無損檢測(cè)超聲波檢測(cè)二級(jí)UT試題庫帶答案

1、無損檢測(cè)超聲波試題（UT二級(jí)）一、是非題1.1受迫振動(dòng)的頻率等于策動(dòng)力的頻率。V1.2波只能在彈性介質(zhì)中產(chǎn)生和傳播。x （應(yīng)該是機(jī)械波）1.3由于機(jī)械波是由機(jī)械振動(dòng)產(chǎn)生的，所以波動(dòng)頻率等于振動(dòng)頻率。V1.4由于機(jī)械波是由機(jī)械振動(dòng)產(chǎn)生的，所以波長(zhǎng)等于振幅。X1.5傳聲介質(zhì)的彈性模量越大，密度越小，聲速就越高。V1.6材料組織不均勻會(huì)影響聲速，所以對(duì)鑄鐵材料超聲波探傷和測(cè)厚必須注意這一問題。V1.7 一般固體介質(zhì)中的聲速隨溫度升高而增大。X1.8由端角反射率試驗(yàn)結(jié)果推斷，使用 KA1.5的探頭探測(cè)單面焊焊縫根部未焊透缺陷，靈敏度較低，可 能造成漏檢。 V1.9超聲波擴(kuò)散衰減的大小與介質(zhì)無關(guān)。V1.

2、10超聲波的頻率越高，傳播速度越快。x1.11介質(zhì)能傳播橫波和表面波的必要條件是介質(zhì)具有切變彈性模量。V1.12頻率相同的縱波，在水中的波長(zhǎng)大于在鋼中的波長(zhǎng)。x1.13既然水波能在水面?zhèn)鞑?，那么超聲表面波也能沿液體表面?zhèn)鞑ァ1.14因?yàn)槌暡ㄊ怯蓹C(jī)械振動(dòng)產(chǎn)生的，所以超聲波在介質(zhì)中的傳播速度即為質(zhì)點(diǎn)的振動(dòng)速度。x1.15如材質(zhì)相同，細(xì)鋼棒（直徑< 入與鋼鍛件中的聲速相同。X （C細(xì)鋼棒=（E/p） ?）1.16在同種固體材料中，縱、橫渡聲速之比為常數(shù)。V1.17水的溫度升高時(shí)，超聲波在水中的傳播速度亦隨著增加。X1.18幾乎所有的液體（水除外），其聲速都隨溫度的升高而減小。V1.19波的

3、疊加原理說明，幾列波在同一介質(zhì)中傳播并相遇時(shí)，都可以合成一個(gè)波繼續(xù)傳播。x1.20介質(zhì)中形成駐波時(shí)，相鄰兩波節(jié)或波腹之間的距離是一個(gè)波長(zhǎng)。X （應(yīng)是2/4;相鄰兩節(jié)點(diǎn)或波腹間的距離為12）1.21具有一定能量的聲束，在鋁中要比在鋼中傳播的更遠(yuǎn)。V1.22材料中應(yīng)力會(huì)影響超聲波傳播速度，在拉應(yīng)力時(shí)聲速減小，在壓應(yīng)力時(shí)聲速增大，根據(jù)這一特性，可用超聲波測(cè)量材料的內(nèi)應(yīng)力。V1.23材料的聲阻抗越大，超聲波傳播時(shí)衰減越大。X （成反比）1.24平面波垂直入射到界面上，入射聲壓等于透射聲壓和反射聲壓之和。X1.25平面波垂直入射到界面上，入射能量等于透射能量與反射能量之和。V1.26超聲波的擴(kuò)散衰減與波

4、型，聲程和傳聲介質(zhì)、晶粒度有關(guān)。X1.27對(duì)同一材料而言，橫波的衰減系數(shù)比縱波大得多。V1.28界面上入射聲束的折射角等于反射角。X1.29當(dāng)聲束以一定角度入射到不同介質(zhì)的界面上，會(huì)發(fā)生波形轉(zhuǎn)換。V1.30在同一固體材料中，傳播縱、橫波時(shí)聲阻抗不一樣。V （Z= p - C）1.31聲阻抗是衡量介質(zhì)聲學(xué)特性的重要參數(shù)，溫度變化對(duì)材料的聲阻抗無任何影響。X1.32超聲波垂直入射到平界面時(shí)，聲強(qiáng)反射率與聲強(qiáng)透射率之和等于1。V1.33超聲波垂直入射到異質(zhì)界面時(shí)，界面一側(cè)的總聲壓等于另一側(cè)的總聲壓。V1.34超聲波垂直入射到Z2>Zl的界面時(shí)，聲壓透過率大于1,說明界面有增強(qiáng)聲壓的作用。X1.

5、35超聲波垂直入射到異質(zhì)界時(shí)，聲壓往復(fù)透射率與聲強(qiáng)透射率在數(shù)值上相等。V1.36超聲波垂直入射時(shí)，界面兩側(cè)介質(zhì)聲阻抗差愈小，聲壓往復(fù)透射率愈低。X1.37當(dāng)鋼中的氣隙（如裂紋）厚度一定時(shí)，超聲波頻率增加，反射波高也隨著增加。V （聲壓反射率也隨頻率增加而增加）1.38超聲波傾斜入射到異質(zhì)界面時(shí)，同種波型的反射角等于折射角。X1.39超聲波傾斜入射到異質(zhì)界面時(shí)，同種波型的折射角總大于入射角。1.40超聲波以10o角入射至水/鋼界面時(shí)，反射角等于10o。 V1.41超聲波入射至鋼/水界面時(shí)，第一臨界角約為14.5。 X （水/鋼界面時(shí)，a I =14.5o；鋼/水界面不存在第一臨界角一說，因?yàn)闄M波

6、不在水中傳播）1.42第二介質(zhì)中折射的橫波平行于界面時(shí)的縱波入射角為第一臨界角。X1.43如果有機(jī)玻璃/鋁界面的第一臨界角大于有機(jī)玻璃/鋼界面第一臨界角，則前者的第二臨界角也 一定大于后者。X （鋁的縱波速度 >鋼的縱波速度，鋁的橫波速度 <鋼的橫波速度）1.44只有當(dāng)?shù)谝唤橘|(zhì)為固體介質(zhì)時(shí)，才會(huì)有第三臨界角。V1.45橫波斜入射至鋼，空氣界面時(shí)，入射角在 30。左右時(shí)，橫波聲壓反射率最低。V1.46超聲波入射到C1<C2的凹曲面時(shí)，其透過波發(fā)散。X （聚焦）1.47超聲波入射到C1>C2的凸曲面時(shí)，其透過波集聚。偵1.48以有機(jī)玻璃作聲透鏡的水浸聚焦探頭，有機(jī)玻璃/水界

7、面為凹曲面。X （水浸聚焦探頭就是利用平面波入射到C1>C2的凸曲面上）1.49介質(zhì)的聲阻抗愈大，引起的超聲波的衰減愈嚴(yán)重。X （成反比）1.50聚焦探頭輻射的聲波，在材質(zhì)中的衰減小。X （衰減大，因?yàn)榫劢固筋^有涉及發(fā)散波）1.51超聲波探傷中所指的衰減僅為材料對(duì)聲波的吸收作用。X1.52超聲平面波不存在材質(zhì)衰減。X （不存在擴(kuò)散衰減）2.1超聲波頻率越高，近場(chǎng)區(qū)的長(zhǎng)度也就越大。V （個(gè)人感覺答案有錯(cuò)，沒有前提無法對(duì)比）2.2對(duì)同一個(gè)直探頭來說，在鋼中的近場(chǎng)長(zhǎng)度比在水中的近場(chǎng)長(zhǎng)度大。X2.3聚焦探頭的焦距應(yīng)小于近場(chǎng)長(zhǎng)度。V2.4探頭頻率越局，聲束擴(kuò)散角越小。偵2.5超聲波探傷的實(shí)際聲場(chǎng)中

