半導體物理答案_第1頁
半導體物理答案_第2頁
半導體物理答案_第3頁
免費預覽已結(jié)束,剩余1頁可下載查看

下載本文檔

版權(quán)說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請進行舉報或認領

文檔簡介

1、半導體物理答案1、 選擇1. 與半導體相比較,絕緣體的價帶電子激發(fā)到導帶所需的能量(比半導體的大);2. 室溫下,半導體si摻硼的濃度為1014cm-3,同時摻有濃度為×1015cm-3的磷,則電子濃度約為(1015cm-3 ),空穴濃度為(×105cm-3),費米能級為(高于ei);將該半導體由室溫度升至570k,則多子濃度約為(2×1017cm-3),少子濃度為(2×1017cm-3),費米能級為(等于ei)。3. 施主雜質(zhì)電離后向半導體提供(電子),受主雜質(zhì)電離后向半導體提供(空穴),本征激發(fā)后向半導體提供(空穴、電子);4. 對于一定的n型半導體

2、材料,溫度一定時,減少摻雜濃度,將導致(ef )靠近ei;5. 表面態(tài)中性能級位于費米能級以上時,該表面態(tài)為(施主態(tài));6. 當施主能級ed與費米能級ef相等時,電離施主的濃度為施主濃度的(1/3)倍;重空穴是指(價帶頂附近曲率較小的等能面上的空穴)7. 硅的晶格結(jié)構(gòu)和能帶結(jié)構(gòu)分別是(金剛石型和間接禁帶型)8. 電子在晶體中的共有化運動指的是電子在晶體(各元胞對應點出現(xiàn)的幾率相同)。9. 本征半導體是指(不含雜質(zhì)與缺陷)的半導體。10. 簡并半導體是指((ec-ef)或(ef-ev)0)的半導體11. 3個硅樣品的摻雜情況如下:甲含鎵1×1017cm-3;乙.含硼和磷各1×

3、1017cm-3;丙.含鋁1×1015cm-3這三種樣品在室溫下的費米能級由低到高(以ev為基準)的順序是(甲丙乙)12. 以長聲學波為主要散射機構(gòu)時,電子的遷移率n與溫度的(b 3/2次方成反比)13. 公式中的是載流子的(平均自由時間)。14. 歐姆接觸是指(阻值較小并且有對稱而線性的伏安特性)的金屬半導體接觸。15. 在mis結(jié)構(gòu)的金屬柵極和半導體上加一變化的電壓,在柵極電壓由負值增加到足夠大的正值的的過程中,如半導體為p型,則在半導體的接觸面上依次出現(xiàn)的狀態(tài)為(多數(shù)載流子堆積狀態(tài),多數(shù)載流子耗盡狀態(tài),少數(shù)載流子反型狀態(tài))。16. 在硅和鍺的能帶結(jié)構(gòu)中,在布里淵中心存在兩個極大

4、值重合的價帶,外面的能帶(曲率?。瑢挠行з|(zhì)量(大),稱該能帶中的空穴為(重空穴e )。17. 如果雜質(zhì)既有施主的作用又有受主的作用,則這種雜質(zhì)稱為(兩性雜質(zhì))。18. 在通常情況下,gan呈(纖鋅礦型 )型結(jié)構(gòu),具有(六方對稱性),它是(直接帶隙)半導體材料。19. 同一種施主雜質(zhì)摻入甲、乙兩種半導體,如果甲的相對介電常數(shù)r是乙的3/4, mn*/m0值是乙的2倍,那么用類氫模型計算結(jié)果是(甲的施主雜質(zhì)電離能是乙的32/9,的弱束縛電子基態(tài)軌道半徑為乙的3/8 )。20. 一塊半導體壽命=15µs,光照在材料中會產(chǎn)生非平衡載流子,光照突然停止30µs后,其中非平衡載流

5、子將衰減到原來的(1/e2)。21. 對于同時存在一種施主雜質(zhì)和一種受主雜質(zhì)的均勻摻雜的非簡并半導體,在溫度足夠高、ni >> /nd-na/ 時,半導體具有 (本征) 半導體的導電特性。22. 在純的半導體硅中摻入硼,在一定的溫度下,當摻入的濃度增加時,費米能級向(ev)移動;當摻雜濃度一定時,溫度從室溫逐步增加,費米能級向( ei )移動。23. 把磷化鎵在氮氣氛中退火,會有氮取代部分的磷,這會在磷化鎵中出現(xiàn)(產(chǎn)生等電子陷阱)。24. 對于大注入下的直接復合,非平衡載流子的壽命不再是個常數(shù),它與(非平衡載流子濃度成反比)。25. 雜質(zhì)半導體中的載流子輸運過程的散射機構(gòu)中,當溫度

