熱電瓦里安icp對(duì)比

1、Varian 710-ES 與 Thermo 6300 比較表Varian 715-ESThermo 6300ICP-OES 710-ESICAP 6300 （新型號(hào)）說(shuō)明2006年3月份，熱電公司關(guān)閉了在美國(guó) 的生產(chǎn)工廠，遷往英國(guó)，正式生產(chǎn)推出 ICAP 6300。而美國(guó)工廠的絕大部分技 術(shù)人員改投其他公司。ICAP6300與熱電的原來(lái)的 ICP產(chǎn)品： IRIS Intrepid II比較，產(chǎn)品外觀設(shè)計(jì)和光 路系統(tǒng)都經(jīng)過(guò)了全新設(shè)計(jì)，產(chǎn)品性能也 完全不一樣，其穩(wěn)定性、可靠性需要時(shí) 間來(lái)檢驗(yàn)Varian 710 ES 是在原來(lái) Vista MPX 基礎(chǔ)上升級(jí)產(chǎn)品，其光路、高頻系統(tǒng)、檢 測(cè)器等核心

2、部分不變。因此，是完全可 以信賴(lài)的Varian 710-ESThermo 6300說(shuō)明總體描述由于等離子體的溫度能達(dá)到 10000K，儀器過(guò)于小型化，其溫度 會(huì)對(duì)光路產(chǎn)生影響，造成長(zhǎng)期穩(wěn)定 性和重復(fù)性下降。ICP-OES 710-ES是ICP發(fā)射光譜發(fā)展歷史上 的重要里程碑，提高工作效率的同時(shí)，可節(jié)省大量 的樣品和氬氣消耗，為最先進(jìn)的全譜直讀型儀器， 是目前ICP發(fā)射光譜儀的首選機(jī)型，采用最新一代 的CCD固體檢測(cè)器，同時(shí)快速測(cè)定177-785nm范 圍內(nèi)所有譜線(xiàn)。熱電公司材料宣稱(chēng) 6300采用專(zhuān)用的新一代 CID-86檢測(cè)器，儀器設(shè)計(jì)風(fēng)格上為小型化，集成化， 它也是目前全球體積最小的臺(tái)式全譜

3、直讀式等離子光 譜儀尺寸：840X750X590mmICAP-SIzb尺寸：1375X750X990mm射頻發(fā)生器頻率：40.68MHz發(fā)生形式：自激式RF發(fā)生器， 直接耦合效率 80% 。無(wú)需水冷，降低噪音，節(jié)省能源。27.12MHz發(fā)生形式：固體發(fā)生器，直接耦合效率 75%。固體發(fā)生器由石英晶體控制頻率，必須外加交換信號(hào) 才能產(chǎn)生父變輸出，具有功率輸出效率咼，振蕩頻率 穩(wěn)定，易實(shí)現(xiàn)頻率自動(dòng)控制等優(yōu)點(diǎn)；缺點(diǎn)是線(xiàn)路復(fù)雜，成本咼、不能隨樣品基體變化頻率 自動(dòng)補(bǔ)償，容易造成熄火。氬氣能夠“燃燒”，就是因?yàn)榛鹁嬷?有快速變化的電磁場(chǎng)。頻率越高，性能越好較高的工作頻率可產(chǎn)生高強(qiáng)度的等 離子體，形成的尾

4、焰厚度小，這樣 的等離子體自吸較少，因此有較寬 的線(xiàn)性動(dòng)態(tài)范圍，尾焰厚度小的等 離子體背景較低，提高了檢測(cè)限因此，較咼的電源頻率， 趨膚效應(yīng) 強(qiáng)，有利于形成等離子體中心進(jìn)樣 通道，進(jìn)樣時(shí)不易吹火等離子體焰。功率：700-1700W，由計(jì)算機(jī)任意設(shè)定。 輸出功率穩(wěn)定性：優(yōu)于0.1%輸出功率：750-1350W，分250檔由計(jì)算機(jī)設(shè)定。 英文規(guī)格書(shū)上標(biāo)明，對(duì)于水平觀測(cè)儀器，只能用到 1350W。欲獲得良好的分析性能，高頻發(fā)生 器的功率應(yīng)高于800W。當(dāng)分析水 溶液樣品時(shí)，通常采用800-1200W 的功率，分析有機(jī)溶液或咼鹽樣品 時(shí)功率應(yīng)增加到1350-1500W。光學(xué)系統(tǒng)中階梯光柵-氟化鈣棱鏡交

