奧氏體鋼鍛件超聲檢測(cè)方法和質(zhì)量分級(jí)

1、奧氏體鋼鍛件超聲檢測(cè)方法和質(zhì)量分級(jí)1.7.1范圍1.7.1.1本條適用于承壓設(shè)備用奧氏體鋼鍛件及奧氏體-鐵素體雙相不銹鋼鍛件的超聲檢測(cè)方法和質(zhì)量分級(jí)。1.7.1.2承壓設(shè)備用鎳合金鍛件的超聲檢測(cè)方法和質(zhì)量分級(jí)參照本條執(zhí)行。1.7.2 檢測(cè)原則1.7.2.1 鍛件原則上應(yīng)在熱處理后，加工成適合檢測(cè)外形時(shí)，并在精加工前進(jìn)行超聲檢測(cè)。1.7.2.2檢測(cè)面的表面粗糙度 Ra 6.3 卩珂檢測(cè)面應(yīng)無(wú)氧化 皮、漆皮、污物等。1.7.2.3一般應(yīng)進(jìn)行直探頭縱波檢測(cè)。對(duì)筒形鍛件和環(huán)形鍛 件還應(yīng)進(jìn)行斜探頭檢測(cè)。1.7.3 探頭1.731探頭的標(biāo)稱頻率為 1MHz2.5MHz。1.7.3.2直探頭的晶片直徑為$

2、14mm$ 40mm,斜探頭的晶片面積在 300mm2625mm21.733 斜探頭的折射角（K 值），一般為 3563 （K0.7K2）。1.7.3.4為了準(zhǔn)確測(cè)定缺陷，必要時(shí)也可采用其他探頭。1.7.4試塊1.741 對(duì)比試塊應(yīng)符合 4.2.3.2 的規(guī)定。1.7.4.2對(duì)比試塊的晶粒大小和聲學(xué)特性應(yīng)與被檢鍛件大致相近，兩者衰減系數(shù)的差值不大于4dB/m。1.7.4.3應(yīng)制備幾套不同晶粒度的奧氏體鋼鍛件對(duì)比試塊，以便能將缺陷區(qū)衰減同試塊作合理的比較。1.7.4.4對(duì)比試塊的形狀和尺寸按圖9 和表 15 所示圖 9 奧氏體鋼鍛件試塊表 15 奧氏體鋼鍛件試塊尺寸單位為 mm$ 3$ 6$ 1

3、0$ 13LDLDLDLD205020502050205040505050505050506050805010060100608050120601508015080160802008020080200802501002501003001003001004001505001506002001.745 在條件允許時(shí)，可在鍛件有代表性的部位加工一個(gè) 或幾個(gè)適當(dāng)大小的對(duì)比孔或 V 形槽，代替對(duì)比試塊進(jìn)行靈敏 度的校準(zhǔn)。1.7.5 靈敏度的確定1.7.1.1當(dāng)被檢鍛件厚度小于或等于 600mm 時(shí)，應(yīng)根據(jù)定貨 鍛件厚度和要求的質(zhì)量等級(jí)，在適當(dāng)厚度和當(dāng)量的平底孔試 塊上校準(zhǔn)，并根據(jù)實(shí)測(cè)值作出距離-波幅曲線

4、并以此作為基準(zhǔn) 靈敏度。1.7.1.2當(dāng)被檢鍛件厚度大于 600mm 時(shí)，在鍛件無(wú)缺陷部位 將底波調(diào)至滿刻度的 80%，以此作為基準(zhǔn)靈敏度。如檢測(cè)面與底面反射面不平行，也可用$ 13mm 平底孔試塊作距離-波幅曲線作為基準(zhǔn)靈敏度。1.7.1.3掃查靈敏度應(yīng)至少比基準(zhǔn)靈敏度提高6dB。1.7.6 檢測(cè)1.7.6.1耦合方式耦合方式一般可采用直接接觸法。1.7.6.2靈敏度補(bǔ)償檢測(cè)時(shí)應(yīng)根據(jù)實(shí)際情況進(jìn)行耦合補(bǔ)償、衰減補(bǔ)償和曲面 補(bǔ)償。1.7.6.3直探頭檢測(cè)1.7.6.3.1鍛件所有被檢區(qū)域，均應(yīng)盡可能從兩個(gè)相互垂直 方向進(jìn)行檢測(cè)，檢測(cè)距離至少為厚度的一半。1.7.6.3.2檢測(cè)盤(pán)形或餅形鍛件時(shí)，采

5、用直探頭至少?gòu)囊粋€(gè) 平面進(jìn)行檢測(cè)，如有可能還應(yīng)從圓周面進(jìn)行掃查。1.7.6.3.3檢測(cè)圓柱形鍛件時(shí)，對(duì)于筒形鍛件和環(huán)形鍛件， 可從整個(gè)外表面（側(cè)面和圓周面）用直探頭進(jìn)行檢測(cè)。當(dāng)長(zhǎng) 度與直徑之比超過(guò) 6 或軸向長(zhǎng)度超過(guò) 600mm 時(shí)，應(yīng)從兩個(gè)端 面以盡可能大的范圍用直探頭作軸向檢測(cè)，如果由于衰減等 原因，雙端檢測(cè)不能超過(guò)軸向長(zhǎng)度的一半時(shí)，可用斜探頭代替直探頭進(jìn)行軸向檢測(cè)。1.764 斜探頭檢測(cè)奧氏體鋼鍛件斜探頭檢測(cè)應(yīng)按附錄F 的要求進(jìn)行。1.7.7 缺陷記錄1.7.7.1由于缺陷的存在，而使基準(zhǔn)靈敏度下的底波降到滿 刻度 25%以下的部位。1.7.7.2缺陷波幅在距離-波幅曲線以上的部位。1.7.8 質(zhì)量分級(jí)1.781單晶直探頭或雙晶直探頭檢測(cè)的質(zhì)量分級(jí)見(jiàn)表161.7.8.2斜探頭檢測(cè)的質(zhì)量分級(jí)見(jiàn)表17。1.7.8.3在具體進(jìn)行質(zhì)量分級(jí)時(shí)，表16 和表 17 應(yīng)獨(dú)立的使用。表 16 直探頭檢測(cè)的質(zhì)量分級(jí)單位為 mm工件厚度 80 200 300 600200300質(zhì)量等級(jí)InInInInIn缺陷當(dāng)量直徑或因缺陷w $ 5V引起底波降$3$3$ 6$1$113$1%5%低后的幅度6003注：工件厚度主要指承壓方向上的尺寸：對(duì)于筒形或環(huán)形鍛件，工件厚度為筒體厚度；對(duì)于并行或類(lèi)似鍛件，工件厚度為其最小厚度。表 17 斜探頭檢測(cè)的質(zhì)量分級(jí)等級(jí)In缺陷波幅低