環(huán)境檢驗(yàn)儀器設(shè)備校正及維護(hù)指引

1、.環(huán)境檢驗(yàn)儀器設(shè)備校正及維護(hù)指引一、目的本指引係提供做為環(huán)境檢驗(yàn)室在進(jìn)行環(huán)境樣品檢測(cè)工作時(shí)，須配合辦理相關(guān)儀器設(shè)備校正及維護(hù)之執(zhí)行依據(jù)。二、適用範(fàn)圍環(huán)境檢驗(yàn)室在執(zhí)行空氣、水質(zhì)水量、飲用水、地下水、土壤、廢棄物、毒性化學(xué)物質(zhì)及環(huán)境用藥等檢測(cè)類別之樣品檢測(cè)工作時(shí)，應(yīng)依據(jù)本署公告相關(guān)檢測(cè)方法與本指引之規(guī)定，辦理相關(guān)儀器設(shè)備的校正及維護(hù)作業(yè)。三、儀器設(shè)備校正及維護(hù)規(guī)定 （一） 環(huán)境檢驗(yàn)室執(zhí)行環(huán)境檢測(cè)所需儀器設(shè)備之校正，分為外部校正與內(nèi)部校正兩類。外部校正係指必須委託已取得ISO/IEC 17025（CNS 17025）認(rèn)證之國(guó)內(nèi)外校正機(jī)構(gòu)辦理的校正作業(yè)；而內(nèi)部校正則可由環(huán)境檢驗(yàn)室本身自己執(zhí)行或委託檢驗(yàn)

2、室以外已取得ISO/IEC 17025（CNS 17025）認(rèn)證之國(guó)內(nèi)外校正機(jī)構(gòu)辦理校正。至於儀器設(shè)備的維護(hù)，則由環(huán)境檢驗(yàn)室視需求程度判定後，得委託原儀器設(shè)備製售廠商、授權(quán)代理商、其他有能力的維修廠商或自行辦理。各環(huán)境檢測(cè)儀器設(shè)備所需辦理校正及維護(hù)之週期與相關(guān)規(guī)定如附表。（二） 附表所列校正及維護(hù)之一般頻率規(guī)定，應(yīng)視為最低頻率或最長(zhǎng)的校正或維護(hù)期間，並係在預(yù)先假設(shè)儀器設(shè)備為良好狀況、有適當(dāng)保管、具足夠穩(wěn)定度，以及使用它的檢驗(yàn)室擁有能力及專業(yè)，可執(zhí)行檢查之狀況下的要求。當(dāng)儀器設(shè)備處在較不良之環(huán)境狀況時(shí)，得視需要將校正或維護(hù)期間縮短；而如懷疑儀器設(shè)備有問(wèn)題時(shí)，應(yīng)立即執(zhí)行再校正或維護(hù)之工作；且有些儀

3、器設(shè)備，例如精密天平等，經(jīng)維修或搬動(dòng)後，極可能會(huì)影響其精確性者，應(yīng)對(duì)其實(shí)施再檢查或再校正。（三） 檢驗(yàn)室應(yīng)製作儀器設(shè)備校正維護(hù)工作計(jì)畫（表）與年度儀器設(shè)備校正及維護(hù)查核表或建立同等功能之機(jī)制，據(jù)以落實(shí)執(zhí)行校正（維護(hù)）或再校正（維護(hù)）的工作。（四） 執(zhí)行檢測(cè)儀器設(shè)備之校正或維護(hù)後，應(yīng)製作紀(jì)錄建檔，包括校正或維護(hù)日期、校正或維護(hù)結(jié)果及其他之各種發(fā)現(xiàn)。（五） 所有儀器設(shè)備校正或維護(hù)的執(zhí)行步驟，應(yīng)參考儀器設(shè)備使用手冊(cè)內(nèi)之指示、依接受委託辦理校正或維護(hù)之已取得ISO/IEC 17025（CNS 17025）認(rèn)證的校正機(jī)構(gòu)之執(zhí)行規(guī)定或參考附表建議標(biāo)準(zhǔn)或文件的規(guī)定辦理。四.參考資料（一） 行政院環(huán)境保護(hù)署，

