培訓(xùn)體系節(jié)點(diǎn)特征分析NSA技術(shù)培訓(xùn)教材

1、培訓(xùn)體系）節(jié)點(diǎn)特征分析NSA 技術(shù)培訓(xùn)教材節(jié)點(diǎn)特征分析 NSA 技術(shù)培訓(xùn)課件目錄1 電子裝置故障診斷綜述2 特征分析 SA 技術(shù)概貌 物理特征及其最佳表述方式特征圖 ST3 特征圖示 ST 的基本原理和技術(shù)要素4 特征圖示 ST 關(guān)聯(lián)儀器簡介廉價(jià)實(shí)用的“多用特征圖示儀”5 特征分析 SA 基礎(chǔ)知識四種典型特征6 特征分析 SA 基本方法比較法經(jīng)驗(yàn)法7 用 ST 功能進(jìn)行電路診斷和元件測試7 1 掃描幅度 Vp 的選擇72 限流電阻 Rs 的選擇73 掃描頻率 Fs 的選擇7 4 使用 NST 的壹般方法和原則7 5 典型示范1電子裝置故障診斷綜述電子產(chǎn)品的故障排除是個(gè)復(fù)雜的問題，往往是讓人頭疼

2、。大批量的生產(chǎn)過程能夠使用昂 貴的大型自動化于線測試設(shè)備，但仍然有壹些特殊故障需要人來處理；于產(chǎn)品開發(fā)、售后維 修和小批量生產(chǎn)過程中，更須水平相當(dāng)?shù)募夹g(shù)人員憑借壹大堆各式各樣的測試設(shè)備和必要的 技術(shù)資料，采用“師傅帶徒弟”的傳統(tǒng)方法處理電子故障問題。電路診斷有三大要素：測試設(shè)備、技術(shù)資料和知識經(jīng)驗(yàn)。首先，就測試設(shè)備而言，世上 沒有能解決壹切問題的“全天候”儀器，要用各種各樣的儀器設(shè)備來應(yīng)付不同的問題?？墒?隨著科技的發(fā)展，電子產(chǎn)品日益多元化，要用的測試設(shè)備越趨向多樣化。其次，由于壹些廠 家“保密”的需要，技術(shù)資料難以得到。第三，有經(jīng)驗(yàn)的工程師更是“難覓” 。因此，“傳統(tǒng) 的方法”受到挑戰(zhàn)，壹些

3、新型測試手段應(yīng)運(yùn)而生，它們盡力解決以下新型問題： 電路圖等關(guān)聯(lián)資料難以得到； 技術(shù)人員缺乏經(jīng)驗(yàn)； 大批量生產(chǎn)中的特殊故障急需排除； 對廉價(jià)實(shí)用的“不加電于線測試”的迫切需求； 更進(jìn)壹步的聯(lián)網(wǎng)自動檢測的期盼。 綜觀電路診斷的方法，有“加電測試”和“不加電測試”倆種不同的方式。 所謂“ 加電測試 ”是指接通被測對象的電源，用電壓表、示波器、邏輯分析儀以及關(guān)聯(lián)的信 號源進(jìn)行測試。這里又有“靜態(tài)測試”和“動態(tài)測試”之分。 “靜態(tài)測試”較為簡便，僅靠 電壓表就可勝任，也無須過高的技術(shù)水平，但只能作電路靜態(tài)工作點(diǎn)的分析。盡管如此，不 少故障靠“靜態(tài)測試”就可查出。 “動態(tài)測試”能力很強(qiáng)，但必須有較強(qiáng)儀器陣

