存儲器和邏輯芯片的測試

1、存儲器和邏輯芯片的測試 存儲器芯片是在特定條件下用來存儲數(shù)字信息的芯片。存儲的信息可以是操作代碼，數(shù)據(jù)文件或者是二者的結(jié)合等。按照特性的不同，存儲器可以分為以下幾類，如表1所示： 存儲器術(shù)語的定義在研究存儲器芯片測試之前，有須要先定義一些相關(guān)的術(shù)語。寫入復(fù)原時(shí)光(write recovery time):一個(gè)存儲單元在寫入操作之后和正確讀取之前中間必需等待的時(shí)光。保持時(shí)光(hold time):輸入數(shù)據(jù)電平在鎖存時(shí)鐘之后必需保持的時(shí)光間隔。pause test:存儲器內(nèi)容保持時(shí)光的測試。刷新時(shí)光(refresh time):存儲器刷新的最大時(shí)光間隔。建立時(shí)光(setup time):輸入數(shù)據(jù)電

2、平在鎖存時(shí)鐘之前必需穩(wěn)定保持的時(shí)光間隔。升高和下降時(shí)光(rise and fall times)：功能速度測試是通過重復(fù)地舉行功能測試，同時(shí)轉(zhuǎn)變芯片測試的周期或頻率來完成的。測試的周期通常用法二進(jìn)制搜尋的方法來舉行轉(zhuǎn)變。這些測試能夠測出芯片的最快運(yùn)行速度。寫入復(fù)原(write recovery):一個(gè)存儲單元在寫入操作之后和下一個(gè)存儲單元能正確讀取之前中間必需等待的時(shí)光。讀取時(shí)光(access time):通常是指在讀使能，片選信號或地址轉(zhuǎn)變到輸出端輸出新數(shù)據(jù)的所需的最小時(shí)光。讀取時(shí)光取決于存儲器讀取時(shí)的流程。存儲器芯片測試中的功能測試存儲器芯片必需經(jīng)過許多須要的測試以保證其功能正確。這些測試

3、主要用來確保芯片不包含一下類型的錯(cuò)誤：存儲單元短路：存儲單元與電源或者地段路存儲單元開路：存儲單元在寫入時(shí)狀態(tài)不能轉(zhuǎn)變相鄰單元短路：按照不同的短路狀態(tài)，相鄰的單元會被寫入相同或相反的數(shù)據(jù)地址開路或短路：這種錯(cuò)誤引起一個(gè)存儲單元對應(yīng)多個(gè)地址或者多個(gè)地址對應(yīng)一個(gè)存儲單元。這種錯(cuò)誤不簡單被檢測，由于我們一次只能檢查輸入地址所對應(yīng)的輸出響應(yīng)，很難確定是哪一個(gè)物理地址被真正讀取。存儲單元干擾：它是指在寫入或者讀取一個(gè)存儲單元的時(shí)候可能會引起它周圍或者相鄰的存儲單元狀態(tài)的轉(zhuǎn)變,也就是狀態(tài)被干擾了。存儲器芯片測試時(shí)用于錯(cuò)誤檢測的測試向量測試向量是施加給存儲器芯片的一系列的功能，即不同的讀和寫等的功能組合。它

4、主要用于測試芯片的功能錯(cuò)誤。常用的存儲器測試向量如下所示，分離介紹一下他們的執(zhí)行方式以及測試目的.全”0”和全”1”向量: 4n行向量 執(zhí)行方式：對全部單元寫”1”再讀取驗(yàn)證全部單元。對全部單元寫”0”再讀取驗(yàn)證全部單元。目的：檢查存儲單元短路或者開路錯(cuò)誤。也能檢查相鄰單元短路的問題。棋盤格(checkerboard)向量：4n行向量執(zhí)行方式：先運(yùn)行0-1棋盤格向量，也就是第一個(gè)單元寫1，其次個(gè)單元寫0，第三個(gè)單元再寫1，依此類推，直到最后一個(gè)單元，接下來再讀取并驗(yàn)證全部單元。再運(yùn)行一個(gè)1-0棋盤格向量，就是對全部單元寫入跟0-1棋盤格徹低相反的數(shù)據(jù)，再讀取并驗(yàn)證全部單元。目的：這是功能測試，