4、環(huán)境保護(hù)署公告之各環(huán)境檢測(cè)方法。（二） 行政院環(huán)境保護(hù)署， “環(huán)境檢驗(yàn)測(cè)定機(jī)構(gòu)檢驗(yàn)室品質(zhì)系統(tǒng)基本規(guī)範(fàn)”，中華民國(guó)九十二年九月。（三） National Association of Testing Authorities (NATA), ISO/IEC 17025 Field Application Document：Supplementary Requirements for Accreditation in the Field of Chemical Testing, Version 1, 2005.（四） Annual Books of ASTM Standards, ASTM Inte

5、rnational.*;附表、 儀器設(shè)備校正及維護(hù)週期與相關(guān)規(guī)定序號(hào)儀器設(shè)備名稱校正或維護(hù)別校正或維護(hù)週期校正或維護(hù)項(xiàng)目標(biāo)準(zhǔn)或參考物件校正維護(hù)步驟與相關(guān)規(guī)定參考資料1砝碼(Masses)(1) 參考砝碼（不銹鋼或鎳鉻合金製）(2) 工作砝碼（不銹鋼或鎳鉻合金製）外部校正內(nèi)部校正最初使用後三年，以後每六年校正一次。三年質(zhì)量質(zhì)量參考砝碼2溫度計(jì)1.參考溫度計(jì)（liquid-in-glass）2.工作溫度計(jì)（liquid-in-glass）（1） 外部校正（2）內(nèi)部校正內(nèi)部校正十年六個(gè)月(1) 初次使用前(2) 六個(gè)月完整的校正冰點(diǎn)多點(diǎn)溫度校正(1) 冰點(diǎn)(2) 單點(diǎn)溫度 參考溫度計(jì)參考溫度計(jì)參考溫

6、度計(jì)冰點(diǎn)檢查用參考溫度計(jì)做溫度檢查（包含冰點(diǎn)及選擇足夠的檢查點(diǎn)以涵蓋使用範(fàn)圍）使用參考溫度計(jì)做冰點(diǎn)或使用範(fàn)圍內(nèi)之單點(diǎn)檢查ASTM E2251，E77USEPA Method 5ASTM E2251，E77ASTM E2251，E77 Ref.A工作熱電偶(Working thermocouples)內(nèi)部校正六個(gè)月多點(diǎn)溫度檢查參考熱電偶或溫度計(jì)使用參考熱電偶或適當(dāng)之溫度計(jì)做多點(diǎn)溫度檢查ASTM E2251，E77 Ref.A4玻璃器皿1.玻璃器皿（含玻璃量瓶、玻璃移液管、玻璃滴定管等）內(nèi)部校正參考NIEA-PA106 （附有證書之A級(jí)品初次使用前不需校正）標(biāo)示體積NIEA-PA 1062.活塞操

7、作定容裝置 (piston operated)(1) 自動(dòng)移液器(Pipettes)(2) 分液器(Dispensers)(3)自動(dòng)滴定管(Burettes)內(nèi)部校正 內(nèi)部校正內(nèi)部校正（1）初次使用前（2）三個(gè)月同自動(dòng)移液器（1）初次使用前（2）每六個(gè)月及當(dāng)內(nèi)管或外筒(barrel / plunger)換新時(shí)標(biāo)示體積標(biāo)示體積標(biāo)示體積標(biāo)示體積標(biāo)示體積檢查器示最大值；對(duì)可調(diào)整移取體積者，至少檢查器示最大值與其他2個(gè)設(shè)定之移取體積。同上或至少檢查使用時(shí)所設(shè)定之移取體積同自動(dòng)移液器檢查器示最大值與其他2個(gè)設(shè)定之移取體積同上ISO 8655-2 ISO 8655-6ISO 8655-5 ISO 8655

8、-6ISO 8655-3 ISO 8655-6儀器設(shè)備校正及維護(hù)週期與相關(guān)規(guī)定序號(hào)儀器設(shè)備名稱校正或維護(hù)別校正或維護(hù)週期校正或維護(hù)項(xiàng)目標(biāo)準(zhǔn)或參考物件校正維護(hù)步驟與相關(guān)規(guī)定參考資料5瞬間與累積流量計(jì)1.參考浮子流量計(jì)(1) 高流量（1L/分）(2) 低流量（1L/分）2. 工作浮子流量計(jì)3.孔口板(Orifice plates)4.溼式流量計(jì) (Wet test meters)5.風(fēng)速計(jì)(Anemometers)6.皮托管(Pitot tubes)7.乾式氣體流量計(jì)(Gas meters)內(nèi)部校正內(nèi)部校正內(nèi)部校正（1）外部校正（2） 檢查維護(hù)內(nèi)部校正外部校正內(nèi)部校正或維護(hù)二年二年每次使用前初次使