4、容、較高技 術(shù)水平以及詳盡圖紙資料的有力支持。所謂“ 不加電測試 ”是不對被測對象加電，用歐姆表（多用表）等廉價(jià)簡便的測試工具，靠 相應(yīng)的知識和經(jīng)驗(yàn)，對電路節(jié)點(diǎn)的“阻抗特性”進(jìn)行分析的簡便測試。顯然， “不加電測試” 的能力有限，然而，卻因?yàn)樗畠r(jià)簡便，成為絕大多數(shù)技術(shù)人員的首選。正因?yàn)槿绱耍瑫?上出現(xiàn)了不少用多用表診斷家電等電子產(chǎn)品的專著，由此可見“不加電測試”應(yīng)用之廣。著力于“不加電測試”技術(shù)的研究，意義重大。目前，重要的問題于于，怎樣提 高“不加電測試”的效力。經(jīng)分析研究，我們認(rèn)為， “不加電測試”的能力有限于于，目前多數(shù)人的測試手段，即 各種類型的多用表且不能施行完整意義的“阻抗特性

5、”測試，因?yàn)樗鼈冎荒軠y定其中的直流 電阻。好于全新的手段已經(jīng)誕生，本課件推薦的“特征分析” SA 技術(shù)可彌補(bǔ)這種不足， 實(shí)施真正的“阻抗特性”測試，使人們能增強(qiáng)“ 不加電測試 ”的能力。2 特征分析 SA 技術(shù)概貌特征分析顧名思義是以某種特征為依據(jù)來診斷電路，問題于于用什么來作為“特征” 。電路由元件組成。元件之間的交點(diǎn)就是圖論中所述的節(jié)點(diǎn)。失常的電路必定產(chǎn)出了 某些失常的節(jié)點(diǎn)。查找失常的節(jié)點(diǎn)，分析失常的原因，判明故障元件和錯(cuò)誤連接，是電路診 斷的有效方法。正常的節(jié)點(diǎn)應(yīng)該有其鮮明的特性表征。某種足以判明節(jié)點(diǎn)正常和否的特性表 征就可當(dāng)作該節(jié)點(diǎn)的特征 Signature 。對節(jié)點(diǎn)的特征進(jìn)行分析來查

6、找電路故障的方法， 就是 SA( SignatureAnalysis )，即“特 征分析”技術(shù)。特征分析 SA 有倆種：物理特征的分析和邏輯特征的分析。邏輯特征是數(shù)字邏輯電路節(jié)點(diǎn)獨(dú)有的特性表征。它是節(jié)點(diǎn)邏輯過程正常和否的表征。它 不僅僅和該節(jié)點(diǎn)自己的物理狀態(tài)關(guān)聯(lián)，而且和相應(yīng)系統(tǒng)的總體邏輯過程息息關(guān)聯(lián)。邏輯特征 是用特征字( SignatureWord )標(biāo)識的。 SW ( SignatureWord )是該節(jié)點(diǎn)的邏輯序列之壓 縮結(jié)果四位 16 進(jìn)制數(shù)字，即壹個(gè)“字” ( Word )。這種數(shù)“字”就是數(shù)字電路節(jié)點(diǎn)的邏 輯特征。美 國 HP 公司首創(chuàng)了邏輯 特征測試儀器 SignatureAna

7、lyser 和 SignatureMulti-meter 。作為該公司的標(biāo)準(zhǔn)， HP 關(guān)聯(lián)產(chǎn)品中均已配置了測試驅(qū)動程序，產(chǎn) 品電路圖的關(guān)聯(lián)節(jié)點(diǎn)上標(biāo)有各自的特征字 SW ，以便用上述儀器進(jìn)行診斷測試。國內(nèi)外仍有 壹些廠商也生產(chǎn)此類儀器。因?yàn)樗鼈兊膽?yīng)用必須有能于被測對象中運(yùn)行的驅(qū)動程序來配合， 所以有很大的局限性。和此相反，物理特征的分析卻沒有這方面的局限，甚至于被測對象無 須加電。由于 SignatureAnalyser 已被此類儀器作為名稱，物理特征分析便被有的人稱為 ASA ( AnalogSignatureAnalysis )，以示區(qū)別。本課件所述 SA 技術(shù)只涉及電路節(jié)點(diǎn)的物理特征的分析

