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1、光學(xué)部品表面外觀標(biāo)準(zhǔn)(依據(jù)美國(guó)軍用標(biāo)準(zhǔn)MIL-O-13830B)2一.定義:表面缺陷標(biāo)準(zhǔn)表面缺陷標(biāo)準(zhǔn):依據(jù)美國(guó)軍用標(biāo)準(zhǔn)MIL-O-13830B用兩組數(shù)字表示表面缺陷大小。例如40/20(或40-20)前者限制劃痕大小,后者限制麻點(diǎn)大小。道子、亮路、傷、擦痕都統(tǒng)稱為劃痕。斑點(diǎn)、坑點(diǎn)、點(diǎn)子 都稱為麻點(diǎn)。規(guī)定長(zhǎng)與寬的比大于長(zhǎng)與寬的比大于4:1的為劃痕;長(zhǎng)與寬的比小于長(zhǎng)與寬的比小于4:1的為麻點(diǎn)。點(diǎn)子劃痕3當(dāng)元件的不同區(qū)域表面光潔度要求不一樣時(shí),等效直徑的計(jì)算以區(qū)域進(jìn)行:表面質(zhì)量要求高的內(nèi)區(qū)域其等效直徑以內(nèi)區(qū)域?yàn)闇?zhǔn)(如有效孔徑的區(qū)域),表面質(zhì)量要求低的外區(qū)域計(jì)算的是整體元件的等效直徑。劃痕點(diǎn)子A區(qū)20
2、-10B區(qū)80-50如左圖元件表面質(zhì)量要求不同,則在判定A區(qū)是否符合要求時(shí),應(yīng)取內(nèi)圓直徑進(jìn)行計(jì)算。而B區(qū)則取整個(gè)元件的圓直徑4三角的面積為(低高)/2=(a b)/2三角等效直徑DahD2長(zhǎng)方形面積=長(zhǎng)寬=a b長(zhǎng)方形的等效直徑DD面積=(D/2)2ab美軍標(biāo)規(guī)定對(duì)于非圓形元件其直徑取相等面積圓的直徑。abD2ahA區(qū):20-10B區(qū):80-503mm1mm4mm2mm對(duì)于長(zhǎng)方形元件(當(dāng)長(zhǎng)與寬的比5mm元件最大劃痕的長(zhǎng)度和超過超過元件直徑的1/4。所以元件不合格。不合格。60#劃痕長(zhǎng)3mm60#劃痕長(zhǎng)3mm左圖是看到的樣品(圖片是放大的不是實(shí)際尺寸)圖中的劃痕為20#,且長(zhǎng)度1/4D。對(duì)于表面
3、質(zhì)量要求20-10該產(chǎn)品不合格。但本次樣品未提出表面質(zhì)量要求,而是要大家自已決定光潔度等級(jí)。因此該產(chǎn)品劃痕可判為40#。73.當(dāng)元件存在最大劃痕,而最大劃痕的長(zhǎng)度之和未超過1/4D,要求所有級(jí)數(shù)的劃痕乘以劃痕長(zhǎng)度與元件直徑之比所得乘積之和,不得超過最大劃痕級(jí)數(shù)的一半。例:有一長(zhǎng)30mm寬10mm的元件,元件的表面質(zhì)量要求為6040,元件上有2條2mm的60#劃痕,3條4mm的40#劃痕。 它的等效直徑直徑為20mm 1/4D為1/420=5mm 最大劃痕的長(zhǎng)度和長(zhǎng)度和為: 2mm+2mm=4mm 4mm30;因此,元件不合格不合格。60#劃痕長(zhǎng)2mm40#劃痕長(zhǎng)4mm8如左圖所示的產(chǎn)品則20#
4、劃痕長(zhǎng)度0.7mm。10#劃痕長(zhǎng)度2mm對(duì)于表面質(zhì)量要求20-10該產(chǎn)品最大劃痕長(zhǎng)度1mm1/5。所有級(jí)數(shù)的劃痕乘以劃痕長(zhǎng)度與元件直徑之比所得乘積之和為:20 0.7/5+10 2/5=2.8+2=4.8606660;因此,元件不合格。不合格。左圖看到的樣品,圖片是放大的不是實(shí)際尺寸.圖中有20#劃痕長(zhǎng)度2.2mm。10#劃痕長(zhǎng)度7mm對(duì)于表面質(zhì)量要求20-10該產(chǎn)品不合格。對(duì)于表面質(zhì)量要求40-20則該產(chǎn)品所有級(jí)數(shù)乘以劃痕長(zhǎng)度與元件直徑之比所得乘積之和為:202.2/5+107/5=8.8+17=25.825.840。元件符合40-20105.當(dāng)元件質(zhì)量指標(biāo)要求劃痕等級(jí)為20或優(yōu)于此等級(jí)時(shí),
5、元件表面不準(zhǔn)有密集劃痕即在元件中任何一個(gè)6.35mm面積的區(qū)域,不允許有4條或4條以上的大等于10#劃痕。20mm左圖是看到的樣品,圖片是放大的不是實(shí)際尺寸.圖中有5條劃痕,該元件直徑為6mm;對(duì)于表面質(zhì)量要求20-10該產(chǎn)品不合格。對(duì)于表面質(zhì)量要求40-20則該產(chǎn)品所有級(jí)數(shù)乘以劃痕長(zhǎng)度與元件直徑之比所得乘積之和為:202.2/5+107/5=8.8+17=25.825.840元件不合格不合格。2.每20mm直徑上只允許有1個(gè)最大麻點(diǎn)。例:元件為20mm,質(zhì)量指標(biāo)要求為6040,元件有2個(gè)直徑0.4mm的麻點(diǎn)元件不合格不合格0.4mm的點(diǎn)子元件20mm內(nèi)有二個(gè)直徑0.4mm的點(diǎn)子,元件不合格.