9、用時(shí)六個(gè)月二年二年（1）初次使用時(shí)（2）採(cǎi)樣前二年流量流量流量體積皮托管係數(shù)皮托管係數(shù)（以風(fēng)洞校正或確認(rèn)構(gòu)造特性）體積溼式流量計(jì)或參考乾式流量計(jì)用肥皂流量計(jì)校正用肥皂流量計(jì)校正小孔流量計(jì)目視檢查是否損壞或污染檢查方向及尺寸吻合性 檢查是否有損壞、堵塞等ASTM D3195ASTM D3195ASTM D3195Ref. BASTM D1071EPA Method 5EPA Method 2Ref. AASTM D1071EPA Method 56氣壓計(jì)(Barometers)(1) Fortin barometers(2) Aneroid Barometers(Mechanic and ele

10、ctronic)外部校正內(nèi)部校正五年六個(gè)月 多點(diǎn)壓力刻度大氣壓校正Fortin barometers ASTM D3631, EPA Method 23ARef.A7壓力計(jì)(Manometer)(1) 參考?jí)毫τ?jì)（liquid）(2) 工作壓力計(jì)（liquid）(3) 電子式（Electronic）（1） 外部校正（2）內(nèi)部校正內(nèi)部校正內(nèi)部校正十年三年三年一年壓力刻度壓力刻度數(shù)位讀值參考?jí)毫τ?jì)參考?jí)毫τ?jì)同時(shí)檢查液體之清潔度同時(shí)檢查液體之清潔度ASTM D3631Ref.AASTM D3631Ref.AASTM D3631Ref.A8壓力表與真空表(Pressure and vaccum gau

11、ges)(1) 參考?jí)毫Ρ?2) 工作壓力表外部校正內(nèi)部校正一年一年刻度參考?jí)毫Ρ鞟STM D1356Ref.A儀器設(shè)備校正及維護(hù)週期與相關(guān)規(guī)定序號(hào)儀器設(shè)備名稱校正或維護(hù)別校正或維護(hù)週期校正或維護(hù)項(xiàng)目標(biāo)準(zhǔn)或參考物件校正維護(hù)步驟與相關(guān)規(guī)定參考資料9游標(biāo)卡尺(Micrometer)（手上型）內(nèi)部校正六個(gè)月（或使用前）零點(diǎn)、單點(diǎn)及Anvils（卡尺外觀）情形對(duì)照計(jì)塊(gauge blocks)Ref. A10塊規(guī)(Gauge blocks)(1) 參考?jí)K規(guī)(2) 工作計(jì)塊外部校正內(nèi)部校正四年二年尺寸參考?jí)K規(guī)11吸氣嘴內(nèi)部校正六個(gè)月內(nèi)徑游標(biāo)卡尺Ref. A12冰箱檢查維護(hù)每日溫度專用溫度計(jì)使用專用且經(jīng)

12、校正之溫度計(jì)（或適當(dāng)溫度檢測(cè)器），監(jiān)視使用空間的溫度並記錄之。13BOD培養(yǎng)箱(BOD incubator)檢查維護(hù)使用期間溫度高低溫溫度計(jì)檢查開(kāi)始測(cè)試時(shí)BOD培養(yǎng)箱之溫度及五天培養(yǎng)期間之最高與最低溫度。14培養(yǎng)箱檢查維護(hù)使用期間溫度專用溫度計(jì)使用專用且經(jīng)校正之溫度計(jì)（或適當(dāng)溫度檢測(cè)器），監(jiān)視培養(yǎng)箱內(nèi)部的溫度並記錄之，溫度需維持在1或在方法中可允許之範(fàn)圍。15高溫高壓滅菌釜檢查維護(hù)每月每季溫度滅菌功能經(jīng)校正之留點(diǎn)溫度計(jì)或連續(xù)溫度監(jiān)測(cè)裝置確認(rèn)滅菌時(shí)之最高溫度是否到達(dá)1211.以孢子滅菌指示瓶測(cè)試滅菌效果。2.記錄一次滅菌循環(huán)的溫度、壓力、時(shí)間及內(nèi)容物名稱。在進(jìn)行1215分鐘之滅菌時(shí)，滅菌釜內(nèi)的壓

