超聲波探傷儀器試塊學(xué)習(xí)教案

1、會計學(xué)1超聲波探傷超聲波探傷(tn shng)儀器試塊儀器試塊第一頁，共49頁。2021-12-12 主動型超聲波檢測(jin c)儀器第1頁/共49頁第二頁，共49頁。2021-12-13被動型超聲波檢測(jin c)儀器 第2頁/共49頁第三頁，共49頁。2021-12-14波傳播的距離或時間，根據(jù)缺陷波的波高和水平刻度(kd)來進行缺陷的定量和定位。第3頁/共49頁第四頁，共49頁。2021-12-15第4頁/共49頁第五頁，共49頁。2021-12-16第5頁/共49頁第六頁，共49頁。2021-12-17第6頁/共49頁第七頁，共49頁。2021-12-18第7頁/共49頁第八頁，共

2、49頁。2021-12-19的是A型脈沖式單通道超聲波探傷儀。第8頁/共49頁第九頁，共49頁。2021-12-110同步電路發(fā)射電路接受放大(fngd)電路時基電路（掃描電路）顯示電路電源電路第9頁/共49頁第十頁，共49頁。2021-12-111楔塊、阻尼塊、接頭等組成。第10頁/共49頁第十一頁，共49頁。2021-12-112條件下工作： t/2 t為晶片厚度。第11頁/共49頁第十二頁，共49頁。2021-12-113電陶瓷)居里溫度。第12頁/共49頁第十三頁，共49頁。2021-12-114射橫波。一般用有機玻璃做成。斜楔的縱波速度必須小于工件(gngjin)中的縱波速度。第13

3、頁/共49頁第十四頁，共49頁。2021-12-115第14頁/共49頁第十五頁，共49頁。2021-12-116鍛件等。第15頁/共49頁第十六頁，共49頁。2021-12-117第16頁/共49頁第十七頁，共49頁。2021-12-118第17頁/共49頁第十八頁，共49頁。2021-12-119雙晶探頭有兩塊壓電晶片。根據(jù)入射角不同(b tn)，又可分為雙晶縱波探頭和雙晶橫波探頭。雙晶探頭的優(yōu)點：1.靈敏度高；2.雜波少盲區(qū)??；3.近場區(qū)長度?。?.探測范圍可調(diào)。主要用于探傷近表面缺陷。第18頁/共49頁第十九頁，共49頁。2021-12-120聚焦(jjio)探頭有直探頭和聲透鏡組成，

4、分為點聚焦(jjio)和線聚焦(jjio)。點聚焦(jjio)聲透鏡為球面，線聚焦(jjio)則為柱面。焦距F與聲透鏡曲率半徑r之間存在以下關(guān)系：Fc1r/(c1c2)第19頁/共49頁第二十頁，共49頁。2021-12-121如如2.5B20Z,5P62.5B20Z,5P6* *6K3,5T20FG10Z6K3,5T20FG10Z第20頁/共49頁第二十一頁，共49頁。2021-12-122第21頁/共49頁第二十二頁，共49頁。2021-12-123塊。尺寸如圖所示。第22頁/共49頁第二十三頁，共49頁。2021-12-1248.測斜探頭和儀器的靈敏度余量；9.調(diào)整橫波探測范圍和掃描速度

5、。第23頁/共49頁第二十四頁，共49頁。2021-12-125半圓試塊是目前(mqin)廣泛應(yīng)用的一種試塊，其結(jié)構(gòu)如圖所示。第24頁/共49頁第二十五頁，共49頁。2021-12-126第25頁/共49頁第二十六頁，共49頁。2021-12-127CSK-A試塊是我國鍋爐和鋼制壓力容器對接焊縫超聲波探傷JB115281標準規(guī)定的標準和試塊，是在IIW試塊基礎(chǔ)(jch)上改進后得到的。第26頁/共49頁第二十七頁，共49頁。2021-12-128響缺陷定位。利用CSK-IA試塊進行儀器和探頭(tn tu)性能的測試第27頁/共49頁第二十八頁，共49頁。2021-12-129 |amax|/0

6、.8b |amax|=max(a2、a3、a4)； b示波屏水平滿刻度值。測試步驟第28頁/共49頁第二十九頁，共49頁。2021-12-1302.垂直(chuzh)線性(linearity of amplifier) 垂直(chuzh)線性指儀器放大器的線性度。它表示探頭所接受的信號電壓大小與熒光屏上所顯示的回波高度成正比的程度。 儀器中衰減器的精度直接反映著垂直(chuzh)線性誤差。垂直(chuzh)線性的好壞影響缺陷定量精度。第29頁/共49頁第三十頁，共49頁。2021-12-131調(diào)衰減器，每次衰減2dB，并記下相應(yīng)的波高Hi填入表中，直到底波消失。第30頁/共49頁第三十一頁，共

7、49頁。2021-12-132 衰減量dB024681012141618202224回波高度實測絕對波高Hi相對波高理想相對波高10079.468.150.139.831.625.119.915.812.6107.96.3 偏差表中：實測(sh c)相對波高Hi/H0100 理想相對波高10dB/20100第31頁/共49頁第三十二頁，共49頁。2021-12-133第32頁/共49頁第三十三頁，共49頁。2021-12-134第33頁/共49頁第三十四頁，共49頁。2021-12-135的地方就是該探頭的入射點。此時，探頭的前沿長度為 l0RM第34頁/共49頁第三十五頁，共49頁。2021

8、-12-136斜探頭K值是指被探工件中橫波(hngb)折射角s的正切值。探頭置于B位置時，s在3560度時；探頭置于C位置時，s在6075度時；探頭置于D位置時，s在7580度時；若探頭(tn tu)在C位置，則 K=tgs=(Ll035)/30第35頁/共49頁第三十六頁，共49頁。2021-12-137衰減的衰減總量。第36頁/共49頁第三十七頁，共49頁。2021-12-138記下(j xi)此時衰減器讀數(shù)N2dB，則儀器與探頭的靈敏度余量N為 NN2 N1dB第37頁/共49頁第三十八頁，共49頁。2021-12-139N2，則儀器與斜探頭的靈敏度余量N為 NN2N1dB第38頁/共4

9、9頁第三十九頁，共49頁。2021-12-140第39頁/共49頁第四十頁，共49頁。2021-12-141第40頁/共49頁第四十一頁，共49頁。2021-12-142力RP為： RP=(9185)a/(a-b)(mm)c 當(dāng)A、B、C能分開(fn ki)時，分辨力RP為： RP=(9185)c/a(mm)第41頁/共49頁第四十二頁，共49頁。2021-12-143a 探頭(tn tu)置于CSKIA試塊上對準50、44、40三個階梯孔，使示波屏上出現(xiàn)三個反射波。b 平行移動探頭(tn tu)并調(diào)節(jié)儀器，使50、44回波等高，其波峰為，波谷為h2，則其分辨力為 X=20lg(h1/h2)(dB) 實際測試(csh)時，用衰減器將h1衰減到h2，其衰減量N就為分辨力，即XN第42頁/共49頁第四十三頁，共49頁。2021-12-144探測范圍內(nèi)發(fā)現(xiàn)缺陷并對缺陷進行定位。第43頁/共49頁第四十四頁，共49頁。2021-12-145對50，B2對100，此時橫波掃描速度就為1：1第44頁/共49頁第四十五頁，共49頁。2021-12-146第45頁/共49頁第四十六頁，共49頁。20