8、的聲束軸線上不存在聲壓為零的點(diǎn)。V2.6聲束指向性不僅與頻率有關(guān)，而且與波型有關(guān)。V2.7超聲波的波長(zhǎng)越長(zhǎng)，聲束擴(kuò)散角就越大，發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力也就越強(qiáng)。X2.8因?yàn)槌暡〞?huì)擴(kuò)散衰減，所以檢測(cè)應(yīng)盡可能在其近場(chǎng)區(qū)進(jìn)行。X2.9因?yàn)榻鼒?chǎng)區(qū)內(nèi)有多個(gè)聲壓變?yōu)榱愕狞c(diǎn)，所以探傷時(shí)近場(chǎng)區(qū)缺陷往往會(huì)漏檢。X2.10如超聲波頻率不變，晶片面積越大，超聲波的近場(chǎng)長(zhǎng)度越短。X2.11面積相同，頻率相同的圓晶片和方晶片，超聲場(chǎng)的近場(chǎng)長(zhǎng)度一樣長(zhǎng)。V2.12面積相同，頻率相同的到晶片和方晶片，其聲束指向角亦相同。X2.13超聲場(chǎng)的近場(chǎng)長(zhǎng)度愈短，聲束指向性愈好。X2.14聲波輻射的超聲波的能量主要集中在主聲束內(nèi)。V2.15聲

9、波輻射的超聲波，總是在聲束中心軸線上的聲壓為最高。X （近場(chǎng)區(qū)內(nèi)軸線上的聲壓不一定最高）2.16探傷采用低頻是為了改善聲束指向性，提高探傷靈敏度。X （應(yīng)是提高頻率）2.17超聲場(chǎng)中不同橫截面上的聲壓分布規(guī)律是一致的。X （近場(chǎng)區(qū)與遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)各橫截面上聲壓分布不同）2.18在超聲場(chǎng)的未擴(kuò)散區(qū)，可將聲源輻射的超聲波看成平面波，平均聲壓不隨距離增加而改變。2.19斜角探傷橫波聲場(chǎng)中假想聲源的面積大于實(shí)際聲源面積。X2.20頻率和晶片尺寸相同時(shí)，橫波聲束指向性比縱波好。V2.21圓晶片斜探頭的上指向角小于下指向角。X2.22如斜探頭入射點(diǎn)到晶片的距離不變，入射點(diǎn)到假想聲源的距離隨入射角的增加而減小。V2

10、.23 200mm處4長(zhǎng)橫孔的回波聲壓比100mm處2長(zhǎng)橫孔的回波聲壓低。V2.24球孔的回波聲壓隨距離的變化規(guī)律與平底孔相同。V2.25同聲程理想大平面與平底孔回波聲壓的比值隨頻率的提高而減小。V2.26軸類工件外圓徑向探傷時(shí)，曲底面回波聲壓與同聲程理想大平面相同。V2.27對(duì)空心圓柱體在內(nèi)孔探傷時(shí)，曲底面回波聲壓比同聲程大平面低。X 3.1超聲波探傷中，發(fā)射超聲波是利用正壓電效應(yīng)，接收超聲波是利用逆壓電效應(yīng)。X3.2增益l00dB就是信號(hào)強(qiáng)度放大100倍。 X （調(diào)節(jié)增益作用是改變接收放大器的放大倍數(shù)）3.3與皓鈦酸鉛相比，石英作為壓電材料性能穩(wěn)定、機(jī)電耦合系數(shù)高、壓電轉(zhuǎn)換能量損失小等優(yōu)點(diǎn)

11、。X3.4與普通探頭相比，聚焦探頭的分辨力較高。V3.5使用聚焦透鏡能提高靈敏度和分辨力，但減小了探測(cè)范圍。V3.6點(diǎn)聚焦探頭比線聚焦探頭靈敏度局。/3.7雙晶探頭只能用于縱波檢測(cè)。X3.8 B型顯示能夠展現(xiàn)工件內(nèi)缺陷的埋藏深度。V3.9 C型顯示能展現(xiàn)工件中缺陷的長(zhǎng)度和寬度，但不能展現(xiàn)深度。V3.10通用AVG曲線采用的距離是以近場(chǎng)長(zhǎng)度為單位的歸一化距離，適用于不同規(guī)格的探頭。V3.11在通用AVG曲線上，可直接查得缺陷的實(shí)際聲程和當(dāng)量尺寸。X3.12 A型顯示探傷儀，利用DGS曲線板可直觀顯示缺陷的當(dāng)量大小和缺陷深度。偵3.13電磁超聲波探頭的優(yōu)點(diǎn)之一是換能效率局，靈敏度局。X3.14多通

12、道探傷儀是由多個(gè)或多對(duì)探頭同時(shí)工作的探傷儀。X （應(yīng)是交替工作）3.15探傷儀中的發(fā)射電路亦稱為觸發(fā)電路。乂 （同步電路乂稱觸發(fā)電路）3.16探傷儀中的發(fā)射電路亦可產(chǎn)生幾白伏到上千伏的電脈沖去激勵(lì)探頭晶片振動(dòng)。V3.17探傷儀的掃描電路即為控制探頭在工件探傷面上掃查的電路。X （掃描電路乂稱時(shí)基電路，用來產(chǎn)生鋸齒波電壓施加到示波管水平偏轉(zhuǎn)板上，產(chǎn)生一條水平掃描時(shí)基線）3.18探傷儀發(fā)射電路中的阻尼電阻的阻值愈大，發(fā)射強(qiáng)度愈弱。X （改變阻尼是調(diào)節(jié)發(fā)射脈沖的電壓幅度和脈沖寬度，阻值越大，發(fā)射強(qiáng)度越強(qiáng)，發(fā)射聲能越多，分辨力越小。）3.19調(diào)節(jié)探傷儀 深度細(xì)調(diào)”旋鈕時(shí)，可連續(xù)改變掃描線掃描速度。V

13、（從而使熒光屏上回波問距大幅度地壓縮或擴(kuò)展）3.20調(diào)節(jié)探傷儀 抑制”旋鈕時(shí)，抑制越大，儀器動(dòng)態(tài)范圍越大。X3.21調(diào)節(jié)探傷儀延遲”旋鈕時(shí)，掃描線上回波信號(hào)間的距離也將隨之改變。X3.22不同壓電晶體材料中聲速不一樣，因此不同壓電材料的頻率常數(shù)也不相同。V3.23不同壓電材料的頻率常數(shù)不一樣，因此用不同壓電材料制作的探頭其標(biāo)稱頻率才能相同。X3.24壓電晶片的壓電應(yīng)變常數(shù)（d33）大，貝U說明該晶片接收性能好。X （壓電應(yīng)變常數(shù)d33大，發(fā)射性能 好，發(fā)射靈敏度高）3.25壓電晶片的壓電電壓常數(shù)（g33）大，岡q說明該晶片接收性能好。V （則接收靈敏度就高）3.26探頭中壓電晶片背面加吸收塊是

