手機可靠性測試程序

1、手機可靠性測試程序目的編制依據(jù)3執(zhí)行原則3適用范圍3術(shù)語、定義3主要職責(zé)3可靠性測試程序47.1. 力口速壽命測試 ALT (ACCELERATED LIFE TEST) 47.2. 氣候適應(yīng)性測試(CLIMATIC STRESS TEST) 67.3. 結(jié)構(gòu)耐久測試(MECHANICAL ENDURANCE TEST) 87.4. 表面裝飾測試(DECORATIVE SURFACE TEST) 117.5. 特殊條件測試 (SPECIAL STRESS TEST) 137.6. 他條件測試14最終檢驗15附錄：161目的作為產(chǎn)品質(zhì)量保證系統(tǒng)的一部分，可靠性測試程序?qū)⒘η筮_到以下目標(biāo)：1.1

2、在特定的可接受的環(huán)境下不斷的催化產(chǎn)品的壽命和疲勞度，評估產(chǎn)品的質(zhì)量 和可靠性；1.2 規(guī)范可靠性試驗(PRT)作業(yè)方法。2編制依據(jù)2.1 GB/T 2421-1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第一部分：總則2.2 GB/T 15844.2-1995移動通信調(diào)頻無線電話機環(huán)境要求和實驗方法2.3 GB/T 15844.3-1995移動通信調(diào)頻無線電話機可靠性要求及實驗方法2.4 GB/T 2423.1-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第1部分:實驗方法試驗A：低 溫2.5 GB/T 2423.1-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：實驗方法 試驗B： 高溫2.6 GB/T 2423.1-2001電工電子

3、產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:實驗方法試驗Ed： 自由跌落2.7 GB/T 2423.10-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：實驗方法試驗Fc 和導(dǎo)則：振動2.8 GB/T 2423.3-93電I：電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ca：恒定濕熱試驗 方法2.9 GB4943-2001信息技術(shù)設(shè)備的安全2.10 GB/T 17626.2-1998電磁兼容試驗和測量技術(shù)靜電放電抗擾度試公2.11 YD/T 1215-2002 GSM900/1800MHz TDMA數(shù)字蜂窩移動通信網(wǎng)通用分組無線業(yè)務(wù)(GPRS)設(shè)備測試方法：移動臺2.12 YD 1032-2000 GSM900/1800MHz TDMA數(shù)字

4、蜂窩移動通信系統(tǒng)電磁兼容 性限值和測量方法第一部分：移動臺及其設(shè)備2.13 信息產(chǎn)業(yè)部科技司移動電話機入網(wǎng)檢驗細則，2000年10月發(fā)布3執(zhí)行原則可靠性試驗程序及判斷標(biāo)準(zhǔn)，嚴(yán)格遵守此程序。4適用范圍適用于德信無線通信所屬公司所有研發(fā)手機產(chǎn)品。5術(shù)語、定義PRT： Product Reliability Test （產(chǎn)品可靠性測試）6主要職責(zé)6.1. 可靠性測試技術(shù)員6.1.1 產(chǎn)品可靠性具體測試任務(wù)的執(zhí)行、跟蹤；6.1.2 完成可靠性測試原始記錄并整理；6.1.3 實驗機器（測試設(shè)備）的口常維護：6.1.4 實驗室數(shù)據(jù)庫的管理。6. 2可靠性測試工程師6.1.1 定義項目/產(chǎn)品可靠性測試計劃6

5、.1.2 完成，跟蹤項目/產(chǎn)品可靠性測試測試結(jié)果；6.1.3 參與產(chǎn)品可靠性測試問題的分析及改進；6.1.4 制訂/修定可靠性測試程序及標(biāo)準(zhǔn)6.1.5 可靠性測試設(shè)備/儀器的開發(fā)6.1.6 可靠性實驗室測試設(shè)備/儀器的口常管理，維護。6.3 可靠性測試經(jīng)理 «Back»6.3.1 產(chǎn)品可靠性實驗室測試程序?qū)嵤┕芾?，實現(xiàn)過程的策劃6.3.2 產(chǎn)品可靠性測試項目開發(fā)，評審6.3.3 產(chǎn)品可靠性測試項目計劃，報告，文件的市發(fā)6.3.4 制訂測試程序文件，審核測試執(zhí)行文件6.3.5 可靠性測試程序及標(biāo)準(zhǔn)的擬定，評審，核發(fā)6.3.6 可靠性實驗室運行管理6.4 可靠性測試專員6.4.