6、元件20mm內(nèi)只有一個(gè)直徑0.4mm的點(diǎn)子,符合本條133.每20mm直徑上所有麻點(diǎn)直徑的總和不得超過最大麻點(diǎn)的2倍例: 40mm40mm的元件,質(zhì)量指標(biāo)要求為60-40,其中一個(gè)20mm的區(qū)域有40#點(diǎn)子一個(gè),20#點(diǎn)子一個(gè),10#點(diǎn)子一個(gè),同時(shí)在另一個(gè)20mm區(qū)域中,20#點(diǎn)子2個(gè),10#點(diǎn)子4個(gè),5#點(diǎn)子1個(gè)。 A區(qū)的麻點(diǎn)直徑的和:=40+20+10=70 80, B區(qū)不合格。因此元件不合格不合格。B區(qū)A區(qū)C區(qū)0.2mm左圖元件表面質(zhì)量要求60-40:A區(qū)麻點(diǎn)直徑和為10+10+20=4080.C區(qū)麻點(diǎn)直徑和為20 2+10=5080.B區(qū)不合格該元件不合格。14左圖是本次樣品,圖片是放
7、大的不是實(shí)際尺寸.有1個(gè)5#點(diǎn)子,1個(gè)3#點(diǎn)子。(但然這些點(diǎn)子有可能擦掉就看不到了這里只是作為例子來說明)。這產(chǎn)品如果不考慮兩點(diǎn)間距可以判定點(diǎn)子為級(jí)數(shù)5。為什么?因?yàn)楫a(chǎn)品只有1個(gè)最大點(diǎn)子5#,而所有的點(diǎn)子之和為0.05+0.03=0.080.1(5#點(diǎn)子的兩倍),所有點(diǎn)子可判定為級(jí)數(shù)5#。154.當(dāng)麻點(diǎn)質(zhì)量要求為10或更優(yōu)等級(jí)時(shí),任何兩個(gè)麻點(diǎn)的間距必須大于大于1mm1mm。例:元件40mm40mm的元件,質(zhì)量指標(biāo)要求為20-10,有兩個(gè)5#的點(diǎn)子,點(diǎn)子之間的距離為0.8mm.0.8mm1mm元件不合格不合格0.05mm的點(diǎn)子距離0.8mm左圖是本次樣品,圖片是放大的不是實(shí)際尺寸.有1個(gè)5#點(diǎn)子,1個(gè)3#點(diǎn)子。是上面的例子,剛才將它判定為5#,但對(duì)于5#級(jí)數(shù)兩點(diǎn)間距必須大于1mm,因此元件不符合要求,所有本元件的點(diǎn)子只能判為20#。165.5.小于小于2.5um2.5um的麻點(diǎn)略去不計(jì)的麻點(diǎn)略去不計(jì)。圖為放大圖為放大50倍顯微鏡觀察到倍顯微鏡觀察到2.5um的麻點(diǎn)的麻點(diǎn)(相當(dāng)于相當(dāng)于0.12mm比正常比正常10#麻點(diǎn)大一些麻點(diǎn)大一些)此麻點(diǎn)可略去不計(jì)!此麻點(diǎn)可略去不計(jì)!6. 當(dāng)出現(xiàn)如圖所示密集麻點(diǎn)時(shí)以麻點(diǎn)聚集的外圍圈徑為麻點(diǎn)大小。當(dāng)出現(xiàn)如圖所示密集麻點(diǎn)時(shí)以麻點(diǎn)聚集的外圍圈徑為麻點(diǎn)大小。以圖中外圓為麻點(diǎn)大小,如果超過表面質(zhì)量要求以圖中外圓為麻點(diǎn)大
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