14、為了提高機(jī)械品質(zhì)因素Qm,減少機(jī)械能損耗。x （加吸收塊是為了減小機(jī)械品質(zhì)因素，Qm小就表示損耗大，脈沖寬度小，分辨率高）3.27工件表面比較租糙時(shí)，為防止探頭磨損和保護(hù)晶片，宜選用硬保護(hù)膜。X3.28斜探頭楔塊前部和上部開消聲槽的目的是使聲波反射回晶片處，減少聲能損失。X （目的是為了減少雜波）3.29由于水中只能傳插縱波，所以水浸探頭只能進(jìn)行縱波探傷。X3.30雙晶直探頭傾角越大，交點(diǎn)離探測(cè)面距離愈遠(yuǎn)復(fù)蓋區(qū)愈大。X3.31有機(jī)玻璃聲透鏡水浸聚焦探頭，透鏡曲率半徑愈大，焦距愈大。V3.32利用IIW試塊上50mmJL與兩側(cè)面的距離，僅能測(cè)定直探頭盲區(qū)的大致范圍。V3.33當(dāng)斜探頭對(duì)準(zhǔn)IIW2

15、試塊上R5曲面時(shí)，熒光屏上的多次反射回波是等距離的。X3.34中心切槽的半圓試塊，其反射特點(diǎn)是多次回波總是等距離出現(xiàn)。V3.35與IIW試塊相比CSK-IA試塊的優(yōu)點(diǎn)之一是可以測(cè)定斜探頭分辨力。V3.36調(diào)節(jié)探傷儀的水平”旋鈕，將會(huì)改變儀器的水平線性。X （調(diào)節(jié)水平旋鈕只是使掃描線連掃描線 上的回波一起左右移動(dòng)一段距離，但不改變回波間距，故也不會(huì)改變水平線性）3.37測(cè)定儀器的 動(dòng)態(tài)范圈”時(shí)，應(yīng)將儀器的 抑制”、深度補(bǔ)償”旋鈕置于 關(guān)”的位置。V3.38盲區(qū)與始波寬度是同一概念。X （盲區(qū)是指從檢測(cè)面到能夠發(fā)現(xiàn)缺陷的最小距離，盲區(qū)的大小與儀器的阻塞時(shí)間和始脈沖寬度有關(guān)）3.39測(cè)定組合靈敏度時(shí)

16、，可先調(diào)節(jié)儀器的 抑制”旋鈕，使電噪聲電平0%，再進(jìn)行測(cè)試。X3.40測(cè)定始波寬度”對(duì)，應(yīng)將儀器的靈敏度調(diào)至最大。X （靈敏度應(yīng)調(diào)到標(biāo)準(zhǔn)“ 0”點(diǎn)）3.41為提高分辨力，在滿足探傷靈敏度要求情況下，儀器的發(fā)射強(qiáng)度應(yīng)盡量調(diào)得低一些。偵3.42在數(shù)字化智能超聲波探傷儀中，脈沖重復(fù)頻率乂稱為采樣頻率。X3.43雙晶探頭主要用于近表面缺陷的探測(cè)。V3.44溫度對(duì)斜探頭折射角有影響，當(dāng)溫度升高對(duì)，折射角將變大。V3.45日前使用最廣泛的測(cè)厚儀是共振式測(cè)厚儀。X （應(yīng)是脈沖反射式測(cè)厚儀）3.46在鋼中折射角為60的斜探頭，用于探測(cè)鋁時(shí)，其折射角將變大。X（斜探頭在鋼中折射角為橫波折射角，鋁的橫波折射角比鋼

17、的?。?.47發(fā)射脈沖寬度”就是指發(fā)射脈沖的持續(xù)時(shí)間。V3.48軟保護(hù)膜探頭可減少粗糙表面對(duì)探傷的影響。V3.49脈沖反射式和穿透式探傷，使用的探頭是同一類型的。X （穿透式探傷的探頭發(fā)射的是連續(xù)波）3.50聲束指向角較小且聲柬截面較窄的探頭稱作窄脈沖探頭。X4.1在液浸式檢測(cè)中，返回探頭的聲能還不到最初值的1%。V4.2垂直探傷時(shí)探傷面的粗糙度對(duì)反射波高的影響比斜角探傷嚴(yán)重。偵4.3超聲脈沖通過材料后，其中心頻率將變低。V4.4申列法探傷適用于檢查垂直于探測(cè)面的平面缺陷。偵4.5 靈敏度”意味著發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力，因此超聲波探傷靈敏度越高越好。X （靈敏度太高雜波多）4.6所謂幻影回波”，是由

18、于探傷頻率過高或材料晶粒粗大引起的。X （原因是重復(fù)頻率過高）4.7當(dāng)量法用來測(cè)量大于聲束截面的缺陷的尺寸。X （當(dāng)量法適用于面積小于截面的缺陷尺寸評(píng)定）4.8半波高度法用來測(cè)量小于聲束截面的缺陷的尺寸。X4.9申列式雙探頭法探傷即為穿透法.X4.10厚焊縫采用申列法掃查時(shí)，如焊縫余高磨平，則不存在死區(qū)。X （上下表面都存在盲區(qū)）4.11曲面工件探傷時(shí)，探傷面曲率半徑愈大，耦合效果愈好。V4.12實(shí)際探傷中，為提高掃查速度減少雜波的十?dāng)_，應(yīng)將探傷靈敏度適當(dāng)降低。X （可以采用更換探頭方法來鑒別探頭雜波）4.13采用當(dāng)量法確定的缺陷尺寸一般小于缺陷的實(shí)際尺寸。V4.14只有當(dāng)工件中缺陷在各個(gè)方向

19、的尺寸均大于聲束截面時(shí)，才能采用測(cè)長(zhǎng)法確定缺陷長(zhǎng)度。X （測(cè)長(zhǎng)法適用于面積大于聲束截面或長(zhǎng)度大于聲束截面直徑的缺陷的評(píng)定）4.15絕對(duì)靈敏度法測(cè)量缺陷指示長(zhǎng)度時(shí)，測(cè)長(zhǎng)靈敏度高，測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度大。V4.16當(dāng)工件內(nèi)存在較大的內(nèi)應(yīng)力時(shí)，將使超聲被的傳播速度及方向發(fā)生變化。V4.17超聲波傾斜入射至缺陷表面時(shí)，缺陷反射波高隨入射角的增大而增高。X5.1鋼板探傷時(shí)，通常只根據(jù)缺陷波情況判定缺陷。X （還可根據(jù)底波衰減情況來判定缺陷）5.2當(dāng)鋼板中缺陷大于聲束截面時(shí)，由于缺陷多次反射波互相十涉容易出現(xiàn)疊加效應(yīng)”。X （超聲波脈沖相對(duì)于薄層較窄時(shí)，薄層兩側(cè)的各次反射波、透射波互不十涉，當(dāng)鋼板中缺陷大于聲束