6、1 受理研發(fā)部門的測試需求；6.4.2 負(fù)責(zé)跟蹤試驗的進度；6.4.3 對設(shè)計人員或可靠性測試人員的要求或問題等及時地傳達；6.5 編制、修改、評審、審批、更新職責(zé)可靠性實驗室編制、修改、及時更新和協(xié)調(diào)各公司質(zhì)量部人員評審本試驗程序， 由管理層審批。7.可靠性測試程序7.1. 加速壽命測試 ALT （Accelerated Life Test）樣機標(biāo)準(zhǔn)數(shù)量：PR1： 8 臺 PR2： 10 臺 PR3： 10 臺 PIR： 10 分試驗周期：1012天測試目的：通過連續(xù)的施加各種測試條件，加速產(chǎn)品的失效，提前暴露潛在問 題。試驗流程：見下圖，其中Thermal Shock和1st Drop測試

7、的時間間隔應(yīng)不超 過4小時；Temp/Humidity和2nd Drop測試的時間間隔應(yīng)不超過4小時。每項 測試完成都應(yīng)進行表而，外觀，結(jié)構(gòu)和功能檢查。（表面，外觀和結(jié)構(gòu)檢查參考 賽福同舟手機綜合檢驗標(biāo)準(zhǔn)QC3001;功能檢查參考附錄一。下叵J）。測試標(biāo)準(zhǔn)：«Back»7.1.1 室溫下參數(shù)測試(Parametric Test) 測試環(huán)境：室溫(20-25 C)； 測試目的：測試預(yù)檢查L測試方法：使用8960/8922測試儀，參照附件1 (下同)項目列表，對所有 樣品進行參數(shù)指標(biāo)預(yù)測試并保存測試結(jié)果。 測試標(biāo)準(zhǔn)：所有附件1中參數(shù)指標(biāo)正常，功能正常。7.1.2 溫度沖擊測試(

8、Thermal Shock)測試環(huán)境：低溫箱：30 C ；高溫箱：+70 C測試目的：通過高低溫沖擊進行樣品應(yīng)力篩選口試驗方法：使用高低溫沖擊箱，手機帶電池，設(shè)置成關(guān)機狀態(tài)先放置于高溫 箱內(nèi)持續(xù)45分鐘后，在15秒內(nèi)迅速移入低溫箱并持續(xù)45分鐘后，再15秒內(nèi) 迅速回到高溫箱。此為一個循環(huán)，共循環(huán)27次。實驗結(jié)束后將樣機從溫度沖擊 箱(高溫箱)中取出，恢復(fù)2小時后進行外觀、機械和電性能檢查。對于翻蓋手 機，應(yīng)將一半樣品打開翻蓋：對于滑蓋手機，應(yīng)將一半樣品滑開到上限位置。試驗標(biāo)準(zhǔn)：手機表面噴涂無異變，結(jié)構(gòu)無異常，功能正常，可正常撥打電話。7.1.3 跌落試驗(DropTest) 測試條件：1.5m

9、高度，20mm厚大理石地板。(對于PDA手機，根據(jù)所屬公 司質(zhì)量部門的建議可調(diào)整為跌落高度為1.3m) 測試目的：跌落沖擊試驗 試驗方法：將手機處于開機狀態(tài)進行跌落。對于直握手機，進行6個面的自 由跌落實驗，每個面的跌落次數(shù)為1次，每個面跌落之后進行外觀、結(jié)構(gòu)和功能 檢查。對于翻蓋手機，進行8個面的自由跌落實驗：其中一半樣品合上翻蓋按直 握手機的方法進行跌落，另一半樣品在跌正面和背面時須打開翻蓋：對于滑蓋手 機，應(yīng)將一半樣品滑開到上限位置。跌落結(jié)束后對外觀、結(jié)構(gòu)和功能進行檢查。 試驗標(biāo)準(zhǔn)：手機外觀，結(jié)構(gòu)和功能符合要求。7.1.4 振動試驗(Vibration Test)L測試條件：振幅：0.3

