UT設(shè)備與器材練習(xí)題

1、UT中級(jí)設(shè)備與器材知識(shí)練習(xí)題一是非題1. A型脈沖反射式超聲波探傷儀是以判斷回波位置. 回波高度和回波形狀來評價(jià)缺陷的。(O)2. B型顯示能展現(xiàn)工件中缺陷的埋藏深度。(O)3. C顯示能展現(xiàn)工件中缺陷的投影形狀，不能展現(xiàn)深度。(O)4. 探頭的近場區(qū)就是探頭的盲區(qū)。（X）5. 單晶直探頭始脈沖寬，盲區(qū)大。雙晶直探頭盲區(qū)小。(O)6. 硬保護(hù)膜適用于表面較光潔的工件檢測，但較軟保護(hù)膜帶來更大的始波寬度，分辨力變差，靈敏度降低。(O)7. 阻尼塊的作用是使探頭晶片振動(dòng)時(shí)間縮短，但同時(shí)也吸收了探頭產(chǎn)生的雜波(O)8. 毛面探傷時(shí)，用軟保護(hù)膜探頭靈敏度比硬保護(hù)膜低（X）9. 雙晶直探頭相當(dāng)于一個(gè)粗糙

2、的聚焦探頭，探頭中兩個(gè)晶片的傾角越大則探測深度越大（X）10. 聚焦探頭的主要優(yōu)點(diǎn)是聲束細(xì)，指向性好，能量集中，定位精度高，掃查范圍大。（X）11. 由于水中只能傳播縱波，所以水浸探傷只能進(jìn)行縱波探傷。（X）12. 使用耦合劑的主要目的是去除探頭與工件間的空氣間隙，使超聲波能夠傳入工件。(O)13. 手工探傷，為使探頭與工件良好接觸，用力越大越好。（X）14. 斜探頭前部磨損較大，則K值將會(huì)增加。（X）15. 調(diào)節(jié)衰減器不會(huì)影響儀器的垂直線性，而改變增益和抑止旋鈕則會(huì)影響儀器的垂直線性（X）16. 增大儀器的發(fā)射強(qiáng)度，則儀器靈敏度會(huì)進(jìn)一步提高，同時(shí)對缺陷的分辨率也會(huì)減小(O)二選擇題1. A型

3、掃描顯示中，從熒光屏上直接可獲得的信息是：（ C ）A. 缺陷的性質(zhì)和大小B. 缺陷的形狀和取向C. 缺陷回波的大小和超聲傳播的時(shí)間D. 以上都是2. A型掃描顯示中，熒光屏上垂直顯示波高的大小表示：（ A ）A. 超聲回波的幅度大小B. 缺陷的位置C. 被探材料的厚度D. 超聲傳播時(shí)間3. 影響儀器靈敏度的旋紐有：（ D ）A. 發(fā)射強(qiáng)度和增益旋紐B. 衰減器和抑制 C. 深度補(bǔ)償 D. 以上都是4. 儀器的垂直線性好壞會(huì)影響（ A ）A. 缺陷的當(dāng)量比較B. AVG曲線面板的使用 C. 缺陷的定位 D. 以上都對5. 調(diào)節(jié)儀器面板上的“抑制”旋鈕會(huì)影響探傷儀的（ D ）A. 垂直線性B.

4、動(dòng)態(tài)范圍C. 靈敏度D. 以上全部6. 單晶片直探頭接觸法探傷中，與探測面十分接近的缺陷往往不能有效地檢出，這是因?yàn)椋?C ）A. 近場干擾B. 材質(zhì)衰減C. 存在盲區(qū)D. 折射7. 表示探傷儀與探頭組合性能的指標(biāo)有：（ B ）A. 水平線性. 垂直線性. 衰減器精度B. 靈敏度余量. 盲區(qū). 遠(yuǎn)場分辨力C. 動(dòng)態(tài)范圍. 頻帶寬度. 探測深度D. 垂直極限. 水平極限. 重復(fù)頻率8. 目前工業(yè)超聲波探傷使用較多的壓電材料是（ C ）A. 石英B. 鈦酸鋇C. 鋯鈦酸鉛D. 硫酸鋰9. 以下哪一條，不屬于雙晶探頭的優(yōu)點(diǎn)（ A ）A. 探測范圍大 B. 盲區(qū)小 C. 工件中近場長度小D. 雜波少1

5、0. 對超聲波試塊材質(zhì)的基本要求是（ D ）A. 其聲速與被探工件聲速基本一致B. 材料中沒有超過2mm平底孔當(dāng)量的缺陷C. 材料衰減小且均勻D. 以上都是11. 超聲探傷系統(tǒng)區(qū)別相鄰兩缺陷的能力稱為：( D )A. 檢測靈敏度B. 時(shí)基線性C. 垂直線性D. 分辨力12. 下面關(guān)于橫波斜探頭的說法哪一句是錯(cuò)誤的（ C ）A. 橫波斜探頭是由直探頭加透聲斜楔組成B. 斜楔前面開槽的目的是減少反射雜波C. 超聲波在斜楔中的縱波聲速應(yīng)大于工件中的橫波聲速D. 橫波是在斜楔與工件的交界面上產(chǎn)生13. 探測粗糙表面的工件時(shí)，為提高聲能傳遞，應(yīng)選用（ C ）A. 聲阻抗小且粘度大的耦合劑B. 聲阻抗小且粘度小的耦合劑C. 聲阻抗大且粘度大的耦合劑D. 以上都不是14. 關(guān)于耦合劑選用的說法錯(cuò)誤的是（ D ）A. 表