5、地址解碼和單元干擾的一個(gè)最基本最容易的測試向量。它還能檢查延續(xù)地址錯(cuò)誤或者干擾錯(cuò)誤，也通常用它作為時(shí)光測量時(shí)的向量。patterns marching向量：5n行向量執(zhí)行方式：先對全部單元寫0.讀取第一個(gè)單元，再對第一個(gè)單元寫1。再讀取其次個(gè)單元，再對其次個(gè)單元寫1，依此類推，直到最后一個(gè)單元。最后再重復(fù)上述操作，只是寫入數(shù)據(jù)相反。目的：這是功能測試，地址解碼和單元干擾的一個(gè)最基本最容易的測試向量。它還能檢查延續(xù)地址錯(cuò)誤或者干擾錯(cuò)誤，也通常用它作為時(shí)光測量時(shí)的向量。walking向量:2n2 行向量執(zhí)行方式：先對全部單元寫0,再讀取全部單元。接下來對第一個(gè)單元寫1，讀取全部單元，讀完之后把第一

6、個(gè)單元寫回0。再對其次個(gè)單元寫1，讀取全部單元，讀完之后把其次個(gè)單元寫回0。依次類推，重復(fù)到最后一個(gè)單元。等上述操作完成之后，再重復(fù)上述操作，只不過寫入的數(shù)據(jù)相反。目的：檢查全部的地址解碼錯(cuò)誤。它的缺點(diǎn)是它的運(yùn)行時(shí)光太長。假設(shè)讀寫周期為500ns，對一個(gè)4k的ram舉行wakling向量測試就需要16秒的測試時(shí)光。假如知道存儲器的結(jié)構(gòu)，我們可以只舉行行或者列的walking以削減測試時(shí)光。galloping寫入復(fù)原向量：122n行向量執(zhí)行方式：對全部單元寫0。再對第一個(gè)單元寫1（基本單元），讀取其次個(gè)單元, 然后返回歸讀取第一個(gè)單元。再對其次個(gè)單元寫0，讀其次個(gè)單元。接下來再在其它全部單元和基

7、本單元之間重復(fù)這個(gè)操作。等第一個(gè)單元作為基本單元的操作完成之后，再把其次個(gè)單元作為基本單元，再作同樣的操作。依此類推，直到全部單元都被當(dāng)過基本單元。最后，再重復(fù)上述過程，但寫入數(shù)據(jù)相反。目的：這是功能測試，地址解碼測試和干擾測試一個(gè)極好的向量。假如挑選適當(dāng)?shù)臅r(shí)序，它還可以很好地用于寫入復(fù)原測試。同時(shí)它也能很好地用于讀取時(shí)光測試。其他的測試向量都類似于以上這些向量，都基于相同的核心理念。動(dòng)態(tài)隨機(jī)讀取存儲器(dram)動(dòng)態(tài)隨機(jī)讀取存儲器( dram)的測試有以下的一些特別要求：1.行地址和列地址在相同的地址線上輸入（行列地址復(fù)用）。他們分離通過ras和cas信號來鎖存。2.需要在固定的時(shí)光間隔內(nèi)對