20、截面時(shí)同理）5.3厚鋼板探傷中，若出現(xiàn)缺陷的多次反射波，說明缺陷的尺寸一定較大。V5.4較薄鋼板采用底波多次法探傷時(shí)，如出現(xiàn) 疊加效應(yīng)”，說明鋼板中缺陷尺寸一定很大。X5.5復(fù)合鋼扳探傷時(shí)，可從母材一側(cè)探傷，也可從復(fù)合材料一側(cè)探傷。V5.6用板波法探測(cè)厚度5mm以下薄鋼板時(shí)，不僅能檢出內(nèi)部缺陷，同時(shí)能檢出表面缺陷。V5.7鋼管水浸聚焦法探傷時(shí)，不宜采用線聚焦探頭探測(cè)較短缺陷。V5.8采用水浸聚焦探頭檢驗(yàn)鋼管時(shí)，聲透鏡的中心部分厚度應(yīng)為k/2的整數(shù)倍。V5.9鋼管作手工接觸法周向探傷時(shí)，應(yīng)從順、逆時(shí)針兩個(gè)方向各探傷一次。V5.10鋼管水浸探傷時(shí)，水中加入適量活性劑是為了調(diào)節(jié)水的聲阻抗，改善透聲性

21、。X （為了增強(qiáng)水對(duì)鋼管表面的潤(rùn)濕作用）5.11鋼管水浸探傷時(shí)，如鋼管中無缺陷，熒光屏上只有始波和界面波。V5.12用斜探頭對(duì)大口徑鋼管作接觸法周向探傷時(shí)，其跨距比同厚度平板大。偵6.1對(duì)軸類鍛件探傷，一般來說以縱波直探頭從徑向探測(cè)效果最佳。V6.2使用斜探頭對(duì)軸類鍛件作圓柱面軸向探測(cè)時(shí)，探頭應(yīng)采用正反兩個(gè)方向掃查。V6.3對(duì)餅形鍛件，采用直探頭作徑向探測(cè)是最佳的探傷方法。X6.4調(diào)節(jié)鍛件探傷靈敏度的底波法，其含義是鍛件掃查過程中依據(jù)底波變化情況評(píng)定鍛件質(zhì)量等級(jí)。X（應(yīng)是根據(jù)缺陷回波情況評(píng)定質(zhì)量等級(jí)）6.5鍛件探傷中，如缺陷引起底波明顯下降或消失時(shí)，說明鍛件中存在較嚴(yán)重的缺陷。V6.6鍛件探傷

22、時(shí)，如缺陷被探傷人員判定為白點(diǎn).則應(yīng)按密集缺陷評(píng)定鍛件等級(jí)。X6.7鑄鋼件超聲波探傷，一般以縱波直探頭為主。V7.1焊縫橫波探傷中，裂紋等危害性缺陷的反射波輻一般很高。V7.2焊縫橫波探傷時(shí)，如采用直射法，可不考慮結(jié)構(gòu)反射，變型波等十?dāng)_同波的影響。X7.3采用雙探頭申列法掃查焊縫時(shí)，位于焊縫深度方向任何部位的缺陷， 其反射波均出現(xiàn)在熒光屏上同一位置。V7.4焊縫探傷所用斜探頭，當(dāng)楔塊底面前部磨損較大時(shí)，其K值將變小。V7.5焊縫橫波探傷時(shí)常采用液態(tài)耦合劑，說明橫渡可以通過液態(tài)介質(zhì)薄層。X7.6當(dāng)焊縫中的缺陷與聲束成一定角度時(shí)，探測(cè)頻率較局時(shí)，缺陷回波不易被探頭接收。V7.7窄脈沖聚焦探頭的優(yōu)點(diǎn)

23、是能量集中，穿透力強(qiáng)，所以適合于奧氏體鋼焊縫檢測(cè)。X （聚焦探頭的優(yōu) 點(diǎn)是聲束細(xì)，靈敏度高，信噪比高）7.8 一股不采用從堆焊層一側(cè)探測(cè)的方法檢測(cè)堆焊層缺陷。偵7.9鋁焊縫探傷應(yīng)選用較高頻率的橫波專用斜探頭。V7.10裂縫探傷中，裂紋的回波比較尖銳，探頭轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí)，波很快消失。X二、選擇題1.1以下關(guān)于諧振動(dòng)的敘述-哪一條是錯(cuò)誤的（ A ）A、諧振動(dòng)就是質(zhì)點(diǎn)在作勻速圓周運(yùn)動(dòng)。B、任何復(fù)雜振動(dòng)都可視為多個(gè)諧振動(dòng)的合成C、在諧振動(dòng)中，質(zhì)點(diǎn)在位移最大處受力最大，速度為零。D、在諧振動(dòng)中，質(zhì)點(diǎn)在平衡位置速度最大，受力為零。1.2以下關(guān)于阻尼振動(dòng)的敘述，哪一條是錯(cuò)誤的（ D ）A、阻尼使振動(dòng)物體的能量逐漸減

24、小。B、阻尼使振動(dòng)物體的振幅逐漸減小。C、阻尼使振動(dòng)物體的運(yùn)動(dòng)速率逐漸減小。D、阻尼使振動(dòng)周期逐漸變長(zhǎng).1.3超聲波是頻率超出入耳聽覺的彈性機(jī)械波，其頻率范圍約為：（A ）A、高于 2 萬赫芝B、1 10MHzC、高于 200Hz D、0.2515MHz1.4在金屆材料的超聲波探傷中，使用最多的頻率范圍是：（C ）A、1025MHzB、l 10001KHzC、1 5MHzD 大于 20000MHz1.5機(jī)械波的波速取決于（D ）A、機(jī)械振動(dòng)中質(zhì)點(diǎn)的速度B、機(jī)械振動(dòng)中質(zhì)點(diǎn)的振幅C、機(jī)械振動(dòng)中質(zhì)點(diǎn)的振動(dòng)頻率D、彈性介質(zhì)的特性1.6在同種固體材料中，縱波聲速 CL .橫渡聲速Cs,表面波聲速Cn之間

25、的關(guān)系是:（C ）A、Cr>Cs>ClB、Cs>Cl>CrC、Cl>Cs>CrD、以上都不對(duì)1.7在下列不同類型超聲波中，哪種渡的傳播速度隨頻率的不同而改變？ （ B ）A、表面波B、板波 C、疏密波（縱波）D、剪切波（橫波）1.8超聲波入射到異質(zhì)界面時(shí)，可能發(fā)生（ D ）A、反射 B、折射C、波型轉(zhuǎn)換 D、以上都是1.9超聲波在介質(zhì)中的傳播速度與（ D ）有關(guān)。A、介質(zhì)的彈性B介質(zhì)的密度C、超聲波波型 D、以上全部1.10在同一固體材料中，縱、橫渡聲速之比，與材料的（ C ）有關(guān)？A、密度 B、彈性模量C、泊松比 D、以上全部1.11質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)方向垂直于波的

26、傳播方向的波是（ B ）A、縱波 B、橫波C、表面波 D、蘭姆波1.12在流體中可傳插：（A ）A、縱波 B、橫波C、縱波、橫波及表面波D、切變波1.13超聲縱波、橫波和表面波速度主要取決于：（C ）A、頻率 B、傳聲介質(zhì)的幾何尺寸C、傳聲材料的彈性模量和密度D、以上都不全面，須視具體情況而定1.14板波的速度主要取決于：（D ）A、頻率 B、傳聲介質(zhì)的幾何尺寸C、傳聲材料的彈性和質(zhì)量D、以上都不全面，須視具體情況定1.15鋼中超聲波縱波聲速為590000cm/s,若頻率為10MHz則其波長(zhǎng)為：（C ）A、59mm B、5.9mmC、0.59mm D、2.36mm1.16下面哪種超聲波的波長(zhǎng)最