5、叉色散系統(tǒng)光柵刻線(xiàn)：97.4L/mm 焦距：400mm中階梯光柵+石英棱鏡交叉色散系統(tǒng)光柵刻線(xiàn)：52.91L/mm 焦距：383mm刻線(xiàn)越多，分辨率越好，焦距越好光譜范圍：177-785nm ，全范圍覆蓋，無(wú)波長(zhǎng)斷點(diǎn)； 紫外和可見(jiàn)區(qū)同時(shí)完成測(cè)定而不需狹縫切換，整個(gè) 測(cè)定過(guò)程中，光學(xué)系統(tǒng)無(wú)任何需移動(dòng)部件。密封單色器恒溫：35 C光譜范圍：166-847nm ;紫外和可見(jiàn)不能同時(shí)讀取，需要分兩次曝光讀數(shù)，紫 外部分波段采用145卩m的狹縫，可見(jiàn)部分波段采用 50卩m的狹縫。通過(guò)移動(dòng)石英棱鏡，實(shí)現(xiàn)狹縫切換。ICAP 6300光路圖：Varian710ES為最先進(jìn)的全譜直讀 型儀器，沒(méi)有移動(dòng)的光學(xué)部件

6、，儀 器的精度好，穩(wěn)定性高ICAP6300米用兩個(gè)狹縫，將光譜 區(qū)分成兩段，狹縫1用于紫外區(qū)， 狹縫2用于可見(jiàn)區(qū)，兩者不能同時(shí) 工作。整個(gè)光路系統(tǒng)存在移動(dòng)部件， 降低了儀器的精度，CIDMlM22 )農(nóng)zr嵌段炬112背投式薄型電荷耦合百萬(wàn)像素CCD檢測(cè)器.共1,129,000個(gè)象素所以全波段無(wú)斷點(diǎn)覆蓋 177-785nm全范圍，一次 紫外可見(jiàn)全部讀出，無(wú)任何移動(dòng)部件。通過(guò)軟件可 以任意選擇譜庫(kù)中37000條譜線(xiàn)中任何一條。開(kāi)機(jī)穩(wěn)定速度短，節(jié)省人力和電能, 且節(jié)省氬氣消耗現(xiàn)在世界上所有數(shù)碼信息產(chǎn)品幾乎 全部采用CCD檢測(cè)器，近五年來(lái)新 推出來(lái)的全譜直讀等離子發(fā)射光譜 以及直讀光譜，沒(méi)有一家采用

7、 CID 檢測(cè)器，由于CID量子效率低，噪 音大等固有缺點(diǎn)，逐漸被人們屏棄。 熱電是唯一僅存的還在采用 CID作 為檢測(cè)器的ICP生產(chǎn)廠家。CID86與CID38相比較而言性能 上并沒(méi)有太大的改變。30分鐘即可達(dá)到35C光室恒溫溫度。點(diǎn)火后10分30分鐘可達(dá)到光室恒溫溫度 38 C 鐘即可穩(wěn)定的進(jìn)行測(cè)定。電荷注入式檢測(cè)器：CID86，共有291,600個(gè)象素. 有效面積：213 mm (14.6 mm X 14.6 mm) 像素：291,600 pixels in 540 x 540 array 像素大?。?7 mm x 27 mm以前型號(hào)：IRIS In trepid II 檢測(cè)器型號(hào)：CI

8、D38 有效面積：196 mm (14 mm x 14 mm) 像素：262,144個(gè)像素 像素大?。?8 mm x 28 mm166-847nm 波長(zhǎng)范圍內(nèi)有斷點(diǎn)，紫外部分(175-275nm)和可見(jiàn)部分(275nm-800nm)分段讀需要兩次曝光熱電公司英文樣本：(CAP - Optics Design 43. Two Slits Moio tiniu yffkient2 exposures Ueing 2 &lits allows optimisation of sift height-in LJV(c23Onnrn I45pm,i and Vts (50m)rimlly, l活

9、門(mén) indcpciKleni nieus lire mu ills arc nude, first using the on-uxis Uit, ；it)d then using the < tl jkH slit, rhe K>n-Lixjs ineasuremenL cavers w:iveleng|:lis heiween 175-G and 275*0 nm, md the off-axis measuienwnt contains those between 275*0 an<l H *) nnr I'he inicgmtk?»n times fo