13、力上升至15 lb/in2且溫度為100時(shí)起算至降回100時(shí)，整個(gè)循環(huán)應(yīng)在45分鐘內(nèi)完成。.16過(guò)濾設(shè)備（微生物濾膜法）內(nèi)部校正初次使用前及每一年標(biāo)示體積經(jīng)校正之量筒校正過(guò)濾漏斗之容量刻度，誤差不得超過(guò)2.5%。儀器設(shè)備校正及維護(hù)週期與相關(guān)規(guī)定序號(hào)儀器設(shè)備名稱校正或維護(hù)別校正或維護(hù)週期校正或維護(hù)項(xiàng)目標(biāo)準(zhǔn)或參考物件校正維護(hù)步驟與相關(guān)規(guī)定參考資料17無(wú)菌操作檯檢查維護(hù)每使用400小時(shí)每使用4000小時(shí)每季預(yù)濾網(wǎng)更換HEPA濾網(wǎng)更換落菌量測(cè)試以營(yíng)養(yǎng)瓊脂培養(yǎng)基於無(wú)菌操作檯內(nèi)暴露30分鐘，然後置於35培養(yǎng)箱培養(yǎng)24小時(shí)，如菌落數(shù)在5個(gè)以上需更換HEPA濾網(wǎng)。18乾燥烘箱(Oven)（1）外部校正（2）內(nèi)

14、部校正（3）檢查維護(hù)初次使用前二年使用時(shí)溫度溫度溫度熱電偶檢查溫度變化檢查烘箱內(nèi)使用位置之溫度變化以適當(dāng)?shù)臋z測(cè)器(Sensor)監(jiān)視溫度並記錄ASTM F2092ASTM F209219導(dǎo)電度計(jì)內(nèi)部校正(1) 使用前(2) 每年單點(diǎn)檢查全刻度檢查ASTM D112520pH計(jì)內(nèi)部校正使用前pH值(線性)標(biāo)準(zhǔn)緩衝溶液 以涵蓋待測(cè)樣品pH值之兩種標(biāo)準(zhǔn)緩衝溶液進(jìn)行校正APHA 4500-H21溶氧計(jì)內(nèi)部校正(1) 使用前(2) 每月單點(diǎn)檢查與Winkler titration做比較APHA 4500-O C22濁度計(jì)內(nèi)部校正(1) 使用前(2) 每年單點(diǎn)檢查(1)全刻度校正(2) 市售濁度標(biāo)準(zhǔn)品檢查

15、濁度標(biāo)準(zhǔn)品濁度標(biāo)準(zhǔn)品Formazin標(biāo)準(zhǔn)品使用適合預(yù)估樣品濁度的濁度標(biāo)準(zhǔn)品檢查其準(zhǔn)確度以適當(dāng)?shù)臐岫葮?biāo)準(zhǔn)品於各濁度範(fàn)圍進(jìn)行校正使用市售濁度標(biāo)準(zhǔn)品校正時(shí)，每年須以Formazin標(biāo)準(zhǔn)品進(jìn)行市售標(biāo)準(zhǔn)品的檢查比對(duì)。APHA 2130B23電子天平(Electronic balances)（1）外部校正（2）內(nèi)部校正三年(1) 每次稱量前(2) 一個(gè)月重複性與線性量測(cè)(1) 零點(diǎn)檢查(Zero check)(2) 刻度校正(One point check )經(jīng)校正之砝碼註：1.附內(nèi)藏校正檢查設(shè)備之天平也需做一個(gè)月與六個(gè)月的校正。如附電子天平內(nèi)部校正參考程序儀器設(shè)備校正及維護(hù)週期與相關(guān)規(guī)定序號(hào)儀器設(shè)備名稱

16、校正或維護(hù)別校正或維護(hù)週期校正或維護(hù)項(xiàng)目標(biāo)準(zhǔn)或參考物件校正維護(hù)步驟與相關(guān)規(guī)定參考資料23電子天平(Electronic balances)（2）內(nèi)部校正(3) 六個(gè)月(3) 重複性校正(Repeatability check)經(jīng)校正之砝碼2.具有多個(gè)稱量範(fàn)圍之電子天平，每一稱量範(fàn)圍皆需做一個(gè)月與六個(gè)月的校正。同上24分光光度計(jì)(Spectrophotometers)內(nèi)部校正(1) 使用前(2) 三個(gè)月檢量線製備波長(zhǎng)準(zhǔn)確度、吸光度、線性(Linearity)、迷光(Stray light)、樣品吸光槽配對(duì)(Matching of cells)之校正參考標(biāo)準(zhǔn)品 重鉻酸鉀與標(biāo)準(zhǔn)濾光片NIEA-PA1