10、8mm/振頻：1030Hz:振幅：0.19mm/振頻：3055Hz：測試目的：測試樣機抗振性能試驗方法：將手機開機放入振動箱內(nèi)固定夾緊。啟動振動臺按X、丫、Z三個 軸向分別振動1個小時，每個軸振完之后取出進行外觀、結(jié)構(gòu)和功能檢查。三個 軸向振動試驗結(jié)束后，對樣機進行參數(shù)測試。匚試驗標(biāo)準(zhǔn)：振動后手機內(nèi)存和設(shè)置沒有丟失現(xiàn)象，手機外觀，結(jié)構(gòu)和功能符 合要求，參數(shù)測試正常，晃動無異響。7.1.5 濕熱試驗(HumidityTest) 測試環(huán)境：60 C, 95%RH 測試目的：測試樣機耐高溫高濕性能 試驗方法：將手機處于關(guān)機狀態(tài)，放入溫濕度實驗箱內(nèi)的架子上，持續(xù)60個 小時之后取出，常溫恢復(fù)2小時，然

11、后進行外觀、結(jié)構(gòu)和功能檢查。對于翻蓋手 機，應(yīng)將一半樣品合上翻蓋，一半樣品打開翻蓋；對于滑蓋手機，應(yīng)將一半樣品 滑開到上限位置。試驗標(biāo)準(zhǔn)：手機外觀，結(jié)構(gòu)和功能符合要求。7.1.6 靜電測試(ESD) «Back» 測試條件：+/4kV+/8kV。 測試目的：測試樣機抗靜電干擾性能 試驗方法：將樣機設(shè)置為開機狀態(tài)，檢查樣機內(nèi)存和功能。（內(nèi)存10條短信息和10個 電話號碼：使用功能正常）。將樣機放于靜電測試臺的絕緣墊上，并且用充電器 加電使手機處于充電狀態(tài)（樣機與絕緣墊邊緣距離至少2英寸：兩個樣機之間的 距離也是至少2英寸）。 打開靜電模擬器，調(diào)節(jié)放電方式，分別選擇+/4kV（

12、接觸放電），+/8kV （空 氣放電），對手機指定部位連續(xù)放電10次，并對地放電。每做完一個部位的測 試，檢查手機功能、信號和靈敏度，并觀察手機在測試過程中有無死機，通信鏈 路中斷，LCD顯示異常，自動關(guān)機及其他異?，F(xiàn)象。樣機需在與8922測試儀建立起呼叫連接的狀態(tài)下進行各個放電方式、級別和 極性的測試。 試驗標(biāo)準(zhǔn)：在+/4Kv和+/8Kv時出現(xiàn)任何問題都要被計為故障。備注：靜電釋放位置的確定要依據(jù)產(chǎn)品的具體情況進行定義。7.1.7 室溫下參數(shù)測試（ParametricTest） 測試環(huán)境：室溫（2025 C）； 測試目的：測試結(jié)束后參數(shù)對比 測試方法：使用8960/8922測試儀，參照附件1

13、項目列表，對所有樣品進行 參數(shù)指標(biāo)測試。r測試標(biāo)準(zhǔn)：所有附件1中參數(shù)指標(biāo)正常，功能正常。72氣候適應(yīng)性測試（Climatic Stress Test）樣品標(biāo)準(zhǔn)數(shù)量：一般氣候性測試4臺；惡劣氣候性測試2臺。共8臺。測試周期：7天。測試目的：模擬實際工作環(huán)境對產(chǎn)品進行性能測試測試流程：見下圖。一般氣候性測試惡劣氣候性測試測試程序： «Back»A： 一般氣候性測試：7.2.1. 高溫/低溫參數(shù)測試（ParametricTest） 測試環(huán)境：10 C/+55 C 測試目的：高溫/低溫應(yīng)用性性能測試試驗方法：將手機電池充滿電，手機處于開機狀態(tài)，放入溫度實驗箱內(nèi)的架 子上，調(diào)節(jié)溫度控

