)-D(N)/(A(N)+B(N)+C(N)+D(N); S21(N) = 2/(A(N)+B(N)+C(N)+D(N);end end invABCD.mfunction invA,invB,invC,invD = invABCD( A,B,C,D )%UNTITLED3 Summary of this function goes here% Detailed explanation goes hereinvA = zeros(201,1);invB = zeros(201,1);invC = zeros(201,1);invD = zeros(201,1); for N = 1:201 ABCD = A(N),B(N);C(N),D(N); inverseABCD = inv(ABCD); invA(N) = inverseABCD(1,1); inv