8、。物理特征及其最佳表述方式特征圖 ST 物理特征是電路節(jié)點(diǎn)物理狀態(tài)正常和否的表征，它只和該節(jié)點(diǎn)自身的阻抗特性關(guān)聯(lián)。無 論模擬電路或數(shù)字電路，電路中的每個(gè)節(jié)點(diǎn)均應(yīng)有各自的物理特征。物理特征的分析， 有人稱之為 ASA ( AnalogSignatureAnalysis )，即“模擬特征分析” 我們認(rèn)為， 稱其為 NSA ( NodalSignatureAnalysis)，即“節(jié)點(diǎn)特征分析” 更為合適。 此外，也有人稱其為“ V-I 曲線分析” 。無論怎樣叫它，物理特征均是以特征圖(SignatureTrace )作為標(biāo)識。ST( SignatureTrace )即特征圖，是目前所知最簡潔、最直觀

9、的方式，即最好的表述方 式。ST 其實(shí)就是該節(jié)點(diǎn)的電壓 -電流關(guān)系曲線，即該節(jié)點(diǎn)的阻抗特性曲線。我們就是用這種 曲線圖作為電路節(jié)點(diǎn)的物理特征。ST( SignatureTrace )也可解釋為特征圖示，是儀器設(shè)備的壹種測試功能。ST 功能就是測試電路節(jié)點(diǎn)的物理特征且將測試結(jié)果以曲線圖的方式描繪出來。 ST 功能既適用于模擬電 路，也適用于數(shù)字電路；既適用于分立元件，也適用于集成電路。3 特征圖示 ST 的基本原理和技術(shù)要素特征圖示 ST 用于實(shí)施電路節(jié)點(diǎn)的特征分析 SA。ST 的工作原理如下圖所示。電路節(jié)點(diǎn)的特征分析，即 SA 是壹種于線的( In-Circuit )、不加電的 (Powero

10、ff) 故障診 斷技術(shù)。它以正弦掃描電壓通過壹限流電阻對被測對象產(chǎn)生激勵(lì)，引發(fā)電路節(jié)點(diǎn)上的響應(yīng)， 即電流依電壓的變化而變化。對選定的電路節(jié)點(diǎn)，激勵(lì)條件確定時(shí)，其響應(yīng)即 Signature 是 唯壹確定的；響應(yīng)即 Signature 如有變異，意味著電路節(jié)點(diǎn)特性的變異，這必定是電路元件 損傷或電路結(jié)構(gòu)變化(短路或斷線)所致。這種測試?yán)砟詈头椒ㄓ兄诩夹g(shù)人員找出已經(jīng)損 傷或即將損傷的元件。儀器的特征圖示功能 ST 能夠產(chǎn)生這種激勵(lì)且采測電路節(jié)點(diǎn)上的響應(yīng)，測得數(shù)據(jù)以曲線 形式即 Signature 顯示于 CRT 或 LCD 顯示器上。電路節(jié)點(diǎn)的阻抗特性是電路的固有特性，不會依外部條件而改變，可是，

11、特征圖 ST 卻 會因激勵(lì)條件的不同而顯現(xiàn)不同。 激勵(lì)條件取決于正弦掃描信號參數(shù)和限流電阻數(shù)值。因此，電路節(jié)點(diǎn)的特征圖 ST 必然是掃 描幅度 Vs、掃描頻率 Fs和限流電阻 Rs 三者的函數(shù)，即：ST=ST (Vs， Fs，Rs)這就是說，掃描幅度 Vs、掃描頻率 Fs和限流電阻 Rs是影響特征圖 ST 的三個(gè)基本要素。測 試時(shí)，須對三者選擇合適的數(shù)值，以得到盡可能明顯適用的特征圖ST。4 特征圖示 ST 關(guān)聯(lián)儀器簡介采用 SA 技術(shù)的電路診斷儀器設(shè)備，有專用設(shè)備和兼?zhèn)湓O(shè)備倆類。美國的 HUNTRON 公司是最早的專用設(shè)備制造商，從單獨(dú)的臺式儀器到自動化的工作 站有壹系列的產(chǎn)品。 已有三十多