17、03及各該廠牌儀器之使用手冊(cè)各該廠牌儀器之使用手冊(cè)25原子吸收光譜儀(Atomic absorption spectrophotometer)(1) 火焰式 內(nèi)部校正（1） 使用前（2） 三個(gè)月(1)檢量線製備(2)靈敏度靈敏度參考標(biāo)準(zhǔn)品以參考標(biāo)準(zhǔn)品監(jiān)測(cè)儀器性能，對(duì)較常用之燈管（含HCL與EDL）做靈敏度檢查。靈敏度檢查NIEA-PA103及各該廠牌儀器之使用手冊(cè)各該廠牌儀器之使用手冊(cè)各該廠牌儀器之使用手冊(cè)26(2) 石墨式內(nèi)部校正與維護(hù)(1) 使用前(1)檢量線製備(2)靈敏度(3)再現(xiàn)性參考標(biāo)準(zhǔn)品靈敏度檢查再現(xiàn)性檢查 NIEA-PA103及各該廠牌儀器之使用手冊(cè)(2) 每注射40至80次時(shí)

18、石墨管柱(Graphite cone) 與爐體內(nèi)面之清潔註：儀器無(wú)法保持預(yù)設(shè)原子化溫度時(shí)，更換石墨管，再現(xiàn)性必須保持在10以內(nèi)。各該廠牌儀器之使用手冊(cè)27感應(yīng)耦合電漿原子發(fā)射光譜儀(Inductively couple plasma atomic emission spectrophotometer)內(nèi)部校正使用前（1）檢量線製備（2）波長(zhǎng)校正（3）電漿狀況最佳化參考標(biāo)準(zhǔn)品依各該廠牌建議之Tuning solution 調(diào)校NIEA-PA103及各該廠牌儀器之使用手冊(cè)儀器設(shè)備校正及維護(hù)週期與相關(guān)規(guī)定序號(hào)儀器設(shè)備名稱校正或維護(hù)別校正或維護(hù)週期校正或維護(hù)項(xiàng)目標(biāo)準(zhǔn)或參考物件校正維護(hù)步驟與相關(guān)規(guī)定參考

19、資料28感應(yīng)耦合電漿質(zhì)譜儀(Inductively couple plasma / Mass Spectrometry)內(nèi)部校正使用前（1）檢量線製備（2）波長(zhǎng)校正（3）電漿狀況最佳化參考標(biāo)準(zhǔn)品依各該廠牌建議之Tuning solution 調(diào)校NIEA-PA103及各該廠牌儀器之使用手冊(cè)29氣相層析儀(Gas chromatography)內(nèi)部校正使用前檢量線查核用至少一點(diǎn)之標(biāo)準(zhǔn)溶液檢查檢量線NIEA-PA103及各該廠牌儀器之使用手冊(cè)30氣相層析質(zhì)譜儀內(nèi)部校正(1) 系統(tǒng)建置(2) 每批次樣品分析前(1) 質(zhì)譜儀質(zhì)量校正(2) 系統(tǒng)真空檢查質(zhì)譜儀調(diào)校狀態(tài)查核檢量線查核FC-43BFBDFT

20、PPTunning CheckAir/Water Check（1） BFB(for VOCs)Pass（2） DFTPP(for SVOC) Pass各該廠牌儀器之使用手冊(cè)各該廠牌儀器之使用手冊(cè)NIEA-PA103及各該廠牌儀器之使用手冊(cè)31吹氣捕捉儀內(nèi)部校正與維護(hù)(1) 每批次樣品分析前(2) 更換試劑水後（1） 溫度檢視（2） 壓力檢視（3） 試劑水存量檢查(手動(dòng)者免執(zhí)行)管路潤(rùn)洗檢視熱脫附Heater溫度檢視熱脫附表壓檢視試劑水位是否高於安全存量線H2O/Std Prime 作動(dòng)各該廠牌儀器之使用手冊(cè)32頂空進(jìn)樣儀內(nèi)部校正與維護(hù)每批次樣品分析前（1） 溫度檢視（2） 壓力檢視檢視Oven