10、r lhe du jxis and off-axis analysis are 2H and 1 1 -r.-L ' 'It、fl' i 'I1. . 1 1 L' -! ' Jill，'4I Jl i' 'll times c:it)Iv irkl jco idling Io the applied ion.每次測(cè)定都可得到整個(gè) CCD的三維立體圖象，依 次可對(duì)干擾情況進(jìn)行直接的觀察，并可通過(guò)圖象上 譜線(xiàn)的位置與強(qiáng)度進(jìn)行定性和半定量；三維圖譜：具有智能攝譜功能，能智能獲得樣品中所有譜線(xiàn)的“指 紋照片”，并與分析數(shù)據(jù)同時(shí)保

11、存和調(diào)出。但是CID同樣存在信號(hào)溢出的現(xiàn)象，顯示的是二維圖4並譜。象素分辨率：0.0035nm. (200nm) 光學(xué)分辨率：0.009nm (200nm ) 讀出噪音(readout noise) : 10e- rms.量子化效率 QE : 175 800nm之間為50%-90% 檢測(cè)器線(xiàn)性范圍：5X107光學(xué)分辨率：0.007nm (200nm ) 讀出噪音(readout noise) : 400e- rms.量子化效率：500nm 55% , 200nm 10%CID與CCD相比較而言，其屬 于紅敏型檢測(cè)，在紫外區(qū)量子化效 率低，靈敏度差。為提高紫外區(qū)的 量子化效率，提高靈敏度，熱電公

12、 司采用的一種技術(shù)是在檢測(cè)器上加 涂有機(jī)磷光增敏劑，將紫外光轉(zhuǎn)為 可見(jiàn)光再來(lái)測(cè)量，但在強(qiáng)光照射下， 這種磷光劑會(huì)有逐步失效，因此， 這是一種最大不足，將會(huì)嚴(yán)重影響 檢測(cè)器的壽命。國(guó)內(nèi)至少已有 7家 熱電用戶(hù)發(fā)生CID檢測(cè)器損壞情況。半導(dǎo)體貼爾效應(yīng)制冷，冷卻溫度：-45 C由于CID的暗電流比CCD的更高, 所以需要更低冷卻溫度以降低讀數(shù) 噪音，消耗更多的電能。專(zhuān)利的表面阱消除過(guò)剩電荷技術(shù)，在每個(gè)感光元上 設(shè)計(jì)了專(zhuān)門(mén)的防溢出表面阱，從硬件上徹底消除了 過(guò)飽和溢出問(wèn)題，使在高濃度基體共存時(shí)可以同時(shí) 進(jìn)行低含量元素的測(cè)定。采用了最先進(jìn)的背面入射 式檢測(cè)器，以提高光電轉(zhuǎn)換效率半導(dǎo)體貼爾效應(yīng)制冷，冷卻溫

13、度：-30 C無(wú)主動(dòng)溢出保護(hù)，借助非破壞性讀數(shù)間接進(jìn)行，極易溢出；實(shí)際上經(jīng)常會(huì)毫無(wú)提示地得到一個(gè)錯(cuò)誤的結(jié)果（偏低，即稀釋后待測(cè)元素的發(fā)射強(qiáng)度反而增大了！增加了氬氣的消耗，使用成本提高, 同時(shí)由于操作不當(dāng)容易造成檢測(cè)器 損壞。密封式CCD，無(wú)須消耗氬氣吹掃，并節(jié)省氬氣過(guò)濾 器消耗非密圭寸式設(shè)計(jì)，須消耗氬氣吹掃，關(guān)機(jī)時(shí)必須先檢測(cè) 器恢復(fù)到室溫才能停氣（吹掃至少一個(gè)小時(shí)），增加了 氬氣的消耗。RINTplace tl 論眾師1 in Otf Micte Iwn SMftw h誡：a) Using the temperaturelinctian 何m 惟 TE¥A Toot menu, ri

14、suw Ihatth?CID cwmffimperalure 店 M ainbien：.b艸遞垂莎H血then luni麗迥夏甦c) Turn olf ihc power lo 怕 spscircxTieler usif'g the swiKt on the ef? srie.d Turn otf the power al tn man bitftef 師恤 front pa nd of lhe pcrtf J upp y nwWfii氣路控制等離子氣：0-22.5L/min，連續(xù)可調(diào)，1.5L/min增量 輔助氣：0-2.25L/min，連續(xù)可調(diào)，0.75L/min增量等離子氣：12

