薄膜干涉與干涉習題_第1頁
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測表面不平整度測表面不平整度等厚條紋等厚條紋待測工件待測工件平晶平晶D可測量細絲直徑、薄片厚度、檢查工件平整度等可測量細絲直徑、薄片厚度、檢查工件平整度等薄膜干涉的應用測量直徑測量直徑下面的待測工件是上凸的下面的待測工件是上凸的應用:增透應用:增透( (射射) )膜和增反射膜膜和增反射膜 基片基片鍍膜鍍膜空氣空氣0nnn基基相機等光學系統(tǒng)中,光因反射而相機等光學系統(tǒng)中,光因反射而損失嚴重,為了減少反射增加透損失嚴重,為了減少反射增加透射光強,常在鏡頭外鍍一層射光強,常在鏡頭外鍍一層MgFMgF2 2光垂直入射光垂直入射 對某個波長增透即讓薄膜上下對某個波長增透即讓薄膜上下表面的反射光干涉相消表面的反射光干涉相消膜厚至少是多少?膜厚至少是多少?2 2. . 牛頓環(huán)牛頓環(huán) 22e光程差光程差222()RrR e22reR222,1,2,3,222rkkR 22(21) ,0,1,2,222rkkR 明紋明紋:暗紋暗紋:.S分束鏡分束鏡M 顯微鏡顯微鏡o 牛頓環(huán)牛頓環(huán)裝置簡圖裝置簡圖平凸透鏡平凸透鏡平晶平晶erR o形狀形狀白光入射的牛頓環(huán)照片白光入射的牛頓環(huán)照片erR o形狀形狀

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