14、制器到-10 C/+55 Co持續(xù)2個小時之后在此環(huán)境下進行電 性能參數(shù)和功能檢查。對于翻蓋手機，應(yīng)將一半樣品合上翻蓋，一半樣品打開翻 蓋；對于滑蓋手機，應(yīng)將一半樣品滑開到上限位置。試驗標(biāo)準(zhǔn)：手機電性能參數(shù)指標(biāo)滿足要求，功能正常，外殼無變形。722.高溫高濕參數(shù)測試（ParametricTest） 測試環(huán)境：+45 C, 95%RH 測試目的：高溫高濕應(yīng)用性性能測試試驗方法：將手機電池充滿電，手機處于開機狀態(tài)，放入溫度實驗箱內(nèi)的架 子上。持續(xù)48個小時之后，然后在此環(huán)境下進行電性能檢查，檢查項目見附表 1o對于翻蓋手機，應(yīng)將一半樣品合上翻蓋，一半樣品打開翻蓋：對于滑蓋手機, 應(yīng)將一半樣品滑開到

15、上限位置。試驗標(biāo)準(zhǔn)：手機電性能指標(biāo)滿足要求，功能正常，外殼無變形。7.23 高溫/低溫功能測試(Functional Test) 測試環(huán)境：40 C/+70 C 測試目的：高溫/低溫應(yīng)用性功能測試 試驗方法：將手機處于關(guān)機狀態(tài)，放入溫度實驗箱內(nèi)的架子上。持續(xù)24個小 時之后，取出，并放置.2小時，恢復(fù)至常溫，然后進行結(jié)構(gòu)，功能和電性能檢查。 對于翻蓋手機，應(yīng)將一半樣品合上翻蓋，一半樣品打開翻蓋；對于滑蓋手機，應(yīng) 將一半樣品滑開到上限位置。 試驗標(biāo)準(zhǔn)：手機電性能指標(biāo)滿足要求，功能正常，外殼無變形。B：惡劣氣候性測試724.灰塵測試(DustTest) 測試環(huán)境：室溫 測試目的：測試樣機結(jié)構(gòu)密閉性

16、 試驗方法：將手機關(guān)機放入灰塵實驗箱內(nèi)?；覊m大小300目，持續(xù)3個小時 之后，將手機從實驗箱中取出，用棉布和離子風(fēng)槍清潔后進行檢查。對于翻蓋手 機，應(yīng)將一半樣品合上翻蓋，一半樣品打開翻蓋；對于滑蓋手機，應(yīng)將一半樣品 滑開到上限位置。匚試驗標(biāo)準(zhǔn)：手機各項功能正常，所有活動元器件運轉(zhuǎn)自如，顯示區(qū)域沒有明 顯灰塵。7.25 鹽霧測試(Salt fog Test) 測試環(huán)境：35 C 測試目的：測試樣機抗鹽霧腐蝕能力 試驗方法： 溶液含量：5%的氯化鈉溶液。將手機關(guān)機放在鹽霧試驗箱內(nèi)，合上翻蓋，樣機用繩子懸掛起來，以免溶液 噴灑不均或有的表面噴不到。L；樣機需要立即被放入測試箱。實驗周期是48個小時。

17、實驗過程中樣機不得被 中途取出，如果急需取出測試，要嚴(yán)格記錄測試時間，該實驗需向后延遲相同時間。取出樣機后，用棉布和離子風(fēng)槍清潔，放置48小時進行常溫干燥后，對其進 行外觀、機械和電性能檢查。 試驗標(biāo)準(zhǔn)：手機各項功能正常，外殼表面及裝飾件無明顯腐蝕等異?，F(xiàn)象。«Back»7.3. 結(jié)構(gòu)耐久測試(Mechanical Endurance Test)樣品標(biāo)準(zhǔn)數(shù)量：11臺?？跍y試標(biāo)準(zhǔn)：7.3.1. 按鍵測試(Keypad Test) 測試環(huán)境：室溫(20-25 C)； 測試目的：按鍵壽命測試 測試數(shù)量：2臺手機。測試方法：將手機設(shè)置成關(guān)機狀態(tài)固定在測試夾具上，導(dǎo)航鍵及其他任意鍵