27、短 （A ）A、水中傳播的2MHz縱波B、鋼中傳播的2.5MHz橫波C、鋼中傳播的5MHz縱波D、鋼中傳播的2MHz表面波1.17 一般認(rèn)為表面波作用于物體的深度大約為（ C ）A、半個(gè)波長(zhǎng) B、一個(gè)波長(zhǎng)C、兩個(gè)波長(zhǎng)D、3.7個(gè)波長(zhǎng)1.18鋼中表面波的能量大約在距表面多深的距離會(huì)降低到原來的1/25。（ B ）A、五個(gè)波長(zhǎng) B、一個(gè)波長(zhǎng) C、1/10波長(zhǎng) D、0.5波長(zhǎng)1.19脈沖反射法超聲波探傷主要利用超聲波傳播過程中的（ B ）A、散射特性 B、反射特性 C、透射特性D、擴(kuò)散特性1.20超聲波在彈性介質(zhì)中傳播時(shí)有（ D ）A、質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)和質(zhì)點(diǎn)移動(dòng)B、質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)和振動(dòng)傳遞C、質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)和能量傳播D

28、、B和C1.21超聲波在彈性介質(zhì)中的速度是（B ）A、質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)的速度B、聲能的傳播速度C、波長(zhǎng)和傳播時(shí)間的乘積D、以上都不是1.22若頻率一定，下列哪種波型在固體彈性介質(zhì)中傳播的波長(zhǎng)最短：（D ）A、剪切波B、壓縮波 C、橫渡D、瑞利表面波（表面波）1.23材料的聲速和密度的乘積稱為聲阻抗，它將影響超聲波（ B ）A、在傳播時(shí)的材質(zhì)衰減B、從一個(gè)介質(zhì)到達(dá)另一個(gè)介質(zhì)時(shí)在界面上的反射和透射C、 在傳播時(shí)的散射D、擴(kuò)散角大小1.24聲阻抗是：（C ）A、超聲振動(dòng)的參數(shù)B、界面的參數(shù)C、傳聲介質(zhì)的參數(shù)D、以上都不對(duì)1.25當(dāng)超聲縱波由水垂直射向鋼時(shí)，其透射系數(shù)大于1,這意味著：（D ）A、能量守恒定律

29、在這里不起作用B、透射能量大于入射能量C、A與B都對(duì) D、以上都不對(duì)1.26當(dāng)超聲縱波由鋼垂直射向水時(shí)，其反射系數(shù)小于0,這意味著：（B ）A、透射能量大于入射能量B、 反射超聲波振動(dòng)相位與入射聲波互成180。C、 超聲波無法透入水中D、以上都不對(duì)1.27垂直入射于異質(zhì)界面的超聲波束的反射聲壓和透射聲壓：（C ）A、與界面二邊材料的聲速有關(guān)B、與界面二邊材料的密度有關(guān)C、與界面二邊材料的聲阻抗有關(guān)D、與入射聲波波型有關(guān)1.28在液浸探傷中，哪種波會(huì)迅速衰減：（C ）（衰減系數(shù)與波速、密度成反比，頻率的平方成正比） A、縱波 B、橫波C、表面波 D、切變波1.29超聲波傳播過程中，遇到尺寸與波長(zhǎng)

30、相當(dāng)?shù)恼系K物時(shí)，將發(fā)生（ B ）A、只繞射，無反射B、既反射乂繞射C、只反射無繞射D、以上都可能1.30在同一固體介質(zhì)中，當(dāng)分別傳播縱、橫波時(shí)，它的聲阻抗將是（ C ）A、一樣B、傳播橫波時(shí)大C、傳播縱波時(shí)大 D、無法確定1.31超聲波垂直入射到異質(zhì)界面時(shí)，反射波與透過波聲能的分配比例取決于（ C ）A、界面兩側(cè)介質(zhì)的聲速B、界面兩側(cè)介質(zhì)的衰減系數(shù)C、界面兩側(cè)介質(zhì)的聲阻抗D、以上全部1.32在同一界面上，聲強(qiáng)透過率 T與聲壓反射率r之間的關(guān)系是（B ）A、T=r2B、T=1-r2C、T= 1+r D、T=1-r1.33在同一界面上聲強(qiáng)反射率 R與聲強(qiáng)透過率T之間的關(guān)系是（ D ）A、R+T=1

31、 B、T=1-R C、R=1-T D、以上全對(duì)1.34超聲波傾斜入射至異質(zhì)界面時(shí)，其傳播方向的改變主要取決于（ B ）A、界面兩側(cè)介質(zhì)的聲阻抗B、界面兩側(cè)介質(zhì)的聲速C、界面兩側(cè)介質(zhì)衰減系數(shù)D、以上全部1.35傾斜入射到異質(zhì)界面的超聲波束的反射聲壓與透射聲壓與哪一因素有關(guān)（ D ）A、反射波波型B、入射角度C、界面兩側(cè)的聲阻抗D、以上都是1.36縱波垂直入射水浸法超聲波探傷，若工件底面全反射，計(jì)算底面回波聲壓公式：（）T=4Z1Z2/（Z1+Z2）21.37 一般地說，如果頻率相同，則在粗晶材料中穿透能力最強(qiáng)的振動(dòng)波型為（ B ）A、表面波 B、縱波C、橫波 D、三種波型的穿透力相同1.38不同

32、振動(dòng)頻率，而在鋼中有最高聲速的波型是：（A ）（在同一介質(zhì)中，波速與頻率無關(guān)）A、0.5MHz的縱波B、2.5MHz的橫波C、10MHz的爬波D、5MHz的表面波1.39在水/鋼界面上，水中入射角為17o,在鋼中傳播的主要振動(dòng)波型為（C答案為什么不是B呢）A、表面波 B、橫波C、縱波 D、B和C1.40當(dāng)超聲縱波由有機(jī)玻璃以入射角15o射向鋼界面時(shí)，可能存在（D ）A、反射縱波B、反射橫波C、折射縱波和折射橫渡D、以上都有1.41如果將用于鋼的 K2探頭去探測(cè)鋁（CFe=3.23km/s,CAl=3.10km/s）則K值會(huì)（B ）。A、大于2 B、小于2C、仍等于2 D、還需其它參數(shù)才能確定1

33、.42如果超聲縱波由水以20o入射到鋼界面，則在鋼中橫波折射角為（ A ）。A、約48oB、約24o C、39o D以上都不對(duì)1.43第一臨界角是：（C ）A、折射縱波等于90o時(shí)的橫波入射角B、折射橫渡等于90o時(shí)的縱波入射角C、折射縱波等于90o時(shí)的縱波入射角D、入射縱波接近口 0o時(shí)的折射角1.44第二臨界角是：（B ）A、折射縱波等于90o時(shí)的橫波入射角B、折射橫波等于90o時(shí)的縱波入射角C、折射縱波等于90o時(shí)的縱波入射角D、入射縱波接近90o對(duì)的折射角1.45要在工件中得到純橫波，探頭入射角a必須：（C ）A、大于第二臨界角B、大于第一臨界角C、在第一、第二臨界角之間D、小丁第二臨