15、L/min，固疋流量，不能調(diào)節(jié)輔助氣：4個(gè)固定模式：0、0.5、1.0、1.5L/min710-ES氣體流量控制更為靈活，可 根據(jù)不同樣品優(yōu)化氣體流量，獲得霧化氣：0-400kPa，無(wú)級(jí)連續(xù)可調(diào)霧化氣：0-400kPa更好的靈敏度水平觀測(cè)技術(shù)專(zhuān)利的冷錐技術(shù)，行業(yè)中最好的尾焰處理技術(shù)行業(yè)中最差的尾焰處理技術(shù)瓦里安專(zhuān)利的冷錐技術(shù)是克服ICP水平觀測(cè)中尾焰的最佳方案，它保證了最低的背景及干擾和最大的線(xiàn)性范圍無(wú)需采用雙向觀測(cè)達(dá)到垂直觀測(cè)相近的線(xiàn)性范圍和背景值。IRIS在水平觀測(cè)時(shí)幾乎沒(méi)有對(duì)尾焰進(jìn)行任何處理，導(dǎo)致較大 的背景和較差的線(xiàn)性范圍炬管太長(zhǎng)，導(dǎo)致炬管壽命太短為了彌補(bǔ)水平觀測(cè)的問(wèn)題，增加垂直觀測(cè)來(lái)

16、消除背景干擾問(wèn) 題但同時(shí)導(dǎo)致了：1、每個(gè)樣品測(cè)量時(shí)，水平、垂直來(lái)回切換，導(dǎo)致儀器精度下 降2、4次曝光（水平、垂直各兩次），分析速度更慢 炬管因垂直方向開(kāi)孔，導(dǎo)致炬管壽命更短，垂直方向由于積 鹽的變化，將導(dǎo)致數(shù)據(jù)漂移注意：雙向觀測(cè)時(shí)，炬管仍然是水平的注意：其炬管特別長(zhǎng)，積鹽特別嚴(yán)重波長(zhǎng)校正Varian 710-ES系列米用15種元素標(biāo)準(zhǔn)溶液的近四 十條譜線(xiàn)對(duì)整個(gè)檢測(cè)器進(jìn)行實(shí)時(shí)校正，速度快，只用 幾分鐘，準(zhǔn)確咼效。一般推薦3個(gè)月進(jìn)行一次校正；每次只要 23分 鐘，校正頻率低，速度快。米用C、N、Zn和Ar譜線(xiàn)校正方式，可定位從 166 nm-847nm 范圍內(nèi)的譜線(xiàn)。但是每次等離子體點(diǎn) 燃后，儀

17、器會(huì)尋找氬氣中的C、N和Ar線(xiàn)，由于每次 測(cè)定都需要自動(dòng)進(jìn)行波長(zhǎng)校正，花費(fèi)時(shí)間比較多，影 響分析速度。由于環(huán)境的變化，全譜直讀儀的陣 列檢測(cè)器通常需要進(jìn)行波長(zhǎng)校正。 一些公司的校正頻率很咼而且非常 繁瑣經(jīng)常，在測(cè)定前需要花費(fèi)大量 時(shí)間進(jìn)行波長(zhǎng)校正。進(jìn)樣系統(tǒng)采用同心霧化器和玻璃旋流霧化室，雖然霧化效率 高米用同心霧化器和玻璃旋流霧化室，雖然霧化效率高?？商峁┤N類(lèi)型的炬管：一體式炬管、半可拆式炬 管、全可拆式炬管。一體式炬管?chē)?guó)內(nèi)有替代品，可大大降低日常的消耗提供半可拆式炬管，1.5mm石英中心管 無(wú)國(guó)內(nèi)替代品，炬管的消耗較高軟件全中文軟件、獲獎(jiǎng)的工作表格風(fēng)格界面，而且可以 隨意切換中英文界面。在

18、線(xiàn)視頻和音頻多媒體幫助功能，包括操作維護(hù)錄 像。無(wú)中文軟件iTEVA軟件：具有完整的任務(wù)工具欄、狀態(tài)顯示欄、 操作導(dǎo)向面板；同步、卷動(dòng)和拆屏的顯示數(shù)據(jù)。分析樣品的同時(shí)，可智能攝譜，進(jìn)行定量、半定量分 析。無(wú)多媒體幫助功能瓦里安公司倡導(dǎo)以客戶(hù)為中心的價(jià) 值理念，在軟件設(shè)計(jì)上也充分體現(xiàn) 人性化的設(shè)計(jì)思想；中文軟件對(duì)初 學(xué)者和高校、研究所一線(xiàn)操作人員 的重要性是不言而喻的Video觀看逮難對(duì)有一些按忸.剳能如下，播放/哲停和停止任何時(shí)侯都可用擂GV誓停槌権枚或暫停尹硬*該喪便丁予 泉下邊框呆左面.桶據(jù)斗新播技擾態(tài)的不同"諛復(fù)由播啟 亜?wù)艿认嗥苾?yōu)"如果，用如何停止蝕停1疇收.錄茨將