21、 Heater溫度檢視氣體壓力各該廠牌儀器之使用手冊(cè)33高效能液相層析儀內(nèi)部校正每批次樣品分析前檢量線查核參考標(biāo)準(zhǔn)品使用檢量線中點(diǎn)進(jìn)行查核，若誤差在15%以內(nèi)，可沿用舊有的檢量線，否則重新建立檢量線。NIEA-PA103及各該廠牌儀器之使用手冊(cè)34液相層析儀/串聯(lián)式質(zhì)譜儀內(nèi)部校正每批次樣品分析前檢量線查核(1) 儀器故障維護(hù)是用PPG標(biāo)準(zhǔn)品(2) 例行性使用待測(cè)物標(biāo)準(zhǔn)品(1) 使用檢量線中點(diǎn)進(jìn)行查核，若誤差在15%以內(nèi)，可沿用舊有的檢量線，否則重新建立檢量線。(2) 重新建立新檢量線，R須大於0.99以上。NIEA-PA103及各該廠牌儀器之使用手冊(cè)儀器設(shè)備校正及維護(hù)週期與相關(guān)規(guī)定序號(hào)儀器設(shè)備

22、名稱校正或維護(hù)別校正或維護(hù)週期校正或維護(hù)項(xiàng)目標(biāo)準(zhǔn)或參考物件校正維護(hù)步驟與相關(guān)規(guī)定參考資料35膠滲透淨(jìng)化儀內(nèi)部校正(1) 一年(2) 每周(1)溶劑流速(2)自動(dòng)注射器抽取量GPC 校正電子天平(稱至0.001g)設(shè)定流速5 mL/min，以定量瓶收集管柱沖提液 10 分鐘，量測(cè)其體積在 45 至 55 mL 範(fàn)圍，來(lái)確定流速為4.5至5.5 mL/min。.樣品瓶裝4.0 mL溶劑，設(shè)定注射2.0 mL，計(jì)算實(shí)際注射量，誤差須0.5%。至少每週一次，GPC 校正溶液的 UV 圖譜與最後一次校正相比，滯留時(shí)間變動(dòng)必須小於 5%，若滯留時(shí)間變化超過(guò) 5% 時(shí)，則必須重複校正之過(guò)程。膠滲透淨(jìng)化法NI

23、EA M184.00C36微波萃取/消化系統(tǒng)內(nèi)部校正一年微波功率以廠商建議條件校正各該廠牌儀器之使用手冊(cè)37氣相層析高解析度質(zhì)譜儀(Gas chromatography / High Resolution Mass Spectrometry)內(nèi)部校正每批次儀器分析前（1）動(dòng)態(tài)解析度校正（10K）（2）層析管柱解析度（25）（3）監(jiān)測(cè)時(shí)間查核（4）檢量線查核（5）S/N ratioUSEPA Method 23備註：1.外部校正必須委託已取得ISO/IEC 17025（CNS 17025）認(rèn)證之國(guó)內(nèi)外校正機(jī)構(gòu)辦理校正。2.內(nèi)部校正則可由環(huán)境檢驗(yàn)室本身自行執(zhí)行或委託外部已取得ISO/IEC 170

24、25（CNS 17025）認(rèn)證之國(guó)內(nèi)外校正機(jī)構(gòu)辦理校正。3.Ref.A係指”Quality Assurance Handbook for Air Pollution Measurement Systems：Volume III, Stationary Sources Specific Methods, Quality Assurance Support Branch , Quality Assurance and Support Division, AREAL, US EPA, 1994.” 4. Ref.B係指”Quality Assurance Handbook for Air Pollu

25、tion Measurement Systems：Volume II, Ambient Air Specific Methods, Office of Research and Development, AREAL, US EPA, 1994.”10附件 電子天平內(nèi)部校正參考程序95年01月06日環(huán)署檢字第0950002461號(hào)公告自95年04月15日起實(shí)施NIEA-PA108附件一、 目的提供環(huán)境檢驗(yàn)室於執(zhí)行電子天平零點(diǎn)檢查、刻度校正及重複性校正時(shí)之參考依循。二、 適用範(fàn)圍凡環(huán)境檢驗(yàn)室所使用會(huì)影響檢測(cè)數(shù)據(jù)品質(zhì)之電子天平的內(nèi)部校正皆適用。三、 內(nèi)部校正週期與校正標(biāo)準(zhǔn)件來(lái)源校正項(xiàng)目校正標(biāo)準(zhǔn)校正週