6、升高時,電離雜質(zhì)散射的概率和晶格振動聲子的散射概率的變化分別是(變小,變大)。26. 如在半導體的禁帶中有一個深雜質(zhì)能級位于禁帶中央,則它對電子的俘獲率(等于)空穴的俘獲率,它是(有效的復合中心)。27. 同一塊半導體中,電子的有效質(zhì)量小于空穴的有效質(zhì)量,所以電子的遷移率(大于)空穴的遷移率。28. 下列半導體材料中,屬于n型半導體的是(鍺摻入磷)。29. pn結(jié)空間電荷區(qū)又稱為(耗盡區(qū))。30. 主要利用半導體的(隧道效應)制造歐姆接觸。31. 光強度一定是,在半導體溫度升高,非平衡載流子濃度(不變)。32. 溫度一定時,半導體摻雜濃度增加其導電性(增大)。33. 下列半導體材料中,屬于直接

7、帶隙半導體的是(砷化鎵)。34. n型半導體,隨著摻雜濃度增加,費米能級(上升)。35. 非平衡載流子通過復合中心的復合稱為(間接復合)。36. 制造半導體器件時,必須引出金屬端子引腳,必然出現(xiàn)金屬與半導體接觸,此時需要采?。W姆接觸)方法減少接觸對器件特性影響。二、填空1純凈半導體si中摻v族元素的雜質(zhì),當雜質(zhì)電離時釋放 。這種雜質(zhì)稱 雜質(zhì);相應的半導體稱 型半導體。2當半導體中載流子濃度的分布不均勻時,載流子將做 運動;在半導體存在外加電壓情況下,載流子將做 運動。3nopo=ni2標志著半導體處于 狀態(tài),當半導體摻入的雜質(zhì)含量改變時,乘積nopo改變否? ;當溫度變化時,nopo改變否?

8、 。4非平衡載流子通過 而消失, 叫做壽命,壽命與 在 中的位置密切相關,對于強p型和 強n型材料,小注入時壽命n為 ,壽命p為 。 5 是反映載流子在電場作用下運動難易程度的物理量, 是反映有濃度梯度時載流子運動難易程度的物理量,聯(lián)系兩者的關系式是 ,稱為 關系式。 6半導體中的載流子主要受到兩種散射,它們分別是 和 。前者在 下起主要作用,后者在 下起主要作用。7半導體中淺能級雜質(zhì)的主要作用是 ;深能級雜質(zhì)所起的主要作用 。8對n型半導體,如果以ef和ec的相對位置作為衡量簡并化與非簡并化的標準,那末, 為非簡并條件; 為弱簡并條件; 為簡并條件。12當p-n結(jié)施加反向偏壓增大到某一數(shù)值時

9、,反向電流密度突然開始迅速增大的現(xiàn)象稱為 ,其種類為: 、和 。13指出下圖各表示的是什么類型半導體?14當半導體中載流子濃度存在濃度梯度時,載流子將做 運動;半導體存在電勢差時,載流子將做 運動,其運動速度正比于 ,比例系數(shù)稱為 。15np>ni2意味著半導體處于 狀態(tài),其中n= ;p 。這時半導體中載流子存在凈復合還是凈產(chǎn)生? 。16半導體中淺能級雜質(zhì)的主要作用是 增強載流子的濃度 ;深能級雜質(zhì)所起的主要作用 增強載流子的復合 。 17非平衡載流子通過 而消失, 叫做壽命,壽命與 在 中的位置密切相關,當 壽命趨向最小。 18半導體中的載流子主要受到兩種散射,它們分別是 和 。前者在

10、 下起主要作用,后者在 下起主要作用。19半導體中摻雜濃度很高時,雜質(zhì)電離能 (增大、減小、不變),禁帶寬度 (增大、減小、不變)。20 p-n結(jié)電容包括 電容和 電容,在反向偏壓下, 電容起主要作用。21 原子組成晶體后,由于電子殼層的交疊,電子不再局限在某個原子上,可以從一個原子上轉(zhuǎn)移到另一個原子上,電子將在整個晶體中運動,這種運動稱為:共有化運動。22 空穴攜帶_正_電荷,具有_正_的有效質(zhì)量。23 本證硅中摻入iii價元素雜質(zhì),為_p_型半導體。24 當用適當波長的光照射半導體,產(chǎn)生的載流子稱為_非平衡_載流子。25 _愛因斯坦_方程是漂移運動和擴散運動同時存在時少數(shù)載流子所遵循的運動

11、方程,是研究半導體器件原理的基本方程之一。26 常見的元素半導體有_硅_和_鉻_,常見的化合物半導體有_砷化鎵_。27 半導體材料硅和鍺的晶體結(jié)構(gòu)為_金剛石_型結(jié)構(gòu)。28 金屬中導電的粒子是電子,半導體中導電的粒子是_電子_和 _空穴_。29 晶體中電子的能量狀態(tài)是量子化的,電子在各狀態(tài)上的分布遵守費米分布規(guī)律,當e-ef>>k0t時,可近似為_波爾茲曼_分布。30 pn結(jié)具有電容特性,包括_勢壘_電容和_擴散_電容兩部分。3、 名詞解釋1. 有效質(zhì)量: 粒子在晶體中運動時具有的等效質(zhì)量,它概括了半導體內(nèi)部勢場的作用。2. 熱平衡狀態(tài):在沒有外界影響的條件下,熱力學系統(tǒng)的宏觀性質(zhì)不