18、進行10萬次按壓按鍵測試。進行到3萬次、5萬次、8萬次、10萬次時各檢查 手機按鍵彈性及功能一次。實驗中被測試的鍵的選擇根據(jù)不同機型進行確定并參 考工程師的建議，應(yīng)盡量不重復(fù)，盡可能多。 試驗標(biāo)準(zhǔn)：手機按鍵彈性及功能正常。7.32側(cè)鍵測試(Side Key Test) 測試環(huán)境：室溫(20-25 C)； 測試目的：側(cè)鍵壽命測試 測試數(shù)量：1臺手機L測試方法：將手機設(shè)置成關(guān)機狀態(tài)固定在測試夾具上，對側(cè)鍵進行10萬次按 壓按鍵測試。進行到3萬次、5萬次、8萬次、10萬次時各檢查手機按鍵彈性及功能一次。 試驗標(biāo)準(zhǔn)：手機按鍵彈性及功能正常。«Back»7.3.3. 翻蓋測試(Fli

19、p Life Test) 測試環(huán)境：室溫(20-25 C)； 測試目的：翻蓋壽命測試 測試數(shù)量：4臺手機。 測試方法：將手機設(shè)置成開機狀態(tài)，固定在測試夾具上，進行5萬次開合翻 蓋測試。進行到3萬次、4萬次、4. 5萬次、5萬次時進行手機翻蓋彈性及功能 一次。 試驗標(biāo)準(zhǔn)：5萬次后，手機外觀，結(jié)構(gòu)，及功能正常。7.3.4. 滑蓋測試(Slide Life Test)測試環(huán)境：室溫(20-25 C)；測試目的：滑蓋壽命測試二測試數(shù)量：4臺手機。測試方法：將手機設(shè)置成開機狀態(tài)，固定在測試夾具上，進行5萬次滑蓋測 試。進行到3萬次、4萬次、4. 5萬次、5萬次時進行手機滑蓋手感及功能一次。 試驗標(biāo)準(zhǔn)：5

20、萬次后，手機外觀，結(jié)構(gòu)，及功能正常，滑蓋不能有松動(建議: 垂直手機時不能有自動下滑的現(xiàn)象)7.3.5. 重復(fù)跌落測試(MicroQropTest)測試環(huán)境：室溫(20-25 C) ； 7cm高度，20mmPVC板 測試目的：樣機跌落疲勞測試 測試數(shù)量：2臺。 測試方法：手機處于開機狀態(tài)，做手機正面及背面的重復(fù)跌落實驗，每個面 的跌落次數(shù)為20,000次。進行到1萬次、1.5萬次、1.8萬次、2萬次時各檢查 對手機進行外觀、機械和電性能的中間檢查。 測試標(biāo)準(zhǔn)：手機各項功能正常，外殼無變形、破裂、掉漆，顯示屏無破碎， 晃動無異響。7.3.6. 充電器插拔測試(ChargerTest) 測試環(huán)境：

21、室溫(20-25 C)； 測試目的：充電器插拔壽命測試 測試數(shù)量：2臺手機。 試驗方法：將充電器接上電源，連接手機充電接口，等待手機至充電界面顯 示正常后，拔除充電插頭。在開機不插卡狀態(tài)下插拔充電3000次。進行到2000 次、2500次和3000次時進行中間/結(jié)束檢查一次。 檢驗標(biāo)準(zhǔn)：I/O接口無損壞，焊盤無脫落，充電功能正常。無異常手感。7.3.7. 筆插拔測試(Stylus Test) 測試環(huán)境：室溫(2025 C)； 測試目的：手機手寫筆插拔壽命測試 測試數(shù)量：2臺手機。試驗方法：將手機處于開機狀態(tài)，筆插在手機筆插孔內(nèi)，然后拔出，反復(fù)20, 000次。進行到1萬次、1萬5千次、1萬8千