19、停 在起始處*更想將予最跳別棊個(gè)地方.可按俚下邊框上的撞冋滑動(dòng)粗拖 功到所襦肌看占雖.右邊的腰象漕示.即在滇示黴功能. 另外.選中骨動(dòng)控制栩厲.也可用計(jì)鼻機(jī)上的蝕蟲(chóng)匸卜一列工左箭y和右箭斗鍵可將錄跟片向前或向啟移動(dòng)一幅畫(huà)aPage Up利Pace Uom 可向前實(shí)向后掙動(dòng)蒯B畫(huà)面，在線(xiàn)可查詢(xún)式全中文幫助數(shù)據(jù)可直接粘貼于Word、Excel軟件中，可進(jìn)行數(shù)據(jù)后處理。報(bào)表編輯自疋義。B-J f"J或其它數(shù)理統(tǒng)i計(jì)多重檢量線(xiàn)系統(tǒng)(MULTICAL ),使得MPX能夠成 功地通過(guò)一次測(cè)疋，在分析濃度為 1ppb以下的痕 量兀素的同時(shí)，分析例如濃度高至lOOOppm的Ca、 Mg、K、Na等元

20、素，線(xiàn)性范圍達(dá)到109。無(wú)此功能由于715-ES具有全譜覆蓋的特點(diǎn)， 加上多重檢量線(xiàn)功能可以將各元素 的線(xiàn)性范圍大大擴(kuò)展，而無(wú)需費(fèi)時(shí)、 導(dǎo)致精密度下降的雙向觀測(cè)分子量自動(dòng)計(jì)算，雜質(zhì)總量自動(dòng)計(jì)算功能無(wú)此功能光譜干擾校正技術(shù)-FACT快速自動(dòng)曲線(xiàn)擬合技術(shù)無(wú)此功能光譜干擾校正是等離子體發(fā)射光譜 分析中的一個(gè)重要組成部分，瓦里 安獨(dú)有的FACT快速譜線(xiàn)自動(dòng)擬合 技術(shù)，在不同的干擾元素之間建立 FACT干擾模型，并存為模型庫(kù)， 用于快速自動(dòng)譜線(xiàn)擬合技術(shù)，實(shí)現(xiàn) 在線(xiàn)解譜，準(zhǔn)確、實(shí)時(shí)地扣除譜線(xiàn) 干擾，進(jìn)行快速、簡(jiǎn)便的干擾校正。瓦里安公司在北京、上海、沈陽(yáng)、成都、廣州設(shè)有售后服務(wù)是購(gòu)買(mǎi)儀器時(shí)一個(gè)極為重專(zhuān)門(mén)的代

21、表處，有經(jīng)過(guò)嚴(yán)格培訓(xùn)優(yōu)秀的專(zhuān)業(yè)維修隊(duì) 伍，瓦立安公司在上海建立了亞太研發(fā)中心，用于 用戶(hù)的培訓(xùn)和應(yīng)用方法的開(kāi)發(fā)，除了為客戶(hù)提供性 能優(yōu)良的產(chǎn)品以外，還為其提供全方位的技術(shù)支持 和服務(wù)。要考慮因素SpectraCAM Cooled Scientific Imaging System向峙VRACIDS6FIACIO84*M0 i ">40 th*4sKJ?4 X 102*1 pl<dsPixH Full WeilRACIO86：RAOD84：j 1, DOO, (900 eiectrgns>400,000 eLGMZtJTpngPixel Size27 niicrans

22、 by 27 nukrarrsILin&arty+ J?： from 關(guān) to 80% of sattration<Jiiantim Lftitienc,心!h 肚 jJUnm and -10:： -ZOOfthi UV, LtiidX idy ldiiv-mi tf codi Iny 肌Rpwkjui:印屮1Vdiildhl fi om 50kHz. to 300kHz.Hors?400» s1nal« road C MkHz r»ad Ht«, -40* fir 2Brtr«MfcBi'rwingIndwidwt ho

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