12、隨時間變化的狀態(tài)。所謂外界影響,是指外界對系統(tǒng)作功或傳熱。不能把平衡態(tài)簡單理解為不隨時間變化的狀態(tài)。3. 散射概率4. 遷移率:單位電場作用下,載流子獲得的平均定向運動速度,反映了載流子在電場作用下的輸運能力,是半導體物理中重要的概念和參數(shù)之一。遷移率的表達式為:=q/m* ??梢?,有效質(zhì)量和弛豫時間(散射)是影響遷移率的因素。5. 平均自由時間:粒子在兩次散射之間經(jīng)歷的平均時間,其倒數(shù)即為散射幾率。6. 熱載流子:是指比零電場下的載流子具有更高平均動能的載流子。7. 載流子的散射:電離雜質(zhì)的散射:施主雜質(zhì)在電離后是一個帶正電的離子,而受主雜質(zhì)電離后則是負離子。在正離子有或負離子周圍形成一個庫

13、侖勢場,載流子將受到這個庫侖場的作用,即散射。晶格振動的散射:光學波和聲學波散射。隨著溫度的增加,晶格振動的散射越來顯著,而雜質(zhì)電離的散射變得不顯著了。其他因素引起的散射:等同的能谷間散射、中性雜質(zhì)散射、位錯散射、合金散射。另外,載流子之間也有散射作用,但這種散射只在強簡并時才顯著。8. 非平衡載流子的壽命:當半導體由于外界作用注入非平衡載流子時,它處于非平衡狀態(tài)。 9. 復合幾率:10. 復合率:11. 準費米能級: 半導體處于非平衡態(tài)時,導帶電子和價帶空穴不再有統(tǒng)一的費米能級,但可以認為它們各自達到平衡,相應的費米能級稱為電子和空穴的準費米能級。12. 直接復合:電子從導帶直接躍遷至價帶與

14、空穴相遇而復合。13. 間接復合: 電子通過禁帶中的能級而躍遷至價帶與空穴相遇而復合。14. 直接復合機構(gòu)15. 間接復合機構(gòu)16. 雪崩擊穿:在晶體中運行的電子和空穴將不斷的與晶體原子發(fā)生碰撞,通過這樣的碰撞可使束縛在共價鍵中的價電子碰撞出來,產(chǎn)生自由電子-空穴對.新產(chǎn)生的載流子在電場作用下撞出其他價電子,又產(chǎn)生新的自由電子空穴對.如此連鎖反應,使得阻擋層中的載流子的數(shù)量雪崩式地增加,流過pn結(jié)的電流就急劇增大,所以這種碰撞電離稱為雪崩擊穿.17. 隧道擊穿效應:隧道擊穿是在強電場作用下,由隧道效應,使大量電子從價帶穿過禁帶而進入到導帶所引起的一種擊穿現(xiàn)象。18. 肖特基接觸:指金屬和半導體

15、材料相接觸的時候,在界面處半導體的能帶彎曲,形成肖特基勢壘。勢壘的存在才導致了大的界面電阻。與之對應的是歐姆接觸,界面處勢壘非常小或者是沒有接觸勢壘。19. 歐姆接觸:指金屬與半導體的接觸,而其接觸面的電阻值遠小于半導體本身的電阻,使得組件操作時,大部分的電壓降在活動區(qū)(active region)而不在接觸面。20. n型半導體: 在純凈的硅晶體中摻入五價元素(如磷),使之取代晶格中硅原子的位置,就形成了n型半導體。21. p型半導體 : 在純凈的硅晶體中摻入三價元素(如硼),使之取代晶格中硅原子的位置,形成p型半導體。22. 簡并半導體: 對于重摻雜半導體,費米能級接近或進入導帶或價帶,導帶/價帶中的載流子濃度很高,泡利不相容原理起作用,電子和空穴分布不再滿足玻耳茲曼分布,需要采用費米分布函數(shù)描述。稱此類半導體為簡并半導體。滿足的條件為23. 非簡并半導體: 摻雜濃度較低,其費米能級ef在禁帶中的半導體 ; 半導體中

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁內(nèi)容里面會有圖紙預覽,若沒有圖紙預覽就沒有圖紙。
  • 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 人人文庫網(wǎng)僅提供信息存儲空間,僅對用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護處理,對用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對任何下載內(nèi)容負責。
  • 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當內(nèi)容,請與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準確性、安全性和完整性, 同時也不承擔用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

評論

0/150

提交評論