12、年歷史。 隨后， TEKTRONIX 公司推出了具有 ST 功能的示波 器前端附件 TR210 。前幾年， FLUKE 公司于其新型圖形多用表 867B 型 GMM 中加入了具 有 ST 功能的“元件測試”功能。英國的 PolarInstruments 公司生產(chǎn) ST 專用設(shè)備。 此外，國內(nèi)外的壹些集成電路于線測試儀中附加了稱為“ V-I 測試”的 ST 功能。他們中包括 “海洋儀器”等倆三家北京的民營儀器制造商。上述產(chǎn)品價(jià)格均很昂貴， 于 ST 專用設(shè)備中， 價(jià)格最低的示波器附件 TR210 售價(jià)也要 14800 元。那些兼?zhèn)?ST 功能的集成電路于線測試儀則需數(shù)萬乃至拾幾萬元。附帶 ST

13、功能的 FLUKE867B 型 GMM 最便宜，也要賣七八千元。這些昂貴的設(shè)備很難讓特征分析 SA 技術(shù)“平民化” 。廉價(jià)實(shí)用的“多用特征圖示儀”GM128A 型多用特征圖示儀 SignatureTraceMultimeter 是具有較強(qiáng) ST 功能的壹種新 型多用表。它是壹種廉價(jià)實(shí)用的便攜式智能數(shù)字多用表。它于普通數(shù)字多用表的基礎(chǔ)上增加 了“電壓示波” 、“邏輯示波” 、“晶體管特性圖示” 、“特征圖示 ST”等四種圖形功能， 數(shù)據(jù)可 存儲可傳輸。其專利技術(shù)和強(qiáng)勁軟件使昂貴的 SA 技術(shù)得以“平民化” 。GM128ASignatureTraceMultimeter 售價(jià)千元，性能價(jià)格比很高。

14、GM128A 型多用特征圖示儀是兼?zhèn)湫偷?ST 測試工具，將傳統(tǒng)多用表的電壓、電流、電 阻測量功能和“電壓示波” 、“晶體管特性圖示” 、“邏輯示波” 、“邏輯探頭”、“頻率測量”等 等集于壹身，最適于維修人員現(xiàn)場使用。5 特征分析 SA 基礎(chǔ)知識四種典型特征所有的電路節(jié)點(diǎn)特征（ Signature ）均是由電阻、電容、電感和二極管（ P-N 結(jié)）等四 種基本元件的典型特征構(gòu)成的。理解這些基本的典型特征，能夠簡化復(fù)雜特征的分析。因?yàn)?任何復(fù)雜的器件或電路均是這四種元件的組合，它們的特征圖中必定包含這四種典型特征的 “痕跡”。于 ST 儀器的顯示屏上（圖 1 ），將電壓顯示于水平方向，電流顯示于

15、垂直方向。開路時(shí) 沒有電流，畫出壹水平線（圖 2 ）。短路時(shí)電流最大，畫出壹垂直線（圖3 ）。電阻是電壓和電流的比率常數(shù)， 它的特征圖就是壹條傾斜的直線 （圖 4），傾斜角度正比于電阻值。 開路時(shí)的水平線 （圖 2 ）和短路時(shí)垂直線 （圖 3 ），其實(shí)是電阻特征圖的倆個(gè)特例。同壹被測電阻選用儀器內(nèi)部限流電阻的不同量程， 呈現(xiàn)出不壹樣的特征圖 （圖 5 ），說明了選 擇合適的限流電阻量程十分必要。原則上應(yīng)選用最接近被測電阻值的限流量程。電容是“慣性元件” ，會引起電流對電壓的“超前” ，即產(chǎn)生所謂的“相移” ，因此，它的特征圖是壹個(gè)軸長正比于電容量的橢圓或圓圖 6 ）。電容對頻率十分敏感， 選用