22、次、2萬次時檢查手機筆插入拔 出結(jié)構(gòu)功能、外殼及筆是否正常。 檢驗標(biāo)準(zhǔn)：手機筆輸入功能正常，插入拔出結(jié)構(gòu)功能、外殼及筆均正常。 «Back»7. 3.8 點擊試驗(Point Activation Life Test)試驗條件：觸摸屏測試儀(接觸墊尖端半徑為3.75mm；硬度為40deg的硅 樹脂橡膠)測試目的：觸摸屏點擊壽命測試樣品數(shù)量：1臺口試驗方法：將手機設(shè)置為開機狀態(tài)，點擊LCD的中心位置250,000次，點擊 力度為250g：點擊速度：2次/秒；C檢驗標(biāo)準(zhǔn)：不應(yīng)出現(xiàn)電性能不良現(xiàn)象：表面不應(yīng)有損傷7. 3.9 劃線試驗(Lineation Life Test)口試驗

23、條件：觸摸屏測試儀，直徑為0.8mm的塑料手寫筆或隨機附帶的手寫筆 測試目的：觸摸屏劃線疲勞測試 樣品數(shù)量：1臺口試驗方法：將手機設(shè)置為關(guān)機狀態(tài)，在同一位置劃線至少100,000次，力度 為250g； 滑行速度：60mm/秒檢驗標(biāo)準(zhǔn)：不應(yīng)出現(xiàn)電性能不良現(xiàn)象：表面不應(yīng)有損傷7.3.10. 電池/電池蓋拆裝測試(Battery/Battery Cover Test) 測試環(huán)境：室溫(20-25 C)；測試目的：電池/電池蓋拆裝壽命測試 測試數(shù)量：2臺?？谠囼灧椒ǎ簩㈦姵?電池蓋反復(fù)拆裝2000次。進行到1500次、1800次和2000 次時檢查手機及電池/電池蓋各項功能、及外觀是否正常。 檢驗標(biāo)準(zhǔn)

24、：手機及電池卡扣功能正常無變形，電池觸片、電池連接器應(yīng)無下 陷、變形及磨損的現(xiàn)象，外觀無異常。7.3.11. SIM Card 拆裝測試(SIM Card Test) 測試環(huán)境：室溫(2025 C)；：測試目的：SIM卡拆裝壽命測試 測試數(shù)量：2臺手機。 試驗方法：插上SIM卡，然后取下SIM卡，再重新裝上，反復(fù)1000次，每 插拔100次檢查開機是否正常，讀卡信息正常。L檢驗標(biāo)準(zhǔn)：SIM卡觸片、SIM卡推扭開關(guān)正常，手機讀卡功能使用正常。7.3.12. 耳機插拔測試(Headset Test) 測試環(huán)境：室溫（20-25 C）； 測試目的：耳機插拔壽命測試 測試數(shù)量：2臺手機。 試驗方法：將

25、手機處于開機狀態(tài)，耳機插在耳機插孔內(nèi)，然后拔出，反復(fù)3000 次。進行至IJ 2000、2500次和3000次時各檢查一次。L檢驗標(biāo)準(zhǔn)：實驗后檢查耳機插座無焊接故障，耳機插頭無損傷，使用耳機通 話接收與送話無雜音（通話過程中轉(zhuǎn)動耳機插頭），耳機插入手機耳機插孔時不 會松動（可以承受得住手機本身的重量）。7.3.13. 導(dǎo)線連接強度試驗（Cable Pulling Endurance Test-Draft） «Back» 測試環(huán)境：室溫（20-25 C）； 測試目的：導(dǎo)線連接強度測試實驗方法：選取靠近耳塞的一段導(dǎo)線，將其兩端固定在實驗機上，用10N±1N 的力度持續(xù)