8、芯片舉行刷新。3.dram能夠舉行頁操作。因此需要保持行地址不變而轉(zhuǎn)變列地址（或者相反）。規(guī)律測試介紹規(guī)律芯片功能測試用于保證被測器件能夠正確完成其預(yù)期的功能。為了達(dá)到這個(gè)目的，必需先創(chuàng)建測試向量或者真值表，才干進(jìn)檢測代測器件的錯(cuò)誤。一個(gè)真值表檢測錯(cuò)誤的能力有一個(gè)統(tǒng)一的標(biāo)準(zhǔn)，被稱作故障籠罩率。測試向量與測試時(shí)序結(jié)合在一起組成了規(guī)律功能測試的核心。測試向量測試向量也稱作測試圖形或者真值表由輸入和輸出狀態(tài)組成，代表被測器件的規(guī)律功能。輸入和輸出狀態(tài)是由字符來表示的，通常1/0用來表示輸入狀態(tài)，l/h/z用來表示輸出狀態(tài)，x用來表示沒有輸入也不比較輸出的狀態(tài)。實(shí)際上可以用任何一套字符來表示真值表，只

9、要測試系統(tǒng)能夠正確說明和執(zhí)行每個(gè)字符相應(yīng)的功能。測試向量是存儲在向量存儲器里面的，每行單獨(dú)的向量代表一個(gè)單一測試周期的“原始“數(shù)據(jù)。從向量存儲器里輸入的數(shù)據(jù)與時(shí)序，波形格式以及數(shù)據(jù)結(jié)合在一起，通過pin electronic施加給待測器件。待測器件的輸出通過pin electronic上的比較電路在適當(dāng)?shù)牟蓸訒r(shí)光與存儲在向量存儲器里的數(shù)據(jù)舉行比較。這種測試被稱作存儲響應(yīng)。除了待測器件的輸入輸出數(shù)據(jù)，測試向量還可能包含測試系統(tǒng)的一些運(yùn)作命令。比如說，要包含時(shí)序信息等，由于時(shí)序或者波形格式等可能需要在周期之間實(shí)時(shí)切換。輸入驅(qū)動(dòng)器可能需要被打開或者關(guān)閉，輸出也可能需要挑選性地在周期之間開關(guān)。許多測試

10、系統(tǒng)還支持像跳轉(zhuǎn)，循環(huán)，向量重復(fù)，子程序等微操作命令。不同的測試儀，其測試儀命令的表示方式可能會不一樣，這也是當(dāng)把測試程序從一個(gè)測試平臺轉(zhuǎn)移到另一個(gè)測試平臺時(shí)需要做向量轉(zhuǎn)換的緣由之一。比較復(fù)雜的芯片，其測試向量普通是由芯片設(shè)計(jì)過程中的數(shù)據(jù)提取而來。仿真數(shù)據(jù)需要重新收拾以滿足目標(biāo)測試系統(tǒng)的格式，同時(shí)還需要做一些處理以保證正確的運(yùn)行。通常來說測試向量并不是由上百萬行的自立向量容易構(gòu)成的。測試向量或者仿真數(shù)據(jù)可以由設(shè)計(jì)工程師，測試工程師或者驗(yàn)證工程師來完成，但是要保證勝利的向量生成，都必需對芯片本身和測試系統(tǒng)有十分全面地了解。測試資源的消耗當(dāng)開發(fā)一個(gè)功能測試時(shí)，待測器件各方面的性能與功能都要考慮到。

11、以下這些參數(shù)都要認(rèn)真地舉行測試或設(shè)置：vdd min/max (待測器件電源電壓)vil/vih (輸入電壓)vol/voh (輸出電壓)iol/ioh (輸出負(fù)載)vref (iol/ioh轉(zhuǎn)換電平)測試頻率(測試用法的周期)輸入信號時(shí)序(時(shí)鐘/建立時(shí)光/保持時(shí)光/控制)輸入信號波形格式輸出時(shí)序(在周期內(nèi)何時(shí)對輸出舉行采樣)向量挨次(向量文件內(nèi)的start/stop位置)上述的這些資源解釋了功能測試會占用測試系統(tǒng)的大部分資源。功能測試主要由兩大塊組成，一是測試向量文件，另外一塊是包含測試命令的主測試程序。測試向量代表了測試待測器件所需的輸入輸出規(guī)律狀態(tài)。主測試程序包含了保證測試儀硬件能產(chǎn)生須要的電壓，波形和時(shí)序等所必須的信息。（所示）功能測試