34、界角1.46 一般均要求斜探頭楔塊材料的縱波速度小丁被檢材料的縱波聲速，因?yàn)橹挥羞@樣才有可能：（A）A、在工件中得到純橫波B、得到良好的聲束指C、實(shí)現(xiàn)聲束聚焦D、減少近場(chǎng)區(qū)的影響1.47縱波以20。入射角自水入射至鋼中，下圖中哪一個(gè)聲束路徑是正確的？ （ D ）劃因橫波不能在水中傳播1.48用入射角為52的斜探頭探測(cè)方鋼，下圖中哪一個(gè)聲束路徑是正確的？ （ D ）1.49直探頭縱波探測(cè)具有傾斜底面的鍛鋼件，下圖中哪一個(gè)聲束路徑是正確的?1.50第一介質(zhì)為有機(jī)玻璃（CL=2700m/s），第二介質(zhì)為銅（CL=4700m/s;Cs=2300m/s）則第皿臨界角為（B）A.四2700270。=逾三史

35、» % =sin商1700心 s一血T炎理D以上都不對(duì)27001.51用4MHz鋼質(zhì)保護(hù)膜直探頭經(jīng)甘油耦合后，對(duì)鋼試件進(jìn)行探測(cè)，若要得到最佳透聲效果，其耦臺(tái)層厚度為（甘油 CL=1920m/s） （ D ）A、1.45mmB、0.20mm C、0.7375mmD、0.24mm1.52用直探頭以水為透聲楔塊使鋼板對(duì)接焊縫中得到橫檢測(cè)，此時(shí)探頭聲束軸線相對(duì)丁探測(cè)面的傾角范圍為：（B ）A、14.7o27.7oB、62.3o75.3oC、27.2o56.7oD、不受限制1.53有一不銹鋼復(fù)合鋼板，不銹鋼復(fù)合層聲阻抗Z1,基體鋼板聲阻抗Z2,今從鋼板一側(cè)以2.5MHz直探頭直接接觸法探測(cè)，則

36、界面上聲壓透射率公式為：（C）1.54由材質(zhì)衰減引起的超聲波減弱 db數(shù)等?。海?A ）A、衰減系數(shù)與聲程的乘積B、衰減系數(shù)與深度的乘積C、&"（ H為衰減系數(shù)，s為聲程）D以上都不對(duì)1.55超聲波（活塞波）在非均勻介質(zhì)中傳播，引起聲能衰減的原因是：（D ）A、介質(zhì)對(duì)超聲波的吸收 B、介質(zhì)對(duì)超聲波的散射C、聲束擴(kuò)散 D、以上全部1.56斜探頭直接接觸法探測(cè)鋼板焊縫時(shí)，其橫波：（D ）A、在有機(jī)玻璃斜楔塊中產(chǎn)生B、從晶片上直接產(chǎn)生C、在有機(jī)玻璃與耦合層界面上產(chǎn)生D、在耦合層與鋼板界面上產(chǎn)生1.57制作凹曲面的聚焦透鏡時(shí)，若透鏡材料聲速為C1,第二透聲介質(zhì)聲速為 C2,則兩者材料

37、應(yīng)滿足如下關(guān)系：（A ）A、C1>C2B、C1<C2C、CI=C2D、Z1=Z21.58當(dāng)聚焦探頭聲透鏡的曲率半徑增大時(shí)，透鏡焦距將：（A ）A、增大 B、不變C、減小 D以上都不對(duì)1.59平面波在曲界面上透過情況，正確的圖是：（B ）A B聿多C|>C1 r* TJ C|>CjC DCi<C3Cj<Cj題1.59圖1.60以下關(guān)丁板波性質(zhì)的敘述，哪條是錯(cuò)誤的（ D ）A、按振動(dòng)方向分，板波可分為 SH波和蘭姆波，探傷常用的是蘭姆波B、板渡聲速不僅與介質(zhì)特性有關(guān)，而且與板厚、頻率有關(guān)C、板波聲速包括相速度和群速度兩個(gè)參數(shù)D、實(shí)際探傷應(yīng)用時(shí)，只考慮相速度.無須

38、考慮群速度1.61由材料晶粒粗大而引起的衰減屆丁（ B ）A、擴(kuò)散衰減B、散射衰減C、吸收衰減D、以上都是1.62與超聲頻率無關(guān)的衰減方式是（A ）（擴(kuò)散衰減只與波振面的形狀有關(guān)）A、擴(kuò)散衰減B、散射衰減C、吸收衰減D、以上都是1.63下面有關(guān)材料衰減的敘述，哪句話是錯(cuò)誤的；（D ）A、橫渡衰減比縱波嚴(yán)重B、衰減系數(shù)一般隨材料的溫度上升而增大C、當(dāng)晶粒度大丁波長(zhǎng)1/10時(shí)對(duì)探傷有顯著影響D、提高增益可完全克服衰減對(duì)探傷的影響2.1波束擴(kuò)散角是晶片尺寸和傳播介質(zhì)中聲波波長(zhǎng)的函數(shù)并且隨（ B ）A、頻率增加，晶片直徑減小而減小B、頻率或晶片直徑減小而增大C、頻率或晶片直徑減小而減小D、頻率增加，晶

39、片直徑減小而增大2.2晶片直徑D=20mm的直探頭，在鋼中測(cè)得其零幅射角為10o，該探頭探測(cè)頻率約為：（D ）A、2.5MHz B、5MHz C、4MHz D、2MHz2.3直徑中12mm晶片5MHz直探頭在鋼中的指向角是：（C ）A、56 B、3.5° C、6.8° D、2462.4 14mm 2.5MHz直探頭在鋼中近場(chǎng)區(qū)為：（B ）A、27mmB、21mmC、38mmD、以上都不對(duì)2.5上題探頭的非擴(kuò)散區(qū)長(zhǎng)度約為：（A ）A、35mmB、63mmC、45mmD、以上都不對(duì)2.6在非擴(kuò)散區(qū)內(nèi)大平底距聲源距離增大l倍，其回波減弱（D ）A、6db B、 12dbC、 3d

40、bD、 0db2.7利用球面波聲壓公式（P= Po兀2/4入）得到的規(guī)則反射體反射聲壓公式應(yīng)用條件是：（D ）A、SA 2Nte似正確B、SA 3NS本正確C、S» 6NE確D、以上都對(duì)2.8在超聲探頭遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)中：（B ）A、聲束邊緣聲壓較大B、聲束中心聲壓最大C、聲束邊緣與中心強(qiáng)度一樣D、聲壓與聲束寬度成正比2.9活塞波聲場(chǎng)，聲束軸線上最后一個(gè)聲壓極大值到聲源的距離稱為（ A ）A、近場(chǎng)長(zhǎng)度 B、未擴(kuò)散區(qū) C、主聲束 D、超聲場(chǎng)2.10下列直探頭，在鋼中指向性最好的是（ C ）A、2.5P20Z B、3P14Z C、4P20ZD、5P14Z2.11下面有關(guān)擴(kuò)散角的敘述-哪一條是錯(cuò)誤的

41、（B ）A、用第一零輻射角表示B、為指向角的一半C、與指向角相同D、是主聲束輻射錐角之半2.12超聲場(chǎng)的未擴(kuò)散區(qū)長(zhǎng)度（ C ）A、約等丁近場(chǎng)長(zhǎng)度B、約等丁近場(chǎng)長(zhǎng)度0.6倍C、約為近場(chǎng)長(zhǎng)度1.6倍 D、約等丁近場(chǎng)長(zhǎng)度3倍2.13遠(yuǎn)場(chǎng)范圍的超聲波可視為（C ）A、平面波B、柱面波 C、球面波 D、以上都不對(duì)2.14在探測(cè)條件相同的情況下面積比為 2的兩個(gè)平底孔，其反射波高相差（ A ）A、6dBB、12dB C、9dB D、3dB2.15在探測(cè)條件相同的情況下，孑L徑比為 4兩個(gè)球形人工缺陷，其反射波高相差（ B ）A、6dB B、l2dB C、24dBD、8dB2.16在探測(cè)條件相同的情況下，直