16、不同的測電感是另壹種“慣性元件” ，會引起電流對電壓的“滯后” ，它的特征圖是壹個(gè)軸長正比于電感量的傾斜橢圓 （圖 8 ）。圖形的傾斜說明它有數(shù)值可觀的導(dǎo)線電阻，傾斜程度和此電阻成正比。由于電感中的電阻通常較小，測試時(shí)應(yīng)選小的 Rs 量程。電感同樣對頻率敏感，對 測試頻率 Fs 的選擇，以圖形鮮明為準(zhǔn)。二極管是最簡單的半導(dǎo)體器件，它單向?qū)щ姡@種特性使其特征圖成為正交的“折線” 和水平軸重合的水平線表示反向電流為零， 垂直線表示大于導(dǎo)通電壓 （硅管為 0.6V ）的正電 壓作用下電流很大（圖 9）。復(fù)雜或合成的特征，是這四種基本典型特征的組合。 例如，集成電路是晶體管（二極管的化合物） 、電阻

17、、電容構(gòu)成的。從集成電路顯示出 的特征就是合成的特征。這些器件內(nèi)置雙向保護(hù)電路，顯示的特征圖ST 中間是水平線，其倆端連著上下倆條垂直線（圖 10 ）。這種特征圖很典型，被稱為“椅子圖” 。普通的齊納二極管也將顯示壹個(gè)“椅子圖”， 其第壹個(gè)垂線折拐點(diǎn)為 0.6V （硅器件的導(dǎo)通電壓），第二個(gè)折拐點(diǎn)為齊納二極管的額定電壓 （圖 11 ）。由于電阻和電容的存于會導(dǎo)致集成電路特征圖的變化。例如 CMOS 集成電路內(nèi)部的電容導(dǎo)致它們的特征“椅子圖”背部呈 現(xiàn)壹個(gè)“環(huán)形” （圖 12 ）。以下是壹些常見的故障特征：1、于二極管或“椅子圖”上直線部分的彎曲或拐角變圓使我們能夠見到漏電流的存于 （圖 13

18、）。2、特征圖中的間隙指示電流通路有中斷存于。3、于完好的器件特征圖中不應(yīng)該出現(xiàn)的斜線部分指出有損壞的元件。4、于特征圖中電容性的“環(huán)形”的跳動、尺寸改變或形狀的變化指出其電介質(zhì)可能存 于問題。6 特征分析 SA 基本方法這里有倆種基本的 SA 方法：首先，大量普遍使用的是“比較法” 。這里你必須能訪問壹個(gè)已知完好的參考對象。 第二，是“經(jīng)驗(yàn)法” 。依靠你的知識經(jīng)驗(yàn)等等，偵測期望的特征。 我們將分別介紹每種方法，首先是最吸引人的比較法，大概有 95% 的情況要用到它。比較法這種方法是用壹個(gè)已知完好的參考對象和被測對象進(jìn)行對比。完好的參考對象可能是 下述的其中之壹：一、同類產(chǎn)品之間；二、相同的電

19、路板組件之間；三、同壹電路板組件上相同的電路單元或電路通道之間；四、壹個(gè)器件或集成電路上相同的單元或通道，如 74HC14 的六個(gè)反相器相互之間；五、CPU 、RAM 、ROM 、接口芯片等大規(guī)模集成電路的數(shù)據(jù) /地址總線上每條線之間；六、事先測得且存儲于儀器內(nèi)或保存于其它電腦中的“標(biāo)樣” 。 于缺乏資料和經(jīng)驗(yàn)的情況下，這種方法十分有用。經(jīng)驗(yàn)法 這種方法是憑借自己對被測電路的理解和經(jīng)驗(yàn)，加上前述四種典型特征圖的基礎(chǔ)知識， 來分析測得的特征圖，以判斷好壞。經(jīng)驗(yàn)是學(xué)習(xí)且積累起來的。要善于將測得的特征圖保存于儀器中作為“標(biāo)樣” ，且及時(shí) 轉(zhuǎn)存于電腦的“標(biāo)樣庫”中，編號整理，以備后用。如同用多用表的電