26、期1.零點(diǎn)檢查無(wú)每次稱量前2.刻度校正經(jīng)校正之標(biāo)準(zhǔn)砝碼 每個(gè)月3.重複性校正經(jīng)校正之標(biāo)準(zhǔn)砝碼 （通常使用上述之砝碼）六個(gè)月【註】1）電子天平具有且會(huì)使用多個(gè)稱量範(fàn)圍（稱Delta Range）時(shí)，每一稱量範(fàn)圍均需做校正。2）電子天平每經(jīng)移動(dòng)或修復(fù)後，皆需做重複性校正。四、 內(nèi)部校正執(zhí)行步驟1.零點(diǎn)檢查：每次稱重前做零點(diǎn)檢查。2.刻度校正：每個(gè)月用接近天平最大稱重值或落於常用稱量範(fàn)圍之一稱重值的標(biāo)準(zhǔn)砝碼做單點(diǎn)讀值檢查（One point check of scale value），其步驟如下：（請(qǐng)將相關(guān)數(shù)據(jù)記錄於表一：天平刻度校正紀(jì)錄表）(1)天平顯現(xiàn)數(shù)值穩(wěn)定後，記錄零點(diǎn)讀值（z1）。(2)用砝

27、碼夾（或羊皮手套）將標(biāo)準(zhǔn)砝碼置放於秤盤上，稱重標(biāo)準(zhǔn)砝碼，並記錄為第一次稱重讀值（m1）。(3)用砝碼夾（或羊皮手套）將標(biāo)準(zhǔn)砝碼取出後，待天平顯現(xiàn)數(shù)值穩(wěn)定後（不必歸零），再用砝碼夾（或羊皮手套）將標(biāo)準(zhǔn)砝碼置放於秤盤上，稱重標(biāo)準(zhǔn)砝碼，記錄為第二次稱重讀值（m2）。(4)用砝碼夾（或羊皮手套）將標(biāo)準(zhǔn)砝碼取出後，待天平顯現(xiàn)數(shù)值穩(wěn)定後，記錄零點(diǎn)讀值（z2）。(5)依據(jù)紀(jì)錄表一中之公式計(jì)算刻度偏差值。【註】1）若天平有一個(gè)以上稱重範(fàn)圍時(shí)，每一稱重範(fàn)圍均需做單點(diǎn)讀值檢查。2）若天平有內(nèi)置砝碼內(nèi)校功能者，先做天平內(nèi)校正工作，再進(jìn)行刻度校正步驟。3.重複性校正：每六個(gè)月用接近天平最大稱重值或落於常用稱量範(fàn)圍之一

28、稱重值的標(biāo)準(zhǔn)砝碼（通常使用與刻度校正相同的砝碼）做重複性檢查（Repeatability check），其步驟如下：（請(qǐng)將相關(guān)數(shù)據(jù)記錄於表二：天平重複性校正紀(jì)錄表）(1)天平顯現(xiàn)數(shù)值穩(wěn)定後，記錄零點(diǎn)讀值（z1）。(2)用砝碼夾（或羊皮手套）將標(biāo)準(zhǔn)砝碼置放於秤盤上，稱重標(biāo)準(zhǔn)砝碼，並記錄於表二（m1）。(3)用砝碼夾（或羊皮手套）將標(biāo)準(zhǔn)砝碼取出。(4)重複步驟(1)(3)，共做10次重複性檢查並記錄於表二中。(5)依據(jù)紀(jì)錄表二中之公式計(jì)算標(biāo)準(zhǔn)偏差?！驹]】1）若天平有一個(gè)以上稱重範(fàn)圍時(shí)，每一稱重範(fàn)圍均需做重複性校正。2）若天平有內(nèi)置砝碼內(nèi)校功能者，先做天平內(nèi)校工作，再進(jìn)行重複性校正步驟。五、 內(nèi)部校