42、徑比為 2的兩個(gè)實(shí)心圓柱體，其曲底面同波相差（ C ）A、12dB B、9dB C、6dB D、3dB ;2.17夕卜徑為D,內(nèi)徑為d的實(shí)心圓柱體，以相同的靈敏度在內(nèi)壁和外圓探測(cè)，如忽略耦合差異，貝U底 波高度比為（D ）2.18同直徑的平底孔在球面波聲場(chǎng)中距聲源距離增大1倍則回波減弱：（B ）A、6dbB、 12db C、 3dbD、 9db2.19同直徑的長(zhǎng)橫孔在球面波聲場(chǎng)中距離聲源距離增大1倍回波減弱（答案是A，但是覺得應(yīng)該是D）A、6dbB、12dbC、 3dbD、9db2.20在球面波聲場(chǎng)中B平底距聲源距離增大1倍回波減弱：（A ）A、6dbB、12dbC、 3dbD、9db2.21

43、對(duì)于柱面波，距聲源距離增大1倍，聲壓變化是：（D ）A、增大6db B、減小6db C、增大3db D、減小3db2.22對(duì)于球面波，距聲源距離增大1倍，聲壓變化是：（B ）A、增大6db B、減小6db C、增大3db D、減小3db2.23比3mm平底孔回波小7db的同聲程平底孔直徑是：（B ）A、 1mm B、 2mmC、 4mm D、 0.5mm 2.24比3mm長(zhǎng)橫孔反射小7db的同聲程長(zhǎng)橫孔直徑是（A ）A、 0.6mm B、 1mmC、 2mm D、 03mm2.25以下敘述中哪一條不是聚焦探頭的優(yōu)點(diǎn)（C ）A、靈敏度高B、橫向分辨率高C、縱向分辨周D、探測(cè)粗晶材料時(shí)信噪比周2.

44、26以下敘述中，哪一條不是聚焦探頭的缺點(diǎn)（C ）A、聲束細(xì)，每次掃查探測(cè)區(qū)域小，效率低B、每只探頭僅適宜探測(cè)某一深度范圍缺陷，通用性差C、由于聲波的十涉作用和聲透鏡的球差，聲束不能完全匯聚一點(diǎn)D、以上都是3.1 A型掃描顯示中，從熒光屏上直接可獲得的信息是：（C ）A、缺陷的性質(zhì)和大小B、缺陷的形狀和取向C、缺陷回波的大小和超聲傳播的時(shí)問D、以上都是3.2 A型掃描顯示， 盲區(qū)”是指：（C ）A、近場(chǎng)區(qū) B、聲束擴(kuò)散角以外區(qū)域C、始脈沖寬度和儀器阻塞恢復(fù)時(shí)間D、以上均是3.3 A型掃描顯小中，熒光屏上垂直顯小大小表?。海ˋ ）A、超聲回波的幅度大小B、缺陷的位置C、被探材料的厚度D、超聲傳播時(shí)

45、間3.4 A型掃描顯示中，水平基線代表：（C ）A、超聲回波的幅度大小B、探頭移動(dòng)距離C、聲波傳播時(shí)間D、缺陷尺寸大小3.5脈沖反射式超聲波探傷儀中，產(chǎn)生觸發(fā)脈沖的電路單元叫做（ C ）A、發(fā)射電路 B、掃描電路 C、同步電路 D、顯示電路3.6脈沖反射超聲波探傷儀中，產(chǎn)生時(shí)基線的電路單元叫做（ A ）A、掃描電路 B、觸發(fā)電路 C、同步電路 D、發(fā)射電路3.7發(fā)射電路輸出的電脈沖，其電壓通?？蛇_(dá)（ A ）A、幾白伏到上千伏 B、幾十伏 C、幾伏D、1伏3.8發(fā)射脈沖的持續(xù)時(shí)間叫：（A ）A、始脈沖寬度B、脈沖周期C、脈沖振幅D、以上都不是3.9 探頭上標(biāo)的2.5MHz是指：（B ）A、重復(fù)頻

46、率 B、工作頻率C、觸發(fā)脈沖頻率D、以上都不對(duì)3.10影響儀器靈敏度的旋紐有：（D ）A、發(fā)射強(qiáng)度和增益旋紐B、衰減器和抑制C、深度補(bǔ)償D、以上都是3.11儀器水平線性的好壞直接影響：（C ）A、缺陷性質(zhì)判斷B、缺陷大小判斷C、缺陷的精確定位D、以上都對(duì)3.12儀器的垂直線性好壞會(huì)影響：（A）A、缺陷的 當(dāng)量 比較B、AVG曲線面板的使用C、缺陷的定位D、以上都對(duì)3.13接收電路中，放大器輸入端接收的同波電壓約有（ D ）A、幾白伏 B、100V左右 C、10V左右 D、0.0011V3.14同步電路每秒鐘產(chǎn)生的觸發(fā)脈沖數(shù)為（ B ）A、l2個(gè) B、數(shù)十個(gè)到數(shù)千個(gè)C、與工作頻率相同D、以上都不

47、對(duì)3.15調(diào)節(jié)儀器面板上的 抑制”旋鈕會(huì)影響探傷儀的（D ）A、垂直線性 B、動(dòng)態(tài)范圍C、靈敏度 D、以上全部3.16放大器的不飽和信號(hào)高度與缺陷面積成比例的范圍叫做放放大器的（ B ）A、靈敏度范圍B、線性范圍C、分辨力范圍 D、選擇性范圍3.17單晶片直探頭接觸法探傷中，與探測(cè)面十分接近的缺陷往往不能有效地檢出，這是因?yàn)椋?（C ）A、近場(chǎng)十?dāng)_ B、材質(zhì)衰減C、盲區(qū) D、折射3.18同步電路的同步脈沖控制是指：（D ）A、發(fā)射電路在單位時(shí)間內(nèi)重復(fù)發(fā)射脈沖次數(shù)B、掃描電站每秒鐘內(nèi)重復(fù)掃描次數(shù)C、探頭晶片在單位時(shí)間內(nèi)向工件重復(fù)幅射超聲波次數(shù)D、以上全部都是3.19表示探傷儀與探頭組合性能的指標(biāo)

48、有：（B ）A、水平線性、垂直線性、衰減器精度B、靈敏度余量、盲區(qū)、遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力C、動(dòng)態(tài)范圍、頻帶寬度、探測(cè)寬度D、垂直極限、水平極限、重復(fù)頻率3.20使儀器得到滿幅顯示時(shí) Y軸偏轉(zhuǎn)板工作電壓為80V，現(xiàn)晶片接收到的缺陷信號(hào)電壓為 40mv,若 要使此缺陷以50%垂直幅度顯示，儀器放大器應(yīng)有多大增益量？ （ C ）A、74dB B、66dB C、60dB D、80dB3.21脈沖反射式超聲波探傷儀同步脈沖的重復(fù)頻率決定著：（C ）B、掃描速度（A ）施加的脈沖寬度的函數(shù)D、以上都不對(duì)）（頻帶寬度大，則脈沖越窄，分辨力越好）B、與頻帶寬度成正比D、以上都不對(duì)（B ）B、儀器分辨力降低，但超聲強(qiáng)度增