20、阻擋來檢查修理各種家用電器時(shí)壹樣，會有許多技巧，需要人們?nèi)ヌ?索積累。只要多用善用多交流， SA 技術(shù)和 ST 功能壹定會成為您的得力幫手。請留意下邊的 敘述中所涉及的技巧和經(jīng)驗(yàn)。7 用 ST 功能進(jìn)行電路診斷和元件測試于第 3 章中已經(jīng)指出，掃描幅度 Vs 、掃描頻率 Fs 和限流電阻 Rs 是影響特征圖 ST 的 三個(gè)基本要素。 測試時(shí)， 須對三者選擇合適的數(shù)值，以得到盡可能明顯適用的特征圖ST。這壹章先講壹下它們的選用原則，然后介紹使用 NST 的壹般方法、原則和典型范例。71 掃描幅度 Vs 的選擇各廠家的 ST 儀器設(shè)備對 Vs 的量程設(shè)置各不相同。于 GM128A 中有低（ L）、

21、中（ M ）、 高（ H ）三個(gè)量程可選。三個(gè)量程的激勵(lì)信號峰值分別為0.25V 、3V 、15V ，對絕大多數(shù)測試需求已可滿足。絕大多數(shù)情況下， 于測試由集成電路、 晶體管、 電阻、 電容等構(gòu)成的電路時(shí)先選用峰值為 3V 的 M 量程。如果檢查高于 3V 的穩(wěn)壓管等器件時(shí)，應(yīng)選用峰值為 15V 的 H 量程。若要“濾去” P-N 結(jié)的影響，或測試某種電感時(shí)，則應(yīng)選用峰值為 0.25V 的 L 量程。初用者，能夠于各個(gè)量程上試探性的測壹下。各種情況效果不同，但不會造成損壞。下面，圖 14 所示的范例，足以展示 Vs 的變化對特征圖 ST 的影響。72 限流電阻 Rs 的選擇各廠家的 ST 儀器

22、設(shè)備對 Rs 的量程設(shè)置也各不相同。于 GM128A 中限流電阻 Rs 有 100K 、10K 、1K、250 、10 （僅限于 Vs=0.25V ）等五種可選量程。原則上， 選用最接近被測節(jié)點(diǎn)間估計(jì)阻抗值的Rs。前述的圖 5 就是壹個(gè)例子。 無法作出估計(jì)時(shí)，可由大到小進(jìn)行試探，以圖形明顯適用為佳。測電感時(shí)，先選 10 （ Vs=0.25V ）進(jìn)行試探，必要時(shí)再加大 Rs。 若要顯現(xiàn)小電容的表現(xiàn)，應(yīng)選擇 100K 等較大的 Rs（同時(shí)選用較高的頻率） ，必要時(shí)可作適 當(dāng)調(diào)整。73 掃描頻率 Fs 的選擇掃描頻率 Fs 對“電抗性”元件的影響很大，對“電阻性”元件影響甚微。如果被測對 象中存于電

23、容、電感等“電抗性”元件，就需要選擇適當(dāng)?shù)腇s，以求最佳的特征圖形。于GM128A 特征多用表中，掃描頻率 Fs 有 4.8KHz 、 2.4KHz 、 200Hz 、 20Hz 和 2Hz 等五種 可選量程。原則上，電容或電感較大時(shí)選用較低的頻率Fs，反之選用較高的頻率 Fs?？傊ㄟ^試探以圖形明顯適用為準(zhǔn)。測試集成電路通常使用較低的頻率Fs。使用較高的頻率量程可能會因IC 中存于的電容 導(dǎo)致特征圖中出現(xiàn)環(huán)形。面，圖 15 所示的圖形，足以展示 Vs 、Fs、 Rs 三者的變化對特征圖 ST 產(chǎn)生的影響。于這里順便提壹下，特征分析法和特征圖示儀器于“電工學(xué)”和“電子線路”教學(xué)中的演示 作用