29、正結(jié)果之判定與處理：當(dāng)內(nèi)部校正結(jié)果出現(xiàn)下列狀況之一時(shí)，原則上，環(huán)境檢驗(yàn)室應(yīng)將該天平送請(qǐng)維修調(diào)整，並辦理再校正。惟檢驗(yàn)室主管仍可從是否持續(xù)符合使用需求之角度，來(lái)進(jìn)一步判定真否需要將該天平送請(qǐng)維修調(diào)整，並辦理再校正。(1)刻度校正偏差值大於最近一次天平外部校正中重複性測(cè)試之標(biāo)準(zhǔn)偏差的3倍值。(2)內(nèi)部重複性校正所得之新的標(biāo)準(zhǔn)偏差大於最近一次天平外部校正中重複性測(cè)試之標(biāo)準(zhǔn)偏差值的2倍值。表一天平刻度校正紀(jì)錄表廠牌：型號(hào)：最大稱重值：種類：（單盤式上皿式數(shù)字式“delta”範(fàn)圍）序號(hào)：放置地點(diǎn)：稱重範(fàn)圍：刻度分度：最小刻度：檢查日期：刻度偏差之測(cè)定：標(biāo)準(zhǔn)砝碼質(zhì)量（g）：M零點(diǎn)第一次讀值（g）：z1標(biāo)準(zhǔn)

30、砝碼第一次稱重讀值（g）：m1標(biāo)準(zhǔn)砝碼第二次稱重讀值（g）：m2零點(diǎn)第二次讀值（g）：z2C1M(m1z1)（g）C2M(m2z2)（g）刻度偏差值（g）【（C1C2）2】之絕對(duì)值前次外校標(biāo)準(zhǔn)偏差值（g）【註】天平校正數(shù)據(jù)是否符合使用者的需求？是否判定為合格之標(biāo)準(zhǔn)為：校正員： 檢驗(yàn)室主管：驗(yàn)算員：建議事項(xiàng)：表二天平重複性校正紀(jì)錄表廠牌：型號(hào)：最大稱重值：種類：（單盤式上皿式數(shù)字式“delta”範(fàn)圍）序號(hào)：放置地點(diǎn)：稱重範(fàn)圍：刻度分度：最小刻度：讀值之重複性：（每6個(gè)月檢查一次）檢查日期：標(biāo)準(zhǔn)砝碼質(zhì)量（M）：次數(shù)稱盤負(fù)載物稱重讀值（g）差值rimizi（g）1OMz1m1r12OMz2m2r23

31、OMz3m3r34OMz4m4r45OMz5m5r56OMz6m6r67OMz7m7r78OMz8m8r89OMz9m9r910OMz10m10r10平均值（g）前次外校標(biāo)準(zhǔn)偏差值（g）標(biāo)準(zhǔn)偏差：此時(shí)i1到10，rimizi，ri的平均值【註】天平校正數(shù)據(jù)是否符合使用者的需求？是否判定為合格之標(biāo)準(zhǔn)為：校正員： 檢驗(yàn)室主管：驗(yàn)算員：建議事項(xiàng)：六、 報(bào)告：範(fàn)例（一）表一天平刻度校正紀(jì)錄表廠牌：Satorius型號(hào)：R200D最大稱重值：200 g種類：delta（單盤式上皿式數(shù)字式“delta”範(fàn)圍）序號(hào)：0049-03放置地點(diǎn)：L209室稱重範(fàn)圍：0200 g刻度分度：42/205 g最小刻度：

32、0.00001/0.0001 g檢查日期：94.12.27刻度偏差之測(cè)定：標(biāo)準(zhǔn)砝碼質(zhì)量（g）：M190.00008零點(diǎn)第一次讀值（g）：z10.0000標(biāo)準(zhǔn)砝碼第一次稱重讀值（g）：m1189.9998標(biāo)準(zhǔn)砝碼第二次稱重讀值（g）：m2189.9999零點(diǎn)第二次讀值（g）：z20.0000C1M(m1z1)0.00028（g）C2M(m2z2)0.00018（g）刻度偏差值（g）【（C1C2）2】之絕對(duì)值0.00023前次外校標(biāo)準(zhǔn)偏差值（g）0.000085 【註】天平校正數(shù)據(jù)是否符合使用者的需求？是否判定為合格之標(biāo)準(zhǔn)為：刻度偏差值小於最近一次天平外部校正中重複性測(cè)試之標(biāo)準(zhǔn)偏差的3倍值。即0.000233 x 0.000085，所以判定為合格。校正員：王 94.12.27 檢驗(yàn)室主管：莊 94.12.28 驗(yàn)算員：郭 94.12.27建議事項(xiàng)：七、