49、大D對(duì)試驗(yàn)無影響A、掃描長(zhǎng)度B、掃描速度C、單位時(shí)間內(nèi)重復(fù)掃描次數(shù)D、鋸齒波電壓幅度3.22壓電晶片的基頻是： A、晶片厚度的函數(shù)B、C、放大器放大特性的函數(shù) 3.23探頭的分辨力：（B A、與探頭晶片直徑成正比 C、與脈沖重復(fù)頻率成正比 3.24當(dāng)激勵(lì)探頭的脈沖幅度增大時(shí)： A、儀器分辨力提高 C、聲波穿透力降低 3.25探頭晶片背面加上阻尼塊會(huì)導(dǎo)致：（D ） （Qm值降低，盲區(qū)減?。?A、Qm值降低.靈敏度提高B、Qm值增大，分辨力提高C、Qm值增大，盲區(qū)增大D、Qm值降低，分辨力提高3.26為了從換能器獲得最高靈敏度：（C ） A、應(yīng)減小阻尼塊 B、應(yīng)使用大直徑晶片 C、應(yīng)使壓電晶片在它

50、的共振基頻上激勵(lì)D、換能器頻帶寬度應(yīng)盡可能大3.27超聲試驗(yàn)系統(tǒng)的靈敏度：（A ）A、取決于探頭高頻脈沖發(fā)生器和放大器B、取決于同步脈沖發(fā)生器C、取決于換能器機(jī)械阻尼D、隨分辨力提高而提高3.28換能器尺寸不變而頻率提高時(shí)：（C ） A、橫向分辨力降低B、聲束擴(kuò)散角增大C、近場(chǎng)長(zhǎng)度增大D、指向性變鈍3.29 一般探傷時(shí)不使用深度補(bǔ)償是因?yàn)樗鼤?huì)：（B ）A、影響缺陷的精確定位B、影響AVG曲線或當(dāng)量定量法的使用C、導(dǎo)致小缺陷漏撿D、以上都不對(duì)3.30晶片共振波長(zhǎng)是晶片厚度的（A ）A、2 倍B、1/2 倍 C、l 倍 D、4 倍3.31 已知PZT-4的頻率常數(shù)是2000m/s, 2.5MHz的

51、PZT-4晶片厚度約為：（A） （N = t f0）A、0.8mmB、l.25mm C、1.6mm D、0.4mm3.32在毛面或曲面工件上作直探頭探傷時(shí)，應(yīng)使用： （B ）A、硬保護(hù)膜直探頭B、軟保護(hù)膜直探頭C、大尺寸直探頭D、局頻直探頭3.33目前工業(yè)超聲波探傷使用較多的壓電材料是：（C ）A、石英 B鈦酸徹C、皓鈦酸鉛D硫酸鋰3.34聯(lián)合雙直探頭的最主要用途是：（A ）A、探測(cè)近表面缺陷B、精確測(cè)定缺陷長(zhǎng)度C、精確測(cè)定缺陷高度D、用于表面缺陷探傷3.35超聲波探傷儀的探頭晶片用的是下面哪種材料：（C ）A、導(dǎo)電材料B磁致伸縮材料C、壓電材料D磁性材料3.36下面哪種材料最適宜做高溫探頭：

52、（D ）A、石英B、硫酸鋰C、錯(cuò)鈦酸鉛D、錠酸鋰3.37下面哪種壓電材料最適宜制作高分辨率探頭：（C ）A、石英 B皓鈦酸鉛C、偏錠酸鉛D、鈦酸徹3.38下列壓電晶體中哪一種作高頻探頭較為適宜（ B ）A、鈦酸徹（CL=5470m/s）B、錠酸鋰（CL=7400m/s）C、PZT （CL=4400m/s）D、鈦酸鉛（CL=4200m/S）3.39表示壓電晶體發(fā)射性能的參數(shù)是（ C ）A、壓電電壓常數(shù)g33B、機(jī)電耦合系數(shù)KC、壓電應(yīng)變常數(shù)d33D、以上全部3.40以下關(guān)于爬波探頭的敘述，哪一條是錯(cuò)誤的（ B ）A、爬波探頭的外形和結(jié)構(gòu)與橫渡斜探頭類似B、 當(dāng)縱波入射角大于或等于第二臨界角時(shí)，在

53、第二介質(zhì)中產(chǎn)生爬波（應(yīng)是以第一臨界角附近的角度）C、爬波用于探測(cè)表層缺陷D、爬波探測(cè)的深度范圍與頻率f和晶片直徑D有關(guān)。3.41窄脈沖探頭和普通探頭相比（D ）A、Q值較小 B、靈敏度較低C、頻帶較寬 D、以上全部3.42采用聲透鏡方式制作聚焦探頭時(shí)，設(shè)透鏡材料為介質(zhì)1,欲使聲束在介質(zhì)2中聚焦，選用平凹透鏡的條件是（C ）A、Zl>Z2B、C1 <C2C、C1 >C2 D、Z1<Zz3.43探頭軟保護(hù)膜和硬保護(hù)膜相比，突出優(yōu)點(diǎn)是（ C ）A、透聲性能好 B、材質(zhì)衰減小 C、有利消除耦合差異D、以上全部3.44以下哪一條，不屆于數(shù)字化智能超聲波探傷儀的優(yōu)點(diǎn)（ B ）A、檢

54、測(cè)精度高，定位定量準(zhǔn)確B、頻帶寬，脈沖窄C、可記錄存貯信號(hào)D、儀器有計(jì)算和自檢功能3.45以下哪一條，不屆于雙晶探頭的優(yōu)點(diǎn)（ A ）A、探測(cè)范圍大B、盲區(qū)小C、工件中近場(chǎng)長(zhǎng)度小D、雜波少3.46以下哪一條，不屆于雙晶探頭的性能指標(biāo)（D ）A、工作頻率B、晶片尺寸C、探測(cè)深度D、近場(chǎng)長(zhǎng)度3.47斜探頭前沿長(zhǎng)度和K值測(cè)定的兒種方法中，哪種方法精度最高：（A ）A、半圓試塊和橫孔法B、雙孔法C、直角邊法D、不一定，須視具體情況而定3.48超聲探傷系統(tǒng)區(qū)別相鄰兩缺陷的能力稱為（D ）A、檢測(cè)靈敏度B、時(shí)基線性C、垂直線性D、分辨力3.49用以標(biāo)定或測(cè)試超聲探傷系統(tǒng)的，含有模擬缺陷的人工反射體的金屆塊叫（ C ）A、晶體準(zhǔn)直器B、測(cè)角器C、參考試塊D、工件3.50對(duì)超聲探傷試塊材質(zhì)的基本要求是：（D ）A、其聲速與被探工件聲速基本一致B、材料中沒有超過2mm平底孔當(dāng)量的缺陷C、材料衰減不太大且均勻D、以上都是3.51 CSK-IIA試塊上的l X橫孔，在超聲遠(yuǎn)場(chǎng).其反射波高隨聲程的變化規(guī)律與（D ）相同。（平底孔、短橫孔、球孔孔徑一定時(shí)，聲壓變化隨距離變化一致）A、k值孔 B、平底孔 C、球孔D、以上B和C4.1采用什么超聲探傷技