24、。從之上的講述不難見出， SA 和 ST 對電路工作的初學(xué)者是非常直觀的教學(xué)手段。通過 它們能夠加深對電路元件特性的認(rèn)識，使人們對電壓、電流和阻抗三者的關(guān)系有更全面更深 刻的理解。7 4 使用 NST 的壹般方法和原則NST ，即節(jié)點(diǎn)特征圖示儀器的主要功能是電路診斷，其次才是元件測試。這里著重講述用 NST 進(jìn)行電路診斷的壹般方法和原則。NST 的使用和普通多用表壹樣 簡便 。它們均是以“不加電”的“于線測試”來找毛病， 但效果大不相同。普通多用表只能測得電阻，而 NST 則可測的完整的阻抗特性，由此獲取 更多更全面的電路信息 。相信前面的講述已經(jīng)使你有了這種印象。NST 適合于所有的電路、

25、器件和各種封裝形式 。無論模擬電路仍是數(shù)字電路， 無論分立元件 仍是集成電路，無論直插式仍是貼片式，只要有端口有引線，就能用上NST 。NST 的使用，且不苛求使用者有較高的技術(shù)水平和較完備的技術(shù)資料 。即便缺乏專業(yè)知識、 沒有經(jīng)驗(yàn)甚至沒有任何技術(shù)資料，均不會妨礙你使用 NST 進(jìn)行電路診斷。相反，通過 NST 的使用，你能獲得知識和經(jīng)驗(yàn)。于電路診斷過程中，最麻煩的莫過于查找集成電路，尤其是引腳很多的 IC 中的毛病。 然而，經(jīng)驗(yàn)指出，于壹個(gè)有缺陷的 IC 中許多毛病出當(dāng)下它的輸入 / 輸出區(qū)域，往往表當(dāng)下 IC 的外部端子上，這就是所謂的“端口型故障” 。而端口上總會有特征顯現(xiàn)，因此，許多

26、IC 的 缺點(diǎn)可通過節(jié)點(diǎn)特征分析顯現(xiàn)出來。事實(shí)上，大多數(shù)電子電路中展示了 P-N 結(jié)獨(dú)有的特征圖形。無論多么復(fù)雜，于 IC 中數(shù) 量眾多的器件的結(jié)構(gòu)均基于這種簡單的 P-N 結(jié)。同時(shí)我們將發(fā)現(xiàn)，不管引腳的數(shù)量有多大， 于 IC 中僅僅只有少量幾種明顯不同的特征圖形。因此，是有規(guī)律可循的。許多數(shù)字電路含有成組的信號總線，用來且行地傳送數(shù)據(jù)或信號（例如， CPU 、 ROM 、 RAM 、I/O 接口等大規(guī)模集成電路的數(shù)據(jù) / 地址總線）。這些總線上的每條信號線通常顯示同 樣的特征。于測試復(fù)雜的 IC 時(shí)，這種安排很適合于使用 NST 的比較法。具體地說，每壹次完整的 NST 測試過程，大體上要作

27、三件事，即三個(gè)步驟： 第一、調(diào)整儀器 選擇量程 ；第二、連線目標(biāo) 探測節(jié)點(diǎn) ；第三、得出結(jié)果 分析判別 。首先， NST 的量程選擇涉及 Vs 、Fs、 Rs 三個(gè)參數(shù)，前面已有詳細(xì)敘述。簡而言之，大多數(shù) 情況下，于測試由集成電路、晶體管、電阻、電容等構(gòu)成的電路時(shí) Vs 先選用峰值為 3V 的 M 量程，測試頻率 Fs 為 20Hz ，限流電阻 Rs 為 10K 或 1K 。然后，依實(shí)測情況分別進(jìn)行 調(diào)整。其次 ，測試引線和普通多用表壹樣，通常只用紅黑倆條。于 NST 儀器上，將帶探針的紅色 測試線插入“ + ”插孔，帶“鱷魚夾”或探針的黑色測試線插入“-COM ”插孔。黑色引線應(yīng)該和被測電路的公共參考點(diǎn)相連，通常就連電路的接地端。用紅色的探針觸及被測節(jié)點(diǎn)， 即可觀測期望的特征。如有必要