26、拉伸6秒，循環(huán)100次。（其它造型的導(dǎo)線可采納：程師的建議來 確定循環(huán)次數(shù)） 檢驗標(biāo)準(zhǔn)：導(dǎo)線功能正常。被覆外皮不破裂，變形。7.3.14. 導(dǎo)線折彎強度試驗（Cable Bending Endurance Test-Draft） 測試環(huán)境：室溫（2025 C）； 測試目的：導(dǎo)線折彎疲勞測試 實驗方法：分別選取靠近耳塞和靠近插頭的一段導(dǎo)線，將導(dǎo)線的兩端固定在 實驗機上，做0mm25mm做折彎實驗3000次。（其它造型的導(dǎo)線可采納匚程 師的建議來確定循環(huán)次數(shù)） 檢驗標(biāo)準(zhǔn)：導(dǎo)線功能正常被覆外皮不破裂，變形。7.3.15. 導(dǎo)線擺動疲勞試驗（Cable Swing Endurance Test-Dra

27、ft） 測試環(huán)境：室溫（20-25 C）； 測試目的：導(dǎo)線擺動疲勞測試 實驗方法:分別將耳機和插頭固定在實驗機上，用1N的力，以180的角度 反復(fù)擺動耳機末端3000次。（其它造型的導(dǎo)線可采納工程師的建議來確定循環(huán) 次數(shù)） 檢驗標(biāo)準(zhǔn)：導(dǎo)線功能正常被覆外皮不破裂。7.4 表面裝飾測試（Decorative Surface Test）測試周期：4天?？跇悠窐?biāo)準(zhǔn)數(shù)量：每種顏色6套外殼。測試流程：7.4.1. 磨擦測試（Abrasion Test - RCA） 測試環(huán)境：室溫（20-25 C）； 測試目的：印刷/噴涂抗摩擦測試 試驗方法：將最終噴樣品涂固定在RCA試驗機上，用175g力隊同一點進行 摩

28、擦試驗。每隔50次檢查樣品的表面噴涂。對于表面摩擦300cycles,側(cè)棱摩 擦150 Cycleso特殊形狀的手機摩擦點的確定由測試工程師和設(shè)計工程師共同 確定。檢驗標(biāo)準(zhǔn)：耐磨點涂層不能脫落，不可露出底材質(zhì)地（對尸噴涂、電鍍、IMD）；圖案或字體不能缺損、不清晰(對于絲印、按鍵)。7.4.2. 附著力測試(Coating Adhesion Test) «Back» 測試環(huán)境：室溫(20-25 C)； 測試目的：噴涂附著力測試匚試驗方法：選最終噴涂的手機外殼表面，使用百格刀刻出100個1平方毫米 的方格，劃格的深度以露出底材為止，再用3M610號膠帶紙用力粘貼在方格面, 1

29、分鐘后迅速以90度的角度撕脫3次，檢查方格面油漆是否有脫落。 檢驗標(biāo)準(zhǔn)：方格面油漆脫落應(yīng)小于3%,并且沒有滿格脫落。7.43汗液測試(Perspiration Test)測試環(huán)境：60 oC, 95%RH測試目的：表面抗汗液腐蝕能力匚試驗方法：把濾紙放于酸性(PH=2.6)溶液充分浸透，用膠帶將浸有酸性溶 液的濾紙粘在樣品噴漆表面，確保試紙與樣品噴漆表面充分接觸，然后放在測試 環(huán)境中，在24小時檢查一次，48小時后，將樣品從測試環(huán)境中取出，并且放置 2小時后，檢查樣品表面噴漆。匚檢驗標(biāo)準(zhǔn)：噴漆表面無變色、起皮、脫落、褪色等異常。7.4.4 .硬度測試(Hardness Test) 測試環(huán)境：室

30、溫(20-25 C)； 測試目的：表面噴涂硬度測試試驗方法：用2H鉛筆，在45度角下，以1Kg的力度在樣品表面從不同的方 向劃出35cm長的線條35條。 檢驗標(biāo)準(zhǔn)：用橡皮擦去鉛筆痕跡后，在油漆表面應(yīng)不留下劃痕。7.4.5 .鏡面摩擦測試(Lens Scratch Test) 測試環(huán)境：室溫(20-25 C)； 測試目的：鏡面抗劃傷測試試驗方法：用Scratch Tester將實驗樣品固定在實驗機上，用載重(load) 為500g的力在樣品表面往復(fù)劃傷50次。 檢驗標(biāo)準(zhǔn)：鏡面表面劃傷寬度應(yīng)不大于100pn (依靠目視分辨、參照缺陷限 度樣板)7.4.6 紫外線照射測試(UV illuminant

31、 Test) 測試環(huán)境：50 C 測試目的：噴涂抗紫外線照射測試L試驗方法：在溫度為50 C,紫外線為340W/mm的光線下直射油漆表面48 小時。試驗結(jié)束后將手機外殼取出，在常溫下冷卻2小時后檢查噴漆表面。 檢驗標(biāo)準(zhǔn)：油漆表面應(yīng)無褪色，變色，紋路，開裂，剝落等現(xiàn)象。7.5.特殊條件測試(Special Stress Test)樣品標(biāo)準(zhǔn)數(shù)量：4臺。«Back» 測試周期：1天。 測試標(biāo)準(zhǔn)：751.低溫跌落試驗(Low temperature Drop Test) 測試環(huán)境：10 C 樣機數(shù)量:3臺 測試目的：樣機低溫跌落測試試驗方法：將手機進行電性能參數(shù)測試后處于開機狀態(tài)放

32、置在-10 C的低溫 試驗箱內(nèi)1小時后取出，進行1.2米的6個面跌落，2個循環(huán)，要求3分鐘內(nèi)完 成跌落，方法同常溫跌落。檢驗標(biāo)準(zhǔn)：手機外觀，結(jié)構(gòu)，功能和電性能參數(shù)符合要求。7.5.2. 扭曲測試(Twist Test)測試環(huán)境樣機數(shù)量測試目的試驗方法室溫(20-25 C)；2臺抗扭曲測試將手機處于開機狀態(tài)，固定在扭曲試驗機上，用2N m力矩反復(fù)扭曲手機1000次。對于滑蓋手機，應(yīng)將一半樣品滑開到上限位置。檢驗標(biāo)準(zhǔn)：手機沒有變形，外觀無異常，各項功能正常。7.5.3. 坐壓測試(Squeeze Test)測試環(huán)境：室溫(20-25 C)；樣機數(shù)量:2臺測試目的：抗坐壓測試試驗方法：將手機處于開機

33、狀態(tài)，放置在坐壓試驗機上，用45Kg力反復(fù)擠壓 手機1000次。對于滑蓋手機，應(yīng)將一半樣品滑開到上限位置。檢驗標(biāo)準(zhǔn)：手機沒有變形，外觀無異常，各項功能正常。7.5.4. 鋼球跌落測試(Ball Drop Test)測試環(huán)境樣機數(shù)量測試目的試驗方法室溫(20-25 C) ； 100g 鋼球，2臺鏡蓋強度測試鏡蓋表面：用100g鋼球，從20cm高處，以初速度為0的狀態(tài), 垂直打擊鏡蓋表面。檢驗標(biāo)準(zhǔn)：手機鏡蓋無變形，無裂縫，無破損(允許有白點)，LCD功能正 常。«Back»7.6其他條件測試樣品標(biāo)準(zhǔn)數(shù)量：5臺?？?測試周期：1天。測試流程：Screw Endurance TestHand Strap TestAdditional Test測試標(biāo)準(zhǔn)：7.6.1 螺釘?shù)臏y試(ScrewTest) 測試環(huán)境：室溫(20-25 C)； 樣機數(shù)量:3臺 測試目的：螺釘拆裝疲勞測試試驗方法：將手機平放在試驗臺上用允許的最大扭矩(由設(shè)計工程師和生產(chǎn)工 程師提供)，對同一螺釘在同一位置反復(fù)旋動螺釘10次.檢驗標(biāo)準(zhǔn)：試驗中和完成后，螺紋沒有變形，損壞，滑絲，用肉眼觀察沒有裂紋; INSERT不能有明顯的松動，劃絲；螺釘口（包括機械和|'1攻螺